[go: up one dir, main page]

CN102099847B - 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法 - Google Patents

有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法 Download PDF

Info

Publication number
CN102099847B
CN102099847B CN2009801284898A CN200980128489A CN102099847B CN 102099847 B CN102099847 B CN 102099847B CN 2009801284898 A CN2009801284898 A CN 2009801284898A CN 200980128489 A CN200980128489 A CN 200980128489A CN 102099847 B CN102099847 B CN 102099847B
Authority
CN
China
Prior art keywords
wiring
wirings
lead
active matrix
matrix substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN2009801284898A
Other languages
English (en)
Other versions
CN102099847A (zh
Inventor
吉田昌弘
河村武彦
冈田胜博
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Publication of CN102099847A publication Critical patent/CN102099847A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN102099847B publication Critical patent/CN102099847B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10HINORGANIC LIGHT-EMITTING SEMICONDUCTOR DEVICES HAVING POTENTIAL BARRIERS
    • H10H20/00Individual inorganic light-emitting semiconductor devices having potential barriers, e.g. light-emitting diodes [LED]
    • H10H20/062Light-emitting semiconductor devices having field effect type light-emitting regions, e.g. light-emitting High-Electron Mobility Transistors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611Control of matrices with row and column drivers
    • H10P74/207
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13456Cell terminals located on one side of the display only
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136254Checking; Testing
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426Layout of electrodes and connections
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2310/00Command of the display device
    • G09G2310/02Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
    • G09G2310/0264Details of driving circuits
    • G09G2310/0278Details of driving circuits arranged to drive both scan and data electrodes
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/20Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
    • G09G3/34Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source
    • G09G3/36Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters by control of light from an independent source using liquid crystals
    • G09G3/3611Control of matrices with row and column drivers
    • G09G3/3648Control of matrices with row and column drivers using an active matrix

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Power Engineering (AREA)

Abstract

有源矩阵基板(2)具备:第1连接配线(641、643、645、647),其与引出配线(611、613、615、617)所连接的栅极端子(51)连接;第2连接配线(642、644、646),其与引出配线(612、614、616)所连接的栅极端子(51)连接;合并配线(651~654),其将作为相互相邻的2条的上述第1连接配线和上述第2连接配线合并成1条;第1检查配线(66),其能对合并配线中互不相邻的合并配线(652、654)输入检查信号;以及第2检查配线(67),其能对合并配线中不与第1检查配线(66)连接并且互不相邻的合并配线(651、653)输入检查信号。

