CN102136279B - 光拾取装置和使用该光拾取装置的光盘装置 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种光拾取装置和使用该光拾取装置的光盘装置，其减少由多层光盘的杂散光引起的检测信号的变动，能够得到稳定的高品质的记录或再现。在光盘反射的光束中，仅根据除推挽区域外的周边部区域的光生成DPD信号，优化光检测器受光面的内部接线，对于以DPP法生成跟踪误差信号时必需的透镜错误信号的信号放大，能通过比以往更小的放大率实现。此外，按照将来自多层光盘的反射光分割为多个区域，分割后的光束在光检测器上的不同位置汇聚焦点、且焦点合焦在目标层时来自非再现对象的记录层的杂散光不入射到光检测器的伺服信号用的受光面的方式配置光束的分割区域和受光面。

Description

光拾取装置和使用该光拾取装置的光盘装置

技术领域

本发明涉及光拾取装置和光盘装置。

背景技术

作为本技术领域的背景技术，例如有日本特开2006-344344号公报(专利文献1)。本公报中记载了“从具有多个记录层的光盘精度良好地取得所需要的信号”。此外，例如有日本特开2006-344380号公报(专利文献2)。本公报中记载了“即使在使用具有2面信息记录面的能够记录的光存储介质的情况下，也检测出偏移较少的跟踪误差信号”。进而，例如非专利文献1中记载了“在其他层没有杂散光的区域配置跟踪用光电检测器”，该结构在日本特开2004-281026(专利文献3)中也有记载。

此外，例如有日本特开2008-102998号公报(专利文献4)。本公报中记载了“构成分割元件的各区域和光检测器的受光部，使得在使焦点合焦在光盘的目标信息记录层上的情况下，来自目标信息记录层的反射光束在光检测器的受光部上汇聚为焦点，来自目标信息记录层以外的信息记录层的反射光束不会照射到光检测器的受光部。”

近年来，存在下述课题，即在记录层多层化的光盘的记录或再现时，在不是再现对象的记录层上反射的杂散光入射到光检测器面上成为干扰成分，使光检测器的检测信号变动。特别是记录层多层化为3层以上的光盘中，在多个层上产生多余光束，所以干扰成分增加，上述检测信号的变动进一步增大。对于上述课题，专利文献4中，设置具有多个区域的分割元件，将在光盘上反射的光束，分割为射出方向不同的多条光束，从而分离杂散光和信号光，抑制检测信号的变动。

但是，上述结构中，必须对DPP法的用于跟踪误差信号的信号进行10倍左右的信号放大，存在会使没有完全分离而微量残留的杂散光引起的信号抖动成分、和损伤或污渍等干扰成分大幅放大的课题。结果，放大的干扰成分会漏入DPP信号，难以得到稳定的高品质的记录或再现品质。

专利文献1：日本特开2006-344344号公报

专利文献2：日本特开2006-344380号公报

专利文献3：日本特开2004-281026号公报

专利文献4：日本特开2008-102998号公报

非专利文献1：日本电子情报通信学会信学技报CPM2005-149(2005-10)

发明内容

本发明的目的在于，提供一种光拾取装置和光盘装置，其能够在抑制电信号放大的同时生成DPP信号，大幅减少干扰成分漏入检测信号，得到稳定的高品质的记录或再现品质。此外，还使构成能够抑制信号放大的信号检测方式下的光拾取装置接口的信号端子数最小化且简化。

本发明的效果是能够抑制漏入透镜错误信号的多层光盘的杂散光或光盘损伤、污渍等的干扰成分被信号放大器放大，在多层光盘的再现/记录时能够检测出良好的信号。

以上目的能够通过例如权利要求中记载的发明达成。

本发明能够提供一种光拾取装置，其包括：激光源；物镜，其使从该激光源射出的激光束聚光到光盘上；光束分割元件，其将光盘反射的信号光束分割为多条光束；和光检测器，其具有用于分别接收分割为多条光束的上述信号光束的多个受光面，其中，通过上述光束分割元件将上述信号光束分割为包含推挽信号区域的光束和不包含推挽信号区域的光束的至少2条光束，通过上述光检测器检测分割后的信号光束中的除去了包含上述推挽信号区域的光束之后的光束周边部区域的光束，使用来自上述光束周边部区域的光束的检测信号，输出用于生成作为跟踪误差信号的DPD信号的信号。

本发明还能够提供一种光拾取装置，其包括：激光源；物镜，其使从该激光源射出的激光束聚光到光盘上；光束分割元件，其将光盘反射的信号光束分割为多条光束；和光检测器，其具有用于分别接收分割为多条光束的上述信号光束的多个受光面，其中，上述光束分割元件是衍射光栅，并且被分割为多个衍射区域，具备以光量集中为规定次数和规定符号的衍射光的方式闪耀化的衍射区域。

本发明还提供一种光盘装置，其搭载有上述的光拾取装置；驱动该光拾取装置内的上述激光源的激光点亮电路；使用由上述光拾取装置内的上述光检测器检测出的信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号的伺服信号生成电路；和对记录在光盘上的信息信号进行再现的信息信号再现电路。

根据本发明，能够提供一种光拾取装置和光盘装置，其能够减少杂散光引起的干扰对检测信号的影响，能够进行高品质的信号检测。

附图说明

图1是表示本发明中的光拾取装置的结构例的概要图。

图2是表示现有例中的光束分割元件的概要图。

图3是表示现有例中的光检测器的结构的概要图。

图4是表示第一实施例中的光束分割元件的概要图。

图5A是表示第一实施例中的光检测器的结构的概要图。

图5B是表示第一实施例中的能够探测光检测器与光斑的位置偏离的光检测器的结构的概要图。

图6是表示第二实施例中的光检测器的结构的概要图。

图7是表示第三实施例中的光束分割元件的概要图。

图8A是表示第三实施例中的光检测器的结构的概要图。

图8B是表示第三实施例中的能够探测光检测器与光斑的位置偏离的光检测器的结构的概要图。

图8C是表示第三实施例中的光检测器的多种结构的一个例子的概要图。

图9是表示第四实施例中的光检测器的结构的概要图。

图10是表示第五实施例中的光检测器的结构的概要图。

图11是表示本发明中的光盘装置的结构例的概要图。

符号说明

1：激光源，2：激光束，3：偏光分束器，4：步进电机，5：准直透镜，6：1/4波长板，7：物镜，8：光盘，9：致动器，10：光束分割元件，11：光检测器，18～44：电流-电压变换放大器，900：控制电路，910：激光点亮电路，920：光拾取装置，930：主轴电机，940：主轴电机驱动电路，950：访问控制电路，960：致动器驱动电路，970：伺服信号生成电路，980：信息信号再现电路，990：信息信号记录电路

具体实施方式

以下参照附图说明本发明的实施方式的详情。其中，各图中，对于表示相同作用的构成元素附加相同的符号。

[实施例1]

图1是表示本发明的第一实施例的光拾取装置的一个例子的概要结构图。从激光源1射出的激光束2被偏光分束器3改变前进方向，经过被步进电机4驱动而能够进行入射光束的球面像差补正的准直透镜5，和对相互正交的偏光成分施加90度的相位差的1/4波长板6，被物镜7聚光在光盘8内的规定的记录层。

