CN101903857A - 用于无源矩阵多触点触摸传感器的扫描特性被调整的电子分析电路 - Google Patents

Abstract

本发明涉及用于多触点无源矩阵触摸传感器(1)的电子分析电路，所述电子分析电路包括对矩阵的两个轴线中的一个轴线进行供电的供电装置，以及在两个轴线之间的节点处沿矩阵的另一轴线对电特性进行检测的检测装置，其特征在于，至少一个扫描特性被局部地或暂时地调整。本发明还涉及另外包括这样的电子分析电路的多触点无源矩阵触摸传感器(1)。

Description

用于无源矩阵多触点触摸传感器的扫描特性被调整的电子分析电路

本发明涉及用于无源矩阵多触点触摸传感器的扫描特性被调整的电子分析电路。

本发明涉及多触点透明触摸传感器领域。

该类传感器配有同时采集多个指状物在其表面上的位置、压力、尺寸、形状和位移的装置，以便优选地通过图形界面来控制设备。

所述传感器可作为众多设备的界面，比如但不限于个人计算机(便携或非便携的)、手机、自动柜员机(银行、销售点、售票处)、游戏控制台、便携式多媒体播放器(数字随身听)、视听设备或家电的控制器、工业设备控制器以及GPS(全球定位系统)导航仪等。

在现有技术中已知多触点透明触摸传感器。这些传感器允许同时检测多个触点的存在以及状态。这样的传感器可以是矩阵式的。为此顺序且快速地执行对矩阵的每个节点的端子处的电压的测量，以便每秒多次重建传感器的图像。

为了用于要求感觉不到传感器的反应时间的应用(打字、电子游戏、音乐或多媒体应用的控制器)，必须能够在最大延迟为20毫秒的情况下测量指状物的活动。

在现有技术中提出了在专利FR 2866726中描述的一种解决方案，该解决方案所针对的设备通过操纵多触点触摸屏上的虚拟图形对象来进行控制。所述设备还包括允许以100Hz的采样频率采集并分析传感器数据的电子分析电路。传感器可以被分成多个区域，以便在所述区域上执行并行处理。

该解决方案的缺点在于由电子分析电路进行的测量的精度。该精度直接取决于采样频率，因此其在整个传感器上是相同的，而独立于给定区域上的接触。类似地，在每个扫描阶段都必须具有较高的扫描分辨率。

为了获得足够精确的测量，因此必须对整个传感器实施具有较高频率和较高分辨率的无用扫描。这导致在内部集成了电子分析电路的触摸屏处的较大电耗。

本发明的目的是通过提出用于无源矩阵多触点触摸传感器的电子控制器来克服该缺点，所述电子控制器被配置成在某些采集阶段调整扫描特性。

该调整可以包括调整扫描频率，以使得能够根据对扫描进行的局部的、有条件的自动调节，来同时进行在整个矩阵传感器上以较低频率进行的扫描和在传感器的一个或多个区域上以较高的频率进行的扫描。

该调整还可以包括调整矩阵传感器的扫描分辨率(即在整个传感器上的较低分辨率和在传感器的一个或多个精确区域上的较高分辨率)。

本发明可以还包括以上两种调整模式的组合。

为此，本发明提出一种用于多触点无源矩阵触摸传感器的电子分析电路，所述电子分析电路包括对矩阵的两个轴线中的一个轴线进行供电的供电装置，以及在所述两个轴线之间的节点处沿矩阵的另一轴线对电特性进行检测的检测装置，其特征在于，至少一个扫描特性是被局部地或暂时地调整的。

