CN101203800A

CN101203800A - 液晶显示装置试验电路、组装有该电路的液晶显示装置及其试验方法

Info

Publication number: CN101203800A
Application number: CNA2006800166392A
Authority: CN
Inventors: 桥本和幸
Original assignee: TPO Hong Kong Holding Ltd
Current assignee: TPO Hong Kong Holding Ltd
Priority date: 2005-05-18
Filing date: 2006-05-09
Publication date: 2008-06-18
Anticipated expiration: 2026-05-09
Also published as: JP2008164289A; TW200703201A; US7915906B2; WO2006123553A1; CN101203800B; TWI407397B; US20090096728A1

Abstract

本发明提供一种能以简单构造来检测出液晶显示装置的不良的试验电路、组装该试验电路的液晶显示装置以及液晶显示装置试验方法。液晶显示装置试验电路在与液晶显示部同一基板上包含：比较电路(111至11n)，其系对于将集电极分别连接于构成液晶显示部(10)的配置成矩阵状的液晶显示元件的薄膜晶体管的栅极以列单位共通连接而以列驱动器驱动的列线、及将上述薄膜晶体管的源极以行单位共通连接而由行驱动器供应对应于显示图像的灰阶的电压的行线中至少任一者，检测各列/行线的选择状态，被设于上述各列/行线；编码电路(121至12n)，其系依上述比较电路的比较结果，进行列/行线两端间的双向扫描来检测出被选择的列/行线的编号，对应于该检测编号，使构成总线的多条总线的电平变化；及读取电路(16)，其系读取上述编码电路的上述总线的电平，检测及输出藉由上述双向扫描所检测出来的列/行线的编号的一致/不一致。

Description

液晶显示装置试验电路、组装有该电路的液晶显示装置及其试验方法

技术领域

本发明涉及液晶显示装置试验电路、组装有该电路的液晶显示装置、以及液晶显示装置的试验方法。

背景技术

液晶显示装置中，特别是TFT液晶显示装置包含液晶显示元件，该液晶显示元件包含：液晶显示元件，其在玻璃基板上配置成矩阵状；薄膜晶体管，其源极连接该液晶显示元件；列线，其系将各薄膜晶体管的栅极以列为单位共通连接起来，由列驱动器驱动；及行线，其系将各薄膜晶体管的源极以行为单位共通连接起来，由行驱动器供应对应于显示图像的阶调的电压；通常，薄膜晶体管、列线、行线等以非晶矽技术制成。

一般，在形成上述液晶显示元件的主要构件以后，在安装彩色滤光玻璃并植入液晶而成为完成状态的后，将进行亮灯试验。此亮灯试验乃经由列解码器驱动试验对象列线，使栅极连接于该列线中的各像素的TFT为开(ON)，并对连接于该TFT的源极的各行数据线，经由行驱动器施加与要显示的图像的亮度对应的施加电压，介以该TFT将此像素电极写入与该集电极连接的像素电极，使液晶的穿透率变化进行显示。该亮灯试验的判定以目视方式进行。

如上述，亮灯试验乃在完成状态下进行，因此，发现缺陷时会存在到完成为止的工序白费的问题。

另一方面，因低温聚矽(LTPS)技术的发展，阵列玻璃上安装的电路一路增加，并且液晶显示装置进行大型化，恐有不良率比现在的不良率增加之虞。

为此，已有提案(参照专利文献1)为了进行与在完成前的状态下进行图像显示等同的检查，将所有检查对象部分传来的信号拉出至阵列基板的周边部，并在阵列基板上设置多个类比开关，藉由由外部供应测试信号来检测出关漏电不良。

专利文献1：特开2001-330639

发明内容

然而，以往提案者系将关电压利用两种可使泄漏电流变大者来进行检测者，并非能够确实检测出关泄漏时的微妙电流变化者。此外，为了进行上述的检测，势必要在液晶显示装置的周边部配置多个端子及类比开关，这有阻碍小型化及省空间化的问题。

本发明的目的在于提供一种能以简单的构造来检测出液晶显示装置的不良的试验电路及组装有该试验电路的液晶显示装置。

依本发明的第一方面，提供一种液晶显示装置试验电路，其在形成有液晶显示部的基板上设置：

比较电路，其系对于将集电极分别连接于构成液晶显示部的配置成矩阵状的液晶显示元件的薄膜晶体管的栅极以列单位共通连接并被列驱动器驱动的列线、及将上述薄膜晶体管的源极以行单位共通连接而由行驱动器供应对应于显示图像的灰阶的电压的行线中至少任一者，检测各列/行线的选择状态，被设于上述各列/行线；