来自光盘8的反射光束再次透过物镜7后，经过1/4波长板6，偏光分束器3，光束被光束分割元件10分割为多条光束之后，入射到光检测器11。其中，物镜7优选安装在用于在规定方向上驱动的致动器9内。驱动该致动器进行物镜的位置控制。为了进行物镜的位置控制，进行使用跟踪误差信号的跟踪控制和使用聚焦误差信号的聚焦控制。也可以使用液晶元件等作为上述球面像差补正单元。

上述结构主要是记录或再现多层化的光盘时经常使用的光学系统方式。然后，首先说明现有的上述光束分割元件和光检测器的具体结构和课题。图2(a)中表示现有例中的上述光束分割元件10的概要形状的一个例子。上述光束分割元件是衍射光栅，且衍射光栅面被分割为多个区域，按每个区域分别设置规定的衍射光栅沟的形状即可。在光束分割元件上设置多个衍射区域a至衍射区域i。在光盘上反射的上述反射光束，受到光盘的记录层上设置的轨道沟的衍射作用。该光盘衍射光中，包含光束中心的0次光盘衍射光入射到衍射区域i，0次、+1次光盘衍射光入射到上述衍射区域a和b，0次和-1次光盘衍射光入射到上述衍射区域c和d。进而，分别与上述衍射区域a邻接地设置衍射区域e，与上述衍射区域b邻接地设置衍射区域f，与上述衍射区域c邻接地设置衍射区域g，与上述衍射区域d邻接地设置衍射区域h。0次的光盘衍射光束的周边部区域的光主要入射到衍射区域e至衍射区域h。只要在与上述各入射光束成分和衍射区域的关系对应的范围内，则也可以进行各衍射区域的形状的变更、区域间的一体化、或者进一步的区域分割。图2(b)中表示光束分割元件的变形例的一个例子。各衍射区域和入射的光盘衍射光的关系维持上述关系。

包括来自光盘沟的±1次光盘衍射光的衍射区域a至衍射区域d的光束中包括跟踪误差信号生成中必需的推挽(以下记作PP)信号成分。用PP信号能够得知光盘沟与聚光斑的相对位置关系。衍射区域e至衍射区域h的光束中包括跟踪误差信号生成中必需的透镜错误信号成分。透镜错误信号是与致动器上搭载的物镜的位置移动量成比例的信号。

在各区域中衍射的+1次光和-1次光分别聚光入射到光检测器11内设置的多个受光面而进行信号检测。图3(a)是表示现有例的光检测器11的受光面图案和信号接线的概要图。此外，图3(b)中表示记录或再现多层光盘时的来自记录或再现的对象记录层的反射光即信号光束、和来自不是记录或再现的对象的层的反射光(以下记作杂散光)在光检测器面上的光强度分布。通过衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h、i的光束中，+1次光分别入射到受光面DET1、4、2、3、8、6、7、5、19，形成聚光斑45、46、47、48、49、50、51、52、61。通过衍射区域e、f、g、h的光束的-1次光分别入射到受光面DET15、17、16、18，形成聚光斑57、58、59、60。通过衍射区域a、b、c、d的光束的-1次光入射到聚焦检测用的受光面DET9至DET14的区域。但是，因为优选在聚焦误差信号检测中使用双刀口法，所以在聚焦控制时，光并不直接入射到DET9至DET14，而是光束入射到各受光面之间，形成聚光斑53至聚光斑56。跟踪误差信号通过一般广泛使用的Differential push-pull法(差动推挽法)(以下记作DPP法)和Differentialphase detection法(差动位相探测法)(以下记作DPD法)进行信号检测。用光束分割元件也将在不是再现对象的记录层上反射的杂散光与信号光束同样地分割为多条光束。与在光检测器面上聚光的信号光相对，杂散光因为焦点偏离所以与信号光斑不同，不会聚光而是在一定的区域中具有模糊的光强度分布。通过衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h、i的杂散光中，+1次光形成光斑62、63、64、65、66、67、68、69、78。通过衍射区域e、f、g、h的杂散光的-1次光形成光斑74、75、76、77。通过区域a、b、c、d的杂散光的-1次光形成光斑70、71、72、73。由此能够成为在受光面上杂散光不会入射到来自用于生成跟踪误差信号的衍射区域的聚光斑的结构，是能够抑制因杂散光干涉信号光而引起检测信号的变动的结构。

检测上述衍射区域e至衍射区域h的+1次光栅衍射光或-1次光栅衍射光的2个以上的受光面，在与相当于上述光盘的半径方向的方向大致一致的方向上大致直线地排列，检测上述衍射光栅区域a至衍射区域d的+1次光栅衍射光或-1次光栅衍射光的2个以上的受光面在与相当于上述光盘的切线方向的方向大致一致的方向上排列的结构中，能够成为在物镜偏移时也易于避免杂散光的结构。

根据+1次光的检测信号进行用作信息再现信号和跟踪误差信号的DPD信号和PP信号的检测。-1次光用于聚焦误差信号和透镜错误信号的检测。DPP信号根据PP信号和透镜错误信号通过PP信号-k*透镜错误信号的运算生成。K表示放大器的放大率。

具体而言，如下所示进行内部接线，经过信号运算检测出各种信号。

将DET4和DET6内部接线，经过电流-电压变换放大器12输出的信号为A，

将DET2和DET7内部接线，经过电流-电压变换放大器13输出的信号为B，

将DET3和DET5内部接线，经过电流-电压变换放大器14输出的信号为C，

将DET1和DET8内部接线，经过电流-电压变换放大器15输出的信号为D，

将DET15和DET17内部接线，经过电流-电压变换放大器16输出的信号为L，

将DET16和DET18内部接线，经过电流-电压变换放大器17输出的信号为M，

从DET19经过电流-电压变换放大器18输出的信号为R，

将DET10和DET13内部接线，经过电流-电压变换放大器19输出的信号为F1，

将DET9、DET11、DET12和DET14内部接线，经过电流-电压变换放大器20输出的信号为F2。根据上述输出信号，通过以下运算，能够得到信息再现信号和伺服控制信号。

PP信号：(A+D)-(B+C)

透镜错误信号：L-M

DPP信号：PP信号-k*透镜错误信号((A+D)-(B+C)-k*(L-M))

聚焦误差信号：F1-F2

DPD信号：(A与B的相位比较)+(C与D的相位比较)

信息再现信号：A+B+C+D+R

现有例的光检测器中，不是按每个受光面设置电流-电压变换放大器进行信号检测，而是在光检测器内部将受光面之间接线，之后设置电流-电压变换放大器进行信号检测，由此减少电流-电压变换放大器的数量。这是为了确保信息再现信号检测中必需的S/N。电流-电压变换放大器的数量越减少，越能够减少噪声成分。此外，用于聚焦检测的双刀口法中，受光面内设置的暗线区域中信号检测的频率特性有劣化，所以来自上述受光面的信号不用于信息再现信号的检测较好。于是，使+1次光与-1次光的光量比例为4∶1左右，使+1次光具有权重，再现信号检测仅根据光量较强的+1次光侧，且用通过内部接线而减少了电流-电压变换放大器的数量的结构进行检测。用光量较弱的-1次光进行聚焦误差信号的检测。由此，上述光束分割元件的衍射区域的衍射效率为0次光∶+1次光∶-1次光＝0∶4∶1左右，一般使用+1次光的光量大于-1次光的光量的闪耀化的衍射光栅。

