CN101576603B - 测试装置 - Google Patents
测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101576603B CN101576603B CN2008100969217A CN200810096921A CN101576603B CN 101576603 B CN101576603 B CN 101576603B CN 2008100969217 A CN2008100969217 A CN 2008100969217A CN 200810096921 A CN200810096921 A CN 200810096921A CN 101576603 B CN101576603 B CN 101576603B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- proving installation
- programmable
- test
- unit
- under test
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 185
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 32
- 230000008569 process Effects 0.000 claims abstract description 22
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 72
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 16
- 230000033772 system development Effects 0.000 claims description 5
- 230000008676 import Effects 0.000 claims description 3
- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 abstract 6
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 abstract 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 7
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- 238000012956 testing procedure Methods 0.000 description 5
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 2
- ATHVAWFAEPLPPQ-VRDBWYNSSA-N 1-stearoyl-2-oleoyl-sn-glycero-3-phosphocholine Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC(=O)OC[C@H](COP([O-])(=O)OCC[N+](C)(C)C)OC(=O)CCCCCCC\C=C/CCCCCCCC ATHVAWFAEPLPPQ-VRDBWYNSSA-N 0.000 description 1
- 239000004606 Fillers/Extenders Substances 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000006855 networking Effects 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明是有关于一种测试装置，适于测试不同种类的多个待测板。此测试装置包括一可编程测试平台以及一储存单元。可编程测试平台包括一可编程系统芯片、一存储单元与一输入/输出单元，其中存储单元是电性连接至可编程系统芯片，且存储单元内存有一作业系统。输入/输出单元是电性连接至可编程系统芯片、待测板其中之一以及储存单元。输入/输出单元适于根据一输入动作产生一启动信号，输入动作是用于输入所述待测板的种类的动作，而可编程系统芯片适于根据启动信号来选取一预设的测试流程，并依预设的测试流程对电性连接至输入/输出单元的待测板进行测试。储存单元是用以储存可编程系统芯片所输出的一测试结果。本发明测试装置能够降低测试成本，且能减少测试时间。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试装置，特别是涉及一种能测试多种待测板(UnitUnder Test，UUT)，可以降低测试成本及测试时间的测试装置。
背景技术
请参阅图1所示，是现有习知的一种测试装置的方块图。现有习知的测试装置100，包括一主机电脑(Host PC)110、一测试板120以及一现场即时资讯系统(Shop Floor Information System，SFIS)130。主机电脑110是电性连接至测试板120与现场即时资讯系统130，而测试板120用以电性连接至一待测板50。
