CN102216918B - 设备标识信息的获取方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例涉及一种设备标识信息的获取方法及装置，方法包括：利用第一GPIO端口，检测电容通过待测电阻进行放电的第一放电时间；利用第二GPIO端口，检测电容通过定值电阻进行放电的第二放电时间；根据第一放电时间、第二放电时间和定值电阻的电阻值，获得待测电阻的电阻值。本发明实施例能够提高GPIO端口的识别效率。本发明实施例能够避免现有技术中固定个数的GPIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息而导致的限制了GPIO端口能够识别设备标识信息的数量的问题，从而提高了GPIO端口的识别效率。

Description

设备标识信息的获取方法及装置

背景技术

通常，同一种类硬件设备(例如：液晶显示屏、照相机、充电器等)，可以由不同厂家进行生产，或者还可能会有不同的功能特征参数，每个不完全相同的硬件设备在应用程序的使用上会存在一些差别。因此，在给每个硬件设备设置应用程序时，需要根据硬件设备的设备标识信息，例如：厂家信息、特征参数信息等，给硬件设备设置相应的应用程序。

现有技术中，可以采用通用输入输出(General Purpose Input Output，简称GPIO)端口识别硬件设备的输出电平。由于GPIO端口只有高电平和低电平两种状态，所以，一个GPIO端口只能识别两个设备标识信息，也就是说，两个GPIO端口只能识别四个设备标识信息。以此类推，现有技术中固定个数的G PIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息，限制了GPIO端口能够识别设备标识信息的数量，从而降低了GPIO端口的识别效率。

发明内容

本发明实施例提供一种设备标识信息的获取方法及装置，用以避免现有技术中固定个数的GPIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息而导致的限制了GPIO端口能够识别设备标识信息的数量的问题。

本发明实施例提供了一种设备标识信息的获取方法，包括：

利用第一通用输入输出GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一GPIO端口通过定值电阻与所述电容连接；

利用第二GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，所述第二GPIO端口通过待测电阻与所述电容连接；

根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；

根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息。

本发明实施例还提供了一种设备标识信息的获取装置，包括：

第一检测单元，用于利用第一通用输入输出GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一GPIO端口通过定值电阻与所述电容连接；

第二检测单元，用于利用第二GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，所述第二GPIO端口通过待测电阻与所述电容连接；

阻值获得单元，用于根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；

信息获取单元，用于根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息。

由上述技术方案可知，本发明实施例通过根据电容通过待测电阻进行放电的放电时间、电容通过定值电阻进行放电的放电时间和定值电阻的电阻值，获得待测电阻的电阻值，使得根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，能够获取与上述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息，能够避免现有技术中固定个数的GPIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息而导致的限制了GPIO端口能够识别设备标识信息的数量的问题，从而提高了GPIO端口的识别效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一实施例提供的设备标识信息的获取方法的流程示意图；

图2为本发明一实施例提供的设备标识信息的获取方法中的端口连接示意图；

图3为本发明另一实施例提供的设备标识信息的获取装置的结构示意图；

图4为本发明另一实施例提供的设备标识信息的获取装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1为本发明一实施例提供的设备标识信息的获取方法的流程示意图，以及图2为本发明一实施例提供的设备标识信息的获取方法中的端口连接示意图。如图2所示，第一GPIO端口通过定值电阻与上述电容连接；第二GPIO端口通过待测电阻与上述电容连接。如图1所示，本实施例的设备标识信息的获取方法可以包括：

101、利用第一GPIO端口，检测电容通过上述待测电阻进行放电的第一放电时间；

具体地，可以将第一GPIO端口设置为输入状态，用以对电容的电平进行检测，以及将第二GPIO端口设置为输出低电平状态，以使电容通过待测电阻进行放电，并将第一GPIO端口检测到的电容的电平从高电平到低电平的时间，作为第一放电时间。例如：将第一GPIO端口设置为输入状态，用以对A点的电平进行检测。当A点的电平稳定在高电平之后，可以启动第一GPIO端口的中断功能，并通过软件开启计数器，开始对A点的电平进行检测；将第二GPIO端口设置为输出低电平状态，从而使得电容可以通过待测电阻进行放电；将第一GPIO端口检测到的A点的电平从高电平到低电平的时间，作为第一放电时间。