以下叙述现有例的课题。现有例中，课题为不得不从光量较弱的-1次光检测透镜错误信号，必须在用受光面检测后将信号用放大器以放大率k＝10左右大幅地电放大。虽然受光面配置为几何光学上是多层光盘中杂散光不会入射到受光面的结构，但是在波动光学上考虑时，难以完全分离杂散光和信号光束，杂散光在广范围上具有一定的光量成分。从而，入射到受光面的杂散光成分微量存在。特别是，层间隔较窄且存在多个作为杂散光发生的原因的记录层的多层光盘中，光检测器面上的杂散光的光量分布非常复杂，与信号光的完全分离非常难。从而，杂散光容易入射到受光面，上述杂散光成为干扰成分，检测信号中会产生变动。该多层杂散光引起的信号变动在现有例的结构中会被上述放大器大幅放大而漏入DPP信号。实际上，现有结构的光拾取器中，根据-1次光检测出的透镜错误信号中在多层光盘时容易产生变动。此外，在多层杂散光引起的信号变动以外，损伤和污渍等干扰成分也漏入透镜错误信号的情况下，也被上述放大器大幅放大，成为使记录或再现品质大幅劣化的主要原因。这样，现有例中，透镜错误信号对各种干扰非常敏感，这已成为课题。

也能够从衍射区域e至衍射区域h的+1次光侧的光斑检测出透镜偏移信号成分。如果能够这样检测，那么没有相应于衍射效率的光量差，能够将上述放大率抑制得较小。而且，光量较弱的-1次光侧的光容易受到衍射光栅的制造误差的影响，光束分割元件的各区域间的衍射效率的误差变大也是课题。这会成为DPP信号偏移的主要原因，使记录或再现品质降低。从而，从衍射效率误差的观点出发，优选仅使用光量较强一侧的+1次光生成DPP信号。但是，为了检测DPD信号，需要检测衍射区域a与e的和信号、衍射区域b与f的和信号、衍射区域c与g的和信号、衍射区域d与h的和信号这4个信号。于是，在不接线而全部通过电流-电压变换放大器独立检测并通过运算而生成PP和DPD信号生成中必要的信号的情况下，用于信息再现信号的检测的电流-电压变换放大器为9个，S/N会有很大劣化。为了避免这种情况，通过内部接线将电流-电压变换放大器减少为5个而同时实现PP信号、DPD信号和噪声较少的信息再现信号的检测。上述结构本来是在DPP信号运算时应从PP信号减去的透镜偏移信号的+1次光侧的信号加在PP信号上的结构。从而，不能够根据+1次光检测出透镜错误信号，现有例是不得不根据光量较小的-1次光取得透镜错误信号的结构。

将衍射效率的光量差值和+1次光的透镜偏移信号加到PP的结果，会使上述放大率成为k＝10左右这样非常大的值。

如以上说明，现有例的结构中，为了检测DPD信号并确保S/N而实现电流-电压变换放大器数量的减少，所以DPP信号生成中必需的透镜错误信号的电放大率要成为k＝10左右这样大的值。于是，本发明中，是通过引入新的DPD信号的检测法，将DPP信号生成中必需的上述放大器的放大率大幅抑制为1～2左右，且能够得到与以往同等的各种信号的光拾取装置。由此，能够提供一种抵抗多层杂散光和衍射光栅的衍射效率误差或损伤等干扰，成品率良好且能够得到稳定的高品质的记录/再现品质的光拾取装置。

首先，说明本发明中的新的DPD信号的检测法。现有的DPD法中，如上所述，使用信号光束的大致全部区域进行DPD信号检测。本发明中，着眼于信号光束的除PP信号区域以外的信号光束的周边部区域。即，研究能否仅用相当于衍射区域e至衍射区域h的光束周边部的区域的光束检测DPD信号。然后，研究的结果为，发现了即使仅用周边区域的光束也能够检测出良好品质的DPD信号。这是因为DPD信号并不是将光量的变化本身作为信号检测，而是检测光量变化的定时的不同(相位差)，将该相位差的变化量作为信号，所以即使光量或一部分光束的区域减少，只要能够检测光量变化的定时，就能够生成信号。根据上述本发明的新DPD检测法，可知即使不进行现有例中为了减少电流-电压变换放大器而强制将受光面DET1与8、DET2与7、DET3与5、DET4与6分别内部接线，仅用周边区域的光束入射的DET5、6、7、8的信号也能够检测DPD信号。根据本发明的新DPD检测法，不需要上述内部接线，只要用DET5，6，7，8的信号，就能够用光量较强的+1次光侧生成透镜错误信号，且能够检测DPD信号。从而，能够大幅降低上述放大器的放大率。具体而言，能够将放大率大幅降低为1.5左右。

以下说明本发明的具体结构。图4是表示本发明中的上述光束分割元件10的结构的概要图。是在上述现有例的变形例的范围内，但是将衍射区域b、c分别与衍射区域a、d一体化。衍射区域e、f、g、h优选为与现有例同样的衍射效率。衍射区域a、d是与现有例同样的衍射效率，或者也可以是光量仅集中在+1次光的衍射效率。

从上述衍射区域衍射的2次或3次等的高次衍射光的衍射效率越小则越优选，但完全为零的衍射光栅沟形状的设计和制造困难，上述高次衍射光的光斑具有少量的光量。因为它们也是多余的光，所以称为检测信号的干扰成分。使衍射区域a、d的衍射效率为光量仅集中在+1次光的衍射光栅的情况下，具有容易设计衍射光栅从而使得高次衍射光的光量减少的优点，能够提供一种能够检测出抑制了高次衍射光引起的干扰影响的、高品质的信号的光拾取装置。

衍射区域i为与现有例同样的衍射效率即可。图5A是表示本发明中的受光面结构和接线方法的概要图。

通过衍射区域a、d、e、f、g、h、i的光束中，+1次光分别入射到DET1’、2’、3’、5’、4’、6’、15’。通过衍射区域e、f、g、h的光束中，-1次光入射到焦点检测用的受光面DET7’至DET14’的区域。但是，因为优选使用双刀口法用于聚焦误差信号检测，所以在聚焦控制时信号光束并不直接入射到DET7’至DET14’，而是光束入射到各受光面之间。

各信号分别通过以下的运算求得。

从DET5’经过电流-电压变换放大器21输出的信号为A’，

从DET4’经过电流-电压变换放大器22输出的信号为B’，

从DET6’经过电流-电压变换放大器23输出的信号为C’，

从DET3’经过电流-电压变换放大器24输出的信号为D’，

从DET1’经过电流-电压变换放大器25输出的信号为L’，

从DET2’经过电流-电压变换放大器26输出的信号为M’，

从DET15’经过电流-电压变换放大器27输出的信号为R’，

将DET8’与DET14’内部接线经过电流-电压变换放大器28输出的信号为F1’，

将DET10’与DET12’内部接线经过电流-电压变换放大器29输出的信号为F2’，

将DET9’与DET11’内部接线经过电流-电压变换放大器30输出的信号为F3’，

将DET7’与DET13’内部接线经过电流-电压变换放大器31输出的信号为F4’。根据上述输出信号通过以下运算，能够得到信息再现信号和伺服控制信号。

PP信号：L’-M’

透镜错误信号：(A’+D’)-(B’+C’)

DPP信号：PP信号-k*透镜错误信号(L’-M’-k*{(A’+D’)-(B’+C’)}

聚焦误差信号：(F1’+F3’)-(F2’+F4’)

DPD信号：(A’与B’的相位比较)+(C’与D’的相位比较)

信息再现信号：A’+B’+C’+D’+L’+M’+R’