编码电路，其系依上述比较电路的比较结果，进行列/行线两端间的双向扫描来检测出被选择的列/行线的编号，对应于该检测编号，使构成总线的多条总线的电平变化；及

读取电路，其系读取上述编码电路的上述总线的电平，检测及输出藉由上述双向扫描所检测出来的列/行线的编号的一致/不一致。

依本发明的第二方面，提供一种液晶显示装置，其系在同一基板上包含：

液晶显示部，其系包含：配置成矩阵状的液晶显示元件、集电极与上述液晶显示元件连接的薄膜晶体管、将上述薄膜晶体管的栅极以列单位共通连接而被列驱动器驱动的列线、及将上述薄膜晶体管的源极以行单位共通连接而由行驱动器供应与显示图像的阶调对应的电压的行线；

比较电路，其系对于上述列线或行线中至少任一者，检测各列/行线的选择状态，并被设于上述各列/行线；

编码电路，其系依上述比较电路的比较结果，进行列/行线两端间的双向扫描来检测出被选择的列/行线的编号，对应于该检测编号，使构成总线的复数条总线的电平变化；及

依本发明的第三方面，提供一种液晶显示装置的试验方法，其包含：

检测工序，其系对于将集电极分别连接在配置成矩阵状的液晶显示元件上的薄膜晶体管的栅极以列单位共通连接并被列驱动器驱动的列线、及将上述薄膜晶体管的源极以行单位共通连接而由行驱动器供应对应于灰阶的电压的行线中至少任一者，检测各列/行线的选择状态；

编号特定工序，其系依上述检测出来的列/行线的选择状态，进行列/行线两端间的双向扫描来特定被选择的列/行线的编号；

编码工序，其系对应于被检测出来的列/行线编号，使构成总线的复数条总线的电平变化；及

读取工序，其系读取上述被编码化的上述总线线的电平，检测并输出藉由上述双向扫描所检测出来的列/行线的编号的一致/不一致。

依本发明的液晶显示装置试验电路，藉由在与液晶显示元件相同的基板上形成简单的试验电路，在液晶封入前的阶段，不靠目视而可确实地进行布线或TFT的动作或布线的确认。

此外，依本发明的液晶显示装置，在同一基板上具有液晶显示元件及简单的试验电路，在液晶封入前的阶段，不靠目视而可确实地进行布线或TFT的动作或布线的确认，从而不仅可抑制生产成本，并可抑制试验电路所导致的面积增加。

再者，依本发明的液晶显示的试验方法，因检测出列/行线的选择状态，进行列/行线两端间的双向扫描来检测出被选择的列/行线的编号，对应于该检测编号将构成总线的复数条总线线的电平编译成代码，由该编码化的总线线检测并输出藉由上述双向扫描所检测出来的列/行线的编号的一致/不一致，故在液晶封入前不用外部的试验装置亦可进行TFT的动作或布线的确认。

附图说明

图1系组装本发明的试验电路的液晶显示装置的整体构造的概略区块图。

图2系显示比较器的构造的示例及高电平输入时的动作的电路图。

图3系显示图2所示动作的时序图。

图4系图2所示构造中低电平输入时的动作的电路图。

图5系显示图4所示动作的时序图。

图6系显示图2所示构造中无效的中间电平输入时的动作的电路图。

图7系显示图6所示动作的时序图。

图8系编码器的构造的示例的电路图。

图9系顶虚设编码器的构造的示例的电路图。

图10系底虚设编码器的构造的示例的电路图。

图11系读取接口的构造的示例的电路图。

图12系概略地显示使用本发明的试验电路的液晶显示装置的试验工序的流程图。

具体实施方式

以下，参照附图来详细说明本发明的实施方式。

图1系组装有本发明的组装有液晶显示装置试验电路的液晶显示装置的构造的简化的区块图，在此所示的构造为形成于同一基板上者。

此外，以下的例子中显示为了试验列线的构造。

液晶显示部10如周知地具有被排列成矩阵状的液晶显示元件，该像素电极上连接有各TFT的集电极。该TFT位于各列者中，各自的栅极被共通连接于列线21至2n，这些列线21至2n由列驱动器来选择。列驱动器对显示对象的列线供应选择或非选择的2种电平的信号。