现有习知的测试装置100的测试与更新的主控权在于主机电脑110，测试板120无法独立对待测板50进行测试。所以，现有习知技术的测试步骤是通过主机电脑110启动测试流程，并藉由测试板120对待测板50进行测试。测试完成之后，主机电脑110会将测试结果传送至现场即时资讯系统130，而现场即时资讯系统130会储存测试结果。
在现有习知技术中，每一测试板120是用以测试特定的待测板50，所以在测试不同待测板50时需要更换测试板120。此外，由于每一待测板50包括多个待测部分，所以若待测板50有升级时，通常需研发新的延伸卡、在测试板120上新增元件或是重新设计测试板120，以完整测试待测板50的每一待测部分。特别是，若待测板50具有主动元件(如区域网路(Local AreaNetwork，LAN)芯片)时，往往需要更换另一测试板或是新增元件。
由于现有习知技术需要研发许多测试板120，所以较耗费成本。此外在测试不同的待测板50时，需要更换测试板120，所以较为费时。另外，架设主机电脑110时，需要安装作业系统(Operating System，OS)、驱动程式以及相关软体，并且还要设定网路，所以会花费许多时间。
基于上述，现有习知技术存在有测试成本高，且测试时间长的缺点。
由此可见，上述现有的测试装置在结构与使用上，显然仍存在有不便与缺陷，而亟待加以进一步改进。为解决上述存在的问题，相关厂商莫不费尽心思来谋求解决之道，但长久以来一直未见适用的设计被发展完成，而一般产品又没有适切结构能够解决上述问题，此显然是相关业者急欲解决的问题。因此如何能创设一种新型结构的测试装置，实属当前重要研发课题之一，亦成为当前业界极需改进的目标。
有鉴于上述现有的测试装置存在的缺陷，本发明人基于从事此类产品设计制造多年丰富的实务经验及专业知识，并配合学理的运用，积极加以研究创新，以期创设一种新型结构的测试装置，能够改进一般现有的测试装置，使其更具有实用性。经过不断的研究、设计，并经过反复试作样品及改进后，终于创设出确具实用价值的本发明。
发明内容
本发明的目的在于，克服现有的测试装置存在的缺陷，而提供一种新型结构的测试装置，所要解决的技术问题是使其可以降低测试成本及测试时间，非常适于实用。
本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种测试装置，适于测试不同种类的多个待测板，该测试装置包括：一可编程测试平台，包括：一可编程系统芯片(芯片即晶片，本文均称为芯片)；一存储单元(即记忆单元，以下均称为存储单元)，电性连接至该可编程系统芯片，该存储单元内存有一作业系统；一输入/输出单元，电性连接至该可编程系统芯片与该些待测板其中之一，其中该输入/输出单元适于根据一输入动作产生一启动信号，输入动作是用于输入所述待测板的种类的动作，而该可编程系统芯片适于根据该启动信号来选取一预设的测试流程，并且依该预设的测试流程对电性连接至该输入/输出单元的该待测板进行测试；以及一储存单元，电性连接至该输入/输出单元，以储存该可编程系统芯片所输出的一测试结果。
本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。
前述的测试装置，其中所述的可编程系统芯片为一现场可程式逻辑闸阵列芯片。
前述的测试装置，其中所述的可编程测试平台更包括一显示单元，电性连接至该可编程系统芯片，以显示一测试资讯。
前述的测试装置，其中所述的可编程测试平台为一嵌入式系统开发平台。
前述的测试装置，其更包括一现场即时资讯系统，而该储存单元是位于该现场即时资讯系统内。
前述的测试装置，其更包括一伺服器，而该储存单元是位于该伺服器内。
前述的测试装置，其中所述的输入/输出单元包括一条码扫描器，而每一待测板上设有一条码，该条码扫描器用以扫描电性连接至该输入/输出单元的该待测板上的该条码，以产生该启动信号。
前述的测试装置，其中所述的输入/输出单元包括一键盘、一条码扫描器、一按钮开关或一控制元件。
前述的测试装置，其中所述的输入/输出单元包括多个连接介面，以电性连接该可编程系统芯片、该些待测板与该储存单元。
前述的测试装置，其中该些连接介面包括通用序列汇流排(汇流排即总线，本文均称为汇流排)、通用型输入/输出、联合测试工作组埠、乙太网埠、无线网路介面、音效埠、低电压差动信号介面、打印终端埠、序列埠、第二代个人系统连接埠(PS/2连接埠)以及视频图像阵列埠的至少其中之一。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果。由以上可知，为达到上述目的，本发明提出一种测试装置，其适于测试不同种类的多个待测板。此测试装置包括一可编程测试平台(Programmable Testing Platform)以及一储存单元。可编程测试平台包括一可编程系统芯片(System OnProgrammable Chip，SOPC)、一存储单元与一输入/输出单元，其中存储单元是电性连接至可编程系统芯片，且存储单元内存有一作业系统。输入/输出单元是电性连接至可编程系统芯片、待测板其中之一以及储存单元。输入/输出单元适于根据一输入动作产生一启动信号，而可编程系统芯片适于根据启动信号来选取一预设的测试流程，并依预设的测试流程对电性连接至输入/输出单元的待测板进行测试。储存单元是用以储存可编程系统芯片所输出的一测试结果。
在本发明的一实施例中，上述的可编程系统芯片为一现场可程式逻辑闸阵列芯片(Field Programmable Gate Array，FPGA)。
在本发明的一实施例中，上述的可编程测试平台更包括一显示单元，其电性连接至可编程系统芯片，以显示一测试资讯。
在本发明的一实施例中，上述的可编程测试平台为一嵌入式系统开发平台(Embedded System Development Platform，ESDP)。
在本发明的一实施例中，上述测试装置更包括一现场即时资讯系统，而储存单元是位于现场即时资讯系统内。
在本发明的一实施例中，上述的测试装置更包括一伺服器(Server)，而储存单元是位于伺服器内。
在本发明的一实施例中，上述的输入/输出单元包括一条码扫描器(Barcode Scanner)，而每一待测板上设有一条码，条码扫描器用以扫描电性连接至输入/输出单元的待测板上的条码，以产生启动信号。
在本发明的一实施例中，上述的输入/输出单元包括一键盘、一条码扫描器、一按钮开关或一控制元件。
在本发明的一实施例中，上述的输入/输出单元包括多个连接介面，以电性连接可编程系统芯片、待测板与储存单元。
在本发明一实施例中，上述连接介面包括通用序列汇流排(Universal Serial Bus，USB)、通用型输入/输出(General Purpose I/O)、联合测试工作组埠(Joint Test Action Group Port，JTAG Port)、乙太网埠(EthernetPort)、无线网路介面、音效埠、低电压差动信号(Low-Voltage DifferentialSignaling，LVDS)介面、打印终端埠(Line Print Terminal Port，LPTPort)、序列埠(COM Port)、第二代个人系统连接埠以及视频图像阵列埠(Video Graphics Array Port，VGA Port)的至少其中之一。
借由上述技术方案，本发明测试装置至少具有下列优点及有益效果：本发明的测试装置中，由于可编程系统芯片内建有作业系统，且预设有多种测试流程，所以可以针对不同种类的待测板进行测试。相较于现有习知技术，本发明不需要主机电脑，且不需要制作许多测试板，如此不仅能够节省制作测试板的成本，而且还能够节省更换测试板的时间。因此，本发明的测试装置可以降低测试成本及测试时间。
综上所述，本发明测试装置能够降低测试成本，且能减少测试时间。本发明具有上述诸多优点及实用价值，其不论在产品结构或功能上皆有较大改进，在技术上有显著的进步，并产生了好用及实用的效果，且较现有的测试装置具有增进的突出功效，从而更加适于实用，诚为一新颖、进步、实用的新设计。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举较佳实施例，并配合附图，详细说明如下。
附图说明
图1是现有习知的一种测试装置的方块图。
图2是本发明较佳实施例的一种测试装置的方块图。
图3是图2的测试装置中输入/输出单元的方块图。
图4是图2的测试装置的测试步骤图。
图5A与图5B是本发明另二个较佳实施例的测试装置的方块图。
50：待测板 60：待测板
62：条码 100、200、200a、200b：测试装置
110：主机电脑 120：测试板
130、400：现场即时资讯系统 210：储存单元
300：可编程测试平台 310：可编程系统芯片
320：输入/输出单元 322：连接介面
324：条码扫描器 326：键盘
330：显示单元 340：存储单元
350：时脉产生单元 360：电源管理单元
370：作业系统 500：伺服器
S110～S140：步骤
具体实施方式
为更进一步阐述本发明为达成预定发明目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本发明提出的测试装置其具体实施方式、结构、特征及其功效，详细说明如后。
有关本发明的前述及其他技术内容、特点及功效，在以下配合参考图式的较佳实施例的详细说明中将可清楚呈现。通过具体实施方式的说明，当可对本发明为达成预定目的所采取的技术手段及功效得一更加深入且具体的了解，然而所附图式仅是提供参考与说明之用，并非用来对本发明加以限制。
请参阅图2所示，是本发明较佳实施例的一种测试装置的方块图。本发明较佳实施例的测试装置200，适于测试不同种类的多个待测板60。此测试装置200，包括一储存单元210以及一可编程测试平台300。
上述的可编程测试平台300，包括一可编程系统芯片310、一存储单元340及一输入/输出单元320，其中：
该存储单元340，是电性连接至可编程系统芯片310，且存储单元340是可作为延伸记忆体使用。另外，存储单元340内存有一作业系统370。当可编程测试平台300开启时，作业系统370会载入至可编程系统芯片310。
该输入/输出单元320，是电性连接至可编程系统芯片310、上述多个待测板60其中之一以及储存单元210。输入/输出单元320适于根据一输入动作产生一启动信号，输入动作是用于输入所述待测板的种类的动作，而可编程系统芯片310适于根据启动信号来选取一预设的测试流程，并依预设的测试流程对电性连接至输入/输出单元320的待测板60进行测试。储存单元210是用以储存可编程系统芯片310所输出的一测试结果。
上述的测试装置200中，可编程测试平台300例如是一嵌入式系统开发平台，可编程系统芯片310例如是一现场可程式逻辑闸阵列芯片，而作业系统370可为Linux、μC-Linux、Windows CE、μC-OSII、VxWorks、PalmOS、QNX或其他适用的作业系统。可编程系统芯片310内存有多个预设的测试流程，可以针对不同种类的待测板60进行测试。
此外，可编程测试平台300可更包括一显示单元330，其中显示单元330是电性连接至可编程系统芯片310以显示一测试资讯(包含测试结果及测试过程的引导)。显示单元330可包括荧幕、七段显示器(Seven SegmentDisplay)或其他灯号。另外，可编程测试平台300可更包括电性连接至可编 程系统芯片310的一时脉产生单元(Clock Generator Unit)350及一电源管理单元360，其中时脉产生单元350是用以提供可编程系统芯片310做时脉产生用。
请参阅图2与图3所示，图3是图2的测试装置中输入/输出单元的方块图。输入/输出单元320包括多个连接介面322，以电性连接可编程系统芯片310、待测板60与储存单元210。这些连接介面322可以为通用序列汇流排、通用型输入/输出、联合测试工作组埠、乙太网埠、无线网路介面、音效埠、低电压差动信号介面、打印终端埠、序列埠、第二代个人系统连接埠以及视频图像阵列埠的至少其中之一，但是并不以此为限。此外，使用者可以通过联合测试工作组埠对可编程系统芯片310做编程跟写入的动作。另外，在一实施例中，输入/输出单元320可更包括一条码扫描器324，用以扫描待测板60上的条码62。输入/输出单元320可更包括一键盘326。
以下将配合图式来说明本实施例的测试装置200的测试步骤。请参阅图2、图3与图4所示，其中图4是图2的测试装置200的测试步骤图。
本实施例的测试装置200的测试步骤包括以下步骤：首先，如步骤S110所示，执行一输入动作，以使输入/输出单元320提供一启动信号至可编程系统芯片310。具体而言，输入动作例如是操作输入/输出单元320的控制元件或按钮开关，或用键盘326输入待测板60的种类，或是用条码扫描器324扫描待测板60的条码62，但是并不以此为限。输入/输出单元320则根据此输入动作提供包含待测板60资讯的启动信号输出至可编程系统芯片310。
接着，如步骤S120所示，藉由可编程系统芯片310根据启动信号来选取一预设的测试流程。更详细地说，因为可编程系统芯片310内存有多个预设的测试流程，所以可编程系统芯片310在接收到启动信号后，会根据启动信号来挑选出适合此种测试板60的测试流程。
之后，如步骤S130所示，藉由可编程系统芯片310根据所选取的测试流程对待测板60进行测试。同时，显示单元330会显示出待测板60的测试资讯。此外，在测试的过程中，显示单元330可能会显示出需要测试人员选取的选项。此时，测试人员可通过键盘326来进行选取的动作，以协助完成整个测试流程。
接着，如步骤S140所示，将测试结果传送至储存单元210，以让储存单元210储存测试结果。更详细地说，若待测板60通过测试，则可编程系统芯片310会直接将测试结果传送至储存单元210。若待测板60未通过测试，则显示单元330会显示出是否要重新测试的选项，以供测试人员进行选取。若测试人员选择不重新测试的选项，则可编程系统芯片310会将测试结果传送至储存单元210。
在本实施例的测试装置200中，由于可编程测试平台300可独立对待测板60进行测试并将测试结果传至储存单元210，所以不需要使用现有习知技术中的主机电脑。如此，能够节省测试装置200的成本以及架设主机电脑110的时间。此外，可编程系统芯片310存有多个预设的测试流程，且输入/输出单元320也包括多种连接介面322，所以能够针对不同种类的待测板60进行测试。而且，若待测板60有变更或升级，也只需要修改可编程系统芯片310的程式就可以支援相关的测试。所以，相较于现有习知技术，本实施例的测试装置200不需要制作多种测试板，如此可以节省测试板的成本以及更换测试板的时间。换言之，本实施例的测试装置200可以降低测试成本及测试时间。
请参阅图5A与图5B所示，是本发明另二个较佳实施例的测试装置的方块图。请首先参阅图5A所示，本实施例的测试装置200a与图2的测试装置200的架构与优点相似，其差别之处在于，测试装置200a更包括一现场即时资讯系统400，而储存单元210是位于现场即时资讯系统400内。此外，请参阅图5B所示，本实施例的测试装置200b与图2的测试装置200的架构与优点相似，其差别之处在于，测试装置200b更包括一伺服器500，而储存单元210是位于伺服器500内。
综上所述，本发明的测试装置至少具有下列优点：
1、本发明的可编程测试平台，可以取代习知技术的主机电脑，所以可以节省主机电脑的成本以及架设主机电脑所需花费的时间。
2、由于可编程系统芯片内建有作业系统，且预设有多种测试流程，所以可以针对不同种类的待测板进行测试。如此，可以节省现有习知技术的测试板的成本以及更换测试板的时间。
以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制，虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明，任何熟悉本专业的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围内，当可利用上述揭示的技术内容作出些许更动或修饰为等同变化的等效实施例，但凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰，均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (10)
1.一种测试装置，适于测试不同种类的多个待测板，其特征在于该测试装置包括：
一可编程测试平台，包括：
一可编程系统芯片；
一存储单元，电性连接至该可编程系统芯片，该存储单元内存有一作业系统；
一输入/输出单元，电性连接至该可编程系统芯片与该些待测板其中之一，该输入/输出单元适于根据一输入动作产生一启动信号，而该可编程系统芯片适于根据该启动信号来选取一预设的测试流程，并依该预设的测试流程对电性连接至该输入/输出单元的该待测板进行测试，其中该输入动作是用于输入所述待测板的种类的动作；以及
一储存单元，电性连接至该输入/输出单元，以储存该可编程系统芯片所输出的一测试结果。
2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中所述的可编程系统芯片为一现场可程式逻辑闸阵列芯片。
3.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中所述的可编程测试平台更包括一显示单元，电性连接至该可编程系统芯片，以显示一测试资讯。
4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中所述的可编程测试平台为一嵌入式系统开发平台。
5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其更包括一现场即时资讯系统，而该储存单元是位于该现场即时资讯系统内。
6.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其更包括一伺服器，而该储存单元是位于该伺服器内。
7.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中所述的输入/输出单元包括一条码扫描器，而每一待测板上设有一条码，该条码扫描器用以扫描电性连接至该输入/输出单元的该待测板上的该条码，以产生该启动信号。
8.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中所述的输入/输出单元包括一键盘、一条码扫描器、一按钮开关或一控制元件。
9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于其中所述的输入/输出单元包括多个连接介面，以电性连接该可编程系统芯片、该些待测板与该储存单元。
10.根据权利要求9所述的测试装置，其特征在于其中该些连接介面包括通用序列汇流排、通用型输入/输出、联合测试工作组埠、乙太网埠、无线网路介面、音效埠、低电压差动信号介面、打印终端埠、序列埠、第二代个人系统连接埠以及视频图像阵列埠的至少其中之一。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2008100969217A CN101576603B (zh) | 2008-05-07 | 2008-05-07 | 测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2008100969217A CN101576603B (zh) | 2008-05-07 | 2008-05-07 | 测试装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101576603A CN101576603A (zh) | 2009-11-11 |
| CN101576603B true CN101576603B (zh) | 2011-06-01 |
Family
ID=41271583
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2008100969217A Expired - Fee Related CN101576603B (zh) | 2008-05-07 | 2008-05-07 | 测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN101576603B (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI509260B (zh) * | 2012-04-27 | 2015-11-21 | Nvidia Corp | 低電壓差分信號測試的系統和方法 |
| CN108717350A (zh) * | 2018-05-17 | 2018-10-30 | 深圳市得微电子有限责任公司 | 终端设备和基于终端设备的闪存芯片操作结果展示方法 |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102207535B (zh) * | 2010-03-30 | 2014-04-30 | 上海摩波彼克半导体有限公司 | 对含adc和dac的模拟基带芯片自动测试的电路结构及方法 |