电流-电压变换放大器成为7个，但从现有例的5个增加2个并不会使劣化量增大，是能够通过电流-电压变换放大器自身的性能改善、或优化电流-电压变换放大器的灵敏度设定等而改善的水平。进而，优选将光检测器的各受光面上的受光灵敏度设定得尽量高。通过将受光灵敏度设定得较高，能够将电流-电压变换放大器的增益阻抗设定得较小，能够抑制因热噪声引起的信息再现信号品质的劣化。但是，提高受光灵敏度时，一般频率特性会劣化，所以优选在满足规定的频率特性的范围内，设定受光灵敏度。此外，信息再现信号将为了生成该信号而必需的各信号(本实施例中相当于信号A’、B’、C’、D’、L’、M’、R’)通过加法运算放大电路进行相加和放大的基础上，用从光拾取装置独立的信号端子输出，在噪声和频率特性方面是有利的。此时，为了减少噪声，优选使用2根信号线差动地输出信息再现信号。此外，上述加法运算放大器中，设定使信号衰减的增益，通过上述电流-电压变换放大器的放大率补偿该衰减量，由此能够成为进一步提高受光灵敏度的结构，能够减少噪声。

其中，对于聚焦误差信号，如果将F1’与F3’内部接线，将F2’+F4’内部接线，也能够成为减少了信号输出必需的信号端子数的简单结构。

此外，因为进行内部接线能够减少输出信号数，所以能够减少接口的信号端子数，能够提供低成本且简单的光拾取装置。

此外，因为减少了光检测器面上的光斑数，所以通过从2个衍射区域和与其对应的受光面取得PP区域而容易调整光检测器，具有能够改善成品率的优点。

其中，也可以将上述光束分割元件在偏光分束器3与1/4波长板6之间配置为往返路中的光束分割元件10。因为光检测器与光束分割元件之间的距离延长，所以能够增大必要的衍射光栅间距，具有易于制造元件的优点。此外，因为衍射光栅面上的光束有效直径也增大，所以各种信号的劣化程度对于元件的位置偏移会变得平缓。但是，为了不使上述光束分割元件作用在往路的光束上，优选使光束分割元件的衍射光栅是作为具有偏光特性的偏光衍射光栅、仅作用于返路光束的结构。

接着，说明本实施例的光拾取装置与光盘装置之间的信号传递所必需的接口结构。接口是具备分别输出根据上述光束周边部的光检测的DPD信号和透镜错误信号的生成中必需的信号A’、B’、C’、D’的4个信号端子、分别输出PP信号的生成中必需的信号L’、M’的2个信号端子、分别输出用于生成聚焦误差信号的F1’、F2’、F3’、F4’的4个信号端子、和输出信息再现信号的2个信号端子，至少共计12个信号端子的结构即可。以上限定为对本发明的主要部分即与伺服信号和信息再现信号相关的部分的接口结构进行说明。实际的光拾取装置中，有时在此外还要追加球面像差补正单元和致动器的驱动等的接口。此外，如果没有进行光检测器内的内部接线，则输出信号数会增加，所以与增加相应地追加信号端子即可。光束分割元件的光束分割数增加引起的受光面光斑的增加，即受光面的增加也是使输出信号数增加的主要原因，所以与增加相应地追加信号端子即可。

接着，考虑与以Blu-ray光盘为代表的蓝色系光盘的记录或再现、和以DVD和CD为代表的红色系光盘的记录或再现对应的兼容型光拾取装置。即，是对应记录或再现中使用的波长不同的3种介质的3波长兼容光拾取装置。一般而言，蓝色系的激光源可干涉性高，杂散光引起的干涉的影响容易显著地表现。于是，考虑将本实施例的结构应用于记录或再现蓝色系光盘的光学系统、干涉影响较小的红色类光盘的光学系统用一般的像散类的结构对应的3波长兼容光拾取装置。通过使上述3波长兼容光拾取装置中的接口结构成为如下所述，能够抑制信号端子的增加。首先，因为用于2种红色系光盘的光学系统都是一般的结构即像散检测系统即可，所以输出信号相同，能够共用接口。具体而言，由输出用于主PP和聚焦误差信号的生成和DPD信号的生成的信号成分的4个信号端子、输出用于子PP和差动像散法(以下记作DAD)的聚焦误差信号的生成的信号成分的4个信号端子、输出信息再现信号的2个信号端子共计10个信号端子构成。接着，使用本实施例结构的蓝色光学系统一侧的信号输出与红色光学系统一侧的信号输出针可以共用，从信号的传送特性的观点出发，优选优先使高频信号流过的DPD信号的信号端子共用化。于是，优选使流过DPD信号成分的信号A’、B’、C’、D’与红色系的DPD信号生成用的4个信号端子极性相符地共用化。输出信息再现信号的2个信号端子也能够共用化。此外，蓝色的输出聚焦误差信号成分的4个信号端子，能够与红色光学系统的输出用于子PP和DAD信号的生成的信号的4个信号端子极性相符地共用化。从而，3波长兼容光拾取装置中，能够用最多共计14个信号端子构成减少了信号端子数的接口。在搭载光拾取装置的光盘装置一侧，通过与光盘的种类相应地切换模式而对应共用化的信号端子，生成规定的信号。

为了进行光检测器的位置调整，通过将光检测器受光面进一步精细分割，能够检测出光检测器位置调整信号。于是，也可以使光检测器受光面如图5B所示。光检测器的图案和配置规则在不脱离以上所述的范围内，在受光面上设置分割线，通过多分割化得到光检测器位置的信号。

图5B中，将检测聚焦误差信号的受光面DET7’、DET10’、DET12’、DET14’的受光面多分割化。从而，产生变更的仅与用于聚焦误差信号的生成的输出信号F1’、F2’、F3’、F4’相关。

如图5B所示，通过在受光面DET7’上沿光盘切线方向设置1根分割线，分割为受光面DET7’A和DET7’B这2个部分。同样的，通过在受光面DET10’、DET12’、DET13’上也沿光盘切线方向分别设置1根同样的分割线，分别分割为受光面DET10’A和DET10’B、DET12’A和DET12’B、DET13’A和DET13’B。

将DET8’与DET14’内部接线，经过电流-电压变换放大器28输出的信号为F1’，

将DET7’B、DET10’B、DET12’B、DET13’B内部接线，经过电流-电压变换放大器29输出的信号为F2’，

将DET9’与DET11’内部接线，经过电流-电压变换放大器30输出的信号为F3’，

将DET7’A、DET10’A、DET12’A、DET13’A内部接线，经过电流-电压变换放大器31输出的信号为F4’。

用上述信号F1至F4的信号，通过进行规定的运算能够得到能够探测光检测器对于光斑的位置偏移的信号。

此外，通过(F1+F3)-(F2+F4)的运算能够检测聚焦误差信号。

图5B所示的光检测器结构中输出的信号的数量、和输出后的信号的运算方法没有变化，所以是与上述接口同样的结构。能够构成包括红色系光盘的兼容的光拾取装置的接口。但是，上述受光面的分割方法并不限定于以上所述。