另一方面，在此虽为了简化而未加以图示，然而，如周知地，位于行方向上的TFT的源极共通连接于行线上。行线上由行驱动器供应与显示像素的亮度对应的施加电压，介以TFT像素电极上会被写入该施加电压。藉此，液晶的穿透率变化而可得到阶调图像。

以下说明叙述进行列选择时的情况。

图1中的比液晶显示部10还右侧的部分为本发明的液晶显示试验电路。

各列线21至2n上分别连接比较器111至11n，该比较器111至11n的输出会被供应至编码器121至12n。编码器121至12n上设有顶虚设编码器13，编码器121至12n下设有底虚设编码器14。这里的各编码器的输出端会介以共通的读取总线15，藉由读取接口16输出驱动化线编号。

图2、4、6显示各比较器111至11n的构造及判定动作，图3、5、7系显示对应于此等动作的逻辑变化的时序图。

在此比较器中，具有被供应输入电压Vin的反转器开关且具有临限值Vthp的晶体管Q1、及具有被供应反转抽样信号的反转器开关的晶体管Q2串联，一方连接于高电位VH，另一方的节点A连接于和开关的一方输入端及异或开关的一方输入端。该节点A与低电位VL之间，连接有被栅极输入反转抽样信号的晶体管Q5，使节点A的初始值确实地为低电平。

另一方面，具有被供应输入电压Vin的栅极且具有临限值Vthn的晶体管Q3、及具有被供应抽样信号的栅极的晶体管Q4串联，一方连接于低高电位VL，另一方的节点B连接于和开关的另一方及异或开关的另一方。该节点B与高电位VH的间，连接有被反转器开关输入抽样信号的晶体管Q6，使节点B的初始值确实地为高电平。

并且，和开关的输出侧上连接有反转电路，该输出成为显示输入信号为高电平或低电平的旨的HI/LO信号，异或开关的输出成为无效(Invalid)信号。

此比较器11中，使用2种基准电平来对输入信号的反转进行3值判定。亦即，将比高电位VH低临限值Vthp的值(VH-Vthp)高、充分高时视为高电平，比低电位VL增加临限值Vthn的值(VL+Vthn)低、充分低时视为低电平，此等中间的电平视为无效。藉此，排除列/行线中出现的电平为中间不稳定的情况，从而可仅采用充分高或充分低的信号电平。

接著，对于可得到对应于输入信号电平的比较器输出的情形，分情况来加以说明。此外，在进行判定动作的周期中，抽样信号Sample会以高电平，反转抽样信号/Sample会以低电平施加于相对应的栅极。

首先，参照图2及图3来说明输入信号的电平比VH-Vthn还高的情况。

在此情况中，晶体管Q2会导通而晶体管Q1则不会导通，因此，节点A的电平仍会为低电平，然而，晶体管Q3及晶体管Q4均会导通，因此，节点B会降低成低电平。因此，此等的逻辑运算的结果，HI/LO输出会为高电平，无效输出成为低电平，判定输入信号为有效的高电平信号。

接著，参照图4及图5来说明输入信号的电平比VL+Vthn还低的情况。

在此情况中，晶体管Q1、Q2、Q4分别为开(ON)，节点A及B亦为高电平，因此，HI/LO输出为低电平，无效输出为低电平，判定输入信号为有效的低电平信号。

接著，参照图6及图7来说明输入信号的电平比VL+Vthn高，且比VH-Vthp还低的情况。

在此情况中，晶体管Q1至Q4均为开(ON)，节点A反转成高电平，节点B反转成低电平，HI/LO输出成为高电平，无效输出成为高电平，判定输入信号具有无效的电平。

如上所述，该比较器电路11可对应于输入信号的电平而确实地判定高、低、及无效的三种电平，并传送至编码电路。

图8系编码电路12的构造的电路图。此编码器采用所谓布告栏方式，仅在上面的列的编码器传来的向下扫描信号、或下面的列所传来的向上扫描信号为高电平时，才进行列编码的编码化。

该编码电路12包含：扫描控制逻辑器121、线缓冲器122、线接式编码器123三个部分。

首先，扫描控制逻辑器121中，由比较器取得的HI/LO输出会被输入反转器1211及和开关1215。此反转器1211的输出会施加在和开关1212及1214。另一方面，前列的编码器所传来的向下扫描信号会输入至和开关1212，因此，和开关1212的输出成为后列的向下扫描信号。亦即，当比较器输出为低电平时，即使收到向下扫描信号，仍会进行对后列的向下扫描信号传送动作。相反地，当比较器输出为高电平时，不会产生对下一列的向下扫描信号。

