CN101335827A - 使用定向检测方法的影像缺陷校正系统 - Google Patents
使用定向检测方法的影像缺陷校正系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101335827A CN101335827A CNA2007101126280A CN200710112628A CN101335827A CN 101335827 A CN101335827 A CN 101335827A CN A2007101126280 A CNA2007101126280 A CN A2007101126280A CN 200710112628 A CN200710112628 A CN 200710112628A CN 101335827 A CN101335827 A CN 101335827A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- pixel unit
- image data
- target pixel
- image
- detection method
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000007547 defect Effects 0.000 title claims abstract description 34
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 27
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 16
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009499 grossing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 239000007858 starting material Substances 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Image Processing (AREA)
Abstract
一种使用定向检测方法的影像缺陷校正系统包括:影像数据存储器,用以储存从影像提取装置所输出的二维影像数据;判断装置,用以判断目标像素单元是否为缺陷像素单元,包括步骤:使用目标像素单元以及安排在上至下、左至右、下至右以及上至右四方向的八相邻像素单元的复数影像数据以判断目标像素单元的影像数据是否为显著点;计数具有显著点的方向数;以及根据已计数的方向数,判断目标像素单元是否为缺陷像素单元;置换装置于确定目标像素单元为缺陷像素单元时,将目标像素单元的影像数据置换成即定影像数据。
Description
技术领域
本发明是关于一种影像缺陷(image defect)校正系统,特别是有关于一种使用定向检测方法的影像缺陷校正系统。
背景技术
在影像提取系统(例如数字相机以及摄影机)中,广泛使用固态影像提取装置(solid state image capturing device),例如电荷耦合装置(chargecoupled device,CCD)成像器或是互补金氧半导体(complementary metaloxide semi conductor,CMOS)成像器。在固态影像提取装置内,有部分晶体缺陷(crystal defect)存在。晶体缺陷是由硅晶圆内起始材料的内部缺陷以及由后续的芯片工艺所引起的外部缺陷所组成。晶体缺陷会呈现为影像缺陷,例如比周围区域更明亮的白色缺陷以及比周围区域更暗的黑色缺陷。影像缺陷将显著地恶化影像品质。
有许多校正影像缺陷的方法被提出。一种电子式校正影像缺陷的方法,其步骤包括:使用相邻于目标像素单元(target pix cell)的8个周围像素单元的影像数据来计算出平均准位、最大准位以及最小准位;通过在平均准位加入最大准位与最小准位之间的差值来产生白色缺陷的判断基准;通过在平均准位减去最大准位与最小准位之间的差值来产生黑色缺陷的判断基准;通过比较目标像素单元的影像数据和这些判断基准来判断目标像素单元是否为缺陷像素单元;以及,当目标像素单元被判断是缺陷像素单元时,将目标像素单元的影像数据置换成既定准位(例如:8个周围像素单元的影像数据的平均准位)。
然而,在上述方法中,由于平均准位的检测使得检测白色缺陷或是黑色缺陷的准确度并不好。此外,上述方法可能将影像的边缘部分算错成缺陷像素单元。
发明内容
有鉴于此,为了解决上述先前记述的问题,本发明提供一种使用定向检测方法的影像缺陷校正系统。
本发明提供一种使用定向检测方法的影像缺陷校正系统,包括:一影像数据存储器,用以储存从一影像提取装置所输出的一二维影像数据;一判断装置,用以判断一目标像素单元是否为一缺陷像素单元,包括步骤:使用上述目标像素单元以及安排在上至下、左至右、下至右以及上至右四个方向的八个相邻像素单元的复数影像数据以判断上述目标像素单元的影像数据是否为一显著点;计数具有上述显著点的方向数;以及根据上述已计数的方向数,判断上述目标像素单元是否为上述缺陷像素单元;以及一置换装置,当确定上述目标像素单元为上述缺陷像素单元时,将上述目标像素单元的影像数据置换成一既定影像数据。
附图说明
图1是显示根据本发明所描述的使用定向检测方法的影像缺陷校正系统的方块图;
图2是显示根据本发明所述的定向检测方法的像素单元排列;