根据第一实施方式，所述调整包括局部地或暂时地改变扫描的频率。

根据第二实施方式，所述调整包括局部地或暂时地改变扫描的分辨率。

根据第三实施方式，所述调整包括局部地或暂时地改变扫描的分辨率和频率。

优选地，在传感器的整个表面上按照较低扫描特性的组合、以及在至少一个较小区域上按照较高扫描特性的至少一个组合来执行扫描。

根据本发明的其它具体实施方式：

-所述至少一个较小区域是其中在按照较低扫描特性的组合进行扫描时检测到接触的接触区域，

-按照较高扫描特性的至少一个组合扫描的条件为在按照较低扫描特性的组合扫描时可能检测到了接触区域，

-按照较高扫描特性的至少一个组合扫描的区域的界限根据在按照较低扫描特性的组合扫描时检测到的接触区域的轮廓来确定，

-按照较高扫描特性的至少一个组合扫描的区域的界限在每个按照较低扫描特性的组合的扫描之后更新，

-较高扫描特性的至少一个组合取决于要扫描的区域的大小。

本发明因此在优化了电耗的同时提供更快更可靠的分析。

根据本发明的其它具体实施方式：

-所述至少一个较小区域是与图形对象的位置相对应的区域，

-按照较高扫描特性的组合来执行对与图形对象的位置相对应的至少一个较小区域的扫描，该较高扫描特性的组合随所述图形对象的特性而变化，

-对按照较高扫描特性的至少一个组合扫描的区域的分析还包括滤波步骤，该滤波步骤比在按照较低扫描特性的组合对传感器的整个表面进行分析时实施的滤波更精细。

本发明因此允许加强扫描与相关的图形对象的形状之间的联系。

根据一具体实施方式，调整随在触摸屏上显示的图形要素而变化。

根据一具体实施方式，调整随可能检测到的触点的结果而变化。

根据一具体实施方式，对不包含图形对象的触摸屏的部分不进行扫描。因此可避免对不需要接触信息的区域的无用采集。

根据一具体实施方式，在扫描阶段，电子分析电路通过以下方式控制传感器：对网络中一个网络的轨道相继供电并且检测第二网络的轨道中每个轨道的响应。

本发明还涉及一种多触点无源矩阵触摸传感器，包括对矩阵的两个轴线中的一个轴线进行供电的供电装置，以及在两个轴线之间的节点处沿矩阵的另一轴线对电特性进行检测的检测装置，所述传感器还包括根据前述权利要求中任一项所述的电子分析电路。

在本发明中，较高扫描特性是指提供较高扫描质量的扫描特性。另外，较低扫描特性是指提供较低扫描质量的扫描特性。具体地，较高的扫描分辨率和较高的扫描频率对应于较高扫描特性。较低的扫描分辨率和较低的扫描频率对应于较低扫描特性。

通过阅读对附有附图的非限定性实施例的详细描述将更好地理解本发明，附图分别表示：

-图1，无源矩阵多触点触摸电子设备的视图，

-图2，由根据现有技术的电子电路实施的在整个传感器上采集数据的方法(“采集1”)的示意图，

-图3，由根据现有技术的电子电路实施的分析数据的方法(“分析1”)的示意图，

-图4，由根据本发明的电子电路实施的对传感器的扫描进行局部的、有条件的调节的方法(“调节1”)的示意图，

-图5和6，其上实施有接触的矩阵传感器的视图，

-图7，由根据本发明的电子电路实施的数据采集方法“采集2”的示意图，

-图8，由根据本发明的电子电路实施的数据分析方法“分析2”的示意图，

-图9，在局部的、有条件的调节方法中实施的两个循环的时间图，

-图10，根据本发明的已知类型的图形用户界面，

-图11，根据由根据本发明的电子电路实施的不同显示区域的数据分析方法“调节2”的示意图，以及

-图12，在确定不同的触摸区域的情况下在局部的、有条件的调节方法中实施的不同循环的时间图。

根据本发明的电子分析电路旨在结合到多触点无源矩阵触摸传感器中。其可以涉及无源矩阵，即由被布置为矩阵且由绝缘层分隔的两个透明导电材料层组成的无源矩阵，或者涉及有源矩阵，对于有源矩阵而言矩阵的每个节点由有源部件(比如晶体管或二极管)构成。

图1示出电子触摸设备的视图，该电子触摸设备包括：

-矩阵触摸传感器1，

-显示器2，

-捕捉接口3，

-主处理器4，以及

-图形处理器5。

所述触摸设备的第一基本部件是借助于捕捉接口3进行采集-多触点操纵所需的触摸传感器1。该捕捉接口3包含采集和分析的电路。

所述触摸传感器1是矩阵式的。所述传感器可以在可能的情况下被分为多个部分，以由于同时扫描每个部分而使捕捉加速。

来自捕捉接口3的数据在滤波后被传送给主处理器4。主处理器4执行允许将板的数据与图形对象相关联的本地程序，图形对象被显示在显示器2上以便被操纵。

主处理器4还将要显示在显示器2上的数据传送给图形界面。该图形界面还可以由图形处理器5驱动。

触摸传感器通过以下方式来控制：在第一扫描阶段期间，相继为网络中一个网络的轨道供电并且检测第二网络的轨道中每个轨道上的响应。根据这些响应来确定与状态相对于静止状态被改变了的节点相对应的接触区域。确定状态被改变了的相邻节点的一个或多个集合。这样的相邻节点的一个集合确定接触区域。基于这种节点的集合来计算在本发明意义上的光标的合格位置的信息。在节点的多个集合被非激活区域分隔开的情况下，在同一扫描阶段期间确定多个独立的光标。

该信息在新的扫描阶段的过程中周期性更新。

根据在相继扫描的过程中获得的信息来创建、跟踪或删除光标。例如，根据接触区域的重心函数来计算光标。

总的原则是创建与在触摸传感器上检测到的区域同样多的光标，并跟随其随时间的变化。当用户从传感器上收回指状物时，相关的光标就被删除。以这种方式，可以同时捕捉多个指状物在触摸传感器上的变化和位置。

矩阵传感器1例如是电阻式传感器或投射电容式传感器。其由两个透明层组成，在所述两个透明层上布置对应于导线的行或列。因此所述层形成导线的矩阵网络。

当希望知道行是否已与列相接触从而确定传感器1上的触点时，可测量矩阵的每个节点的端子处的电特性(电压、电容或电感)。

该设备允许：通过实施传感器1和集成在主处理器4中的控制电路，来以约100赫兹的采样频率在整个传感器1上采集数据。

主处理器4执行允许将传感器的数据与显示在显示器2上以便操纵的图形对象相关联的程序。

图2示出由根据现有技术的电子电路实施的在区域Z1上采集数据的方法“采集1”11的示意图。

该方法的功能是确定矩阵传感器1的区域Z1的每个点的状态，即所述点是否有接触。传感器的所述区域Z1包括M行和N列，并且对应于整个传感器。

对行和列而言，该区域的采样频率是100赫兹。

所述方法对应于测量矩阵的区域的所有节点。在矩阵的每个节点处测得的电特性例如是电压。所述矩阵是以下矩阵[N，M]：在每个点(I，J)包含在由行I(1≤I≤N)与列J(1≤J≤M)的交叉形成的节点的端子处测量到的电压值。该方法允许给出矩阵传感器1的每个节点在给定时刻的状态。

采集方法“采集1”11开始于对之前采集时获得的数据进行初始化的初始化步骤12。

在此，列的轴线构成供电轴线，行的轴线构成检测轴线。

方法11首先执行对第一列的扫描。第一列例如被供给5伏特。对于所述列，电子电路测量在所述列与从1至N的每一行之间的节点的端子处的电特性(例如电压)。

当测量执行到第N行时，方法过渡到下一列并重新开始测量所考虑的新列与从1至N的每个行的每个节点的端子处的电压。

当扫描了所有列时，也测量了矩阵传感器1的每一点的端子处的电压。因此方法结束，并且电子电路可以进行对所获得的“电压”矩阵的分析。

图3示出由根据现有技术的电子电路实施的数据分析方法“分析1”21的示意图。

所述方法由实现以下步骤的一系列算法构成：

-一次或多次滤波22，

-确定包括每个接触区域的区域23，

-确定每个接触区域的重心24，

-对接触区域进行内插25，以及

-预计接触区域的轨迹26。

在分析方法“分析1”21结束之后，软件能够对触摸屏的虚拟图形对象应用不同的特定处理，以便实时更新所述触摸屏。包括在数据采集步骤11期间检测到的接触区域的区域也被确定。

根据现有技术，电子电路以约100赫兹的频率重复方法11和21的循环。这样的电子电路的缺点在于难以在过量计算(过量计算导致过多耗电)和对触点状态的测量的精度之间进行仲裁，从而导致触摸屏的可靠性和灵敏度不足。

为了克服现有技术的缺点，电子电路结合了对传感器的扫描进行的局部的、有条件的调节方法，并且采用以下两种扫描模式：

-以较低频率F1和较低分辨率R1对传感器区域Z1进行扫描的第一扫描模式，该区域Z1可以例如对应于矩阵传感器的整个表面，以及

-以较高频率F2和分辨率R2仅对包括在Z1中的接触区域Z2进行扫描的第二扫描模式，F2和R2分别等于或大于F1和R1，所述区域Z2是在按照第一扫描模式扫描区域1而进行的连续整体的分析时确定的。