同样地，后列传来的向上扫描信号被输入和开关1214，因此，在比较器输出为低电平的情况中收到向上扫描信号时，会对前列产生向上扫描信号。

此外，由前面传来的向下扫描信号及由后面传来的向上扫描信号会被输入或开关1213，而其输出会被输入和开关1215及1216。

和开关1215中，在比较器输出为高电平且向下扫描信号或向上扫描信号中任一者为高电平时，会产生编码信号。该编码信号会使线缓冲器122中的晶体管1222为开，将与此连接的读取总线中的线A1、A4、A6的电位降低至VSS。此外，和开关1215的输出会藉由反转器1217而被反转，并被输入至一端连接于Vdd的晶体管1221的反转开关，因此，可将另一端连接的总线A0、A2、A3、A5、A7的电位提高至Vdd。该线接式编码器123预先施有与被选择的列线的列编码对应的Vdd连接及Vss连接，在此例中总线中解码的列编码为10110101(十进位之181)。

比较器传来的无效信号会被输入和开关1216的另一端侧，因此，在无效信号为高电平且向下扫描信号或向上扫描信号为高电平时，该输出会藉由反转器1218而被反转，输入至一端与Vdd连接的晶体管1223的反转器开关，从而与另一端连接的无效信号线变成高电平，判定比较器输出为无效。在此情况中，比较器传来的高/低电平信号为高电平时，可得到与列编号对应的总线的解码输出，得知那一条线为无效。同时，在比较器的高/低电平输出为高电平时，可防止向上扫描信号、向下扫描信号传送至下条线。

如此一来，在此电路12在收到比较器11传来的有效的高电平信号时会在读取总线中产生与列编码对应的输出，在比较器输出不为高电平时在收到向上扫描信号或向下扫描信号时将此传送给下一列，并在比较器输出为无效时驱动化无效信号线。

前提上在此电路中存在向上扫描信号或向下扫描信号，因此，问题在于上端或下端的编码器处理。作为解决此问题的构造，以图9显示上端的顶虚设编码器的构造，以图10显示下端的底虚设编码器的构造。

图9所示的顶虚设编码器13亦包含扫描控制逻辑电路131、线缓冲器132、及线接式编码器133，然而，因为为虚设，因此，并不会被供应比较器输出。此外，亦不会有产生向下扫描信号的情形。

扫描控制逻辑电路131中，输入由后列传来的向上扫描信号，使此信号直接使线缓冲器132内的晶体管1321变成开，而使与此连接的读出总线的所有线的电位降低成Vss电平。从而，总线中被解码的线号会为00000000(十进位数为0)。

此外，向上扫描信号在扫描控制逻辑电路131内的反转器1311中被反转，而该信号会被输入在线缓冲器内的一端连接于Vdd的晶体管1223的反转器开关，因此，该另一端所连接的无效信号线会变成高电平，显示该虚设编码器并非通常的输出列编号者。

图10所示的底虚设编码器具有与图9的顶虚设编码器类似的构造，在扫描控制逻辑电路141中会分叉被输入的向下扫描信号而分别以反转器1411及1412来反转，而将此等输入线缓冲器142内的晶体管1421及1422的反转器开关。此等的晶体管的一端连接于Vdd，晶体管1422藉由设定成开来使另一端连接的各信号线的电平提高至Vdd，晶体管1422藉由设定成开而使无效信号线成为高电平。藉此，总线上被解码的线号成为11111111(十进位数为255)，可知虚设编码器并非通常的用来输出列编号者。

图11显示读取接口16的构造。该电路具有将扫描脉冲信号SCLK作为脉冲输入的9个正反器FF0至FF8，FF0的数据端子上连接有无效信号线。FF0的输出端及读取总线的A0线被以开关SW1选择而连接于FF1的数据输入端子。以下为同样的连接方式，最后在FF8中，藉由开关SW8，使前段的FF7的输出及读取总线的A7线被选择而连接于数据输入端子。开关SW1至SW8在向上扫描及向下扫描中任何一情况中，均在各列读取周期的前半段中连接于读取总线侧，将各总线的高/低电平存储于正反器，并在读取周期的后半段中，连接于前段的正反器输出而使用作为移位暂存器，依序取出作为序列输出，取得包含被驱动化的列/行线的编号信息的SDATA。