Description

有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法
技术领域
本发明涉及具有2层以上的层,在各个层中形成将相互平行地形成于显示区域的多个第1配线和配置于端子配置区域的多个第1端子分别连接的多个第1引出配线的有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法。 
背景技术
近年来,在便携电话、PDA、车载导航系统、个人计算机等各种电子设备中,液晶面板被广泛使用。液晶面板具有较薄、轻型、消耗电力少的优点。作为将驱动器实装于这种液晶面板的方式,已知将驱动器直接实装到隔着液晶材料对置的一对基板中的一方基板(有源矩阵基板)的方式,所谓的COG(Chip On Glass:玻璃上芯片)方式(例如参照日本特开平9-329796号公报、日本特开平8-328033号公报)。通过用该COG方式能实现液晶面板的薄型化、小型化、轻型化、配线间和端子间的高精细化。 
另外,近年来,用于便携电话、PDA等小型电子设备的液晶面板逐渐从显示画面的纵横像素数为160×120的QQVGA和176×144的QCIF转变为320×240的QVGA乃至640×480的VGA。随之,构成液晶面板的有源矩阵基板上要形成的配线、端子的数量增加。然而,近年来,有源矩阵基板的尺寸无法为了满足液晶面板的小型化、高精细化的要求而变大。 
因此,已知在2层以上的层(多层)中分别形成将形成于显示区域的多个栅极配线和配置于端子配置区域的多个栅极端子分别连接的多个引出配线的有源矩阵基板(例如参照日本特开2004-53702号公报、日本特开2005-91962号公报)。具体地说,将多个引出配线中规定数量的引出配线形成于与形成有栅极配线的层相同的层(第1层),并且将剩下的引出配线形成于与形成有栅极 配线的层不同的层(第2层)。此外,在形成于第1层的引出配线与形成于第2层的引出配线之间隔着绝缘材料。通过使引出配线多层化,能使形成于第1层的引出配线与形成于第2层的引出配线之间的间隔变窄,因此不增大有源矩阵基板尺寸,就能实现液晶面板的小型化、高精细化。 
发明内容
发明要解决的问题
在此,在形成于第1层的引出配线和形成于第2层的引出配线之间隔着绝缘材料,因此形成于第1层的引出配线与形成于第2层的引出配线之间难以产生短路(漏电)。然而,在形成于相同的层的相邻的引出配线间,由于有源矩阵基板的制造时等的光刻工序中的灰尘、蚀刻时的膜残留等原因,有可能发生短路。特别是,如上所述,近年来希望液晶面板的小型化、高精细化,配线间的间隔近年来日益变窄,因此形成于相同的层的相邻的引出配线间也容易发生短路。因此,在有源矩阵基板的制造时等的检查工序中,引出配线间的短路的检查变得重要起来。即,在实装工序中,将驱动器实装在发生了配线短路的不良的有源矩阵基板上会造成部件成本、操作成本的损失。 
然而,尽管引出配线间的短路的检查变得重要,但还没有确立在具有2层以上的层的有源矩阵基板中,对多个层分别检测形成于相同的层的相邻的引出配线间的短路的办法。具体地说,在具有2层以上的层的现有有源矩阵基板中,对形成于相同的层的相邻的引出配线分别从相同的检查配线输入相同的检查信号,因此能检测引出配线的断线,但是不能检测出形成于相同的层的相邻的引出配线间的短路。 
本发明是鉴于上述问题点而完成的,其目的在于提供在引出配线分别形成于多个层的情况下,能以简易的结构可靠地检测形成于相同的层的相邻的引出配线间的短路的有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法。 
用于解决问题的方案
为了实现上述目的,本发明中的有源矩阵基板具备:多个第1配线,其相互平行地形成于显示区域;多个第2配线,其在上述显示区域中以与上述多个第1配线交叉的方式并且相互平行地形成;多个第1端子,其配置于端子配置区域;多个第2端子,其配置于上述端子配置区域;多个第1引出配线,其分别连接上述多个第1配线和上述多个第1端子;以及多个第2引出配线,其分别连接上述多个第2配线和上述多个第2端子,上述多个第1引出配线包括多个第3引出配线和多个第4引出配线,上述第3引出配线形成于与形成有上述第1配线的层相同的层,上述第4引出配线的至少一部分形成于隔着绝缘材料与形成有上述第1配线的层不同的层,并且,在上述显示区域和上述端子配置区域以外的边框配线区域中,上述第3引出配线和上述第4引出配线逐条交替形成,上述有源矩阵基板具备:多个第1连接配线,其与上述多个第3引出配线所分别连接的多个第1端子分别连接;多个第2连接配线,其与上述多个第4引出配线所分别连接的多个第1端子分别连接;多个合并配线,其将作为相互相邻的2条的上述第1连接配线和上述第2连接配线合并成1条;第1共用配线,其将上述多个合并配线中互不相邻的合并配线共用连接;以及第2共用配线,其将上述多个合并配线中不与上述第1共用配线连接并且互不相邻的合并配线共用连接。 
根据本发明的有源矩阵基板,在有源矩阵基板的制造时等的检查工序中,只要对第1共用配线和第2共用配线输入相互独立的检查信号,就能经过合并配线、第1连接配线和第2连接配线对第3引出配线和第4引出配线输入检查信号。即,能对相邻的第3引出配线输入相互独立的检查信号。此外,第3引出配线是形成于与形成有第1配线的层相同的层的配线。由此,能检测相邻的第3引出配线间的短路。另外,也能对相邻的第4引出配线输入相互独立的检查信号。此外,第4引出配线是该第4引出配线的至少一部分形成于隔着绝缘材料与形成有第1配线的层不同的层的配线。由此,能检测相邻的第4引出配线间的短路。 
另外,本发明的有源矩阵基板是如下方式:具备将作为相互相邻的2条的第1连接配线和第2连接配线合并成1条的多个合并配线,多个合并配线分别与第1共用配线或者第2共用配线连接。因此,与不具备合并配线而将多个第1连接配线和多个第2连接配线分别与第1共用配线或者第2共用配线直接连接的方式相比,能使配线间的间隔较大,并且能减少用于将形成于不同的层的配线彼此电连接的配线层切换部的数量。即,能使配线间(合并配线间)的间隔较大,因此在配线间难以发生短路。另外,能减少配线层切换部的数量,因此能减少配线层切换部的连接不良等。 
其结果是,在引出配线分别形成于多个层的情况下,能用简易的结构可靠地检测形成于相同的层的相邻的引出配线间的短路。 
为了实现上述目的,本发明的显示装置具备本发明的有源矩阵基板。此外,优选上述显示装置是液晶显示装置。 
为了实现上述目的,本发明的有源矩阵基板或者显示装置的检查方法是上述有源矩阵基板或者具备上述有源矩阵基板的显示装置的检查方法,包括如下工序:检查工序,对上述第1共用配线和上述第2共用配线输入相互独立的检查信号,由此进行上述第3引出配线和上述第4引出配线的检查;以及切断工序,在上述检查工序之后,切断上述多个第1连接配线和上述多个第2连接配线。 
根据本发明的有源矩阵基板或者显示装置的检查方法,对第1共用配线和第2共用配线输入相互独立的检查信号,由此能检测相邻的第3引出配线间的短路和相邻的第4引出配线间的短路。然后,在切断工序中,切断多个第1连接配线和多个第2连接配线。由此,将多个第3引出配线所分别连接的多个第1端子和多个第4引出配线所分别连接的多个第1端子电分离。 
发明效果
如以上那样,本发明的有源矩阵基板、显示装置和有源矩阵基板的检查方法在引出配线分别形成于多个层的情况下,能发挥用简易的结构可靠地检测形成于相同的层的相邻的引出配线间的短路的效果。 
附图说明
图1是表示本发明的第1实施方式的液晶面板的概要结构的平面图。 
图2是沿着图1中示出的切断线a-a′切断的截面图。 
图3是将图1中示出的E1部分放大的图。 
图4是将图1中示出的E2部分放大的图。 
图5是表示变更例的液晶面板的概要结构的平面图。 
图6是将与图1中示出的E1部分相同的部分放大的图。 
具体实施方式
在本发明的实施方式中,优选以下方式:将上述多个第1连接配线和上述多个第2连接配线切断,以使上述多个第3引出配线所分别连接的多个第1端子和上述多个第4引出配线所分别连接的多个第1端子不电导通。根据该方式,多个第3引出配线所分别连接的多个第1端子和多个第4引出配线所分别连接的多个第1端子被电分离。 
在本发明的实施方式中,优选作为相互相邻的2条的上述第1连接配线和上述第2连接配线中,至少任一方连接配线连接有电阻元件的方式。特别是,优选作为相互相邻的2条的上述第1连接配线和上述第2连接配线分别连接有电阻元件的方式。根据该方式,在有源矩阵基板的制造时等的切断工序中,能切断合并配线而不是第1连接配线和第2连接配线。也就是说,与切断第1连接配线和第2连接配线的情况相比,要切断的配线的数量变少。其结果是,能减少切断工序花费的时间。另外,能使要切断的配线间的间隔较大,因此能减少由于在切断时产生的切屑使相邻的配线短路等不良的产生。 
在本发明的实施方式中,优选与上述第1连接配线连接的电阻元件和与上述第2连接配线连接的电阻元件具有大致相同的电阻值的方式。根据该方式,在有源矩阵基板的制造时等的检查工序中, 能使要输入到与相邻的连接配线对应的引出配线和与该引出配线对应的第1配线中的检查信号的延迟量大致相等。由此,能检测出虽未断线但配线宽度极小的情况等不良。 
在本发明的实施方式中,优选上述多个合并配线分别被切断的方式。根据该方式,多个第3引出配线和多个第4引出配线所分别连接的第1端子与第1共用配线及第2共用配线被电分离。 