102、利用第二GPIO端口，检测上述电容通过上述定值电阻进行放电的第二放电时间；

具体地，可以将第二GPIO端口设置为输入状态，用以对电容的电平进行检测，以及将第一GPIO端口设置为输出低电平状态，以使电容通过定值电阻进行放电，并将第二GPIO端口检测到的电容的电平从高电平到低电平的时间，作为第二放电时间。例如：将第二GPIO端口设置为输入状态，用以对A点的电平进行检测。当A点的电平稳定在高电平之后，可以启动第二GPIO端口的中断功能，并通过软件开启计数器，开始对A点的电平进行检测；将第一GPIO端口设置为输出低电平状态，从而使得电容可以通过定值电阻进行放电；将第二GPIO端口检测到的A点的电平从高电平到低电平的时间，作为第二放电时间。

需要说明的是：上述101与102没有固定的执行顺序。

可以理解的是：101与102均是对电容的放电时间的检测，所以101与103之前均需要执行对电容进行充电的充电过程，才能实现对电容的放电时间的检测。如图2所示，可选地，具体可以通过第二GPIO端口，经由待测电阻给电容充电，例如：将第二GPIO端口设置为输出高电平状态，从而实现通过待测电阻给电容充电。可选地，具体还可以通过第一GPIO端口，经由定值电阻给电容充电，例如：将第一GPIO端口设置为输出高电平状态，从而实现通过定值电阻给电容充电。

103、根据上述第一放电时间、上述第二放电时间和上述定值电阻的电阻值，获得上述待测电阻的电阻值；

具体地，可以根据R1＝R2T1T22，计算R1的阻值；其中，上述R1为待测电阻；R2为定值电阻；T1为第一放电时间；T2为第二放电时间。

104、根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与上述待测电阻的电阻值对应的设备标识(ID)信息。

进一步地，本实施例在104之前还可以进一步建立上述待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系。其中，待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系可以如表1所示。

表1待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系

待测电阻的电阻值	设备标识信息
		R11	设备ID1信息
R12	设备ID2信息
		R13	设备ID3信息
R14	设备ID4信息
		……	……
R1n	设备IDn信息

其中，设备标识信息可以包括但不限于硬件设备的生产厂家(例如：不同厂家生产的数码相机)、功能特征参数(例如：不同充电电流大小的充电器)。

本实施例中，通过根据电容通过待测电阻进行放电的放电时间、电容通过定值电阻进行放电的放电时间和定值电阻的电阻值，获得待测电阻的电阻值，使得根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，能够获取与上述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息，能够避免现有技术中固定个数的GPIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息而导致的限制了GPIO端口能够识别设备标识信息的数量的问题，从而提高了GPIO端口的识别效率。

需要说明的是：对于前述的各方法实施例，为了简单描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其他顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定是本发明所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。

图3为本发明另一实施例提供的设备标识信息的获取装置的结构示意图，如图3所示，本实施例的设备标识信息的获取装置可以包括第一检测单元32、第二检测单元33、阻值获得单元34和信息获取单元35。其中，第一检测单元32用于利用第一GPIO端口，检测电容通过上述待测电阻进行放电的第一放电时间，该第一GPIO端口通过定值电阻与上述电容连接；第二检测单元33用于利用第二GPIO端口，检测上述电容通过上述定值电阻进行放电的第二放电时间，该第二GPIO端口通过待测电阻与上述电容连接；阻值获得单元34用于根据上述第一放电时间、上述第二放电时间和上述定值电阻的电阻值，获得上述待测电阻的电阻值；信息获取单元35用于根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与上述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息。

图1对应的实施例中方法可以由本实施例提供的设备标识信息的获取装置实现。

进一步地，如图4所示，本实施例的设备标识信息的获取装置还可以进一步包括电容充电单元31，用于通过第一GPIO端口或第二GPIO端口给电容充电。具体地，本实施例中的电容充电单元31具体可以将上述第一GPIO端口或上述第二GPIO端口设置为输出高电平状态，用以通过上述第一GPIO端口或上述第二GPIO端口给上述电容充电。

具体地，本实施例中的第一检测单元32具体可以将上述第一GPIO端口设置为输入状态，用以对上述电容的电平进行检测，以及将上述第二GPIO端口设置为输出低电平状态，以使上述电容通过上述待测电阻进行放电，并将上述第一GPIO端口检测到的上述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为上述第一放电时间。

具体地，本实施例中的第二检测单元33具体可以将上述第二GPIO端口设置为输入状态，用以对上述电容的电平进行检测，以及将上述第一GPIO端口设置为输出低电平状态，以使上述电容通过上述定值电阻进行放电，并将上述第二GPIO端口检测到的上述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为上述第二放电时间。

具体地，本实施例中的阻值获得单元34具体可以根据R1＝R2T1/T2，计算R1的阻值；其中，上述R1为上述待测电阻；上述R2为上述定值电阻；上述T1为上述第一放电时间；上述T2为上述第二放电时间。

本实施例中，通过阻值获得单元根据第一检测单元检测的电容通过待测电阻进行放电的放电时间、第二检测单元检测的电容通过定值电阻进行放电的放电时间和定值电阻的电阻值，获得待测电阻的电阻值，使得信息获取单元根据待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，能够获取与上述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息，能够避免现有技术中固定个数的GPIO端口只能识别出有限数量的设备标识信息而导致的限制了GPIO端口能够识别设备标识信息的数量的问题，从而提高了GPIO端口的识别效率。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统，装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统，装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种设备标识信息的获取方法，其特征在于，包括：

利用第一通用输入输出GPIO端口，检测电容通过待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一GPIO端口通过定值电阻与所述电容连接；

利用第二GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，所述第二GPIO端口通过所述待测电阻与所述电容连接；

根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；

根据所述待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息；

所述利用第一GPIO端口，检测电容通过所述待测电阻进行放电的第一放电时间，包括：

将所述第一GPIO端口设置为输入状态，用以对所述电容的电平进行检测；

将所述第二GPIO端口设置为输出低电平状态，以使所述电容通过所述待测电阻进行放电；

将所述第一GPIO端口检测到的所述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为所述第一放电时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在检测放电时间前通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给电容充电。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给电容充电，包括：

将所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口设置为输出高电平状态，用以通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给所述电容充电。

4.根据权利要求1至3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述利用第二GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，包括：

将所述第二GPIO端口设置为输入状态，用以对所述电容的电平进行检测；

将所述第一GPIO端口设置为输出低电平状态，以使所述电容通过所述定值电阻进行放电；

将所述第二GPIO端口检测到的所述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为所述第二放电时间。

5.根据权利要求1至3任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值，包括：

根据R1=R2T1/T2，计算R1的阻值；

其中，所述R1为所述待测电阻；所述R2为所述定值电阻；所述T1为所述第一放电时间；所述T2为所述第二放电时间。

6.一种设备标识信息的获取装置，其特征在于，包括：

第一检测单元，用于利用第一通用输入输出GPIO端口，检测电容通过待测电阻进行放电的第一放电时间，所述第一GPIO端口通过定值电阻与所述电容连接；

第二检测单元，用于利用第二GPIO端口，检测所述电容通过所述定值电阻进行放电的第二放电时间，所述第二GPIO端口通过所述待测电阻与所述电容连接；

阻值获得单元，用于根据所述第一放电时间、所述第二放电时间和所述定值电阻的电阻值，获得所述待测电阻的电阻值；

信息获取单元，用于根据所述待测电阻的电阻值与设备标识信息的对应关系，获取与所述待测电阻的电阻值对应的设备标识信息；

所述第一检测单元具体用于

将所述第一GPIO端口设置为输入状态，用以对所述电容的电平进行检测，将所述第二GPIO端口设置为输出低电平状态，以使所述电容通过所述待测电阻进行放电，将所述第一GPIO端口检测到的所述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为所述第一放电时间。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括电容充电单元，用于通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给电容充电。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述电容充电单元具体用于

将所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口设置为输出高电平状态，用以通过所述第一GPIO端口或所述第二GPIO端口给所述电容充电。

9.根据权利要求6至8任一权利要求所述的装置，其特征在于，所述第二检测单元具体用于

将所述第二GPIO端口设置为输入状态，用以对所述电容的电平进行检测，将所述第一GPIO端口设置为输出低电平状态，以使所述电容通过所述定值电阻进行放电，将所述第二GPIO端口检测到的所述电容的电平从高电平到低电平的时间，作为所述第二放电时间。

10.根据权利要求6至8任一权利要求所述的装置，其特征在于，所述阻值获得单元具体用于

根据R1=R2T1/T2，计算R1的阻值；

其中，所述R1为所述待测电阻；所述R2为所述定值电阻；所述T1为所述第一放电时间；所述T2为所述第二放电时间。

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