在向下扫描及向上扫描双方中得到该SDARA，以此为称号来判定产品的良否。

图12系概略说明该工序的流程图，首先，使一条线(列)驱动化(工序S1)，实施向下扫描(工序S2)，得到SDATA(工序S3)。例如以驱动化第三列的列线来实施向下扫描时，如装置正常的话，SDATA可得到显示第三列已驱动化的SDATA。

接著，实施向上扫描(工序S4)，得到SDATA(工序S5)。此时如装置亦正常的话，SDATA可得到显示第三列已驱动化的SDATA。并且，当工序S3及S5中所得到的数据SDATA不一致时，或检测出无效信号时，则会检测出错误。

再度参照图1来说明上述的错误检测的实际情形。

首先，假设没有异常地藉由列驱动器选择第26条的列线。首先，藉由顶虚设编码器进行向下扫描，由上面的列依序进行调查时，由于第26列的比较器1126输出高电平信号，因此，编码器1226驱动化，藉由线接式编码器使读取总线上以高电平为1且低电平为0，出现对应于26的二进位数00011010。该二进位数据会藉由读取接口16输出。

接著，藉由底虚设编码器进行向上扫描，由下面的列依序进行调查时，在第26列的比较器1126输出高电平，因此，由读取接口16会输出二进位数据00011010。此值与向下扫描的情况一致，因此，判定为正常。

接著，在有某种异常发生而在第25条的列线上出现与选择无关的比较器输出情况中，假设同样地第26条的列线被选择。

如前面的说明，藉由顶虚设编码器进行向下扫描，由上面的列依序进行调查时，第25列的比较器1125输出高电平信号，因此，编码器1225驱动化，藉由线接式编码器使读取总线上以高电平为1且低电平为0，出现对应于25的二进位数000110001。该二进位数据会藉由读取接口16输出。

接著，藉由低虚设编码器进行向上扫描，由下面的列依序进行调查时，第26列的比较器1126会输出高电平信号，藉由读取接口16会输出二进位数据00011010。

从而，读取数据会不一致，因此，判定为异常。

此外，如以列驱动器进行选择而未选取到任何列线的话，当进行向下扫描时，由底虚设解码器会输出与十进位数256对应的二进位数11111111，而被判定为异常。藉由向上扫描，同样地顶虚设编码器会输出与十进位数0对应的二进位数00000000，而被判定为异常。

如以上所述，依本发明可藉由在与液晶显示元件相同的基板上形成简单的试验电路，无需靠目视便可确实地在液晶封装前进行布线及TFT的动作确认。在此情况中，应形成的试验电路为单纯者，因此，与驱动器相比所需的面积仅为一小部分，对液晶显示装置整体的面积带来的影响极小。

以上说明的各电路为例示者，可依熟知本技术者的知识来采用可发挥相同作用的电路构造。

例如，在上述实施方式中，虽以列线为基准进行试验，亦可在每条以行驱动器所选择的行线上，设置与上述相同的试验电路，同样地判定异常。在此情况中，行线上通常会被供应与通常显示像素的亮度对应的多值类比信号，然而，在本发明的试验方法的情况中，由于仅判定比较电路中有无驱动化，因此，仅需由行驱动器将高电平/低电平的双值电压供应至被选择的行即可。

此外，亦可在列线及行线双方上设置试验电路，以进行更完全的试验。

【主要元件符号说明】

1列驱动器

21-2n列线

10液晶显示部

111-11n比较器

121-12n编码器

13顶虚设编码器

14底虚设编码器

15读取总线

16读取接口

121扫描控制逻辑器

122线缓冲器

123线接式编码器

1211、1217、1218反转器

1212、1214、1215、1216和开关

1213或开关

1221、1222、1223晶体管

131扫描控制逻辑电路

132线缓冲器

133线接式编码器

1311反转器

1321晶体管

141扫描控制逻辑电路

142线缓冲器

1411、1412反转器

Claims

1.一种液晶显示装置试验电路，其在形成有液晶显示部的基板上设有：

比较电路，其系对将集电极分别连接于构成上述液晶显示部的配置成矩阵状的液晶显示元件的薄膜晶体管的栅极以列单位共通连接并被列驱动器驱动的列线、及将上述薄膜晶体管的源极以行单位共通连接而由行驱动器供应对应于显示图像的灰阶的电压的行线中至少任一者，检测各列/行线的选择状态，并被设于上述各列/行线；

