CN109924996A - 调节准直器和过滤片的方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种调节准直器和过滤片的方法和装置。所述方法包括：基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离；根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置；根据所述偏移距离，调整过滤片的位置。本发明能够在无需调节焦点位置的情况下实现Z控制，并且能够容易地集成到已有的Z控制方式。
Description
技术领域
本发明涉及计算机X射线断层成像(CT，Computed Tomography)技术，特别是一种调节准直器和过滤片的方法和装置。
背景技术
在CT系统中，一般包含准直器来控制X射线在Z轴方向的覆盖范围。由于热效应，球管焦点会移动。为了补偿焦点的移动，准直器应与焦点一起移动。这就是所谓的Z控制(z-control)。
在一些高端的CT系统中还配备有双能过滤片(split filter)，用于产生不同的X射线能谱，以进行双能扫描。双能过滤片应准确定位，使X射线能谱分离良好。
然而现有的实现Z控制的方式一般适用于包含准直器而不包含过滤片的设计。并且，基于现有技术的方案，一般通过计算不同部分的混合强度来确定双能过滤片的中间点，然后将中间点移动到探测器中心。由于高端系统具有焦点控制功能，其一般通过控制焦点的位置而非控制准直器的位置来实现Z控制。
发明内容
有鉴于此，本发明提出了一种调节准直器和过滤片的方法和装置，用以在无需调节焦点位置的情况下实现Z控制。
根据本发明的一个实施例，提供了一种调节准直器和过滤片的方法，其中，所述方法包括以下步骤：
基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；
基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离；
根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置；
根据所述偏移距离，调整过滤片的位置。
根据本发明的一个实施例，所述基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度的步骤包括以下步骤：
计算对应于探测器第一排的左区域和右区域的信号强度的平均值，以及对应于探测器的最后一排的左区域和右区域的信号强度的平均值；
基于计算得到的平均值，计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度。
根据本发明的一个实施例，所述计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值；
所述计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度包括基于公式和来计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；
其中，Nr表示一秒钟采集数据的次数，L和R分别表示在左区域和右区域选取的通道数，A1和A2表示准直器的开口两端，表示对应于A1的归一化信号强度，表示对应于A2的归一化信号强度，表示全照射情况下探测器第一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器第一排的右区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的右区域信号强度的平均值。
根据本发明的一个实施例，所述基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离的步骤包括以下步骤：基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。
根据本发明的一个实施例，所述基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离包括基于公式来计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离，其中，Mq表示过滤片中心点的信号强度，i表示探测器中间排的排数脚标，表示第i排的信号强度的平均值，zcenter表示探测器的几何中心，w表示探测器上每一排的厚度，dFO表示焦点到旋转中心的距离，dFC表示焦点到准直器的距离。
根据本发明的一个实施例，所述根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置的步骤包括以下步骤：如果对应于准直器的开口两端的归一化信号强度的差值超过预定阈值，则计算准直器需要在Z轴方向移动的距离。
根据本发明的一个实施例，所述根据所述偏移距离，调整过滤片的位置的步骤包括以下步骤：如果所述偏移距离超过预定阈值，则基于该偏移距离调整过滤片的位置。
根据本发明的一个实施例，所述方法包括以下步骤：记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得当准直器移动时，过滤片保持该相对位置跟随准直器一起移动。
根据本发明的一个实施例，提供了一种调节准直器和过滤片的装置，其中，所述装置包括：
第一计算单元，用于基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；
第二计算单元，用于基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离；
第一调整单元，用于根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置；
第二调整单元，用于根据所述偏移距离，调整过滤片的位置。
根据本发明的一个实施例，所述第一计算单元包括：
第一子计算单元，用于计算对应于探测器第一排的左区域和右区域的信号强度的平均值，以及对应于探测器的最后一排的左区域和右区域的信号强度的平均值；
第二子计算单元，用于基于计算得到的平均值，计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度。
根据本发明的一个实施例，所述计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值；
所述计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度包括基于公式和来计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；