为了成为易于避免杂散光的结构，优选受光面的配置是遵照现有例的基本结构的配置。从而，可以是检测上述衍射区域e至衍射区域h的+1次光栅衍射光或-1次光栅衍射光的2个以上的受光面在与相当于上述光盘的半径方向的方向大致一致的方向上大致直线排列，检测上述衍射光栅区域a至衍射区域d的+1次光栅衍射光或-1次光栅衍射光的2个以上的受光面在与相当于上述光盘的切线方向的方向大致一致的方向上排列的结构。从而，各受光面的配置并不限定于图5A和图5B所示的配置。只要来自各衍射区域的光束与入射的受光面的对应关系不变，就可以变更各受光面的配置位置。与此相应地使光束分割元件的衍射方向、角度相符，成为使光束入射到对应受光面的结构即可。其中，检测上述聚焦误差信号的受光面组，也没有进行信息再现信号和其他控制信号的检测，所以不仅是受光面图案的位置，也可以自由进行新的受光面的追加和内部接线的变更、输出信号和电流-电压变换放大器的追加等的改变。

根据以上结构，用光量较强的+1次光侧检测PP信号和透镜错误信号，且能够检测DPD信号，能够根据与PP信号衍射效率相等的+1次光侧检测透镜错误信号。由此，能够大幅降低上述放大器的放大率，放大率成为1.5左右。由此，能够提供一种抵抗多层杂散光引起的干涉变动和光盘的损伤和污渍等的各种干扰变动，且能够抑制衍射效率误差引起的信号劣化，得到稳定的高品质的记录/再现品质的光拾取装置。

[实施例2]

用图6说明第二实施例。本实施例中，与第一实施例相比，通过使用更加容易制造的光束分割元件，抑制上述光束分割元件的量产制造误差，使元件单体的性能稳定化，由此能够实现光拾取装置的成品率提高和低成本化。

本实施例中的光拾取装置的光学系统结构，例如可以是与图1所示的光拾取装置同样的结构。与第一实施例的不同点，是光束分割元件10和光检测器11的结构。于是，将第二实施例的主要部分即光检测器11的结构在图6中表示并说明。

第一实施例的光学系统结构中，衍射区域i的衍射光栅间距最容易变小。衍射光栅的间距变小时，因制造误差的影响而容易使衍射效率等产生变化。结果，产生光拾取器的性能误差，导致成品率降低。于是，仅上述衍射区域i为设置+1次光和-1次光的光量相等的矩形光栅的区域。与第一实施例中使用的闪耀光栅相比，矩形光栅的制造非常容易，能够较大程度抑制性能的误差。各衍射区域的形状与第一实施例相同即可。

图6中表示衍射区域i为矩形光栅的情况下的光检测器的概要图。与第一实施例不同的是接收来自衍射区域i的光束的受光面结构及其内部接线。因为使衍射区域i为矩形光栅，对于±1次光均等地分配光量，所以+1次光的光量与第一实施例相比减少。于是，新设置DET16’，也检测光量增加了的衍射区域i的-1次光。此外，DET15’和DET16’内部接线，输出信号R’即可，不增加电流-电压变换放大器。

其他各衍射区域与受光面的对应和内部接线及信号运算方法与第一实施例相同即可。具体而言，通过衍射区域a、d、e、f、g、h的光束中，+1次光分别入射到DET1’、2’、3’、5’、4’、6’。通过衍射区域e、f、g、h的光束中，-1次光入射到聚焦检测用的受光面DET7’至DET14’的区域。但是，因为在聚焦误差信号检测中优选使用双刀口法，所以信号光束并不直接入射到DET7’至DET14’，而是光束入射到各受光面之间。跟踪误差信号进行一般广泛使用的DPP法和DPD法的信号检测。设置了上述矩形衍射光栅沟的衍射区域i的+1次光入射到受光面DET15’，-1次光入射到受光面DET16’。

各信号分别通过以下运算求得。

从DET5’经过电流-电压变换放大器21输出的信号为A’，

从DET4’经过电流-电压变换放大器22输出的信号为B’，

从DET6’经过电流-电压变换放大器23输出的信号为C’，

从DET3’经过电流-电压变换放大器24输出的信号为D’，

从DET1’经过电流-电压变换放大器25输出的信号为L’，

从DET2’经过电流-电压变换放大器26输出的信号为M’，

将DET15’与DET16’内部接线，经过电流-电压变换放大器27输出的信号为R’，

将DET8’与DET14’内部接线，经过电流-电压变换放大器28输出的信号为F1’，

将DET10’与DET12’内部接线，经过电流-电压变换放大器29输出的信号为F2’，

将DET9’与DET11’内部接线，经过电流-电压变换放大器30输出的信号为F3’，

将DET7’与DET13’内部接线，经过电流-电压变换放大器31输出的信号为F4’。根据上述输出信号通过以下运算，能够得到信息再现信号和伺服控制信号。

PP信号：L’-M’

透镜错误信号：(A’+D’)-(B’+C’)

DPP信号：PP信号-k*透镜错误信号(L’-M’-k*{(A’+D’)-(B’+C’)})

聚焦误差信号：(F1’+F3’)-(F2’+F4’)

DPD信号：(A’与B’的相位比较)+(C’与D’的相位比较)

信息再现信号：A’+B’+C’+D’+L’+M’+R’

因为输出的信号与第一实施例相同，所以接口结构也能够是与第一实施例相同的结构。此外，虽然没有特别图示，但也能够通过不将DET15’和DET16’的输出内部接线，分别单独输出信号R1’和R2’，而用于光检测器的位置调整信号。该情况下，在上述接口结构上增加设置输出R1’和R2’的信号端子即可。

即，本实施例中，通过使用与第一实施例相比更容易制造的光束分割元件，能够抑制上述光束分割元件的量产制造误差，使元件单体的性能稳定化，实现光拾取装置的成品率的提高和低成本化，并且使上述放大器的放大率大幅减少至1.5左右。由此，具有能够提供一种抵抗多层杂散光干涉等干扰、并且与第一实施例相比量产时的性能误差更少，能够得到稳定的高品质的记录/再现信号的光拾取装置的优点。

[实施例3]

接着，用图7和图8说明第三实施例。本实施例中，与第一实施例相比，减少用于信息再现信号检测的电流-电压变换放大器的数量，提供一种能够检测出噪声成分更少的高品质的信息再现信号的光拾取装置。

本实施例中的光拾取装置的光学系统结构，例如可以是与图1所示的光拾取器同样的结构。与第一实施例的不同点，是光束分割元件10和光检测器11的结构。于是，将第三实施例的主要部分即光束分割元件10和光检测器11的结构在图7和图8A中分别表示。

光束分割元件的结构可以与第一实施例中说明的现有例的光束分割元件同样。衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h、i优选为与现有例同样的衍射效率。

根据衍射区域a至衍射区域d的+1次光检测PP信号，根据衍射区域e至衍射区域h的+1次光检测透镜错误信号，根据衍射区域e至衍射区域h的-1次光检测上述DPD信号，根据衍射区域a至衍射区域d的-1次光检测聚焦误差信号，根据衍射区域a至衍射区域i的+1次光检测信息再现信号。第二实施例中的特征在于根据光量较弱的-1次光侧检测使用光束周边部的区域的新DPD信号。如上所述，对于DPD信号，检测信号变化的定时，根据该变化定时的相位差量得到跟踪误差信号。从而，具有即使信号光量较弱，只要能够检测信号变化的定时，就能得到正确的跟踪误差信号的优点，与光量变化直接作为跟踪误差信号的DPP信号相比更能抵抗干扰。于是，成为从光束周边部检测出的DPD信号是从光量较弱的-1次光检测的结构。由此，根据+1次光侧仅得到PP信号和透镜偏移信号即可，所以通过将受光面DET1与4、受光面2与3、受光面5与7、受光面6与8分别内部接线，能够将电流-电压变换放大器的数量减少为与现有例相同的5个。透镜错误信号是从+1次光检测出的，所以透镜错误信号的放大率能够降低至与第一实施例相同的k＝1.5左右。

图8A是表示本发明中的光检测器11的结构的概要图。通过衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h、i的光束中，+1次光分别入射到DET1、4、2、3、8、6、7、5、19，通过衍射区域e、f、g、h的光束中，-1次光分别入射到DET15、17、16、18。通过衍射区域a、b、c、d的光束的-1次光入射到聚焦检测用的受光面DET9至DET14。但是，因为聚焦误差信号检测中优选使用双刀口法，所以光并不直接入射到DET9至DET14，而是光束入射到各受光面之间。

各信号分别通过以下运算求得。

从DET17经过电流-电压变换放大器32输出的信号为A’，

从DET16经过电流-电压变换放大器33输出的信号为B’，

从DET18经过电流-电压变换放大器34输出的信号为C’，

从DET15经过电流-电压变换放大器35输出的信号为D’，

将DET1与DET4内部接线，电流-电压变换放大器36的输出信号为L’，

将DET2与DET3内部接线，电流-电压变换放大器37的输出信号为M’，

将DET6与DET8内部接线，电流-电压变换放大器38的输出信号为P’，

将DET5与DET7内部接线，电流-电压变换放大器39的输出信号为Q’，

从DET19经过电流-电压变换放大器40输出的信号为R’，

将DET10与DET13内部接线，经过电流-电压变换放大器41输出的信号为F1’，

将DET9、DET11、DET12和DET14内部接线，经过电流-电压变换放大器42输出的信号为F2’。根据上述输出信号，通过以下运算，能够得到信息再现信号和伺服控制信号。

PP信号：L’-M’

透镜错误信号：P’-Q’

DPP信号：PP信号-k*透镜错误信号(L’-M’-k*(P’-Q’))

聚焦误差信号：F1’-F2’

DPD信号：(A’与B’的相位比较)+(C’与D’的相位比较)

信息再现信号：L’+M’+P’+Q’+R’

如上所述，其构成为在光束周边部检测的DPD信号是从光量较弱的-1次光检测出的，所以能够将受光面DET1与4、受光面2与3、受光面5与7、受光面6与8分别内部接线而输出信号，将电流-电压变换放大器减少至与现有例相同的5个。

此外，本发明中的光拾取装置的接口的结构如下所述即可。接口中，具备分别输出DPP信号生成中必需的信号L’、M’、P’、Q’的4个信号端子、分别输出从上述光束周边部的光检测出的DPD信号生成中必需的信号A’、B’、C’、D’的4个信号端子、分别输出聚焦误差信号生成中使用的信号F1’、F2’的2个信号端子、和差动地输出信息再现信号的2个信号端子至少共计12个信号端子的结构即可。

进而，为了进行光检测器的位置调整，考虑使光检测器受光面如图8B所示的情况。图8B中在检测聚焦误差信号的受光面DET10和受光面DET13上设置新的分割线而多分割化。光检测器的图案和配置规则在不脱离以上所述的范围内，在受光面上设置新的分割线，通过多分割化得到光检测器的位置偏移误差的信号。但是，受光面的分割方法并不限定于图中所示。为了成为易于避免杂散光的结构，优选受光面的配置是遵照现有例的基本结构的配置。从而，可以是检测上述衍射区域e至衍射区域h的+1次光栅衍射光或-1次光栅衍射光的2个以上的受光面在与相当于上述光盘的半径方向的方向大致一致的方向上大致直线排列，检测上述衍射光栅区域a至衍射区域d的+1次光栅衍射光或-1次光栅衍射光的2个以上的受光面在与相当于上述光盘的切线方向的方向大致一致的方向上排列的结构。从而，各受光面的配置并不限定于图8A和图8B所示的配置。图8C表示受光面配置的多种结构例的一个例子。图8C的配置中，也是满足避免杂散光所必需的基本构成条件的结构。

如图8B所示，通过在受光面DET10上设置1根与光盘切线方向平行的分割线，分割为受光面DET10A和DET10B这2个受光面。同样的，通过在受光面DET13上也设置1根与光盘切线方向平行的分割线，分割为受光面DET13A和DET13B。

将DET10A与DET13A内部接线，经过电流-电压变换放大器41输出的信号为F1’，

将DET9B与DET12内部接线，经过电流-电压变换放大器42输出的信号为F2’，

将DET10B与DET13B内部接线，经过电流-电压变换放大器79输出的信号为F3’，

将DET11与DET14内部接线，经过电流-电压变换放大器80输出的信号为F4’。

用上述信号F1至F4的信号，通过进行规定的运算能够得到能够探测光检测器对于光斑的位置偏移的信号。

此外，通过(F1+F3)-(F2+F4)的运算能够检测聚焦误差信号。

接口结构中，只要变更输出生成聚焦误差信号的信号的部分即可，需要用信号F1’、F2’、F3’、F4’流过的4个信号端子代替信号F1’、F2’流过的2个信号端子。如上所述，在不脱离本实施例的主旨的范围内，能够变更信号端子数。

接着考虑3波长兼容的光拾取装置。通过使上述3波长兼容光拾取装置中的接口结构为以下所述，能够抑制信号端子的数量，能够成为低成本的结构。与第一实施例同样，用于2种红色系光盘的光学系统都使用像散检测系统即可，输出信号相同，能够共用接口。具体而言，由输出主PP信号和聚焦误差信号和DPD信号的信号成分的4个信号端子、输出子PP信号和DAD法的聚焦误差信号的信号成分的4个信号端子、输出信息再现信号的2个信号端子共计10个信号端子构成。

接着，蓝色光学系统一侧的信号输出与红色光学系统一侧的信号输出针可以共用，从信号的传送特性的观点出发，优选优先使高频信号流过的DPD信号成分的信号端子共用化。于是，输出信息再现信号的2个信号端子能够共用化。输出作为DPD信号成分的信号A’、B’、C’、D’的4个信号端子与输出红色系光盘的DPD生成用的信号的4个信号端子能够极性相符地共用化。

此外，用于生成蓝色光盘中的聚焦误差信号的2个或4个信号端子，能够与红色光学系统的输出用于子PP和DAD信号的生成的信号的4个信号端子极性相符地共用化。在接收信号的光盘装置一侧共用化的信号端子的部分，通过与记录或再现的光盘的种类相应的切换模式而切换并对应内部的信号处理。

以上限定于本实施例的主要部分即与伺服信号和信息再现信号相关的部分的接口结构进行了说明。实际的光拾取装置中，有时在此外还要追加球面像差补正单元和致动器的驱动等的接口。

即，本实施例中，在光束周边部检测的DPD信号是从光量较弱的-1次光检测出的，由此减少电流-电压变换放大器的使用数量，具有可以得到比第一实施例噪声更少的高品质的信息再现信号的优点。并且，能够将上述放大器的放大率大幅减少至k＝1.5左右，能够提供一种抵抗多层杂散光干涉等的干扰的、得到稳定的高品质的记录/再现信号的光拾取装置。

[实施例4]

用图9说明第四实施例。本实施例中，通过使用比第三实施例更容易制造的光束分割元件，能够抑制上述光束分割元件的量产制造误差，使元件单体的性能稳定化，实现光拾取装置的成品率提高和低成本化。

本实施例中的光拾取装置的光学系统结构，例如可以是与图1所示的光拾取装置同样的结构。与第一实施例的不同点，是光束分割元件10和光检测器11的结构。于是，将第四实施例的主要部分即光检测器11的结构在图9中表示并进行说明。

第一实施例的光学系统结构中，衍射区域i的衍射光栅间距最容易变小。衍射光栅的间距变小时，因制造误差的影响而容易使衍射效率等产生变化。结果，产生光拾取器的性能误差，导致成品率降低。

于是，仅上述衍射区域i为设置+1次光和-1次光的光量相等的矩形光栅的区域。与第一实施例中使用的闪耀光栅相比，矩形光栅的制造非常容易，能够较大程度抑制性能的误差。各衍射区域的形状与第一实施例相同即可。

图9是表示衍射区域i为矩形光栅的情况下的光检测器结构的一个例子的概要图。与第三实施例不同的是接收来自衍射区域i的光束的受光面的结构。因为使衍射区域i为矩形光栅，对于±1次光均等地分配光量，所以+1次光的光量与第一实施例相比减少。于是，新设置DET20，也检测来自衍射区域i的光束的-1次光。此外，DET19与DET20内部接线，输出信号R’即可，不增加电流-电压变换放大器。DET19和DET20以外的受光面与第三实施例同样，为满足避免杂散光的必要的基本结构条件的配置即可。

其他各衍射区域与受光面的对应和内部接线及信号运算方法与第一实施例相同即可。具体而言，通过衍射区域a、b、c、d、e、f、g、h的光束中，+1次光分别入射到DET1、4、2、3、8、6、7、5，通过衍射区域e、f、g、h的光束中，-1次光分别入射到DET15、17、16、18。通过衍射区域a、b、c、d的光束的-1次光入射到聚焦检测用的受光面DET9至DET14的区域。但是，因为在聚焦误差信号检测中优选使用双刀口法，所以光并不直接入射到DET9至DET14，而是光束入射到各受光面之间。跟踪误差信号进行一般广泛使用的DPP法和DPD法的信号检测。设置了上述矩形的衍射光栅沟的衍射区域i的+1次光入射到受光面DET19，-1次光入射到受光面DET20。

各信号分别通过以下运算求得。

从DET17经过电流-电压变换放大器32输出的信号为A’，

从DET16经过电流-电压变换放大器33输出的信号为B’，

从DET18经过电流-电压变换放大器34输出的信号为C’，

从DET15经过电流-电压变换放大器35输出的信号为D’，

将DET1与DET4内部接线，电流-电压变换放大器36的输出信号为L’，

将DET2与DET3内部接线，电流-电压变换放大器37的输出信号为M’，

将DET6与DET8内部接线，电流-电压变换放大器38的输出信号为P’，

将DET5与DET7内部接线，电流-电压变换放大器39的输出信号为Q’，

将DET19与DET20内部接线，电流-电压变换放大器40的输出信号为R’，

将DET10与DET13内部接线经过电流-电压变换放大器41输出的信号为F1’，

将DET9、DET11、DET12和DET14内部接线，经过电流-电压变换放大器42输出的信号为F2’。根据上述输出信号，通过以下运算，能够得到信息再现信号和伺服控制信号。

PP信号：L’-M’

透镜错误信号：P’-Q’

DPP信号：PP信号-k*透镜错误信号(L’-M’-k*(P’-Q’))

聚焦误差信号：F1’-F2’

DPD信号：(A’与B’的相位比较)+(C’与D’的相位比较)

信息再现信号：L’+M’+P’+Q’+R’

因为输出的信号与第三实施例相同，所以接口结构也能够是与第三实施例相同的结构。此外，虽然没有特别图示，但也能够通过不将DET19和DET20的输出内部接线，分别单独输出信号R1和R2，而用于光检测器的位置调整信号。该情况下，在上述接口结构上增加设置输出R1和R2的信号端子即可。

即，本实施例中，通过使用与第三实施例相比制造更容易的光束分割元件，能够抑制上述光束分割元件的量产制造误差，使元件单体的性能稳定化，实现光拾取装置的成品率的提高和低成本化，并且使上述放大器的放大率大幅减少至1.5左右。由此，具有能够提供一种抵抗多层杂散光干涉等干扰、并且量产时的性能误差较少的能够得到稳定的高品质的记录/再现信号的光拾取装置的优点。

[实施例5]

接着，用图10说明第五实施例。本实施例中，与第一实施例相比，减少用于信息再现信号检测的电流-电压变换放大器的数量，提供一种得到噪声成分更少的高品质的信息再现信号的光拾取装置。

本实施例中的光拾取装置的光学系统结构，例如可以是与图1所示的第一实施例的光拾取装置同样的结构。与第一实施例的不同点是光检测器11的结构。在图10中表示第五实施例的主要部分即光检测器11。DPD信号是以ROM光盘为前提的跟踪误差信号的检测方式。DPD信号检测光量变化的相位差，但这是因为该光量变化是ROM光盘上设置的记录坑带来的。但是，例如Blu-ray光盘(以下记作BD)中，ROM光盘也支持DPP法，所以并不一定需要DPD信号的检测。于是，本实施例的光拾取装置中，目标在于通过不进行DPD信号的检测本身，而是对ROM光盘也进行DPP法的跟踪误差信号检测，由此进一步增加受光面的内部接线，减少电流-电压变换放大器的数量，减少信息再现信号的噪声成分。光束分割元件与第一和第二实施例相同即可。此外，光检测器的受光面配置也与第一和第二实施例相同即可。与第一和第二实施例不同的是，从受光面DET3’至DET6’到电流-电压变换放大器43和电流-电压变换放大器44的内部接线的方法。图10中，表示使衍射区域i为矩形的衍射光栅沟的情况下的受光面图案的一个例子。

将DET3与DET5’内部接线，经过电流-电压变换放大器43输出的信号为P’，

将DET4与DET6’内部接线，经过电流-电压变换放大器44输出的信号为Q’。由此通过P’-Q’生成透镜错误信号，通过L’+M’+P’+Q’+R’生成信息再现信号。其他内部接线方法和信号运算方法与第一和第二实施例同样即可。

此外，本实施例中的光拾取装置的接口的结构如下所述即可。接口中，至少具备输出DPP信号生成中必需的信号L’、M’、P’、Q’的4个信号端子、输出用于聚焦误差信号生成的信号F1’、F2’、F3’、F4’的4个信号端子、和差动地输出信息再现信号的2个信号端子共计10个信号端子的结构即可。

接着，考虑3介质兼容的光拾取装置。上述兼容光拾取装置中的接口结构如以下所述时，能够抑制信号端子的数量，能够成为低成本的结构。首先，因为DVD系和CD系都是像散检测系统，所以输出信号相同，能够共用接口。具体而言，由输出主PP信号和聚焦误差信号及能够生成DPD信号的信号成分的4个信号端子、输出子PP信号和DAD法的聚焦误差信号的成分的4个信号端子、差动地输出信息再现信号的2个信号端子共计10个信号端子构成。

接着，3波长兼容光拾取装置中，考虑蓝色光学系统一侧的信号输出与红色光学系统一侧的信号端子的共用化。蓝色系的信息再现信号的2个信号端子与红色系的信息再现信号的2个信号端子能够共用化。此外，蓝色的聚焦误差信号的成分流过的4个信号端子，能够与红色光学系统的子PP信号和DAD信号成分流过的4个信号端子共用化。从而，3波长兼容光拾取装置中，能够将信号端子数减少至共计14个信号端子而构成接口。在接收来自光拾取装置的信号的光盘装置侧，与光盘的种类对应地切换模式，从而对应共用化的信号端子。

以上对限定于本实施例的主要部分即与伺服信号和信息再现信号相关的部分的接口结构进行了说明。实际的光拾取装置中，有时在此外还要追加球面像差补正单元和致动器的驱动等的接口。

为了进行光检测器的位置调整，通过将光检测器受光面进一步精细分割，能够检测出光检测器位置调整信号。受光面的分割方法例如为与图5B中说明方法的同样的结构即可。将检测聚焦误差信号的受光面DET7’、DET10’、DET12’、DET14’的受光面多分割化。从而，产生变更的仅与用于聚焦误差信号的生成的输出信号F1’、F2’、F3’、F4’相关。

将DET8’与DET14’内部接线，经过电流-电压变换放大器28输出的信号为F1’，

将DET7’B、DET10’B、DET12’B、DET13’B内部接线，经过电流-电压变换放大器29输出的信号为F2’，

将DET9’与DET11’内部接线，经过电流-电压变换放大器30输出的信号为F3’，

将DET7’A、DET10’A、DET12’A、DET13’A内部接线，经过电流-电压变换放大器31输出的信号为F4’。

用上述信号F1至F4的信号，通过进行规定的运算能够得到能够探测光检测器对于光斑的位置偏移的信号。

此外，通过(F1+F3)-(F2+F4)的运算能够检测出聚焦误差信号。

图5B所示的光检测器结构中输出的信号的数量、和输出后的信号的运算方法没有变化，通过与上述接口同样的结构，能够构成包括红色系光盘的兼容的光拾取装置的接口。但是，上述受光面的分割方法并不限定于以上所述。

根据上述结构，能够将影响信息再现信号的电流-电压变换放大器的数量从7个减少至5个。即，本实施例中，具有可以得到比第一实施例噪声更少的高品质的信息再现信号的优点。

[实施例6]

图11是搭载了第一至第五实施例的光拾取装置的光盘装置的概要图。8是光盘，910是激光点亮电路，920是光拾取装置，930是主轴电机，940是主轴电机驱动电路，950是访问控制电路，960是致动器驱动电路，970是伺服信号生成电路，980是信息信号再现电路，990是信息信号记录电路，900是控制电路。控制电路900、伺服信号生成电路970、制动器驱动电路960，与来自光拾取器920的输出相应地控制致动器。通过将来自本发明中的光拾取装置的输出用于致动器控制，能够进行稳定且高精度的信息记录和信息再现。

此外，作为使用本发明的光拾取装置，并不限定于如图1所示的光学系统和实施例中说明的光学系统结构或受光面结构。

通过使用上述各单元，在对多层化的光盘进行记录或再现时，能够得到良好的再现品质。

以上说明了符合本发明的光拾取装置和使用它的光盘装置的实施方式，但本发明并不限定于上述实施方式，在不脱离本发明的主旨的范围内能够进行各种改良和变形。即，上述实施例是为了易于理解地说明本发明的详细说明，并不限定于具备说明的所有结构。此外，能够将某个实施例的结构的一部分置换为其他实施例的结构，此外，也能够在某个实施例的结构上添加其他实施例的结构。此外，对各实施例的结构的一部分，都能够进行其他结构的追加、删除、置换。

Claims (10)

1.一种光拾取装置，其特征在于，包括：

激光源；

物镜，其使从该激光源射出的激光束聚光到光盘上；

光束分割元件，其将光盘反射的信号光束分割为多条光束；和

光检测器，其具有用于分别接收分割为多条光束的所述信号光束的多个受光面，其中，

通过所述光束分割元件将所述信号光束分割为包含推挽信号区域的光束和不包含推挽信号区域的光束的至少2条光束，

通过所述光检测器检测分割后的信号光束中的除去了包含所述推挽信号区域的光束之后的光束周边部区域的光束，

使用来自所述光束周边部区域的光束的检测信号，输出用于生成作为跟踪误差信号的DPD信号的信号。

2.如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于：

从输出用于生成透镜错误信号的信号的信号端子，能够输出从所述光束周边部区域的光束检测出的用于生成DPD信号的信号。

3.如权利要求2所述的光拾取装置，其特征在于，包括：

由至少12个信号端子构成的接口，该12个信号端子为，

输出用于生成推挽信号的信号的2个信号端子；

不包含推挽信号成分地输出透镜错误信号成分及DPD信号成分的4个信号端子；

输出用于生成聚焦误差信号的信号的4个信号端子；和

输出用于生成信息再现信号的信号的2个信号端子。

4.如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于，

具有接口，在该接口中，

输出用于生成透镜错误信号的信号的信号端子，和输出从所述光束周边部区域的光束检测出的用于生成DPD信号的信号的信号端子分别独立，

透镜错误信号的信号端子数至少是2个，

从所述光束周边部区域的光束检测出的DPD信号成分的信号端子数至少是4个。

5.如权利要求4所述的光拾取装置，其特征在于，包括：

由至少12个信号端子构成的接口，该12个信号端子为，

输出用于生成推挽信号的信号的2个信号端子；

输出用于生成透镜错误信号的信号的2个信号端子；

不包含推挽信号成分地输出DPD信号成分的4个信号端子；

输出用于生成聚焦误差信号的信号的2个信号端子；和

输出用于生成信息再现信号的信号的2个信号端子。

6.如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于：

所述光拾取装置是能够与进行记录和再现的光的波长不同的第一、第二和第三介质这三种介质对应的3波长互换光拾取装置，

所述光拾取装置具有用于对第二和第三介质进行记录或再现的规定的光学系统结构，

所述3波长互换光拾取装置的接口中，

所述第一介质的记录或再现时，输出从所述光束周边部区域的光束检测出的用于生成DPD信号的信号的信号端子，与所述第二及第三介质的记录或再现时，输出用于生成DPD信号的信号的信号端子是共用的，

且所述第一介质的记录或再现时，输出用于生成聚焦误差信号的信号的信号端子，与所述第二及第三介质的记录或再现时，输出用于生成子推挽信号的信号的信号端子是共用的。

7.如权利要求1所述的光拾取装置，其特征在于：

所述光检测器中，由电流-电压变换放大器对于通过各受光面检测出的信号进行信号放大，并且，为了生成信息再现信号，在通过加法运算放大器对由所述电流-电压变换放大器进行信号放大后的各检测信号进行加法运算时，进行使信号衰减的增益设定。

8.如权利要求1～7中任意一项所述的光拾取装置，其特征在于：

具备对记录在所述光盘内按照规定间隔设置的多个记录层上的各信息信号进行再现的功能，和在各记录层上记录各信息信号的功能。

9.一种光盘装置，其特征在于：

搭载有如权利要求1～7中任意一项所述的光拾取装置；驱动该光拾取装置内的所述激光源的激光点亮电路；使用由所述光拾取装置内的所述光检测器检测出的信号，生成聚焦误差信号和跟踪误差信号的伺服信号生成电路；和对记录在光盘上的信息信号进行再现的信息信号再现电路。

10.如权利要求9所述的光盘装置，其特征在于：

具备对记录在所述光盘内按照规定间隔设置的多个记录层上的各信息信号进行再现的功能，和在各记录层上记录各信息信号的功能。