图3是显示计算白色显著比例以及白色平滑比例的方法;
图4是显示计算黑色显著比例以及黑色平滑比例的方法;
图5是显示当连续两个缺陷像素单元存在于左至右方向的定向检测方法的像素单元排列。
符号说明:
101~影像数据存储器
102~判断装置
103~置换装置
201-204、501-504~方向
P1-P4、P6-P9、P6′~相邻像素单元
P5~目标像素单元
VP1-VP9~影像数据
具体实施方式
为让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂,下文特举出较佳实施例,并配合所附图式,作详细说明如下:
实施例:
图1是显示根据本发明所描述的使用定向检测方法的影像缺陷校正系统的方块图。影像缺陷校正系统包括:储存二维影像数据的影像数据存储器101、判断目标像素单元是否为缺陷像素单元的判断装置102,以及将目标像素单元的影像数据置换成既定影像数据的置换装置103。影像缺陷校正系统操作如下。经由模拟对数字转换器(未显示),来自影像提取装置(未显示,例如CCD成像器或是CMOS成像器)的模拟影像信号被转换成数字影像数据。数字影像数据经由钳位电路(clamping circuit)(未显示)所钳住以及经由镜头像差(lens aberration)校正电路(未显示)所校正。已钳住且已校正的影像数据被应用在影像数据存储器101,其中一影像数据帧(frame)被储存在内。为了判断目标像素单元是否为缺陷像素单元,从影像数据存储器101连续地读出影像数据帧并输入至判断装置102。假如目标像素单元被判断装置102判断为缺陷像素单元时,置换装置103会将目标像素单元的影像数据置换成既定影像数据。之后,已校正影像缺陷的影像数据被输入至影像数据处理器、转换成既定数据格式,以及烧录在烧录媒体上。
图2是显示根据本发明所述的定向检测方法的像素单元排列。有8个相邻像素单元P1-P4、P6-P9围绕在目标像素单元P5的周围。首先,考虑到使用像素单元P4-P6的左至右方向202。
参考图3,图3是显示计算白色显著比例(prominent rate)以及白色平滑比例(smoothness rate)的方法。首先,计算介于目标像素单元P5的影像数据VP5以及相邻像素单元P4、P6的影像数据VP4、VP6之间的白色显著比例,并与既定值Th1作比较,其中既定值Th1为小于噪声准位的常数值且可根据实验与经验决定。
VP5-VP4>Th1 (1)
VP5-VP6>Th1 (2)
接着,计算介于两相邻像素单元P4、P6之间的白色平滑比例,并与既定值Th2作比较,其中既定值Th2为小于噪声准位的常数值且根据实验地与凭经验地决定。
|VP4-VP6|<Th2 (3)
当方程式(1)、(2)以及(3)同时成立时,目标像素单元P5被确定为在左至右方向202的白色显著点(prominent spot)。
图4是显示计算黑色显著比例以及黑色平滑比例的方法。首先,计算介于目标像素单元P5的影像数据VP5以及相邻像素单元P4、P6的影像数据VP4、VP6之间的黑色显著比例,并与既定值Th3作比较,其中既定值Th3为小于噪声准位的常数值且可根据实验与经验决定。
VP4-VP5>Th3 (4)
VP6-VP5>Th3 (5)
接着,计算介于两相邻像素单元P4、P6之间的黑色平滑比例,并与既定值Th4作比较,其中既定值Th4为小于噪声准位的常数值且可根据实验与经验决定。
|VP4-VP6|<Th4 (6)
当方程式(4)、(5)以及(6)同时成立时,目标像素单元P5被确定为在左至右方向202的黑色显著点。
接着,执行上至下方向201、上至右方向203以及下至右方向204其它三个方向的类似计算以及条件判断。当四个方向的条件判断都成立时,目标像素单元P5被确定为缺陷像素单元。
图5是显示当连续两个缺陷像素单元存在于左至右方向的定向检测方法的像素单元排列。当方程式(1)、(2)以及(3)或是方程式(4)、(5)以及(6)只有在三个方向中成立时,目标像素单元P5可能为连续复数缺陷像素单元的一部分。在此情况中,使用下一个相邻像素单元P6′来代替相邻像素单元P6,以增加类似于图3以及图4中额外的一个步骤来判断目标像素单元的影像数据是否为显著点。当方程式(1)、(2)以及(3)或是方程式(4)、(5)以及(6)在左至右方向502中成立时,目标像素单元P5被确定为连续复数缺陷像素单元的一部分。通过使用类似的方法,可以检测到超过两个以上的连续复数缺陷像素单元。
置换装置103有三种置换的方法。首先,第一置换方法是将缺陷像素单元的影像数据置换成四个相邻像素单元的影像数据中差距为最小的方向的平均值。依照下列四个方向来计算平均值:
|VP8-VP2|------上至下方向
|VP6-VP4|------左至右方向
|VP3-VP7|------下至右方向
|VP9-VP1|------上至右方向
并选择上述四个值中的最小值来置换成影像数据。此方法可实现具有高分辨率(resolution)的影像。
第二置换方法是将缺陷像素单元的影像数据置换成四个相邻像素单元的影像数据中差距为最小的方向的平均值。依照下列四个方向来计算平均值:
|VP5-VP2|+|VP5-VP8|------上至下方向
|VP5-VP4|+|VP5-VP6|------左至右方向
|VP5-VP7|+|VP5-VP3|------下至右方向
|VP5-VP1|+|VP5-VP9|------上至右方向
并选择上述四个值中的最小值来置换成影像数据。
第三置换方法是将缺陷像素单元的影像数据置换成四个相邻像素单元的影像数据VP2、VP4、VP6以及VP8的平均值。