其中，Nr表示一秒钟采集数据的次数，L和R分别表示在左区域和右区域选取的通道数，A1和A2表示准直器的开口两端，表示对应于A1的归一化信号强度，表示对应于A2的归一化信号强度，表示全照射情况下探测器第一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器第一排的右区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的右区域信号强度的平均值。
根据本发明的一个实施例，所述第二计算单元用于：基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。
根据本发明的一个实施例，所述基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离包括基于公式来计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离，其中，Mq表示过滤片中心点的信号强度，i表示探测器中间排的排数脚标，表示第i排的信号强度的平均值，zcen t er表示探测器的几何中心，w表示探测器上每一排的厚度，dFO表示焦点到旋转中心的距离，dFC表示焦点到准直器的距离。
根据本发明的一个实施例，所述第一调整单元包括：第三子计算单元，用于如果对应于准直器的开口两端的归一化信号强度的差值超过预定阈值，则计算准直器需要在Z轴方向移动的距离。
根据本发明的一个实施例，所述第二调整单元用于：如果过滤片中心点的偏移距离超过预定阈值，则基于该偏移距离调整过滤片的位置。
根据本发明的一个实施例，所述装置包括：记录单元，用于记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得当准直器移动时，过滤片保持该相对位置跟随准直器一起移动。
从上述方案中可以看出，本发明的方案基于X射线信号来调整准直器和过滤片的位置，能够在无需调节焦点位置的情况下实现Z控制，并且能够容易地集成到已有的Z控制方式。并且，本发明的方案通过记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得在Z控制的过程中过滤片保持该相对位置与准直器一起移动，从而保证X射线经由过滤片后的能量分离效果良好。
附图说明
下面将通过参照附图详细描述本发明的优选实施例，使本领域的普通技术人员更清楚本发明的上述及其它特征和优点，附图中：
图1为一个示例性的准直器和过滤片的示意图。
图2为根据本发明一个实施例的调节准直器和过滤片的方法的流程图。
图3为根据本发明一个实施例的用于调节准直器和过滤片的装置的框图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下举实施例对本发明进一步详细说明。
下面将参照附图更详细地描述本公开的优选实施方式。虽然附图中显示了本公开的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施方式所限制。相反，提供这些实施方式是为了使本公开更加透彻和完整，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。
图1为一个示例性的长CT扫描仪的示意图。参照图1，该CT扫描仪球管的焦点101在垂直于Z轴的方向上发射X射线。准直器102位于靠近焦点101的位置。双能过滤片103位于准直器102和探测器104之间，X射线通过双能过滤片103后被分离为具有不同能谱的两部分。
图2为根据本发明一个实施例的调节准直器和过滤片的方法的流程图。根据本实施例的方法主要由虚拟设备来实现，该方法包括步骤S110、步骤S120、步骤S130和步骤S140。
参照图2，在步骤S110中，基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度。
优选地，所述步骤S110包括步骤S1101和步骤S1102。
在步骤S1101中，计算对应于探测器第一排的左区域和右区域的信号强度的平均值，以及对应于探测器的最后一排的左区域和右区域的信号强度的平均值；
优选地，计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值包括基于以下公式(1)计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值。
优选地，计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值包括基于以下公式(2)计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值。
优选地，所述计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值包括基于以下公式(3)计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值。
优选地，所述计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值包括基于以下公式(4)计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值。
其中，q1表示第一排，q2表示探测器最后一排，表示探测器第一排的左区域信号强度的平均值，表示探测器第一排的右区域信号强度的平均值，表示探测器最后一排的左区域信号强度的平均值，表示探测器最后一排的右区域信号强度的平均值。其中，Nr表示一秒钟采集数据的次数。其中，L和R分别表示在左区域和右区域选取的通道数。例如，对于64×800(即有64排和800个通道)的探测器，则q1＝1，q2＝64，分别选取50个通道作为左区域和右区域，则L和R均为50，left＝[1,50]，right＝[751,800]。
在步骤S1102中，基于计算得到的平均值，计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度。
优选地，所述计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度包括基于以下公式(5)和(6)来计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度：
其中，A1和A2表示准直器的开口两端，表示对应于A1的归一化信号强度，表示对应于A2的归一化信号强度，表示全照射情况下探测器第一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器第一排的右区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的右区域信号强度的平均值。
继续参照图2，在步骤S120中，基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。