例如，扫描的较低频率F1是20赫兹或更低(例如1赫兹)。扫描的较高频率F2是例如100赫兹或更高(例如200赫兹)。

将频率和分辨率限定为扫描特性。

图4示出由根据本发明的电子电路实施的对传感器的扫描进行的局部的、有条件的调节方法“调节1”31的示意图。

该方法包括与步骤11和21(即对矩阵传感器(9)的区域Z1进行数据采集和分析的步骤)的序列相对应的第一循环32。

以较低频率F1和较低分辨率R1在矩阵传感器的整个区域Z1上进行第一循环32。

频率F1例如等于20赫兹。较低分辨率R1是矩阵传感器分辨率的整分数(fraction entière)。例如，在第一循环期间，对两行中的一行供电并且测量两列中的一列。在这种情况下，R1等于M×N/4。

在所述第一循环32结束时，进行局部的、有条件的调节。如果在整个区域Z1上检测到至少一个触点，则该方法进入与步骤34、51和61的序列相对应的第二循环33。

所述第二循环33包括对如图5中所示的包括接触区域41的区域42进行更新的第一步骤34。所述区域42是在第一循环32的分析步骤21中分析了整个区域Z1上的数据之后获得的。

第二循环33以频率F2进行。该频率大于F1。例如，该频率可以等于100赫兹。第二循环33以不同于R1的分辨率R2进行。例如，R2可以等于矩阵传感器的分辨率。在这种情况下，R2等于M×N。当在区域Z2中不再检测到接触时，循环33停止。

在所述第二循环33的整个进行期间，所述第一循环32继续执行。在所述第一循环32的每次结束时，重新实施局部的、有条件的调节。如果检测到新的触点，则第二循环33重新开始。

分析步骤21的输出的数据允许获知传感器1的每个点的状态，尤其是一个或多个触点的位置。

如图6所示，当物体与矩阵传感器1形成接触时，在采集步骤11之后，在传感器上检测到接触区域41。随后在分析步骤21中处理所述区域41，以便另外确定包含所述接触区域41的区域42。所述区域42的形状可作为电子电路的参数。在本发明第一实施例中，其涉及矩形形状。然而，本发明可以用任何其它类型的区域形状来实施。

在电子电路在整个矩阵传感器1上检测到多个不同的触摸区域41的情况下，确定多个包含区域42。

包含区域42确定在第二扫描模式时要分析的区域Z2的坐标和外周，如图6所示。

图5和图6还示出两种扫描模式的分辨率的差异。区域2的扫描分辨率R2等于扫描区域1的区域的分辨率R1的五倍。因此，图5所示的区域Z1的扫描分辨率是图6所示的区域Z2的扫描分辨率的五分之一。

事实上，如图5中所示的区域Z1的划分43是如图6中所示的区域Z2的划分44的五倍大。

图7示出由根据本发明的电子电路实施的数据采集方法“采集2”51的示意图。

在这种情况下，方法51与由电子电路实施的以频率F1在整个区域Z1上采集数据的方法11“采集1”类似。

然而区别在于仅在包含所计算的接触区域的区域(即区域Z2)上执行采集。

在只检测到一个区域41而其包含区域42是矩形的情况下，轮廓是由整数参数I1、I2、J1、J2确定的。方法51实现在从列J1到列J2中的每

一列处对从行I1到行I2的扫描，以测量矩形[I1，I2，J1，J2]中每一点的端子处的电压。

针对矩形区域42给出了示例。应理解本领域技术人员显然不一定针对矩形而是可以针对任何其它形状的区域42来实现方法51，因此该矩形的形状显然绝非限定性的。

图8示出由根据本发明的电子电路实施的数据分析方法“分析2”61的示意图。

区域Z2(在该区域Z2上执行分析步骤61)对应于上述包含区域41的区域42。优选地并且在区域Z2明显小于区域Z1的情况下，分析方法61在滤波步骤62中所实施的滤波比滤波步骤22中实施的滤波更加精细。

图9示意性地示出：在两个第一周期中检测到接触以及在第三周期中未检测到任何接触的精确情况下，在局部的、有条件的调节方法31中实施的两个循环32和33的时间图。

局部的、有条件的调节31允许：根据在第一循环32的输出处可能检测到的触点的结果来以频率F2和分辨率R2启动第二循环33。然后所述第二循环33以频率F2进行。

根据本发明，频率F2高于频率F1。

函数“接触1”被限定为能够取以下两个值的函数：如果在第一循环32的输出处在传感器1的整个表面上检测到至少一个触点则取较大值，否则取较小值。在以频率F1进行的第一循环32结束时对所述函数“接触1”进行更新。

在函数“接触1”过渡到较大值之后，就以频率F2实施第二循环33。所述第二循环33此外还生成与所述函数“接触1”类似的函数“接触2”，但是函数“接触2”仅与在所述第一循环32的输出处获得并在步骤34更新的区域42有关。

在本示例中，函数“接触1”在两个第一周期中取其较大值。此时函数“接触2”也过渡到其较大值。

在第三周期中，在整个矩阵传感器上不再检测到任何接触，因此函数“接触1”过渡到其较小值，从而停止第二循环33。

本发明的另一实施方式包括根据在触摸屏上显示的图形要素来局部调整扫描分辨率。降低的扫描分辨率可以被限制用于接触概率较小或希望禁止触摸功能的一个或多个区域。

因此，图10示出已知类型的图形用户界面(GUI)77。其由图形对象的组合构成，所述图形对象可以包含在图形界面77的子组合中。图形界面77的所述子组合通常被称为“窗口”。

窗口71和74因此是界面77的子组合。对象73包含在窗口71中而对象75是窗口74的一部分。界面77还包含中性(即不包含任何能够由用户操纵的图形对象)触摸区76。

包含在窗口71和74中的对象具有不同类型。对象73是由接触激活的按钮。其可以例如用来选择工具或功能。对象75是滑块，用于由指状物通过滑动操纵以例如改变软件或设备的参数。

不同类型的对象不要求一样的触摸精度。事实上，按钮不需要较高分辨率而滑块需要尽可能高的分辨率以获得精细的调整。相反地，按钮的激活需要良好的时间响应而滑块的移动对该参数较不敏感。

中性区76本身不需要较高分辨率也不需要较高频率。可选地，可以不对其进行扫描。

图10的网格示出对于图形界面77的不同子组合而言所希望的不同等级的分辨率。

在本发明的实施方式中，通过根据触摸区域(触摸区域是根据相应的图形对象而确定的)调整扫描的分辨率和频率来改进并优化触摸数据的采集。

为此，控制电路由主处理器4调节以使得控制电路能够根据所显示的图形对象来动态改变扫描参数。

根据写功能已被激活的具体实施方式，在通过存在接触区域而检测到写入的区域中以较高分辨率执行对多触点触摸传感器的矩阵的采集。该较高分辨率的区域包含比接触区域更大的区域。因此，在围绕最后检测到的触点的较小尺寸的区域中分辨率增大，这使得能够在下次采集时预测触笔的位移。因此在接触区域附近获得更精确的触摸信息。

根据一具体实施方式，可在没有接触时以较低频率和较低分辨率实现对显示图形对象73或74的采集，并且在检测到接触之后一直检测到该接触时，就以较高频率和较高分辨率实现对该图形对象的采集。

根据一具体实施方式，对于给定的图形对象74或75，当检测到接触并且一直检测到该接触时，在接近接触区域的区域上分辨率较高而在较远的区域上分辨率较低。这使得能够在光标快速移动时获得与接触位移相关的较好信息。

根据一具体实施方式，供电轴线或检测轴线可以比另一轴线的分辨率(或频率)更高，这在优选地沿着两个轴线中的一个轴线分析光标位移时很有用。

图11示出根据该实施方式的调节“调节2”81的示意图。在与上述扫描阶段32相同的第一扫描阶段82中，以频率F1和分辨率R1全面扫描区域Z1。该区域可以例如对应于整个传感器或对应于整个图形界面。

就该阶段82而言，如果在屏幕上显示至少一个图形子组合(窗口或对象)，则开始第二循环83。

该循环83首先包括读取图形对象的参数(位置、大小、频率、分辨率)的步骤84。

区域Z2的坐标是根据屏幕上显示的图形对象的坐标来确定的。扫描频率F2和扫描分辨率R2是根据图形对象的类型(例如：按钮、滑块等)来确定的。

例如，对于按钮类型的对象，频率F2被调整为100赫兹而分辨率R2是4行乘4列。类似地，对于滑块类型的对象，频率F2是60赫兹而分辨率是10行乘40列。

接着，以频率F2和分辨率R2扫描区域Z2。

如果在屏幕上显示多个图形子组合，则挨个地针对其中每个图形子组合类似地重复执行采集步骤51和分析步骤61，直到扫描了所有的图形子组合。在扫描了包含在区域Z1中的与图形对象相对应的所有区域之后，就执行对区域Z1的新的扫描。

图12是示出与不同的显示区域相对应的不同的并行扫描。

以频率F1扫描整个触摸区域Z1。分别以频率F2和F3并行扫描触摸区域的不同子组合。例如，扫描2对应于的显示“滑块”类型对象的区域，而扫描3对应于的显示“按钮”类型对象的区域。

集成了根据上述实施方式中任一实施方式的电子分析电路的触摸屏的优点在于：既不需要过多电流消耗，又不需要使用性能极好的处理器，同时提供优于根据现有技术的触摸屏的接触检测的灵敏度和精度。

本发明的上述实施方式是作为示例给出的而绝非限制性的。应当理解本领域技术人员能够在不脱离本专利范围的情况下实现本发明的各种变型。

Claims (18)

1.一种用于多触点无源矩阵触摸传感器(1)的电子分析电路，所述电子分析电路包括对所述矩阵的两个轴线中的一个轴线进行供电的供电装置，以及在所述两个轴线之间的节点处沿所述矩阵的另一轴线对电特性进行检测的检测装置，其特征在于，至少一个扫描特性被局部地或暂时地调整。

2.根据权利要求1所述的电子分析电路，其特征在于，所述调整包括局部地或暂时地改变扫描的频率。

3.根据权利要求1所述的电子分析电路，其特征在于，所述调整包括局部地或暂时地改变扫描的分辨率。

4.根据权利要求1所述的电子分析电路，其特征在于，所述调整包括局部地或暂时地改变扫描的分辨率和频率。

5.根据前述权利要求之一所述的电子分析电路，其特征在于，所述扫描如下执行：在所述传感器的整个表面上按照较低的扫描特性的组合来执行，以及在至少一个较小区域上按照较高的扫描特性的至少一个组合来执行。

6.根据权利要求5所述的电子分析电路，其特征在于，至少一个较小区域是接触区域(42)，在所述接触区域(42)中在按照较低的扫描特性的组合进行扫描时检测到了接触。

7.根据权利要求6所述的电子分析电路，其特征在于，按照较高的扫描特性的至少一个组合扫描的条件为在按照较低的扫描特性的组合扫描时可能检测到了接触区域(42)。

8.根据权利要求6至7之一所述的电子分析电路，其特征在于，按照较高的扫描特性的至少一个组合扫描的区域的界限根据在按照较低的扫描特性的组合扫描时检测到的所述接触区域(42)的轮廓来确定。

9.根据权利要求6至8之一所述的电子分析电路，其特征在于，按照较高的扫描特性的至少一个组合扫描的区域的界限在每个按照较低的扫描特性的组合的扫描之后更新。

10.根据权利要求6至9之一所述的电子分析电路，其特征在于，较高的扫描特性的至少一个组合取决于要扫描的区域的大小。

11.根据权利要求5至10之一所述的电子分析电路，其特征在于，至少一个较小区域是与图形对象(73，75)的位置相对应的区域。

12.根据权利要求11所述的电子分析电路，其特征在于，按照较高的扫描特性的组合来执行对与图形对象(73，75)的位置相对应的至少一个较小区域的扫描，所述较高的扫描特性的组合随所述图形对象(73，75)的特性而变化。

13.根据前述权利要求中至少一项所述的电子分析电路，其特征在于，对按照较高的扫描特性的至少一个组合扫描的所述区域的分析(61)还包括滤波步骤(62)，所述滤波步骤(62)比在按照较低的扫描特性的组合而对所述传感器的整个表面进行分析(21)时实施的滤波(22)更精细。

14.根据前述权利要求中至少一项所述的电子分析电路，其特征在于，所述调整随在触摸屏上显示的图形要素而变化。

15.根据前述权利要求中至少一项所述的电子分析电路，其特征在于，所述调整随可能检测到的触点的结果而变化。

16.根据前述权利要求中至少一项所述的电子分析电路，其特征在于，对不包含图形对象的所述触摸屏的部分不进行扫描。

17.根据前述权利要求中至少一项所述的电子分析电路，其特征在于，在扫描阶段，所述电子分析电路通过以下方式控制所述传感器：对网络中一个网络的轨道相继供电并检测第二网络的轨道中每个轨道的响应。

18.一种多触点无源矩阵触摸传感器(1)，包括对所述矩阵的两个轴线中的一个轴线进行供电的供电装置，以及在所述两个轴线之间的节点处沿所述矩阵的另一轴线对电特性进行检测的检测装置，所述传感器(1)还包括根据前述权利要求之一所述的电子分析电路。

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