在本发明的实施方式中,优选上述第1配线是栅极配线,上述第2配线是源极配线的方式。在此,在例如第1配线的配线数量与第2配线的配线数量互不相同的方式中,在第1配线的配线数量比第2配线的配线数量多的情况下,如果第1配线是栅极配线,就能进行不良发生率高的栅极配线间的短路的检查。因此,能防止将栅极配线用的驱动电路(驱动器)实装到发生了栅极配线间的短路的不良的有源矩阵基板上。因此,能减少部件成本、操作成本的损失。此外,栅极配线用的驱动电路与提供与多个灰度级对应的源极信号(视频信号)的源极配线用的驱动电路相比,结构较简单。因此,为了实现端子配置区域的缩小化、有源矩阵基板的低成本化的目的,在第1配线的配线数量比第2配线的配线数量多的情况下,优选第1配线是栅极配线,第2配线是源极配线。 
在本发明的实施方式中,优选上述第1配线是源极配线,上述第2配线是栅极配线的方式。根据该方式,能进行源极配线间的短路的检查。即,源极配线用的驱动电路(驱动器)需要提供与多个灰度级对应的源极信号(视频信号),因此与栅极配线用的驱动电路相比,结构较复杂。也就是说,源极配线用的驱动电路与栅极配线用的驱动电路相比更贵。因此,能防止将源极配线用的驱动电路实装在发生了源极配线间的短路的不良的有源矩阵基板上。因此,能减少部件成本、操作成本的损失。 
在本发明的实施方式中,作为本发明的实施方式的有源矩阵基板或者具有本发明的实施方式的有源矩阵基板的显示装置的检查方法,优选包括如下工序的方式:检查工序,对上述第1共用配线和上述第2共用配线输入相互独立的检查信号,由此进行上述第3 引出配线和上述第4引出配线的检查;以及切断工序,在上述检查工序之后切断上述多个合并配线。根据该方式,对第1共用配线和第2共用配线输入相互独立的检查信号,由此能检测相邻的第3引出配线间的短路和相邻的第4引出配线间的短路。然后,在切断工序中,切断多个合并配线。由此,多个第3引出配线和多个第4引出配线所分别连接的第1端子与第1共用配线及第2共用配线被电分离。 
下面,参照附图说明本发明的实施方式。其中,为了便于说明,以下参照的各图仅简化表示本发明的一个实施方式的结构部件中为了说明本发明所需的主要部件。因此,本发明的有源矩阵基板能具备本说明书所参照的各图未示出的任意结构部件。另外,各图中的部件尺寸并不忠实地表示实际结构部件的尺寸和各部件的尺寸比率等。 
另外,上述第1共用配线和第2共用配线作为本实施方式中第1检查配线和第2检查配线进行说明。 
[实施方式1] 
图1是表示本实施方式的液晶面板1的概要结构的平面图。如图1所示,液晶面板1具备有源矩阵基板2和与有源矩阵基板2对置的对置基板3。在有源矩阵基板2与对置基板3之间夹持有未图示的液晶材料。此外,本实施方式的对置基板3形成有滤色器层,滤色器层包括R(红色)、G(绿色)、B(蓝色)滤色器和防止这些滤色器间漏光的黑矩阵。另外,在滤色器层上形成有共用电极。 
在此,本实施方式的液晶面板1例如用于便携电话、PDA(Personal Digital Assistant:个人数字助理)、PHS(Personal Handy-phone System:个人手持电话系统)、HHT(Hand Held Terminal:手持终端)等便携终端用的电子设备。另外,本实施方式的液晶面板1移除了便携终端用的电子设备以外也能用于游戏终端、车载导航系统、个人计算机、电视、摄像机、数字照相机等电子设备。在此,具备液晶面板1的电子设备为本发明的液晶显示装置的一个实施方式。此外,也可以将本实施方式的有源矩阵基板2设置于电场发射显示器、等离子体显示器、有机EL显示器、无机 EL显示器等液晶面板1以外的面板(显示装置)。 
有源矩阵基板2具有:显示区域4;端子配置区域5;以及边框配线区域6,其位于显示区域4的外侧,并且包围显示区域4。此外,以下设液晶面板1的1边为第1边S1(图1中为下边),设夹着该第1边S1而在左右的边分别为第2边S2、第3边S3,设与第1边S1对置的边为第4边S4。 
在此,如图1所示,有源矩阵基板2的第2边S2(第3边S3)的长度H比对置基板3的第2边S2(第3边S3)的长度L长。因此,在将有源矩阵基板2和对置基板3隔着未图示的液晶材料相互贴合的情况下,有源矩阵基板2的端子配置区域5就位于对置基板3的第1边S1侧。 
在显示区域4形成有第1栅极配线401~407、第2栅极配线411~417、源极配线421、422、423、…42i。在此,对于第1栅极配线401~407,在一端侧分别具有栅极信号的输入端431~437。另外,对于第2栅极配线411~417,在另一端侧分别具有栅极信号的输入端441~447。并且,对于源极配线421、422、423、…42i,在一端侧分别具有源极信号的输入端451、452、453、…45i。 
在图1中,为了简化说明,图示了7条第1栅极配线401~407、7条第2栅极配线411~417,但是应形成于显示区域4的第1栅极配线和第2栅极配线的数量实际上比这多。但是第1栅极配线和第2栅极配线的数量是任意的,在此没有特别限定。 
此外,下面仅在需要区别各个配线的情况下,例如如源极配线421那样,分别附加用于区别的小数字来进行说明,在不需要特别区别的情况下或者在总称的情况下,例如如源极配线42那样,不附加小数字进行说明。另外,下面在不需要区别第1栅极配线401~407及第2栅极配线411~417的情况下或者在总称的情况下,仅称为栅极配线40、41进行说明。 
在此,在本实施方式中,第1栅极配线401~407和第2栅极配线411~417逐条交替并且相互平行地形成于显示区域4。即,在显示区域4中,从第4边S4侧起向第1边S1侧以第1栅极配线401、第2栅极配 线411、第1栅极配线402、第2栅极配线412、第1栅极配线403、第2栅极配线413…的方式形成有栅极配线40、41。另外,源极配线421、422、423、…42i与栅极配线40、41交叉地并且相互平行地形成于显示区域4。 
此外,在本实施方式中,源极配线42按RGB中的每一个形成于显示区域4。也就是说,在显示区域4中形成有R用的源极配线42、G用的源极配线42、B用的源极配线42。其中,在单色用的液晶面板1的情况下,不受此限制。并且,在显示区域4中,除了栅极配线40、41和源极配线42以外,还形成有未图示的存储电容配线。存储电容配线与栅极配线40、41平行地形成于显示区域4。 
此外,在栅极配线40、41与源极配线42的交叉部分,形成有未图示的TFT(Thin Film Transistor:薄膜晶体管)、MIM(Metal Insulator Metal:金属-绝缘体-金属)等开关元件和与该开关元件连接的未图示的图像元素电极(R、G或者B)等。 
端子配置区域5是在有源矩阵基板2中配置有多个栅极端子51和多个源极端子52的区域。驱动器或者设有驱动器的柔性配线基板在端子配置区域5中与栅极端子51及源极端子52电连接。因此,栅极端子51为能从驱动器输入栅极信号的端子。另外,源极端子52为能从驱动器输入源极信号的端子。此外,驱动器能以COG(Chip On Glass:玻璃上芯片)方式与端子配置区域5连接。另外,设有驱动器的柔性配线基板能以TCP(Tape Carrier Package:卷带式封装)方式与端子配置区域5连接。此外,连接的方式在此没有特别限定。 
此外,在图1中,示出了可在端子配置区域5配置1个驱动器的例子,但是不限于此。例如,也可以在有源矩阵基板2上设置多个端子配置区域5,由此能对多个端子配置区域5分别配置多个驱动器。 
在边框配线区域6中形成有将第1栅极配线401~407的一端侧所具有的栅极信号的输入端431~437与栅极端子51分别连接的栅极用右侧引出配线(第1引出配线)611~617。即,栅极用右侧引出配 线611~617从栅极信号的输入端431~437向第3边S3侧引出,沿着第3边S3形成于边框配线区域6,并且连接到栅极端子51。 
在此,栅极用右侧引出配线611~617包括栅极用右侧第1引出配线(第3引出配线)611、613、615、617和栅极用右侧第2引出配线(第4引出配线)612、614、616。栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617是形成于与形成有栅极配线40、41的层相同的层的引出配线。此外,下面将形成有栅极配线40、41的层称为“第1层”。另外,栅极用右侧第2引出配线612、614、616是该栅极用右侧第2引出配线612、614、616的至少一部分形成于隔着绝缘材料与形成有栅极配线40、41的层(第1层)不同的层的引出配线。此外,下面将与形成有栅极配线40、41的层不同的层称为“第2层”。也就是说,在第2层中形成有源极配线42。 
在此,栅极用右侧第2引出配线612、614、616分别具有形成于栅极信号的输入端432、434、436侧的配线层第1切换部622、624、626和形成于栅极端子51侧的配线层第2切换部632、634、636。在本实施方式中,栅极用右侧第2引出配线612、614、616中,栅极信号的输入端432、434、436和配线层第1切换部622、624、626之间的配线形成于第1层,配线层第1切换部622、624、626和配线层第2切换部632、634、636之间的配线形成于第2层,配线层第2切换部632、634、636和栅极端子51之间的配线形成于第1层。即,配线层第1切换部622、624、626和配线层第2切换部632、634、636分别将形成于第1层的配线和形成于第2层的配线电连接。 