2.如权利要求1的液晶显示装置试验电路，其中上述比较电路对输入信号十分高的电平输出高状态，对十分低的电平输出低状态，并对此等的中间电平输出无效状态。

3.如权利要求2的液晶显示装置试验电路，其中上述比较电路利用连接于高电位的第一晶体管的第一临限值，对于比上述高电位降低第一临限值的电位为止的输入电位输出高状态，利用连接于低电位的第二晶体管的第二临限值，对于比上述低电位增加上述第二临限值的电位为止的输入电位输出低状态。

4.如权利要求1的液晶显示装置试验电路，其中上述编码电路包含将与列/行线的编号对应的二进位数对应的电平向上述总线线输出的线接式连接部。

5.如权利要求1的液晶显示装置试验电路，其中上述编码电路为了进行由列/行线两端的双向扫描，包含：向下扫描信号产生电路，其系在收到来自上部的列/行线的向下扫描信号时，在未获得对该列/行线的上述比较结果时，对下部的列/行线传送向下扫描信号；及向上扫描信号产生电路，其系在收到来自下部的列/行线的向上扫描信号时，在未获得对该列/行线的上述比较结果时，对上部的列/行线传送向上扫描信号。

6.如权利要求1的液晶显示装置试验电路，其中在上述编码电路的最上端及最下端上进一步设有在上述列/行线中任何一者均不在选择的情况中被指示扫描时，各以显示为最端部的线编号将上述总线线的电平予以编码的顶虚设编码器及底虚设编码器。

7.一种液晶显示装置，其在同一基板上包含：

8.如权利要求7的液晶显示装置，其中上述比较电路对输入信号十分高的电平输出高状态，对十分低的电平输出低状态，并对此等的中间电平输出无效状态。

9.如权利要求8的液晶显示装置，其中上述比较电路利用连接于高电位的第一晶体管的第一临限值，对于比上述高电位降低第一临限值的电位为止的输入电位输出高状态，利用连接于低电位的第二晶体管的第二临限值，对于比上述低电位增加上述第二临限值的电位为止的输入电位输出低状态。

10.如权利要求7的液晶显示装置，其中上述编码电路包含将与列/行线的编号对应的二进位数对应的电平向上述总线线输出的线接式连接部。

11.如权利要求7的液晶显示装置，其中上述编码电路为了进行由列/行线两端的双向扫描，包含：向下扫描信号产生电路，其系在收到来自上部的列/行线的向下扫描信号时，在未获得对该列/行线的上述比较结果时，对下部的列/行线传送向下扫描信号；及向上扫描信号产生电路，其系在收到来自下部的列/行线的向上扫描信号时，在未获得对该列/行线的上述比较结果时，对上部的列/行线传送向上扫描信号。

12.如权利要求7的液晶显示装置，其中在上述编码电路的最上端及最下端上进一步设有在上述列/行线中全都不在选择的情况中被指示扫描时，各以显示为最端部的线编号将上述总线线的电平予以编码的顶虚设编码器及底虚设编码器。

13.一种液晶显示装置的试验方法，其包含：

检测工序，其系对于将集电极分别连接在配置成矩阵状的液晶显示元件上的薄膜晶体管的栅极以列单位共通连接并被列驱动器驱动的列线、及将上述薄膜晶体管的源极以行单位共通连接而由行驱动器供应对应于灰阶的电压的行线中至少任何一者，检测各列/行线的选择状态；

列/行线编号特定工序，其系依上述检测出来的列/行线的选择状态，进行列/行线两端间的双向扫描来特定被选择的列/行线的编号；

编码工序，其系对应于被检测出来的列/行线编号，使构成总线的多条总线的电平变化；及

读取工序，其系读取上述被编码化的上述总线的电平，检测并输出藉由上述双向扫描所检测出来的列/行线的编号的一致/不一致。

14.如权利要求13的液晶显示装置的试验方法，其中在检测行线的选择状态时，由上述行驱动器对上述薄膜晶体管的源极供应具有高低两阶段的电平的电压。

15.如权利要求13的液晶显示装置的试验方法，其中上述列/行线编码特定工序在收到来自上部的列/行线的向下扫描信号时，在未获得对该列/行线的上述比较结果时，对下部的列/行线传送向下扫描信号，并在收到来自下部的列/行线的向上扫描信号时，在未获得对该列/行线的上述比较结果时，对上部的列/行线传送向上扫描信号，藉此进行由列/行线两端的双向扫描。

16.如权利要求15的液晶显示装置的试验方法，其中依上述双向扫描的结果，上述列/行线中任何一者均不在选择状态的情况中，以显示为最上端及最下端的线编号将上述总线线的电平编译成代码。