与先前技术相比较,本发明所提供使用定向检测方法的影像缺陷校正系统以及方法具有极佳的检测准确度能检测缺陷像素单元,并将缺陷像素单元的影像数据置换成更逼真的影像数据。
本发明虽以较佳实施例揭露如上,然其并非用以限定本发明的范围,任何熟习此项技艺者,在不脱离本发明的精神和范围内,当可做少许的更动与润饰,因此本发明的保护范围当视权利要求范围所界定者为准。
Claims (7)
1.一种使用定向检测方法的影像缺陷校正系统,包括:
一影像数据存储器,用以储存从一影像提取装置所输出的一二维影像数据;
一判断装置,用以判断一目标像素单元是否为一缺陷像素单元,包括下列步骤:
使用上述目标像素单元以及安排在上至下、左至右、下至右以及上至右四个方向的八个相邻像素单元的复数影像数据以判断上述目标像素单元的影像数据是否为一显著点;
计数具有上述显著点的方向数;以及
根据上述已计数的方向数,判断上述目标像素单元是否为上述缺陷像素单元;以及
一置换装置,当确定上述目标像素单元为上述缺陷像素单元时,将上述目标像素单元的影像数据置换成一既定影像数据。
2.如权利要求1所述的使用定向检测方法的影像缺陷校正系统,其中上述判断上述目标像素单元的影像数据是否为上述显著点的步骤包括下列步骤:
计算上述目标像素单元的影像数据与上述相邻像素单元的影像数据之间的准位差;以及
当上述目标像素单元的影像数据与上述相邻像素单元的影像数据之间的已计算准位差大于一第一既定值,以及一相邻像素单元的影像数据与另一相邻像素单元的影像数据之间的已计算准位差小于一第二既定值时,判断上述目标像素单元的影像数据为上述显著点。
3.如权利要求1或2所述的使用定向检测方法的影像缺陷校正系统,其中当上述已计数的方向数为4时,确定上述目标像素单元为上述缺陷像素单元。
4.如权利要求1或2所述的使用定向检测方法的影像缺陷校正系统,其中当上述已计数的方向数为3时,使用上述目标像素单元的影像数据以及代替在没有显著点的方向的相邻像素单元的一下一个相邻像素单元的影像数据,增加一额外的步骤以判断上述目标像素单元的影像数据是否为上述显著点。
5.如权利要求1所述的使用定向检测方法的影像缺陷校正系统,其中上述既定影像数据为四个上述相邻像素单元的影像数据中差异为最小的方向的一平均值。
6.如权利要求1所述的使用定向检测方法的影像缺陷校正系统,其中上述既定影像数据为上述目标像素单元与上述相邻像素单元的影像数据之间差异为最小的方向的一平均值。
7.如权利要求1所述的使用定向检测方法的影像缺陷校正系统,其中上述既定影像数据为四个上述相邻像素单元的影像数据的一平均值。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2007101126280A CN101335827B (zh) | 2007-06-25 | 2007-06-25 | 使用定向检测方法的影像缺陷校正系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN2007101126280A CN101335827B (zh) | 2007-06-25 | 2007-06-25 | 使用定向检测方法的影像缺陷校正系统 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN101335827A true CN101335827A (zh) | 2008-12-31 |
| CN101335827B CN101335827B (zh) | 2011-12-28 |
Family
ID=40198111
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN2007101126280A Active CN101335827B (zh) | 2007-06-25 | 2007-06-25 | 使用定向检测方法的影像缺陷校正系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN101335827B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103685988A (zh) * | 2012-08-29 | 2014-03-26 | 三星泰科威株式会社 | 用于确定缺陷像素的设备和方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7034874B1 (en) * | 2003-03-17 | 2006-04-25 | Biomorphic Vlsi, Inc | Automatic bad pixel correction in image sensors |
-
2007
- 2007-06-25 CN CN2007101126280A patent/CN101335827B/zh active Active
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103685988A (zh) * | 2012-08-29 | 2014-03-26 | 三星泰科威株式会社 | 用于确定缺陷像素的设备和方法 |