优选地，基于探测器中间排的信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。例如，对于64排的探测器，将第30至第35排作为中间排，并基于30至第35排的信号计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。
优选地，基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上对应于过滤片中心点的偏移距离。
优选地，所述基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离包括基于以下公式(7)计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离：
其中，zsplit表示过滤片中心点的偏移距离，Mq表示过滤片中心点的信号强度，表示第i排的信号强度的平均值，其中，i表示探测器中间排的排数脚标。例如，对于64排的探测器，采集中间第30至第35排的数据，则i可以是30至35中的任何一个整数。其中，zcenter表示探测器的几何中心，例如，对于64排探测器，则zcenter＝32.5。其中，w表示探测器上每一排的厚度，通常为0.6mm。其中，dFO表示焦点到旋转中心的距离，dFC表示焦点到准直器的距离。
继续参照图2，在步骤S130中，根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置。
其中，所述步骤S130包括步骤S1301。
在步骤S1301中，如果对应于准直器的开口两端的归一化信号强度的差值超过预定阈值，则计算准直器需要在Z轴方向移动的距离。
优选地，所述方法先基于对应于准直器的开口两端的归一化信号强度来判断是否需要调整准直器的位置，如果判断需要调整准直器的位置，则计算准直器需要在Z轴方向移动的距离。
优选地，基于以下公式(8)来计算准直器需要在Z轴方向移动的距离：
其中，G表示信号和准直器距离比，例如，准直器每移动100um，则探测器上的信号减少25％，则G＝100um/0.25＝400um。当探测器信号变化为5％时，则对应计算出准直器需要移动的距离为0.05*400um＝20um。
继续参照图2，在步骤S140中，根据所述偏移距离，调整过滤片的位置。
优选地，如果所述偏移距离超过预定阈值，则基于该偏移距离调整过滤片的位置。
根据本发明的一个优选实施方案，当准直器和过滤片处于初始位置时，所述方法基于第一次扫描得到的第一排和最后一排的信号来判断是否需要调整准直器，并基于中间排的信号来来判断是否需要调整过滤片的位置。如果需要调整准直器和/或过滤片的位置，则在调整后基于下一次扫描得到的信号判断是否需要继续调整准直器和/或过滤片的位置，并重复该过程直至准直器和过滤片的位置均不需要再调整。
根据本发明的一个优选实施例，所述方法包括步骤S150。
在步骤S150中，记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得当准直器移动时，过滤片保持该相对位置跟随准直器一起移动。
具体地，当准直器和过滤片的位置均不需要再调整时，记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得当准直器移动时，过滤片保持该相对位置跟随准直器一起移动。
根据本发明的方法，基于X射线信号来调整准直器和过滤片的位置，能够在无需调节焦点位置的情况下实现Z控制，并且能够容易地集成到已有的Z控制方式。并且，本发明的方案通过记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得在Z控制的过程中过滤片保持该相对位置与准直器一起移动，从而保证X射线经由过滤片后的能量分离效果良好。
图3为根据本发明一个实施例的用于调节准直器和过滤片的装置的框图。其中，所述装置包括第一计算单元100、第二计算单元200、第一调整单元300和第二调整单元400。
参照图3，第一计算单元100基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度。
优选地，所述第一计算单元100包括第一子计算单元1001和第二子计算单元1002。
第一子计算单元1001计算对应于探测器第一排的左区域和右区域的信号强度的平均值，以及对应于探测器的最后一排的左区域和右区域的信号强度的平均值；
优选地，计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值包括基于以下公式(1)计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值。
优选地，计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值包括基于以下公式(2)计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值。
优选地，所述计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值包括基于以下公式(3)计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值。
优选地，所述计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值包括基于以下公式(4)计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值。
其中，q1表示第一排，q2表示探测器最后一排，表示探测器第一排的左区域信号强度的平均值，表示探测器第一排的右区域信号强度的平均值，表示探测器最后一排的左区域信号强度的平均值，表示探测器最后一排的右区域信号强度的平均值。其中，Nr表示一秒钟采集数据的次数。其中，L和R分别表示在左区域和右区域选取的通道数。例如，对于64×800(即有64排和800个通道)的探测器，则q1＝1，q2＝64，分别选取50个通道作为左区域和右区域，则L和R均为50，left＝[1,50]，right＝[751,800]。
第二子计算单元1002基于计算得到的平均值，计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度。
优选地，所述计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度包括基于以下公式(5)和(6)来计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度：
其中，A1和A2表示准直器的开口两端，表示对应于A1的归一化信号强度，表示对应于A2的归一化信号强度，表示全照射情况下探测器第一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器第一排的右区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的右区域信号强度的平均值。