此外,作为电连接的方法,可以使形成于第1层的配线和形成于第2层的配线通过形成于绝缘材料的接触孔直接连接,也可以使形成于第1层的配线和形成于第2层的配线再通过形成于其它的层的电极电连接。即,电连接的方法能采用各种任意的方法,在此没有特别限定。另外,配线层第1切换部622、624、626和配线层第2切换部632、634、636的位置也不限于图1示出的位置,是任意的。 
图2是沿着图1中示出的切断线a-a′切断的截面图。如图2所示,在有源矩阵基板2上作为第1层形成有栅极用右侧第1引出配线611、 613、615、617。另外,绝缘膜(绝缘材料)7形成于有源矩阵基板2上,以覆盖栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617。另外,在绝缘膜7上作为第2层形成有栅极用右侧第2引出配线612、614、616。并且,保护膜8形成于绝缘膜7上,以覆盖栅极用右侧第2引出配线612、614、616。即,栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617与栅极用右侧第2引出配线612、614、616之间隔有绝缘膜7。 
这样,在本实施方式中,栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617形成于第1层,栅极用右侧第2引出配线612、614、616的至少一部分形成于第2层。因此,与在一个层形成全部栅极用右侧引出配线611~617的方式相比,能实现有源矩阵基板的小型化、高精细化。 
图3是将图1中的E1部分放大的图。如图3所示,连接有栅极用右侧引出配线611~617的多个栅极端子51还分别连接有栅极用右侧连接配线641~647。即,栅极用右侧连接配线641~647从多个栅极端子51分别向第1边S1侧(后述的检查配线66、67侧)引出。 
在此,栅极用右侧连接配线641~647包括栅极用右侧第1连接配线(第1连接配线)641、643、645、647和栅极用右侧第2连接配线(第2连接配线)642、644、646。栅极用右侧第1连接配线641、643、645、647是与连接有栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617的栅极端子51连接的连接配线。另外,栅极用右侧第2连接配线642、644、646是与连接有栅极用右侧第2引出配线612、614、616的栅极端子51连接的连接配线。 
另外,在边框配线区域6形成有将作为相互相邻的2条的栅极用右侧第1连接配线和栅极用右侧第2连接配线合并成1条的右侧合并配线(合并配线)651~654。在本实施方式中,右侧合并配线651将作为2条的栅极用右侧第1连接配线641和栅极用右侧第2连接配线642合并成1条。另外,右侧合并配线652将作为2条的栅极用右侧第1连接配线643和栅极用右侧第2连接配线644合并成1条。并且,右侧合并配线653将作为2条的栅极用右侧第1连接配线645和栅极用右侧第2连接配线646合并成1条。此外,右侧合并配线654仅与栅极用 右侧第1连接配线647这1条连接。 
另外,右侧合并配线652、654还与栅极用右侧第1检查配线66连接。另外,右侧合并配线651、653跨过栅极用右侧第1检查配线66与栅极用右侧第2检查配线67连接。即,栅极用右侧第1检查配线66是能对右侧合并配线651~654中互不相邻的右侧合并配线652、654输入检查信号的检查配线。另外,栅极用右侧第2检查配线67是能对右侧合并配线651~654中不与栅极用右侧第1检查配线66连接并且互不相邻的右侧合并配线651、653输入检查信号的检查配线。 
此外,右侧合并配线651、653隔着栅极用右侧第1检查配线66与栅极用右侧第2检查配线67连接,因此右侧合并配线651、653分别具有配线层第3切换部681、683和配线层第4切换部691、693。即,在各个配线层第4切换部691、693中,右侧合并配线651、653和栅极用右侧第2检查配线67电连接。 
另外,栅极用右侧第1检查配线66还与栅极用右侧第1检查焊盘70连接。栅极用右侧第1检查焊盘70是能输入检查信号的焊盘。由此,能从栅极用右侧第1检查焊盘70经过右侧合并配线652、654和栅极用右侧连接配线643、644、647对栅极用右侧引出配线613、614、617输入检查信号。并且,栅极用右侧第2检查配线67还与栅极用右侧第2检查焊盘71连接。栅极用右侧第2检查焊盘71也是能输入检查信号的焊盘。由此,能从栅极用右侧第2检查焊盘71经过右侧合并配线651、653和栅极用右侧连接配线641、642、645、646对栅极用右侧引出配线611、612、615、616输入检查信号。 
如上所述,本实施方式的有源矩阵基板2是如下方式:形成有将作为相互相邻的2条的栅极用右侧第1连接配线和栅极用右侧第2连接配线合并成1条的右侧合并配线651~654,右侧合并配线652、654与栅极用右侧第1检查配线66连接,右侧合并配线651、653与栅极用右侧第2检查配线67连接。因此,与不具备右侧合并配线,各个栅极用右侧连接配线641~647分别与栅极用右侧第1检查配线66或者栅极用右侧第2检查配线67直接连接的方式相比,能加大配线间的间隔,并且能减少配线层切换部的数量。即,能使右侧合并配 线651~654间的间隔(图3中的K)变大,因此难以在右侧合并配线651~654间产生短路。另外,能减少配线层切换部的数量,因此能减少配线层切换部的连接不良等。其结果是,能可靠地进行有源矩阵基板2的检查(断线、短路等),因此能提高液晶面板1的成品率。 
另外,本实施方式的有源矩阵基板2形成有将作为相互相邻的2条的栅极用右侧第1连接配线和栅极用右侧第2连接配线合并成1条的右侧合并配线651~654,因此能减少跨过栅极用右侧第1检查配线66的配线的数量(也就是说,右侧合并配线651~654与栅极用右侧第1检查配线66之间的交叉部的数量)。能减少交叉部的数量,因此能减少栅极用右侧第1检查配线66的负荷。能减少负荷,因此能减少从栅极用右侧第1检查焊盘70对栅极用右侧第1检查配线66输入的检查信号的延迟。其结果是,能将所希望的检查信号输入栅极配线40、41,因此能检测出图像元素电极与源极配线42之间的短路这样的微小的不良。 
并且,根据本实施方式的有源矩阵基板2,栅极用右侧第1检查配线66与右侧合并配线652、654均连接,栅极用右侧第2检查配线67与右侧合并配线651、653均连接。因此,能将有源矩阵基板2中产生的静电从栅极用右侧第1检查配线66和栅极用右侧第2检查配线67除去或分散。能将有源矩阵基板2中产生的静电除去或分散,因此能抑制该静电导致的配线的短路、断线、TFT、MIM的特性变化等。 
此外,关于后述的栅极用左侧连接配线751~757、左侧合并配线761~764、栅极用左侧第1检查配线77和栅极用左侧第2检查配线78,也能得到与上述同样的效果。 
返回图1,在边框配线区域6形成有将第2栅极配线411~417的另一端侧所具有的栅极信号的输入端441~447和栅极端子51分别连接的栅极用左侧引出配线721~727。即,栅极用左侧引出配线721~727从栅极信号的输入端441~447向第2边S2侧引出,沿着第2边S2形成于边框配线区域6,并且连接到栅极端子51。 
在此,栅极用左侧引出配线721~727包括栅极用左侧第1引出配线721、723、725、727和栅极用左侧第2引出配线722、724、726。 栅极用左侧第1引出配线721、723、725、727是形成于第1层的引出配线。另外,栅极用左侧第2引出配线722、724、726是形成于第2层的引出配线。 
在此,栅极用左侧第2引出配线722、724、726分别具有形成于栅极信号的输入端442、444、446侧的配线层第5切换部732、734、736和形成于栅极端子51侧的配线层第6切换部742、744、746。在本实施方式中,在栅极用左侧第2引出配线722、724、726中,栅极信号的输入端442、444、446与配线层第5切换部732、734、736之间的配线形成于第1层,配线层第5切换部732、734、736与配线层第6切换部742、744、746之间的配线形成于第2层,配线层第6切换部742、744、746与栅极端子51之间的配线形成于第1层。即,分别在配线层第5切换部732、734、736和配线层第6切换部742、744、746,形成于第1层的配线和形成于第2层的配线电连接。 
图4是将图1中的E2部分放大的图。如图4所示,连接有栅极用左侧引出配线721~727的多个栅极端子51还分别连接有栅极用左侧连接配线751~757。即,栅极用左侧连接配线751~757从多个栅极端子51分别向第1边S1侧(后述的检查配线77、78侧)引出。 
在此,栅极用左侧连接配线751~757包括栅极用左侧第1连接配线751、753、755、757和栅极用左侧第2连接配线752、754、756。栅极用左侧第1连接配线751、753、755、757是与连接有栅极用左侧第1引出配线721、723、725、727的栅极端子51连接的连接配线。另外,栅极用左侧第2连接配线752、754、756是与连接有栅极用左侧第2引出配线722、724、726的栅极端子51连接的连接配线。 
另外,在边框配线区域6形成有将作为相互相邻的2条的栅极用左侧第1连接配线和栅极用左侧第2连接配线合并成1条的左侧合并配线761~764。在本实施方式中,左侧合并配线761将作为2条的栅极用左侧第1连接配线751和栅极用左侧第2连接配线752合并成1条。另外,左侧合并配线762将作为2条的栅极用左侧第1连接配线753和栅极用左侧第2连接配线754合并成1条。并且,左侧合并配线763将作为2条的栅极用左侧第1连接配线755和栅极用左侧第2连接配线 756合并成1条。此外,左侧合并配线764仅与栅极用左侧第1连接配线757这1条连接。 
另外,左侧合并配线762、764还与栅极用左侧第1检查配线77连接。另外,左侧合并配线761、763隔着栅极用左侧第1检查配线77与栅极用左侧第2检查配线78连接。即,栅极用左侧第1检查配线77是能对左侧合并配线761~764中互不相邻的左侧合并配线762、764输入检查信号的检查配线。另外,栅极用左侧第2检查配线78是能对左侧合并配线761~764中不与栅极用左侧第1检查配线77连接并且互不相邻的左侧合并配线761、763输入检查信号的检查配线。 
此外,左侧合并配线761、763跨过栅极用左侧第1检查配线77与栅极用左侧第2检查配线78连接,因此左侧合并配线761、763分别具有配线层第7切换部791、793和配线层第8切换部801、803。即,分别在配线层第8切换部801、803,左侧合并配线761、763和栅极用左侧第2检查配线78电连接。 
另外,栅极用左侧第1检查配线77还与栅极用左侧第1检查焊盘81连接。栅极用左侧第1检查焊盘81是能输入检查信号的焊盘。由此,能从栅极用左侧第1检查焊盘81经过左侧合并配线762、764和栅极用左侧连接配线753、754、757对栅极用左侧引出配线723、724、727输入检查信号。并且,栅极用左侧第2检查配线78还与栅极用左侧第2检查焊盘82连接。栅极用左侧第2检查焊盘82也是能输入检查信号的焊盘。由此,能从栅极用左侧第2检查焊盘82经过左侧合并配线761、763和栅极用左侧连接配线751、752、755、756对栅极用左侧引出配线721、722、725、726输入检查信号。 
返回图1,在边框配线区域6形成有将源极配线421、422、423、…42i的一端侧所具有的源极信号的输入端451、452、453、…45i与源极端子52分别连接的源极用引出配线831、832、833、…83i。即,源极用引出配线83从源极信号的输入端45向第1边S1侧引出,并且连接到源极端子52。 
在此,连接有源极用引出配线831、832、833、…83i的多个源极端子52还分别连接有源极用连接配线841、842、843、…84i。即, 源极用连接配线841、842、843、…84i从多个源极端子52分别向第1边S1侧(后述的检查配线85、86侧)引出。 
另外,源极用连接配线841、843、845、…84i还与源极用第1检查配线85连接。另外,源极用连接配线842、844、846、…84i-1还与源极用第2检查配线86连接。即,源极用第1检查配线85是能对源极用连接配线841、842、843、…84i中互不相邻的源极用连接配线841、843、845、…84i输入检查信号的检查配线。另外,源极用第2检查配线86是能对源极用连接配线841、842、843、…84i中不与源极用第1检查配线85连接并且互不相邻的源极用连接配线842、844、846、…84i-1输入检查信号的检查配线。 
另外,源极用第1检查配线85还与源极用第1检查焊盘87连接。源极用第1检查焊盘87是能输入检查信号的焊盘。由此,能从源极用第1检查焊盘87经过源极用第1检查配线85和源极用连接配线841、843、845、…84i对源极用引出配线831、833、835、…83i输入检查信号。并且,源极用第2检查配线86还与源极用第2检查焊盘88连接。源极用第2检查焊盘88也是能输入检查信号的焊盘。由此,能从源极用第2检查焊盘88经过源极用第2检查配线86和源极用连接配线842、844、846、…84i-1对源极用引出配线832、834、836、…83i-1输入检查信号。 
并且,在边框配线区域6中形成有共用检查配线89,其包围栅极用右侧引出配线611~617和栅极用左侧引出配线721~727。共用检查配线89与共用电极焊盘90、91连接。另外,共用检查配线89还与变压器焊盘92、93连接。变压器焊盘92、93与形成于对置基板3的未图示的共用电极连接。由此,能从共用电极焊盘90、91对形成于对置基板3的共用电极施加共用电压。 
下面说明本实施方式的液晶面板1的制造方法。此外,以下特别针对检查液晶面板1的电连接状态的检查工序进行详细说明。 
即,制造在透明的玻璃基板上层叠导电膜、绝缘膜、保护膜等薄膜,形成有多个要切出为有源矩阵基板2的有源矩阵基板区域的有源矩阵基板用的基底基板。另外,制造在透明的玻璃基板上层叠黑矩阵、滤色器、导电膜、取向膜等薄膜,形成有多个要切出为对置基板3的对置基板区域的对置基板用的基底基板。对两个基底基板中的一方基底基板涂敷密封剂。然后,在涂敷密封剂后使两个基底基板贴合。
将贴合的两个基底基板切断为形成规定个数(例如在左右方向上4个)的具有有源矩阵基板2和对置基板3的液晶面板1的母基板。即,图1示出的液晶面板1表示作为注入了液晶材料后的母基板而切断的1个液晶面板。因此,省略了图示,但是在图1的液晶面板1的例如左右存在其它液晶面板。并且,对作为母基板而被切断的液晶面板1,分别通过形成于有源矩阵基板2和对置基板3之间的注入口例如用真空注入方式来注入液晶材料。此外,也可以用滴下注入方式注入液晶材料来代替真空注入方式。在这种情况下,不需要注入口,不需要密封注入口部分的工序。 
然后,在将驱动器安装于端子配置区域5前,进行检查液晶面板1的电连接状态的检查工序。即,检查工序检查液晶面板1的有源矩阵基板2中的配线的断线、短路、图像元素电极的缺陷。 
作为检查方法,例如使检查用探测器接触各检查焊盘70、71、81、82、87、88、90、91,施加规定的电压。此外,使检查用探测器接触各检查焊盘70、71、81、82、87、88、90、91的顺序在此没有特别限定。由此,对栅极配线40、41输入发挥栅极信号的功能的检查信号。此外,该检查信号是使各图像元素所具有的开关元件导通固定期间的信号。另外,对源极配线42输入发挥源极信号的功能的检查信号。此外,该检查信号是使各图像元素区域的液晶向所希望的方向取向的信号。 
因此,各图像元素的开关元件为导通状态,对各图像元素电极输入发挥源极信号的功能的检查信号,由此控制液晶的分子排列方向,例如当用背光源这样的照射单元从液晶面板1的背面进行照射时,在与有源矩阵基板2的显示区域4对应的液晶面板1的显示画面(以下称为“液晶面板1的显示画面”)显示图像。因此,能在液晶面板1的显示画面上例如通过检查员的目视检查来检查液晶面板 1的有源矩阵基板2中的配线的断线、短路。此外,代替检查员的目视检查或者在此基础上,也可以用图像识别装置,也可以用对配线的断线、短路进行电检测的检测装置等来进行检查。 
在此,说明栅极用右侧引出配线611~617的短路的检测方法。具体地说,首先,使检查用探测器接触源极用第1检查焊盘87、源极用第2检查焊盘88和共用电极焊盘90、91。在该状态下,对栅极用右侧第1检查配线66和栅极用右侧第2检查配线67输入相互独立的检查信号。例如,使检查用探测器仅接触栅极用右侧第2检查焊盘71,不使检查用探测器接触栅极用右侧第1检查焊盘70。这样,从栅极用右侧第2检查焊盘71经过右侧合并配线651、653和栅极用右侧连接配线641、642、645、646对栅极用右侧引出配线611、612、615、616输入检查信号。另一方面,不使检查用探测器接触栅极用右侧第1检查焊盘70,因此不从栅极用右侧第1检查焊盘70对栅极用右侧引出配线613、614、617输入检查信号。 
即,在第1层中,仅对栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617中的栅极用右侧第1引出配线611、615输入检查信号(参照图2)。因此,在形成于第1层的栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617间发生短路的情况下,在液晶面板1的显示画面中,不仅与输入了检查信号的栅极用右侧第1引出配线611、615连接的第1栅极配线401、405所对应的线会显示,而且与未输入检查信号的栅极用右侧第1引出配线613、617连接的第1栅极配线403、407所对应的线也会显示。因此,检查员能检测出形成于第1层的栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617间的短路。 
另外,在第2层中,仅对栅极用右侧第2引出配线612、614、616中的栅极用右侧第2引出配线612、616输入检查信号(参照图2)。因此,在形成于第2层的栅极用右侧第2引出配线612、614、616间发生短路的情况下,在液晶面板1的显示画面中,不仅与输入了检查信号的栅极用右侧第2引出配线612、616连接的第1栅极配线402、406所对应的线会显示,而且与未输入检查信号的栅极用右侧第2引出配线614连接的第1栅极配线404所对应的线也会显示。因此,检查员 能检测形成于第2层的栅极用右侧第2引出配线612、614、616间的短路。 
另外,与上述同样,例如使检查用探测器仅接触栅极用左侧第2检查焊盘82,不使检查用探测器接触栅极用左侧第1检查焊盘81。由此,检查员能检测形成于第1层的栅极用左侧第1引出配线721、723、725、727间的短路和形成于第2层的栅极用左侧第2引出配线722、724、726间的短路。 
此外,在栅极用右侧引出配线611~617断线的情况下,在液晶面板1的显示画面中,与断线的栅极用右侧引出配线连接的第1栅极配线所对应的线不会全部显示。另外,与此同样,在栅极用左侧引出配线721~727断线的情况下,在液晶面板1的显示画面中,与断线的栅极用左侧引出配线连接的第2栅极配线所对应的线不会全部显示。由此,检查员能检测栅极用右侧引出配线611~617和栅极用左侧引出配线721~727的断线。 
另外,在栅极配线40、41断线的情况下,在液晶面板1的显示画面中,断线的位置以后的栅极配线所对应的线不会显示。另外,与此同样,在源极配线42断线的情况下,在液晶面板1的显示画面中,断线的位置以后的源极配线所对应线不会显示。由此,检查员能检测栅极配线40、41和源极配线42的断线。另外,对源极用第1检查配线85和源极用第2检查配线86输入相互独立的检查信号,由此,检查员能检测源极配线42和源极用引出配线83的短路。 
并且,对栅极配线40、41和源极配线42输入检查员所希望的脉冲波形的检查信号,由此也能检测图像元素电极和源极配线42之间的短路等。即,不仅能进行栅极配线40、41、源极配线42、栅极用右侧引出配线61和栅极用左侧引出配线72的短路、断线的检查,也能进行图像元素电极的缺陷等的检查。 
然后,如果上述的检查工序结束,就进行将栅极用右侧连接配线641~647和栅极用左侧连接配线751~757切断的切断工序。具体地说,例如沿着图3示出的切割线C用激光切断栅极用右侧连接配线641~647。由此,栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617所分 别连接的栅极端子51与栅极用右侧第2引出配线612、614、616所分别连接的栅极端子51不会电导通。另外,例如沿着图4示出的切割线C用激光切断栅极用左侧连接配线751~757。由此,栅极用左侧第1引出配线721、723、725、727所分别连接的栅极端子51与栅极用左侧第2引出配线722、724、726所分别连接的栅极端子51不会电导通。 
此外,在上述记载中,说明了沿着切割线C用激光切断连接配线的例子,但是如果是例如图5示出的液晶面板1a,则也可以沿着断开线D利用例如圆盘割刀将连接配线与基板一起切开。在这种情况下,不需要沿着切割线C用激光切断连接配线,因此能简化液晶面板的制造工序。另外,形成有各检查焊盘70、71、81、82、87、88、90、91的图5中的A部分的基板被切去,因此能使要搭载于显示装置的液晶面板的外形变小。 
然后,如果上述切断工序结束,就进行将对栅极配线40、41和源极配线42进行驱动控制的驱动器实装到端子配置区域5的实装工序。然后,从母基板切出各个液晶面板1。然后,对切出的液晶面板1贴附偏光板等光学膜。由此制造液晶面板1。此外,制造液晶面板1的方法不限于上述方法。例如,对于单色用的液晶面板,也可以不对对置基板层叠滤色器。另外,也可以在切出各个液晶面板后进行检查工序、实装工序。 
如上所述,根据本实施方式的有源矩阵基板2,在引出配线分别形成于多个层的情况下,能用简易的结构可靠地检测形成于相同的层的相邻的引出配线间(栅极用右侧第1引出配线间,栅极用右侧第2引出配线间,栅极用左侧第1引出配线间,栅极用左侧第2引出配线间)的短路。 
[实施方式2] 
图6是将与图1中示出的E1部分相同的部分放大的图。如图6所示,本实施方式的栅极用右侧连接配线641~647分别还连接有电阻元件R。在此,电阻元件R包括例如由用作像素电极的ITO、IZO等形成的图案、由TFT的半导体膜形成的图案、二极管、晶体管、任 意图案等。此外,本实施方式的栅极用左侧连接配线751~757也分别还连接有电阻元件R。 
以下说明栅极用右侧连接配线641~647和右侧合并配线651~654各自的情况,而栅极用左侧连接配线751~757和左侧合并配线761~764各自的情况也同样。 
即,栅极用右侧连接配线641~647分别连接有电阻元件R,因此在切断工序中,能切断右侧合并配线651~654而不是栅极用右侧连接配线641~647。具体地说,例如沿着图6示出的切割线C′用激光切断右侧合并配线651~654。此外,与实施方式1同样,也可以沿着断开线用例如圆盘割刀使右侧合并配线651~654与基板一起断开。 
这样,在本实施方式中,切断右侧合并配线651~654,因此与如实施方式1那样切断栅极用右侧连接配线641~647的情况相比,要切断的配线的数量变少。其结果是,能减少切断工序所花费的时间。 
另外,在本实施方式中,即使切断右侧合并配线651~654,栅极用右侧第1引出配线611、613、615、617所分别连接的栅极端子51与栅极用右侧第2引出配线612、614、616所分别连接的栅极端子51也会电导通。然而,如果使与栅极用右侧连接配线641~647分别连接的电阻元件R的值足够大,则在将本实施方式的液晶面板1装入电子设备的情况下,该电子设备的动作也不会产生任何问题。另外,在检查液晶面板1的电连接状态的检查工序中,从各检查焊盘输入检查信号以使各配线(栅极配线、源极配线、引出配线等)达到所希望的电位即可,因此也能没有任何问题地进行检查。 
具体地说,如果电阻元件R的值为数十~数百MΩ,则从相邻的配线受到的电方面的影响会变少。更具体地说,仅有百分之几(例如1%)以下的电位变动。如果是百分之几以下的电位变动,则对图像元素电极的充电率、显示几乎不造成影响。因此,如果电阻元件R的值为数十~数百MΩ,则在将本实施方式的液晶面板1装入电子设备的情况下,该电子设备的动作也不会产生任何问题。另外,如果电阻元件R的值为数百MΩ以上,则在进行检查工序后难以除去存储于配线、图像元素电极的电荷。其结果是,由于存储于配线、图像元素电极的电荷,造成该配线的短路、断线、TFT、MIM的特性变化等,导致显示质量降低。由此,如上所述,优选电阻元件R的值为数十~数百MΩ。此外,电阻元件R的值根据显示区域4的大小、像素数从数十~数百MΩ中适当地任意选择。 
另外,栅极用右侧连接配线641~647分别与电阻元件R连接,因此即使在静电从栅极用右侧第1检查配线66和栅极用右侧第2检查配线67侵入的情况下,该电阻元件R也能发挥针对静电的保护元件的功能,由此能防止静电侵入显示区域4。由此,能提高液晶面板1的显示质量,提高液晶面板的成品率。 
此外,优选与栅极用右侧第1连接配线641、643、645、647连接的电阻元件R的值和与栅极用右侧第2连接配线642、644、646连接的电阻元件R的值是大致相同的值。即,只要相邻的连接配线所分别连接的电阻元件R的值是大致相同的值,就能使要输入相邻的连接配线所对应的引出配线和该引出配线所对应的栅极配线的检查信号的延迟量大致相等。因此,只要有源矩阵基板2的配线正常,在液晶面板1的显示画面中就能进行大致相同的显示。也就是说,在没有进行大致相同的显示的情况下,检查员能检测出产生了虽然不至于断线但配线宽度也是极小的情况等不良。 
此外,在实施方式2中,说明了相互相邻的2条连接配线分别与电阻元件连接的例子,但是不限于此。即,只要相互相邻的连接配线中至少任一方连接配线与电阻元件连接即可。 
另外,在实施方式1和2中,说明了在对置基板上形成共用电极,对对置基板的共用电极施加共用电压的例子,但是不限于此。例如,当然也能将本发明应用于共用电极形成于有源矩阵基板的IPS(In Plane Switching:平面转换)模式的液晶面板。在此,在IPS模式的液晶面板的有源矩阵基板上也可以不形成变压器焊盘。另外,当然也能将本发明应用于MVA(Multi-Domain Vertical Aligned:多畴垂直取向)模式的液晶面板、OCB(Optically Compensated Bend:光学补偿弯曲)模式的液晶面板等。 
另外,在实施方式1和2中,说明了将R用的源极配线、G用的源极配线、B用的源极配线形成于显示区域的例子,但是不限于此。即,也可以将R用的栅极配线、G用的栅极配线、B用的栅极配线形成于显示区域。在这种情况下,源极配线不需要按RGB中的每一个来设置。 
另外,与各栅极配线连接的像素所对应的颜色也可以是多个,并且,与各源极配线连接的像素所对应的颜色也可以是多个。 
另外,显示区域内的各像素的排列不限于条状。例如,也可以是配置间距按每1条线错开的所谓三角排列。 
另外,栅极配线、源极配线的检查信号的输入方法不限于图1、图5所述的内容。也可以从检查焊盘经过TFT等开关元件对栅极配线、源极配线输入检查信号。另外,也可以是栅极配线、源极配线的驱动电路直接形成于有源矩阵基板上的方式。另外,也可以是在检查时让该驱动电路进行驱动。 
并且,在实施方式1和2中,说明了各检查焊盘形成于有源矩阵基板上的例子,但是不限于此。例如,也可以将各检查焊盘形成于与有源矩阵基板不同的基板上,在该有源矩阵基板上仅形成能输入从各检查焊盘提供的检查信号的检查配线。 
即,本发明不限于上述实施方式,能在权利要求示出的范围内进行各种变更。也就是说,将在权利要求示出的范围内适当变更的技术方案组合得到的实施方式也包括在本发明的技术范围内。 
工业实用性
如上所述,本发明作为在多个层分别形成有引出配线的情况下,能用简易的结构可靠地检测形成于相同的层的相邻的引出配线间的短路的有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法是有用的。 