| CN102998611A (zh) * | 2011-09-09 | 2013-03-27 | 中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所 | 一种对包含adc和dac的电路的快速检测方法 |
| CN102542234A (zh) * | 2011-11-07 | 2012-07-04 | 苏州佳世达电通有限公司 | 一种光学式触控屏的功能启动系统及方法 |
| CN103185859B (zh) * | 2011-12-27 | 2016-05-18 | 国民技术股份有限公司 | 一种片内混合测试装置和方法 |
| CN103679105B (zh) * | 2012-09-05 | 2017-01-04 | 纬创资通股份有限公司 | 用于测试系统输入数据的方法及测试系统 |
| CN102879684A (zh) * | 2012-09-28 | 2013-01-16 | 北京经纬恒润科技有限公司 | 一种电器部件的测试系统及方法 |
| CN105004984A (zh) * | 2015-06-25 | 2015-10-28 | 深圳市芯海科技有限公司 | 一种自动化芯片测试方法 |
| TWI637177B (zh) * | 2016-12-23 | 2018-10-01 | 台灣福雷電子股份有限公司 | 用於測試半導體元件之系統及方法 |
| CN107390394B (zh) * | 2017-08-07 | 2020-04-28 | 武汉精测电子集团股份有限公司 | 一种基于sopc的液晶模组测试系统 |
| CN108572312B (zh) * | 2018-04-12 | 2021-04-20 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） | SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板 |
| CN115267517A (zh) * | 2022-08-10 | 2022-11-01 | 深圳市精泰达科技有限公司 | 一种基于1149协议测试的通用测试电路、方法和板卡 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1192534A (zh) * | 1997-02-13 | 1998-09-09 | 株式会社爱德万测试 | 半导体器件的测试设备 |
| CN1221190A (zh) * | 1997-12-24 | 1999-06-30 | 三菱电机株式会社 | 具有测试模式的半导体存储装置 |
| CN1625271A (zh) * | 2003-12-01 | 2005-06-08 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种数字用户线设备单板测试装置 |
| CN101147073A (zh) * | 2005-05-12 | 2008-03-19 | 爱德万测试株式会社 | 测试装置、诊断程序以及诊断方法 |
-
2008
- 2008-05-07 CN CN2008100969217A patent/CN101576603B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1192534A (zh) * | 1997-02-13 | 1998-09-09 | 株式会社爱德万测试 | 半导体器件的测试设备 |
| CN1221190A (zh) * | 1997-12-24 | 1999-06-30 | 三菱电机株式会社 | 具有测试模式的半导体存储装置 |
| CN1625271A (zh) * | 2003-12-01 | 2005-06-08 | 中兴通讯股份有限公司 | 一种数字用户线设备单板测试装置 |
| CN101147073A (zh) * | 2005-05-12 | 2008-03-19 | 爱德万测试株式会社 | 测试装置、诊断程序以及诊断方法 |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| TWI509260B (zh) * | 2012-04-27 | 2015-11-21 | Nvidia Corp | 低電壓差分信號測試的系統和方法 |
| CN108717350A (zh) * | 2018-05-17 | 2018-10-30 | 深圳市得微电子有限责任公司 | 终端设备和基于终端设备的闪存芯片操作结果展示方法 |
| CN108717350B (zh) * | 2018-05-17 | 2021-08-24 | 深圳市得一微电子有限责任公司 | 终端设备和基于终端设备的闪存芯片操作结果展示方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN101576603A (zh) | 2009-11-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101576603B (zh) | 测试装置 | |