继续参照图3，第二计算单元200基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。
优选地，第二计算单元200基于探测器中间排的信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。例如，对于64排的探测器，将第30至第35排作为中间排，并基于30至第35排的信号计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。
优选地，第二计算单元200基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上对应于过滤片中心点的偏移距离。
优选地，第二计算单元200基于以下公式(7)计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离：
其中，zsplit表示过滤片中心点的偏移距离，Mq表示过滤片中心点的信号强度，表示第i排的信号强度的平均值其中，i表示探测器中间排的排数脚标。例如，对于64排的探测器，采集中间第30至第35排的数据，则i可以是30至35中的任何一个整数。其中，zcenter表示探测器的几何中心，例如，对于64排探测器，则zcenter＝32.5。其中，w表示探测器上每一排的厚度，通常为0.6mm。其中，dFO表示焦点到旋转中心的距离，dFC表示焦点到准直器的距离。
继续参照图3，第一调整单元300根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置。
其中，所述第一调整单元300包括第三子计算单元3001。
如果对应于准直器的开口两端的归一化信号强度的差值超过预定阈值，则第三子计算单元3001计算准直器需要在Z轴方向移动的距离。
优选地，所述第一调整单元300先基于对应于准直器的开口两端的归一化信号强度来判断是否需要调整准直器的位置，如果判断需要调整准直器的位置，则第三子计算单元3001计算准直器需要在Z轴方向移动的距离。
优选地，第三子计算单元3001基于以下公式(8)来计算准直器需要在Z轴方向移动的距离：
其中，G表示信号和准直器距离比，例如，准直器每移动100um，则探测器上的信号减少25％，则G＝100um/0.25＝400um。当探测器信号变化为5％时，则对应计算出准直器需要移动的距离为0.05*400um＝20um。
继续参照图3，第二调整单元400根据所述偏移距离，调整过滤片的位置。
优选地，如果所述偏移距离超过预定阈值，则第二调整单元400基于该偏移距离调整过滤片的位置。
根据本发明的一个优选实施方案，当准直器和过滤片处于初始位置时，所述方法基于第一次扫描得到的第一排和最后一排的信号来判断是否需要调整准直器，并基于中间排的信号来来判断是否需要调整过滤片的位置。如果需要调整准直器和/或过滤片的位置，则在调整后基于下一次扫描得到的信号判断是否需要继续调整准直器和/或过滤片的位置，并重复该过程直至准直器和过滤片的位置均不需要再调整。
根据本发明的一个优选实施例，所述装置包括记录单元500。
记录单元500记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得当准直器移动时，过滤片保持该相对位置跟随准直器一起移动。
具体地，当准直器和过滤片的位置均不需要再调整时，记录单元500记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得当准直器移动时，过滤片保持该相对位置跟随准直器一起移动。
根据本发明的方案，基于X射线信号来调整准直器和过滤片的位置，能够在无需调节焦点位置的情况下实现Z控制，并且能够容易地集成到已有的Z控制方式。并且，本发明的方案通过记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得在Z控制的过程中过滤片保持该相对位置与准直器一起移动，从而保证X射线经由过滤片后的能量分离效果良好。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (16)
1.一种调节准直器和过滤片的方法，其中，所述方法包括以下步骤：
基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；
基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离；
根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置；
根据所述偏移距离，调整过滤片的位置。
2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度的步骤包括以下步骤：
计算对应于探测器第一排的左区域和右区域的信号强度的平均值，以及对应于探测器的最后一排的左区域和右区域的信号强度的平均值；
基于计算得到的平均值，计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度。
3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值；
所述计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度包括基于公式和来计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；
其中，Nr表示一秒钟采集数据的次数，L和R分别表示在左区域和右区域选取的通道数，A1和A2表示准直器的开口两端，表示对应于A1的归一化信号强度，表示对应于A2的归一化信号强度，表示全照射情况下探测器第一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器第一排的右区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的右区域信号强度的平均值。
4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离的步骤包括以下步骤：
基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。
5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离包括基于公式来计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离，其中，Mq表示过滤片中心点的信号强度，i表示探测器中间排的排数脚标，表示第i排的信号强度的平均值，zcenter表示探测器的几何中心，w表示探测器上每一排的厚度，dFO表示焦点到旋转中心的距离，dFC表示焦点到准直器的距离。
6.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置的步骤包括以下步骤：
如果对应于准直器的开口两端的归一化信号强度的差值超过预定阈值，则计算准直器需要在Z轴方向移动的距离。
7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述根据所述偏移距离，调整过滤片的位置的步骤包括以下步骤：
如果所述偏移距离超过预定阈值，则基于该偏移距离调整过滤片的位置。
8.根据权利要求1所述的方法，其中，所述方法包括以下步骤：
记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得当准直器移动时，过滤片保持该相对位置跟随准直器一起移动。
9.一种调节准直器和过滤片的装置，其中，所述装置包括：
第一计算单元，用于基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；
第二计算单元，用于基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离；
第一调整单元，用于根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置；
第二调整单元，用于根据所述偏移距离，调整过滤片的位置。
10.根据权利要求9所述的装置，其中，所述第一计算单元包括：
第一子计算单元，用于计算对应于探测器第一排的左区域和右区域的信号强度的平均值，以及对应于探测器的最后一排的左区域和右区域的信号强度的平均值；
第二子计算单元，用于基于计算得到的平均值，计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度。
11.根据权利要求10的装置，其中，所述计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值；
所述计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值；
所述计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度包括基于公式和来计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；
其中，Nr表示一秒钟采集数据的次数，L和R分别表示在左区域和右区域选取的通道数，A1和A2表示准直器的开口两端，表示对应于A1的归一化信号强度，表示对应于A2的归一化信号强度，表示全照射情况下探测器第一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器第一排的右区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的左区域信号强度的平均值，表示全照射情况下探测器最后一排的右区域信号强度的平均值。
12.根据权利要求9所述的装置，其中，所述第二计算单元用于：
基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离。
13.根据权利要求12所述的装置，其中，所述基于探测器中间排的信号、探测器的几何中心、对应于过滤片中心点的信号强度、焦点到旋转中心的距离和焦点到准直器的距离，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离包括基于公式来计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离，其中，Mq表示过滤片中心点的信号强度，i表示探测器中间排的排数脚标，表示第i排的信号强度的平均值，zcenter表示探测器的几何中心，w表示探测器上每一排的厚度，dFO表示焦点到旋转中心的距离，dFC表示焦点到准直器的距离。
14.根据权利要求9所述的装置，其中，所述第一调整单元包括：
第三子计算单元，用于如果对应于准直器的开口两端的归一化信号强度的差值超过预定阈值，则计算准直器需要在Z轴方向移动的距离。
15.根据权利要求9所述的装置，其中，所述第二调整单元用于：
如果所述偏移距离超过预定阈值，则基于该偏移距离调整过滤片的位置。
16.根据权利要求9所述的装置，其中，所述装置包括：
记录单元，用于记录调整后的准直器和过滤片的相对位置，使得当准直器移动时，过滤片保持该相对位置跟随准直器一起移动。
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Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114246599A (zh) * | 2022-01-18 | 2022-03-29 | 南京安科医疗科技有限公司 | 一种医用ct机x射线准直器动态调整方法和装置 |
| CN115825120A (zh) * | 2022-11-21 | 2023-03-21 | 无锡日联科技股份有限公司 | 一种准直装置及食品检测x射线设备 |
Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1062914A1 (en) * | 1998-03-12 | 2000-12-27 | Quanta Vision, Inc. | Ultra-small-angle x-ray tomography |
| JP2002052019A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-02-19 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔシステム及び操作コンソール及び制御方法及び記憶媒体 |
| WO2008115171A1 (en) * | 2007-03-16 | 2008-09-25 | Science Applications International Corporation | System and method for normalization and calibration of an imaging system using a variable thickness filter |
| JP2009153830A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| CN101919700A (zh) * | 2009-06-10 | 2010-12-22 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 一种准直器调节方法和装置 |
| WO2011055267A1 (en) * | 2009-11-03 | 2011-05-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Computed tomography apparatus |
| WO2012042484A1 (en) * | 2010-09-30 | 2012-04-05 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Dynamic filter for computed tomography (ct) |
| CN103784159A (zh) * | 2012-10-31 | 2014-05-14 | 上海西门子医疗器械有限公司 | z向位置调整方法及计算机断层扫描设备 |
| CN104783822A (zh) * | 2015-04-21 | 2015-07-22 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 具有z轴焦点追踪及校正能力的探测器装置及其使用方法 |
| CN105103237A (zh) * | 2013-01-01 | 2015-11-25 | 控制辐射系统有限公司 | X射线减少系统 |
| WO2016038366A1 (en) * | 2014-09-12 | 2016-03-17 | Xstrahl Limited | X-ray system |
-
2017
- 2017-12-18 CN CN201711362006.3A patent/CN109924996B/zh active Active
Patent Citations (12)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1062914A1 (en) * | 1998-03-12 | 2000-12-27 | Quanta Vision, Inc. | Ultra-small-angle x-ray tomography |
| JP2002052019A (ja) * | 2000-08-03 | 2002-02-19 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔシステム及び操作コンソール及び制御方法及び記憶媒体 |
| WO2008115171A1 (en) * | 2007-03-16 | 2008-09-25 | Science Applications International Corporation | System and method for normalization and calibration of an imaging system using a variable thickness filter |
| JP2009153830A (ja) * | 2007-12-27 | 2009-07-16 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
| CN101919700A (zh) * | 2009-06-10 | 2010-12-22 | 上海西门子医疗器械有限公司 | 一种准直器调节方法和装置 |
| WO2011055267A1 (en) * | 2009-11-03 | 2011-05-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Computed tomography apparatus |
| RU2557466C2 (ru) * | 2009-11-03 | 2015-07-20 | Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. | Устройство компьютерной томографии |
| WO2012042484A1 (en) * | 2010-09-30 | 2012-04-05 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Dynamic filter for computed tomography (ct) |
| CN103784159A (zh) * | 2012-10-31 | 2014-05-14 | 上海西门子医疗器械有限公司 | z向位置调整方法及计算机断层扫描设备 |
| CN105103237A (zh) * | 2013-01-01 | 2015-11-25 | 控制辐射系统有限公司 | X射线减少系统 |
| WO2016038366A1 (en) * | 2014-09-12 | 2016-03-17 | Xstrahl Limited | X-ray system |
| CN104783822A (zh) * | 2015-04-21 | 2015-07-22 | 明峰医疗系统股份有限公司 | 具有z轴焦点追踪及校正能力的探测器装置及其使用方法 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| U.E. MOYA等: "《Parameterization of X-ray spectra appropriate for micro CT scanners》", 《NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH A》 * |
| U.E. MOYA等: "《Parameterization of X-ray spectra appropriate for micro CT scanners》", 《NUCLEAR INSTRUMENTS AND METHODS IN PHYSICS RESEARCH A》, vol. 613, no. 1, 21 January 2010 (2010-01-21), pages 152 - 155 * |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114246599A (zh) * | 2022-01-18 | 2022-03-29 | 南京安科医疗科技有限公司 | 一种医用ct机x射线准直器动态调整方法和装置 |
| CN114246599B (zh) * | 2022-01-18 | 2024-01-26 | 南京安科医疗科技有限公司 | 一种医用ct机x射线准直器动态调整方法和装置 |
| CN115825120A (zh) * | 2022-11-21 | 2023-03-21 | 无锡日联科技股份有限公司 | 一种准直装置及食品检测x射线设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN109924996B (zh) | 2023-08-22 |
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