Claims (14)

1.一种有源矩阵基板,其具备:
多个第1配线,其相互平行地形成于显示区域;
多个第2配线,其在上述显示区域中以与上述多个第1配线交叉的方式并且相互平行地形成;
多个第1端子,其配置于端子配置区域;
多个第2端子,其配置于上述端子配置区域;
多个第1引出配线,其分别连接上述多个第1配线和上述多个第1端子;以及
多个第2引出配线,其分别连接上述多个第2配线和上述多个第2端子,
上述多个第1引出配线包括多个第3引出配线和多个第4引出配线,
上述第3引出配线形成于与形成有上述第1配线的层相同的层,上述第4引出配线的至少一部分形成于隔着绝缘材料与形成有上述第1配线的层不同的层,并且,在上述显示区域和上述端子配置区域以外的边框配线区域中,上述第3引出配线和上述第4引出配线逐条交替形成,
上述有源矩阵基板具备:
多个第1连接配线,其与上述多个第3引出配线所分别连接的多个第1端子分别连接;
多个第2连接配线,其与上述多个第4引出配线所分别连接的多个第1端子分别连接;
多个合并配线,其将作为相互相邻的2条的上述第1连接配线和上述第2连接配线合并成1条;
第1共用配线,其将上述多个合并配线中互不相邻的合并配线共用连接;以及
第2共用配线,其将上述多个合并配线中不与上述第1共用配线连接并且互不相邻的合并配线共用连接。
2.根据权利要求1所述的有源矩阵基板,
上述多个第1连接配线和上述多个第2连接配线被切断,以使上述多个第3引出配线所分别连接的多个第1端子与上述多个第4引出配线所分别连接的多个第1端子不会电导通。
3.根据权利要求1所述的有源矩阵基板,
作为相互相邻的2条的上述第1连接配线和上述第2连接配线中的至少任一方连接配线连接有电阻元件。
4.根据权利要求3所述的有源矩阵基板,
作为相互相邻的2条的上述第1连接配线和上述第2连接配线分别连接有电阻元件。
5.根据权利要求4所述的有源矩阵基板,
与上述第1连接配线连接的电阻元件和与上述第2连接配线连接的电阻元件具有相同的电阻值。
6.根据权利要求3~5中的任一项所述的有源矩阵基板,
上述多个合并配线分别被切断。
7.根据权利要求1~5中的任一项所述的有源矩阵基板,
上述第1配线是栅极配线,上述第2配线是源极配线。
8.根据权利要求6所述的有源矩阵基板,
上述第1配线是栅极配线,上述第2配线是源极配线。
9.根据权利要求1~5中的任一项所述的有源矩阵基板,
上述第1配线是源极配线,上述第2配线是栅极配线。
10.根据权利要求6所述的有源矩阵基板,
上述第1配线是源极配线,上述第2配线是栅极配线。
11.一种显示装置,
具备权利要求1~10中的任一项所述的有源矩阵基板。
12.根据权利要求11所述的显示装置,
上述显示装置是液晶显示装置。
13.一种有源矩阵基板或者显示装置的检查方法,所述有源矩阵基板是权利要求1所述的有源矩阵基板,所述显示装置是具备权利要求1所述的有源矩阵基板的显示装置,
所述有源矩阵基板或者显示装置的检查方法包括如下工序:
检查工序,对上述第1共用配线和上述第2共用配线输入相互独立的检查信号,由此进行上述第3引出配线和上述第4引出配线的检查;以及
切断工序,在上述检查工序之后,切断上述多个第1连接配线和上述多个第2连接配线。
14.一种有源矩阵基板或者显示装置的检查方法,所述有源矩阵基板是权利要求3~5中的任一项所述的有源矩阵基板,所述显示装置是具备权利要求3~5中的任一项所述的有源矩阵基板的显示装置,
所述有源矩阵基板或者显示装置的检查方法包括如下工序:
检查工序,对上述第1共用配线和上述第2共用配线输入相互独立的检查信号,由此进行上述第3引出配线和上述第4引出配线的检查;以及
切断工序,在上述检查工序之后,切断上述多个合并配线。
CN2009801284898A 2008-07-23 2009-05-11 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法 Expired - Fee Related CN102099847B (zh)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008-190148 2008-07-23
JP2008190148 2008-07-23
PCT/JP2009/058777 WO2010010750A1 (ja) 2008-07-23 2009-05-11 アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN102099847A CN102099847A (zh) 2011-06-15
CN102099847B true CN102099847B (zh) 2013-03-13

Family

ID=41570217

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2009801284898A Expired - Fee Related CN102099847B (zh) 2008-07-23 2009-05-11 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法

Country Status (8)

Country Link
US (2) US8502227B2 (zh)
EP (2) EP2317492B1 (zh)
JP (2) JP4982609B2 (zh)
KR (1) KR101247023B1 (zh)
CN (1) CN102099847B (zh)
BR (1) BRPI0917025A2 (zh)
RU (1) RU2475866C2 (zh)
WO (1) WO2010010750A1 (zh)

Families Citing this family (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2010010750A1 (ja) * 2008-07-23 2010-01-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法
JP5738995B2 (ja) * 2011-07-19 2015-06-24 シャープ株式会社 素子基板の製造方法
KR101947163B1 (ko) * 2012-02-10 2019-02-13 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
KR20140064553A (ko) * 2012-11-20 2014-05-28 삼성디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조 방법
KR102025835B1 (ko) * 2012-11-26 2019-11-27 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치
US9785032B2 (en) 2013-11-12 2017-10-10 E Ink Holdings Inc. Active device array substrate and display panel
TWI505010B (zh) * 2013-11-12 2015-10-21 E Ink Holdings Inc 主動元件陣列基板
KR102231898B1 (ko) * 2013-12-13 2021-03-25 엘지디스플레이 주식회사 표시장치 및 표시패널
KR102196179B1 (ko) * 2013-12-31 2020-12-29 엘지디스플레이 주식회사 디스플레이 장치 및 그의 제조방법
KR20150084127A (ko) 2014-01-13 2015-07-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 기판, 표시 기판의 제조 방법 및 이를 포함하는 표시 장치
JP6370057B2 (ja) * 2014-02-20 2018-08-08 三菱電機株式会社 アレイ基板およびアレイ基板の検査方法
WO2016185642A1 (ja) * 2015-05-21 2016-11-24 パナソニック液晶ディスプレイ株式会社 表示パネル
KR102412675B1 (ko) * 2015-06-03 2022-06-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 이의 구동 방법
KR102490891B1 (ko) * 2015-12-04 2023-01-25 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN105469731A (zh) * 2016-01-28 2016-04-06 京东方科技集团股份有限公司 阵列基板、电学老化方法、显示装置及其制作方法
JP6805604B2 (ja) * 2016-07-26 2020-12-23 セイコーエプソン株式会社 電気光学装置および電子機器
CN109390352A (zh) * 2017-08-09 2019-02-26 昆山国显光电有限公司 阵列基板及其制造方法、显示面板及其制造方法
KR102392373B1 (ko) * 2017-08-24 2022-04-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN108052462B (zh) * 2017-12-20 2019-12-10 苏州华兴源创科技股份有限公司 一种oled基板识别系统与方法
US10852591B2 (en) * 2018-06-29 2020-12-01 Sharp Kabushiki Kaisha Image display device
KR102720692B1 (ko) * 2018-11-08 2024-10-23 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
KR102772270B1 (ko) * 2018-11-15 2025-02-24 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN109830197B (zh) * 2019-01-17 2022-03-15 昆山国显光电有限公司 一种测试导线排版结构、显示面板和显示装置
KR102814639B1 (ko) 2019-07-03 2025-05-29 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN111736380A (zh) * 2019-07-26 2020-10-02 友达光电股份有限公司 显示面板及其制造方法
TWI742519B (zh) * 2019-07-26 2021-10-11 友達光電股份有限公司 可撓性顯示裝置及其製造方法
KR102182538B1 (ko) * 2019-09-20 2020-11-25 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치
KR102269139B1 (ko) * 2019-09-20 2021-06-25 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치
CN111508858B (zh) * 2020-05-06 2022-11-08 中国电子科技集团公司第四十四研究所 Emccd倍增区电极短路的检测方法
US11415854B2 (en) * 2020-06-29 2022-08-16 Sharp Kabushiki Kaisha Liquid crystal display device
US20230097113A1 (en) * 2021-09-29 2023-03-30 Shenzhen China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Display panel and manufacturing method thereof

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004110034A (ja) * 2002-09-16 2004-04-08 Samsung Electronics Co Ltd 表示装置用基板、液晶表示装置及び液晶表示装置の製造方法
CN1717710A (zh) * 2003-09-19 2006-01-04 夏普株式会社 电极布线基板及显示装置
CN101101419A (zh) * 2002-07-17 2008-01-09 株式会社日立显示器 液晶显示装置

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3010800B2 (ja) * 1991-07-16 2000-02-21 日本電気株式会社 液晶表示装置及び液晶表示パネル
JP2758105B2 (ja) * 1992-04-28 1998-05-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板の検査方法及び検査装置
US5426447A (en) 1992-11-04 1995-06-20 Yuen Foong Yu H.K. Co., Ltd. Data driving circuit for LCD display
JP3315834B2 (ja) 1995-05-31 2002-08-19 富士通株式会社 薄膜トランジスタマトリクス装置及びその製造方法
JP3251474B2 (ja) * 1995-09-06 2002-01-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板
JP3276557B2 (ja) 1996-05-23 2002-04-22 三菱電機株式会社 液晶表示装置
JPH09329796A (ja) * 1996-06-10 1997-12-22 Hitachi Ltd 液晶表示基板
JPH11119683A (ja) * 1997-10-13 1999-04-30 Fujitsu Ltd 液晶表示パネルの検査方法
JP5053479B2 (ja) * 2000-09-14 2012-10-17 株式会社ジャパンディスプレイセントラル マトリクスアレイ基板及びその製造方法
JP2002116453A (ja) * 2000-10-05 2002-04-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶画像表示装置とその製造方法、および画像検査方法
KR100769160B1 (ko) * 2000-12-29 2007-10-23 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치의 테스트 패드
JP2002328627A (ja) * 2001-04-27 2002-11-15 Seiko Epson Corp 表示装置の検査方法
JP2002341377A (ja) 2001-05-15 2002-11-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 薄膜トランジスタアレイ基板
JP3977061B2 (ja) 2001-11-21 2007-09-19 シャープ株式会社 液晶表示装置及びその欠陥修復方法
KR100895311B1 (ko) * 2002-11-19 2009-05-07 삼성전자주식회사 액정 표시 장치 및 그 검사 방법
JP2004325956A (ja) * 2003-04-25 2004-11-18 Sharp Corp 表示装置及びその製造方法
US7205209B2 (en) * 2004-05-11 2007-04-17 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. Fabrication of stacked dielectric layer for suppressing electrostatic charge buildup
US7973871B2 (en) * 2004-05-27 2011-07-05 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, method for correcting a pixel deffect therein and manufacturing method thereof
KR100692691B1 (ko) * 2004-10-26 2007-03-14 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 액정표시장치
JP4667846B2 (ja) * 2004-12-10 2011-04-13 三菱電機株式会社 薄膜トランジスタアレイ基板の製造方法
JP2007219046A (ja) * 2006-02-15 2007-08-30 Epson Imaging Devices Corp 液晶表示パネル
JP2007256540A (ja) * 2006-03-22 2007-10-04 Sharp Corp 液晶表示装置の検査方法、及び液晶表示装置
WO2008015808A1 (en) * 2006-07-31 2008-02-07 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, display, and active matrix substrate inspecting method
JP5036865B2 (ja) * 2008-05-16 2012-09-26 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法
WO2010010750A1 (ja) * 2008-07-23 2010-01-28 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板、表示装置、アクティブマトリクス基板の検査方法、および表示装置の検査方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101101419A (zh) * 2002-07-17 2008-01-09 株式会社日立显示器 液晶显示装置
JP2004110034A (ja) * 2002-09-16 2004-04-08 Samsung Electronics Co Ltd 表示装置用基板、液晶表示装置及び液晶表示装置の製造方法
CN1717710A (zh) * 2003-09-19 2006-01-04 夏普株式会社 电极布线基板及显示装置

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JP特开2002-90424A 2002.03.27
JP特开2004-110034A 2004.04.08

Also Published As

Publication number Publication date
US8502227B2 (en) 2013-08-06
US20130299850A1 (en) 2013-11-14
CN102099847A (zh) 2011-06-15
EP2797069A1 (en) 2014-10-29
JP4982609B2 (ja) 2012-07-25
JP5438798B2 (ja) 2014-03-12
WO2010010750A1 (ja) 2010-01-28
RU2011106755A (ru) 2012-08-27
BRPI0917025A2 (pt) 2016-02-16
KR101247023B1 (ko) 2013-03-25
US20110127536A1 (en) 2011-06-02
EP2317492B1 (en) 2014-05-14
KR20110031503A (ko) 2011-03-28
JP2012177927A (ja) 2012-09-13
JPWO2010010750A1 (ja) 2012-01-05
RU2475866C2 (ru) 2013-02-20
EP2317492A1 (en) 2011-05-04
US9299877B2 (en) 2016-03-29
EP2797069B1 (en) 2019-07-10
EP2317492A4 (en) 2011-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102099847B (zh) 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法
CN101999095B (zh) 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法
CN101965606B (zh) 有源矩阵基板、显示装置、有源矩阵基板的检查方法和显示装置的检查方法
CN101443700B (zh) 有源矩阵基板、显示装置、和有源矩阵基板的检查方法
US9097921B2 (en) Active matrix display device
US9405162B2 (en) Active matrix display device with auxiliary repair line
JP3119357B2 (ja) 液晶表示装置
KR20160090971A (ko) 표시장치용 표시패널 및 표시패널 검사 방법
JP2022076989A (ja) 配線基板、表示パネル、および配線基板の欠陥修理方法
JP2007183446A (ja) 電気光学装置、電気光学装置用基板、電気光学装置の製造方法、電気光学装置用基板の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20130313

Termination date: 20210511