| DE102012024886B4 (de) | Boundary Scan-Kette für gestapelten Speicher | |
| US20170115346A1 (en) | Scan system interface (ssi) module | |
| CN106556793B (zh) | 芯片测试系统及测试方法 | |
| CN108572312A (zh) | SoC芯片测试方法、装置、系统和SoC芯片测试验证板 | |
| CN102778647A (zh) | 电路测试系统及方法 | |
| CN102565682B (zh) | 一种基于二分法的故障测试向量的定位方法 | |
| CN101533043A (zh) | 车辆静态电流测试系统 | |
| JP4334463B2 (ja) | 半導体集積回路のテスト装置および方法 | |
| CN114325458B (zh) | 一种开关电源的测试方法、系统、装置、设备及存储介质 | |
| CN106531654A (zh) | 一种芯片输入引脚测试方法和装置 | |
| CN106771974A (zh) | 显示模组点灯测试装置及方法 | |
| CN106199393A (zh) | 一种故障检测设备及故障检测方法 | |
| CN109633421A (zh) | 一种soc芯片的测试方法、装置、设备和存储介质 | |
| CN114756009A (zh) | 一种基于新能源汽车整车功能的测试系统及其搭建方法 | |
| CN105891736A (zh) | 一种qc2.0快速充电检测电路及检测方法 | |
| CN100524538C (zh) | 测试装置与测试方法 | |
| CN114400042A (zh) | 存储器测试系统 | |
| CN109917277A (zh) | 虚拟测试方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN109669830B (zh) | 一种用于内存的物理检测方法及终端设备 | |
| CN205540248U (zh) | 整车控制器的检测装置 | |
| CN109143111A (zh) | 一种电源变动测试方法、装置及设备 | |
| CN112540225B (zh) | 一种二次回路绝缘电阻的测试装置 | |
| CN202339398U (zh) | 一种用于vxi总线数字测试系统的老化模块 | |
| CN110544505B (zh) | 用于筛选Wafer中不良Die的测试系统和方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: HUANXU ELECTRONICS CO., LTD. Free format text: FORMER OWNER: HUANLONG ELECTRIC CO LTD Effective date: 20110201 Owner name: UNIVERSAL GLOBAL SCIENTIFIC INDUSTRIES CO., LTD. |
|
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| COR | Change of bibliographic data |
Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: NANTOU COUNTY, TAIWAN, CHINA TO: 201203 NO.1558, ZHANGDONG ROAD, INTEGRATED CIRCUIT INDUSTRIAL AREA, ZHANGJIANG HIGH TECHNOLOGY PARK, SHANGHAI, CHINA |
|
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20110201 Address after: 201203, Zhangjiang hi tech park, Shanghai, China integrated circuit Industrial Zone, No. 1558 East Cheung Road Applicant after: Huanxu Electronics Co., Ltd. Co-applicant after: Universal Global Scientific Industries Co., Ltd. Address before: Taiwan Nantou County Chinese Applicant before: Huanlong Electric Co., Ltd. |
|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20110601 Termination date: 20180507 |
|
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |