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CN109576792A - 碳化硅单晶生长装置及碳化硅单晶制备设备 - Google Patents

碳化硅单晶生长装置及碳化硅单晶制备设备 Download PDF

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CN109576792A
CN109576792A CN201910108176.1A CN201910108176A CN109576792A CN 109576792 A CN109576792 A CN 109576792A CN 201910108176 A CN201910108176 A CN 201910108176A CN 109576792 A CN109576792 A CN 109576792A
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silicon carbide
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wall
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陈泽斌
张洁
廖弘基
陈华荣
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Nortel New Mstar Technology Ltd Fujian
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  • Metallurgy (AREA)
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Abstract

本发明提供了一种碳化硅单晶生长装置及碳化硅单晶制备设备,属于晶体生长领域。所述碳化硅单晶生长装置包括坩埚,坩埚包括主要由底壁和下侧壁组成的坩埚体,以及上侧壁和坩埚盖;上侧壁安装在所述下侧壁上,坩埚盖用于盖合在所述上侧壁上;坩埚体、上侧壁和坩埚盖形成用于生长碳化硅单晶的密闭空间;或者,坩埚包括主要由底壁和下侧壁组成的下坩埚体,以及主要由上侧壁和坩埚盖形成的上坩埚体;上坩埚体的上侧壁安装盖合在所述下坩埚体的下侧壁上,以使上坩埚体和下坩埚体形成用于生长碳化硅单晶的密闭空间。上述碳化硅单晶生长装置及碳化硅单晶制备设备制备碳化硅单晶的过程中可以避免坩埚整体损坏,并减少人员受伤的几率。

Description

碳化硅单晶生长装置及碳化硅单晶制备设备
技术领域
本发明涉及晶体生长领域,尤其是涉及一种碳化硅单晶生长装置,以及包括该碳化硅单晶生长装置的碳化硅单晶制备设备。
背景技术
现有技术中一般通过物理气相沉积的方式获得碳化硅单晶。依照该方法制备碳化硅单晶的设备包括坩埚,坩埚的材质一般为石墨,其包括坩埚体和坩埚盖,坩埚盖能够盖合在坩埚体上,从而在坩埚内形成密闭的生长空间。坩埚的底部用于放置碳化硅粉料,顶部则设置有生长基座;生长基座上用于固定碳化硅籽晶,且具有碳化硅单晶的生长面。具体制备碳化硅单晶的大致过程为:首先以感应加热的方式使石墨坩埚发热,并使石墨坩埚在竖直方向上形成温度梯度,且底部的温度高,而顶部的温度低;在石墨坩埚底部的温度达到一定温度(例如2100℃)时(且符合其他相应条件,如低压等),碳化硅粉料会升华形成碳化硅单晶的生长气氛,其气相组分包括气态的Si、Si2C、SiC2等,该气相组分会上升;当上升至坩埚顶部时,由于顶部的温度较低,在碳化硅籽晶处就会结晶形成碳化硅单晶。
但在以上述制备碳化硅单晶的过程中,会存在以下问题:
在上述碳化硅单晶的生长过程中,气相组分并不限于在碳化硅单晶生长基座的生长面处结晶形成碳化硅单晶,还会在其周边区域沉积和结晶,形成碳化硅多晶,而这些碳化硅多晶往往将坩埚盖和坩埚体粘结在一起,从而在将碳化硅单晶取出时,不得不使用器械切割,以将坩埚盖和坩埚体分离。在这一切割过程中会增加晶体开裂和人员受伤的风险,而且,切割后的坩埚会出现破损,而不得不报废。
发明内容
本发明的目的在于提供一种碳化硅单晶生长装置及一种包括该碳化硅单晶生长装置的碳化硅单晶制备设备,以改善或缓解现有技术中存在的上述技术问题。
本发明提供的碳化硅单晶生长装置,其包括坩埚,所述坩埚包括主要由底壁和下侧壁组成的坩埚体,以及上侧壁和坩埚盖;所述上侧壁安装在所述下侧壁上,所述坩埚盖用于盖合在所述上侧壁上;所述坩埚体、上侧壁和坩埚盖形成用于生长碳化硅单晶的密闭空间;或者
所述坩埚包括主要由底壁和下侧壁组成的下坩埚体,以及主要由上侧壁和坩埚盖形成的上坩埚体;所述上坩埚体的上侧壁安装盖合在所述下坩埚体的下侧壁上,以使所述上坩埚体和下坩埚体形成用于生长碳化硅单晶的密闭空间。
其中,所述上侧壁与下侧壁的相接面为斜面,且自坩埚的内向外方向向下倾斜。
其中,所述上侧壁的高度与下侧壁的高度的比值范围在1:2.5-1:5。
进一步地,所述上侧壁的高度与下侧壁的高度的比值为1:3。
其中,所述碳化硅单晶生长装置还包括生长基座和缓冲机构;所述坩埚底部设置有容置空间,所述容置空间内用于放置碳化硅粉料;所述生长基座设置在所述坩埚的顶部,用于在所述生长基座上生长碳化硅单晶;所述缓冲机构设置在所述坩埚内,位于所述容置空间与生长基座之间的位置处;且所述缓冲机构上具有气体通道,以使生长气氛能经所述气体通道到达所述坩埚顶部的生长基座处。
其中,所述缓冲机构与所述上侧壁的下端,以及下侧壁的上端相接,以将所述上侧壁和下侧壁的接缝处遮挡。
其中,所述碳化硅单晶生长装置还包括导流机构,所述导流机构设置在所述坩埚内,且位于所述缓冲机构与所述生长基座之间,用于将碳化硅粉料升华产生的气体引导向到所述生长基座方向。
其中,所述导流机构与所述上侧壁的下端,以及下侧壁的上端相接,以将所述上侧壁和下侧壁的接缝处遮挡。
本发明提供的碳化硅单晶制备设备,其包括上述碳化硅单晶生长装置。
本发明具有以下有益效果:
本发明提供的碳化硅单晶生长装置,其坩埚的侧壁分为上侧壁和下侧壁,且上侧壁和下侧壁之间可分离。在制备碳化硅单晶的过程结束之后,在上侧壁与下侧壁之间的结合处将二者分离,从而打开坩埚内用于生长碳化硅单晶的密闭空间。由于上侧壁和下侧壁的相接处与坩埚盖具有一定的距离,此处结晶形成的晶体较少,或者不会收到气相组分的侵蚀、不会出现结晶,从而可以方便地将上侧壁和下侧壁分离,避免使用器械切割的方式,从而可以减少坩埚被损坏的几率,而且还减少了因器械切割而容易导致的人员损伤的发生率。而且,对于分离后的坩埚的下部分,其还可以用于下一次碳化硅单晶的制备过程,从而可以减少设备成本。
本发明提供的碳化硅单晶制备设备,其包括上述碳化硅单晶生长装置,因此,其同样具有上述碳化硅单晶生长装置所具有的各有益效果。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的碳化硅单晶生长装置在其第一实施方式的第一实施例中的立体剖视示意图;
图2为本发明提供的碳化硅单晶生长装置在其第一实施方式的第二实施例中的立体剖视示意图;
图3为本发明提供的碳化硅单晶生长装置在其第一实施方式的第三实施例中的立体剖视示意图;
图4为本发明提供的碳化硅单晶生长装置在其第一实施方式的第三实施例的一种优选变型的立体剖视示意图;
图5为本发明提供的碳化硅单晶生长装置在其第一实施方式的第四实施例中的立体剖视示意图;
图6为本发明提供的碳化硅单晶生长装置在其第一实施方式的第四实施例的一种优选变型的立体剖视示意图;
图7为本发明提供的碳化硅单晶生长装置在其第二实施方式中的立体剖视示意图。
图标:10:坩埚;11:容置空间;12:凸出体;13:坩埚体;14:上侧壁;15:坩埚盖;16:下坩埚体;17:上坩埚体;20:生长基座;30:缓冲机构;31:气体通道;40:导流机构;41:导流孔;
130:底壁;131:下侧壁;
160:底壁;161:下侧壁;170:上侧壁;171:坩埚盖。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明提供一种碳化硅单晶生长装置,下面给出碳化硅单晶生长装置的多个实施方式,以使本领域技术人员能够实现该碳化硅单晶生长装置。
(一)碳化硅单晶生长装置的第一实施方式
在碳化硅单晶生长装置的第一实施方式中,如图1所示,碳化硅单晶生长装置包括坩埚10;坩埚10包括主要由底壁130和下侧壁131组成的坩埚体13,以及上侧壁14和坩埚盖15。上侧壁14安装在下侧壁131上,坩埚盖15用于盖合在上侧壁14上。坩埚体13、上侧壁14和坩埚盖15形成用于生长碳化硅单晶的密闭空间。
图1所示为本实施方式的第一实施例,如图1所示,坩埚10底部设置有凸出体12,该凸出体12与坩埚10的侧壁之间形成有容置空间11,所述容置空间11内用于放置碳化硅粉料。
如背景技术部分所述,在制备碳化硅单晶的过程中,碳化硅粉料升华产生的气体不仅会在生长基座20的生长面上生长出碳化硅单晶,还会在其周边区域,即坩埚10内密闭空间的顶壁及其与侧壁相接处沉积和结晶。在现有技术中,这些区域形成的晶体在碳化硅单晶制备完成后,会对打开坩埚盖、取出碳化硅单晶的过程形成阻碍,而不得不采用器械切割来实现坩埚盖的开启、分离。
在制备碳化硅单晶的过程结束之后,在上侧壁14与下侧壁131之间的结合处将二者分离,从而打开坩埚体13、上侧壁14和坩埚盖15形成的密闭空间。由于上侧壁14和下侧壁131的相接处与坩埚盖15具有一定的距离,此处结晶形成的晶体较少,或者不会收到气相组分的侵蚀、不会出现结晶,从而可以方便地将上侧壁14和下侧壁131分离,避免使用器械切割的方式,从而可以减少坩埚10被损坏的几率,而且还减少了因器械切割而容易导致的人员损伤的发生率。
而且,对于分离后的坩埚体13,其还可以用于下一次碳化硅单晶的制备过程,在下一次制备碳化硅单晶时,只需要在坩埚体13上装设新的上侧壁14和坩埚盖15,即可在坩埚体13的基础上形成新的密闭空间,用于下一次制备碳化硅单晶的过程。
由于气相组分一般只侵蚀坩埚10的顶部,对下位于下部的坩埚体13而言,其受到的侵蚀较小,或者不受到侵蚀。因此,对于分离之后的坩埚体13而言,将容置空间11内碳化硅粉料的残留物移出,并清洗干净之后,还可以用于下次碳化硅单晶的制备过程,这样就可以降低生产多次碳化硅单晶所需的设备成本。具体地,在本实施例中,上侧壁14的高度和下侧壁131的高度的比值范围在1:2.5-1:5,优选为1:3。
在本实施方式的第二实施例中,在第一实施例的基础上,上侧壁与下侧壁的相接面为斜面,且自坩埚10的内向外方向向下倾斜,如图2所示。显然,该相接处的倾斜方向与坩埚10内气体的流通方向相反,这样在坩埚10内碳化硅粉料升华产生的气体由下向上流动时,可以减少或者避免气体通过上侧壁和下侧壁的相接处向外泄漏的发生。
在本实施方式的第三实施例中,碳化硅单晶生长装置还包括生长基座20和缓冲机构30。生长基座20设置在坩埚10的顶部,用于在生长基座20上生长碳化硅单晶。缓冲机构30设置在坩埚10内,位于容置空间11与生长基座20之间的位置处。缓冲机构30上具有气体通道31,以使生长气氛能经气体通道31到达坩埚10顶部的生长基座20处。
具体地,如图3所示,缓冲机构30为环形工件,其外周缘与坩埚10的内壁相接,并在与坩埚10的相接处固定设置在坩埚10内。缓冲机构30的外周缘与坩埚10的内壁相接是指在缓冲机构30在完整的周向上与坩埚10内壁之间不存在明显使气体能够通过的间隙等结构;当然,由于密封工艺水平等因素而可能出现的细小间隙除外。而缓冲机构30与坩埚10之间的固定的具体方式为:坩埚10内具有一周向凸缘,如图2所示,缓冲机构30置于该周向凸缘上,从而该周向凸缘将缓冲机构30支撑住,使缓冲机构30被固定于坩埚10内。
在本实施例中,如图3所示,缓冲机构30与上侧壁的下端,以及下侧壁的上端相接,以将上侧壁和下侧壁的接缝处遮挡。这样设置可以减少或者避免气体通过上侧壁和下侧壁的相接处向外泄漏的发生。
优选地,本实施例可以进一步与上述第二实施例结合,如图4所示,可以进一步减少或者避免气体通过上侧壁和下侧壁的相接处向外泄漏的发生。
在本实施方式的第四实施例中,碳化硅单晶生长装置还包括缓冲机构30和导流机构40,如图5所示;其中,缓冲机构30与上述第三实施例中相同;导流机构40导流机构40设置在坩埚10内,且位于缓冲机构30与生长基座20之间,用于将碳化硅粉料升华产生的气体引导向到所述生长基座20方向。具体地,当碳化硅粉料升华产生的气体向上流经缓冲机构30后,导流机构40将该部分气体引导向生长基座20处,使该部分气体在生长基座20处聚集,这样可以降低该部分气体的扩散,增加生长基座20处的气体密度,从而有利于提高生长基座20的生长面上碳化硅单晶的生长速度。
在本实施例中,如图5所示,导流机构40与上侧壁的下端,以及下侧壁的上端相接,以将上侧壁和下侧壁的接缝处遮挡。这样设置可以减少或者避免气体通过上侧壁和下侧壁的相接处向外泄漏的发生。
优选地,本实施例可以进一步与上述第二实施例结合,如图6所示,可以进一步减少或者避免气体通过上侧壁和下侧壁的相接处向外泄漏的发生。
(二)碳化硅单晶生长装置的第二实施方式
在碳化硅单晶生长装置的第二实施方式中,碳化硅单晶生长装置同样包括坩埚10,其结构和功能与上述第一实施方式中大致相同。对于本实施方式与上述第一实施方式的相同之处,由于在上述第一实施方式中已有详细描述,在此就不再赘述。下面就本实施方式与上述第一实施方式的区别之处展开描述。
如图7所示,在本实施方式中,坩埚10包括主要由底壁160和下侧壁161组成的下坩埚体16,以及主要由上侧壁170和坩埚盖171形成的上坩埚体17。具体而言,下坩埚体16包括底壁160和下侧壁161,且底壁160和下侧壁161作为下坩埚体16的主体,底壁160和下侧壁161可以为一体结构,或者为安装固定在一起的分体结构。上坩埚体17包括上侧壁170和坩埚盖171,且上侧壁170和坩埚盖171作为上坩埚盖的主体,上侧壁170和坩埚盖171为一体结构。
上坩埚体17的上侧壁170安装盖合在下坩埚体16的下侧壁161上,以使上坩埚体17和下坩埚体16形成用于生长碳化硅单晶的密闭空间。
在本实施方式中,与上述第一实施方式类似,在制备碳化硅单晶的过程结束之后,在上侧壁160与下侧壁161的相接处将二者分离,也即是使上坩埚体17和下坩埚体16分离,可以实现与上述第一实施方式相同的技术效果,在此就不再赘述。
本发明还提供一种碳化硅单晶制备设备,在其实施方式中,碳化硅单晶制备设备上述实施方式中的碳化硅单晶生长装置,以及,还包括用于加热坩埚的加热装置、用于使坩埚在竖直方向形成温度梯度的保温结构等设备。
本发明提供的碳化硅单晶制备设备,其包括上述实施方式中的碳化硅单晶生长装置,因此,其同样具有上述多个实施方式中的碳化硅单晶生长装置所具有的各有益效果。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (9)

1.一种用于碳化硅单晶生长装置,其特征在于,包括坩埚,所述坩埚包括主要由底壁和下侧壁组成的坩埚体,以及上侧壁和坩埚盖;所述上侧壁安装在所述下侧壁上,所述坩埚盖用于盖合在所述上侧壁上;所述坩埚体、上侧壁和坩埚盖形成用于生长碳化硅单晶的密闭空间;或者
所述坩埚包括主要由底壁和下侧壁组成的下坩埚体,以及主要由上侧壁和坩埚盖形成的上坩埚体;所述上坩埚体的上侧壁安装盖合在所述下坩埚体的下侧壁上,以使所述上坩埚体和下坩埚体形成用于生长碳化硅单晶的密闭空间。
2.根据权利要求1所述的碳化硅单晶生长装置,其特征在于,所述上侧壁与下侧壁的相接面为斜面,且自坩埚的内向外方向向下倾斜。
3.根据权利要求1或2所述的碳化硅单晶生长装置,其特征在于,所述上侧壁的高度与下侧壁的高度的比值范围在1:2.5-1:5。
4.根据权利要求3所述的碳化硅单晶生长装置,其特征在于,所述上侧壁的高度与下侧壁的高度的比值为1:3。
5.根据权利要求1或2所述的碳化硅单晶生长装置,其特征在于,所述碳化硅单晶生长装置还包括生长基座和缓冲机构;
所述坩埚底部设置有容置空间,所述容置空间内用于放置碳化硅粉料;
所述生长基座设置在所述坩埚的顶部,用于在所述生长基座上生长碳化硅单晶;
所述缓冲机构设置在所述坩埚内,位于所述容置空间与生长基座之间的位置处;且所述缓冲机构上具有气体通道,以使生长气氛能经所述气体通道到达所述坩埚顶部的生长基座处。
6.根据权利要求5所述的碳化硅单晶生长装置,其特征在于,所述缓冲机构与所述上侧壁的下端,以及下侧壁的上端相接,以将所述上侧壁和下侧壁的接缝处遮挡。
7.根据权利要求5所述的碳化硅单晶生长装置,其特征在于,所述碳化硅单晶生长装置还包括导流机构,所述导流机构设置在所述坩埚内,且位于所述缓冲机构与所述生长基座之间,用于将碳化硅粉料升华产生的气体引导向到所述生长基座方向。
8.根据权利要求7所述的碳化硅单晶生长装置,其特征在于,所述导流机构与所述上侧壁的下端,以及下侧壁的上端相接,以将所述上侧壁和下侧壁的接缝处遮挡。
9.一种碳化硅单晶制备设备,其特征在于,包括权利要求1-8任意一项所述的碳化硅单晶生长装置。
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