| CN103685988B (zh) * | 2012-08-29 | 2018-02-02 | 韩华泰科株式会社 | 用于确定缺陷像素的设备和方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN101335827B (zh) | 2011-12-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7015961B2 (en) | Digital image system and method for combining demosaicing and bad pixel correction | |
| JP5655355B2 (ja) | 画素欠陥補正装置、撮像装置、画素欠陥補正方法、およびプログラム | |
| US9420206B2 (en) | Image-pickup apparatus and method of detecting defective pixel thereof | |
| US8013914B2 (en) | Imaging apparatus including noise suppression circuit | |
| CN102572318B (zh) | 能够快速且容易地进行校正处理的图像处理设备和方法 | |
| US8451350B2 (en) | Solid-state imaging device, camera module, and imaging method | |
| JP2016048815A (ja) | 画像処理装置、画像処理方法、及び、画像処理システム | |
| JP2011097542A (ja) | 画素欠陥検出補正装置、撮像装置、画像欠陥検出補正方法、およびプログラム | |
| US9197871B2 (en) | Signal processing device with pixel correction, signal processing method, program solid-state image sensor, and electronic apparatus | |
| KR100986203B1 (ko) | 촬상 장치 및 이에 이용하는 결함 화소 보정 방법 | |
| CN102204239B (zh) | 基于单一行的缺陷像素修正的系统和方法 | |
| US9883123B2 (en) | Solid-state imaging device and imaging system using a bit reduction method based on a reduced pixel signal | |
| JP2013168793A (ja) | 画像処理装置 | |
| JP2012070319A (ja) | 画像処理方法、画像処理装置及び画像処理プログラム | |
| JP2004023683A (ja) | 固体撮像素子の欠陥補正装置及び方法 | |
| JP5245642B2 (ja) | 撮像装置及び欠陥補正装置 | |
| CN101335827A (zh) | 使用定向检测方法的影像缺陷校正系统 | |
| US20090091642A1 (en) | Image defect correction system using directional detection | |
| CN113163103B (zh) | 具有用于改善的运动检测的图像变换电路的成像设备 | |
| JP2009290653A (ja) | 欠陥画素補正装置、撮像装置、欠陥画素補正方法、およびプログラム | |
| JP2006229626A (ja) | 欠陥画素検出方法 | |
| TWI528817B (zh) | 數位攝像裝置及其影像處理方法 | |
| JP5515320B2 (ja) | 撮像装置 | |
| TW200843489A (en) | Image defects correction system using directional detection method | |
| JP2008017246A (ja) | 固体撮像素子の検査方法、および装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| ASS | Succession or assignment of patent right |
Owner name: ZAIYING ELECTRONIC CO., LTD. Free format text: FORMER OWNER: HUABANG ELECTRONICS CO., LTD. Effective date: 20091002 |
|
| C41 | Transfer of patent application or patent right or utility model | ||
| TA01 | Transfer of patent application right |
Effective date of registration: 20091002 Address after: Tokyo, Japan Applicant after: Thine Electronics, Inc. Address before: Hsinchu Science Park, Taiwan, China Applicant before: Huabang Electronics Co., Ltd. |
|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant |