CN109406884A - 具有数字接口的矢量网络分析仪 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及具有数字接口的矢量网络分析仪。矢量网络分析仪包括：第一测量端口；连接到第一测量端口的第一数字接口，第一数字接口适于连接到被测设备的数字输入端或输出端；以及第二测量端口，其适于连接到被测设备的射频输入端或输出端。矢量网络分析仪还包括处理器，其适于基于测量信号确定被测设备的S参数，所述测量信号被发送到被测设备并且被第一测量端口和第二测量端口从被测设备接收。
Description
技术领域
本发明涉及一种矢量网络分析仪(vector network analyzer，VNA)和使用矢量网络分析仪的测量方法，所述矢量网络分析仪和所述测量方法允许测量被测设备(deviceunder test，DUT)的散射参数(在下文中的S-参数)。优选地，矢量网络分析仪还具有光输入端或光输出端。
背景技术
普通的矢量网络分析仪有至少两个模拟测量端口。被测设备被供应模拟输入信号，并通过生成模拟输出信号进行反应。输入信号由矢量网络分析仪的测量端口提供，而模拟输出信号由矢量网络分析仪的另一测量端口测量。通过比较输入信号和输出信号，确定被测设备的S-参数。
近年来，越来越多的只有单个模拟端口(可能是输入端或输出端)的被测设备，都已经出现。例如，基站的远程无线电头端包括光输入端和模拟射频输出端。因此，不可能用传统的矢量网络分析仪来确定这种设备的S-参数。
例如，美国专利US 8,508,237 B2示出了仅具有模拟射频端口的传统矢量网络分析仪。此文中，示出了校准设备，所述校准设备包括从电信号到光信号的接口并且还包括光学校准标准。
因此，目的是提供一种矢量网络分析仪，其可以对具有数字端口或光端口的被测设备执行S参数测量。
发明内容
根据本发明的第一优选方面，提供了一种矢量网络分析仪。所述矢量网络分析仪，包括：第一测量端口；第一数字接口，该第一数字接口连接到所述第一测量端口，所述第一数字接口适于连接到被测设备的数字输入端或数字输出端；第二测量端口，其适于连接到所述被测设备的射频输入端或射频输出端；处理器，其适于基于被发送到所述被测设备并且被所述第一测量端口和所述第二测量端口从所述被测设备接收的测量信号确定所述被测设备的S-参数。因此，可以在仅使用被测设备的单个射频端口的同时确定被测设备的S参数。
根据第一方面的第一优选实现形式，如果所述第一数字接口连接到所述被测设备的数字输入端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输出端，所述第一测量端口适于生成第一模拟测量信号并将其提供至所述第一数字接口，所述第一数字接口适于根据所述第一模拟测量信号生成第一数字测量信号，所述第一数字接口适于将所述第一数字测量信号提供至所述被测设备的所述数字输入端，所述第二测量端口适于接收来自所述被测设备的第二模拟测量信号，所述第二模拟测量信号由所述被测设备基于所述第一数字测量信号生成，以及所述处理器适于根据所述第一模拟测量信号和所述第二模拟测量信号确定所述被测设备的S-参数。因此，可以准确地确定被测设备的数字输入情况下的S参数。
在第一方面的第二优选实现形式中，如果所述第一数字接口连接到所述被测设备的数字输出端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输入端，所述第二测量端口适于生成第三模拟测量信号并将其提供至所述被测设备的所述射频输入端，所述第一数字接口适于接收第二数字测量信号，所述第二数字测量信号由所述被测设备基于所述第三模拟测量信号生成，所述第一数字接口适于基于所述第二数字测量信号生成第四模拟测量信号，所述处理器适于根据所述第三模拟测量信号和所述第四模拟测量信号确定所述被测设备的S-参数。对于被测设备的数字输出情况，也可以准确地确定S参数。
根据第一方面的第三优选实现形式，测量设备还包括：第一测量端口连接器，其适于将所述被测设备的所述射频输入端或射频输出端连接到所述第一测量端口；第一数字接口连接器，其适于将所述被测设备的所述数字输入端或数字输出端连接到所述第一数字接口；以及耦合器，其适于将测量端口连接到所述第一测量端口连接器和所述第一数字接口连接器。因此，优选地，可以选择性地在第一测量端口与数字接口或连接器之间建立连接。
根据第一方面的第四优选实现形式，测量设备还包括：第三测量端口；和第一光接口，其连接到所述第三测量端口，所述第一光接口适于连接到所述被测设备的光输入端或光输出端，其中，所述处理器适于基于被发送到所述被测设备并且由所述第一测量端口和/或所述第二测量端口和/或所述第三测量端口从所述被测设备接收的测量结果确定所述被测设备的所述S-参数。因此，可以另外处理光信号，这显著提高了测量设备的灵活性。
根据第一方面的另一优选实施方式，如果所述第一光接口连接到所述被测设备的所述光输入端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输出端，所述第三测量端口适于生成第五模拟测量信号并将其提供至所述第一光接口，所述第一光接口适于由所述第五模拟测量信号生成第一光测量信号，所述第一光接口适于将所述第一光测量信号提供至所述被测设备的所述光输入端，所述第二测量端口适于接收来自所述被测设备的第六模拟测量信号，所述第六模拟测量信号由所述被测设备基于所述第一光测量信号生成，以及所述处理器适于根据所述第五模拟测量信号和所述第六模拟测量信号确定所述被测设备的S-参数。该方法允许由被测设备接收光信号并由光信号确定S-参数。这提高了测量设备的灵活性。
根据第一方面的另一优选实现形式，如果所述第一光接口连接到所述被测设备的光输出端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输入端，所述第二测量端口适于生成第七模拟测量信号并将其提供至所述被测设备的所述射频输入端，所述第一光接口适于接收第二光测量信号，所述第二光测量信号由所述被测设备基于所述第七模拟测量信号生成，所述第一光接口适于基于所述第二光测量信号生成第八模拟测量信号，以及所述处理器适于根据所述第七模拟测量信号和所述第八模拟测量信号确定所述被测设备的所述S-参数。从而也可以处理从被测设备接收的光信号。这进一步提高了测量设备的灵活性。
根据第一方面的另一优选实现形式，测量设备还包括：第二测量端口连接器，其适于将所述被测设备的所述射频输入端或射频输出端连接到所述第三测量端口；第一光接口连接器，其适于将所述被测设备的所述数字输入端或数字输出端连接到所述第一光接口；以及另一耦合器，其适于将所述第三测量端口连接到所述第二测量端口连接器和所述第一光接口连接器。因此，优选地，可以选择性地在第三测量端口与光接口或相应的测量端口连接器之间直接建立连接。
根据第一方面的另一优选实现形式，所述矢量网络分析仪还包括：第四测量端口，其适于连接到所述被测设备的另一射频输入端或输出端；第五测量端口；第二数字接口，其连接到所述第五测量端口，所述第二数字接口适于连接到所述被测设备的另一数字输入端或输出端。然后，所述处理器适于基于发送到所述被测设备并且由所述第一测量端口、所述第二测量端口和所述第四测量端口从所述被测设备接收的测量信号来确定所述被测设备的S-参数。通过具有两个数字接口，可以在确定S-参数的同时处理由被测设备发送的或从被测设备接收的两个数字信号。这显著提高了测量设备的灵活性。
根据第一方面的另一优选实现形式，如果所述第一数字接口连接到所述被测设备的数字同相-参数(下面为I-参数)输入端，所述第二数字接口连接到所述被测设备的数字正交相位参数(下面为Q参数)输入端，并且所述第四测量端口连接到所述被测设备的本地振荡器输入端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输出端，则所述第一测量端口适于生成第一模拟I-参数信号并将其提供至所述第一数字接口，所述第一数字接口适于生成第一数字I-参数信号并将其提供至所述被测设备的数字I-参数输入端，所述第五测量端口适于生成第一模拟Q-参数信号并将其提供至所述第二数字接口，所述第二数字接口适于生成第一数字Q-参数信号并将其提供至所述被测设备的数字Q-参数输入端，所述第四测量端口适于生成本地振荡器信号并将其提供至所述被测设备的所述本地振荡器输入端，所述第二测量端口适于接收第九模拟测量信号，以及所述处理器适于根据所述第一模拟I-参数信号、所述第一模拟Q-参数信号、所述本地振荡器信号和所述第九模拟测量信号确定所述被测设备的S-参数。因此，可以测量数字I/Q接口作为输入端的设备。
在第一方面的另一优选实现形式中，如果所述第一数字接口连接到所述被测设备的数字I-参数输出端，所述第二数字接口连接到所述被测设备的数字Q-参数输出端，所述第四测量端口连接到所述被测设备的本地振荡器输入端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输入端，所述第四测量端口适于生成本地振荡器信号并将其提供至所述被测设备的所述本地振荡器输入端，所述第二测量端口适于生成第十模拟测量信号并将其提供至所述被测设备的所述射频输入端，所述第一数字接口适于接收第二数字I-参数信号并由第二数字I-参数信号生成第二模拟I-参数信号，所述第二数字接口适于接收第二数字Q-参数信号并由第二数字Q-参数信号生成第二模拟Q-参数信号，所述第一测量端口适于接收所述第二模拟I-参数信号，所述第五测量端口适于接收所述第二模拟Q-参数信号，以及所述处理器适于根据所述第二模拟I-参数信号、所述第二模拟Q-参数信号、所述本地振荡器信号和所述第十模拟测量信号确定待测设备的S-参数。因此，可以处理具有数字I/Q输出接口的被测设备。这显著提高了测量设备的灵活性。
根据本发明的第二方面，提供了一种用于测量被测设备的散射参数的方法。该方法包括：将被测设备连接到矢量网络分析仪的数字接口，将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的测量端口，通过所述数字接口将由第一模拟测量信号生成的数字测量信号提供至所述被测设备，通过所述矢量网络分析仪的所述测量端口测量第二模拟测量信号，所述第二模拟测量信号由所述被测设备生成作为对所述数字测量信号的反应，以及根据所述第一模拟测量信号和所述第二模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。这允许确定具有数字输入端口的被测设备的散射参数。
根据本发明的第三方面，提供了一种用于测量被测设备的散射参数的方法。该方法包括：将被测设备连接到矢量网络分析仪的数字接口，将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第二测量端口，通过所述第二测量端口将第一模拟测量信号提供至所述被测设备，通过第一数字接口接收数字测量信号并由此生成第二模拟测量信号，通过第一测量端口测量所述第二模拟测量信号，以及根据所述第二模拟测量信号和所述第一模拟测量信号确定所述待测设备的S-参数。这允许确定具有数字输出的被测设备的散射参数。这显著提高了测量方法的灵活性。
根据本发明的第四方面，提供了一种用于测量被测设备的散射参数的方法。该方法包括：将被测设备连接到矢量网络分析仪的第一数字接口，将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第二数字接口，将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第一测量端口，将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第二测量端口，通过第三测量端口生成第一模拟同相参数信号，通过所述第一数字接口将从模拟I-参数信号生成的数字I-参数信号提供至所述被测设备，通过第四测量端口生成模拟正交相位参数信号，通过所述第二数字接口将从模拟Q-参数信号生成的数字Q-参数信号提供至所述被测设备，通过所述第四测量端口将本地振荡器信号提供至被测设备，通过所述第二测量端口测量模拟测量信号，以及根据所述模拟测量信号、所述本地振荡器信号、所述模拟I-参数信号和第一模拟Q-参数信号确定所述被测设备的散射参数。这允许测量具有数字I/Q参数输入的被测设备的S-参数。这显著提高了该方法的使用灵活性。
根据本发明的第五方面，提供了一种用于测量被测设备的散射参数的方法。该方法包括：将被测设备连接到矢量网络分析仪的第一数字接口，将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第二数字接口，将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第一测量端口，将所述被测设备连接到网络矢量分析仪的第二测量端口，通过所述第二测量端口将本地振荡器信号提供至所述被测设备，通过所述第一测量端口将模拟测量信号提供至所述被测设备，接收数字同相(I)参数信号并由此确定模拟I-参数信号，接收数字正交相位(Q)参数信号并由此确定模拟Q-参数信号，根据所述第二模拟I-参数信号、模拟正交相位(Q)参数信号、所述本地振荡器信号和所述模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。这允许对具有数字I/Q参数输出的被测设备执行测量。这显著提高了该方法的灵活性。
附图说明
现在仅通过示例参考附图进一步解释本发明的示例性实施方式，其中：
图1示出了普通的矢量网络分析仪；
图2示出了根据本发明的第一方面的矢量网络分析仪的第一实施方式；
图3示出了根据本发明的第一方面的矢量网络分析仪的第二实施方式；
图4示出了根据本发明的第一方面的矢量网络分析仪的第三实施方式；
图5示出了根据本发明的第一方面的矢量网络分析仪的第四实施方式；
图6示出了根据本发明的第一方面的矢量网络分析仪的第五实施方式；
图7示出了根据本发明的第一方面的矢量网络分析仪的第六实施方式；
图8示出了本发明的第二方面的实施方式；
图9示出了本发明的第三方面的实施方式；以及
图10示出了本发明的第四方面的实施方式。
具体实施方式
首先，我们展示了图1中普通的矢量网络分析仪的问题。关于图2至图7，根据本发明的第一方面的矢量网络分析仪的不同实施方式针对其结构和功能进行了详细描述。最后，在图8-图10中，示出了根据本发明的第二、第三和第四方面的测量方法的不同实施方式。部分省略了不同附图中类似的实体和附图标记。
现在将详细参考本发明的优选实施方式，其示例在附图中示出。然而，本发明的以下实施方式可以进行各种修改，并且本发明的范围不受以下实施方式的限制。
在图1中，示出了传统的矢量网络分析仪1。矢量网络分析仪1包括第一测量端口11、第二测量端口12和处理器16，所述处理器16连接到所述第一测量端口11和所述第二测量端口12。重要的是要注意，在此处和下文中，术语测量端口是在整个测量路径的意义上使用的，所述整个测量路径包括对于单个信号的整个信号处理。重要的是要注意，不仅指的是矢量网络分析仪的连接器。
被测设备2连接到第一测量端口11和第二测量端口12。第一测量端口11向被测设备2提供射频信号，所述被测设备2生成射频输出信号作为响应。信号由第二测量端口12测量。处理器16根据第一测量端口11生成的信号和第二测量端口12接收的信号确定被测设备2的散射参数(S-参数)。
第一实施方式
在图2中，示出了本发明的第一方面的实施方式。此处矢量网络分析仪3包括第一测量端口31和第二测量端口32。第一测量端口31还连接到数字接口311，数字接口311接着连接到被测设备2的数字输入端。被测设备2以其射频输出端连接到第二测量端口32。当执行测量时，第一测量端口31生成第一模拟测量信号380并将其提供至数字接口311。数字接口311由此生成第一数字测量信号381并将其提供至被测设备2的数字输入端。被测设备2由此生成由第二测量端口32测量的第二模拟测量信号382。处理器36根据第一模拟测量信号380和第二模拟测量信号382确定被测设备2的S-参数。
第二实施方式
在图3中，示出了本发明的第一方面的矢量网络分析仪的另一实施方式。此处，矢量网络分析仪4包括第一测量端口41、第二测量端口42和第三测量端口43。第一测量端口41连接到耦合器413，耦合器413接着连接到第一测量端口连接器412。而且，耦合器413连接到第一数字接口411，第一数字接口411再次连接到第一数字接口连接器410。第三测量端口43连接到耦合器433，耦合器433连接到第二测量端口连接器432和第二光接口431，耦合器433连接到光接口431，光接口431又连接到第一光接口连接器430。耦合器413将数字接口411和连接器412耦合到第一测量端口41。耦合器433将光接口431和连接器432连接到第三测量端口43。
在此处所示的例子中，第二测量端口42生成模拟测量信号480并将其提供至被测设备2的射频输入端。被测设备2由此生成光测量信号481并通过光接口连接器430将其提供至光接口431。光接口431将该信号转换成模拟测量信号482，所述模拟测量信号482由耦合器433提供至第三测量端口43。模拟测量信号482由第三测量端口43测量。处理器46根据模拟测量信号480和模拟测量信号482确定被测设备2的S-参数。
第三实施方式
在图4中，矢量网络分析仪5包括第一测量端口51、第二端口52、第四测量端口54和第五测量端口55。第一测量端口51连接到耦合器513，所述耦合器513连接到测量端口连接器512和数字接口511，数字接口511接着连接到数字接口连接器510。第五测量端口55连接到耦合器553，耦合器533连接到测量端口连接器552和数字接口551，数字接口551接着连接到数字接口连接器550。所有测量端口51、52、54和55连接到处理器56。
此处，对于具有数字同相(I)-输入端和正交相位(Q)-输入端的被测设备2，测量本地振荡器输入和射频输出。数字接口连接器510将接口511连接到被测设备2的I-信号输入端。数字接口连接器550将数字接口551连接到被测设备2的Q-信号输入端。测量端口54连接到被测设备2的本地振荡器输入端。测量端口52连接到被测设备2的射频输出端。
当执行测量时，第一测量端口51生成模拟I-参数信号580并通过耦合器513将其提供至数字接口511。数字接口由此生成数字I-参数信号584并将其提供至被测设备2。测量端口55生成模拟Q-参数信号581并通过耦合器553将其提供至数字接口551。数字接口551由此生成数字Q-参数信号585并将其提供至被测设备。测量端口54生成本地振荡器信号582并将其提供至被测设备。第二测量端口52测量被测设备2的射频输出信号583。处理器56根据模拟I-参数信号580、模拟Q-参数信号581、本地振荡器信号582和由第二测量端口52测量的模拟测量信号583确定被测设备2的S-参数。
第四实施方式
在图5中，描述了另一矢量网络分析仪6，其包括五个测量端口61-65，每个测量端口连接到联合处理器66。第一测量端口61连接到耦合器613，耦合器613再次连接到数字接口611。第三测量端口63连接到耦合器633，耦合器633接着连接到光接口631。第五测量端口65连接到耦合器653，耦合器653接着连接到数字接口651。
此处，示出了两个数字接口、两个普通测量端口和一个光接口。每个接口优选是双向的。可替选地，接口可以是单向的。测量端口和接口的数量也不应被理解为是受限的。也可以采用一个、两个、三个、四个或更多个数字接口和/或光接口。也可以使用一个、两个、三个、四个、五个、六个、七个、八个、九个、十个或更多个测量端口。
关于图2-5的实施方式，应该注意的是，测量端口的数量不限于所描述的数量。在根据本发明的测量设备内也可以存在6、7、8、9、10个或更多个测量端口。而且，光接口和/或数字接口的数量不限于之前实施方式中所示的数量。可以存在多达测量端口的总数的光接口或数字接口。
可以校准这些测量端口和/或光接口和/或数字接口的全部。
第五实施方式
在图6中，示出了本发明的测量设备7的第五实施方式。此处，测量设备7包括第一测量端口70和第二测量端口73，第一测量端口70连接到光接口71。在此不显示测量设备7的其余部件。然而，它们构造成如图2-图5所示。
在该实施方式中，被测设备是光电二极管72，光电二极管72在其光侧连接到光接口71以及在其电侧连接到第二测量端口73。由于第一测量端口70连同光接口71和第二测量端口73一起被校准，所以可以测量光电二极管72的群延迟。也可以用该设置测量光电二极管72的其他参数。
为了执行这样的测量，测量端口70生成射频信号并将其发送到光接口71。光接口71由此生成光信号并将其发送到光电二极管72。这可以使用光纤或通过气隙发生。光电二极管72生成射频响应信号，然后由测量端口73测量所述射频响应信号。
第六实施方式
在图7中，示出了根据本发明的第一方面的测量设备8的另一实施方式。此处，测量设备8包括测量端口80，测量端口80包括信号发生器81，信号发生器81连接到脉冲发生器82，脉冲发生器82接着连接到耦合器83。测量设备8还包括光接口85，光接口85实际上是连接到第二测量端口86的光电二极管。
当执行测量时，信号发生器81生成射频信号，该射频信号被传送到脉冲发生器82。脉冲发生器82由此生成已知间隔和定时的非常准确地限定的脉冲。这些脉冲被传送到耦合器83。为了测量的目的，耦合器转移一部分信号，并将其余的信号发送到被测设备84，在此被测设备84是光调制器(例如本实施方式中的激光二极管)。
光调制器84接收电脉冲信号并由此生成光输出信号。该光信号被光接口85尤其是光电二极管接收，并被转换成射频信号，该射频信号被第二测量端口86接收。由于第一测量端口80、第二测量端口86和光接口85相对于彼此进行校准，所以可以测量光调制器84的群延迟以及其它参数。
第七实施方式
关于图8，示出了根据本发明的第二方面的测量方法的第一实施方式。在第一步骤500中，被测设备连接到矢量网络分析仪的数字接口。在第二步骤501中，被测设备连接到矢量网络分析仪的另一测量端口。在第三步骤502中，通过第一数字接口将第一数字测量信号供应至被测设备。在第四步骤503中，在矢量网络分析仪的该另一测量端口处测量第二测量信号，该第二测量信号由被测设备产生，作为对接收到第一数字测量信号的反应。在最后的步骤504中，根据第一模拟测量信号和第二模拟测量信号确定被测设备的S-参数。
第八实施方式
在图9中，示出了本发明的第三方面的实施方式。在此示出了与图8相比的反向测量方向。在第一步骤600中，被测设备连接到矢量网络分析仪的数字接口。在第二步骤601中，被测设备连接到矢量网络分析仪的另一测量端口。在第三步骤602中，通过该另一测量端口将第三模拟测量信号供应至被测设备。在第四步骤603中，在数字接口处测量第四数字测量信号。由此确定第四模拟测量信号。在最后的步骤604中，根据第三模拟测量信号和第四模拟测量信号的比较确定被测设备的S-参数。
第九实施方式
在图10中，示出了本发明的第四方面的实施方式。如图4所示，在此示出了具有两个数字输入端口的被测设备的测量。
在第一步骤700中，被测设备连接到矢量网络分析仪的第一数字接口。在第二步骤701中，被测设备连接到矢量网络分析仪的第二数字接口。在第三步骤702中，被测设备连接到矢量网络分析仪的另外的第一测量端口。在第四步骤703中，被测设备连接到矢量网络分析仪的另外的第二测量端口。在第五步骤704中，将第五测量信号提供至第一数字接口。在第六步骤705中，将第六测量信号提供至矢量网络分析仪的第二数字接口。在第七步骤706中，将第七模拟测量信号提供至矢量网络分析仪的该另外的第一测量端口。在第八步骤707中，在矢量网络分析仪的另外的第二测量端口处测量第八模拟测量信号。在最后的第九步骤708中，根据第五、第六、第七和第八模拟测量信号确定被测设备的S-参数。
本发明的实施方式可以通过硬件、软件或其任何组合实现。本发明的各种实施方式可以由一个或多个专用集成电路(application specific integrated circuit，ASIC)、数字信号处理器(digital signal processor，DSP)、数字信号处理设备(digital signalprocessing device，DSPD)、可编程逻辑器件(programmable logic device，PLD)、现场可编程门阵列(field programmable gate array，FPGA)、处理器、控制器、微控制器、微处理器等实现。
本发明的各种实施方式还可以以执行所描述的上述特征或操作的软件模块、方法、功能等的形式实现。软件代码可以存储在存储器单元中，使得其可以由处理器执行。存储器单元可以位于处理器内部或外部，并且可以通过各种已知手段与处理器通信。
示例性实施方式的特征可以以任意组合使用。尽管已经详细描述了本发明及其优点，但应该理解的是，在不脱离由所附权利要求限定的本发明的精神和范围的情况下，在此可以做出各种改变、替换和变更。
Claims (15)
1.一种矢量网络分析仪，包括：
第一测量端口，
第一数字接口，所述第一数字接口连接到所述第一测量端口，所述第一数字接口适于连接到被测设备的数字输入端或数字输出端，
第二测量端口，所述第二测量端口适于连接到所述被测设备的射频输入端或射频输出端，
处理器，所述处理器适于基于被发送到所述被测设备并且由所述第一测量端口和所述第二测量端口从所述被测设备接收的测量信号确定所述被测设备的散射参数。
2.如权利要求1所述的矢量网络分析仪，
其中，如果所述第一数字接口连接到所述被测设备的数字输入端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输出端，则
-所述第一测量端口适于生成第一模拟测量信号并将所述第一模拟测量信号提供至所述第一数字接口，
-所述第一数字接口适于根据所述第一模拟测量信号生成第一数字测量信号，
-所述第一数字接口适于将所述第一数字测量信号提供至所述被测设备的所述数字输入端，
-所述第二测量端口适于接收来自所述被测设备的第二模拟测量信号，所述第二模拟测量信号由所述被测设备基于所述第一数字测量信号生成，以及
-所述处理器适于根据所述第一模拟测量信号和所述第二模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。
3.如权利要求1或2所述的矢量网络分析仪，
其中，如果所述第一数字接口连接到所述被测设备的数字输出端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输入端，则
-所述第二测量端口适于生成第三模拟测量信号并将所述第三模拟测量信号提供至所述被测设备的所述射频输入端，
-所述第一数字接口适于接收第二数字测量信号，所述第二数字测量信号由所述被测设备基于所述第三模拟测量信号生成，
-所述第一数字接口适于基于所述第二数字测量信号生成第四模拟测量信号，以及
-所述处理器适于根据所述第三模拟测量信号和所述第四模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。
4.如权利要求1至3中任一项所述的矢量网络分析仪，
其中，所述测量设备还包括：
-第一测量端口连接器，所述第一测量端口连接器适于将所述被测设备的所述射频输入端或射频输出端连接到所述第一测量端口，
-第一数字接口连接器，所述第一数字接口连接器适于将所述被测设备的所述数字输入端或数字输出端连接到所述第一数字接口，以及
-耦合器，所述耦合器适于将所述第一测量端口连接到所述第一测量端口连接器和所述第一数字接口连接器。
5.如权利要求1至4中任一项所述的矢量网络分析仪，
其中，所述测量设备还包括：
-第三测量端口，和
-第一光接口，所述第一光接口连接到所述第三测量端口，所述第一光接口适于连接到所述被测设备的光输入端或光输出端，
其中，所述处理器适于基于被发送到所述被测设备并且由所述第一测量端口和/或所述第二测量端口和/或所述第三测量端口从所述被测设备接收的测量信号确定所述被测设备的散射参数。
6.如权利要求5所述的矢量网络分析仪，
其中，如果所述第一光接口连接到所述被测设备的所述光输入端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输出端，则
-所述第三测量端口适于生成第五模拟测量信号并将所述第五模拟测量信号提供至所述第一光接口，
-所述第一光接口适于根据所述第五模拟测量信号生成第一光测量信号，
-所述第一光接口适于将所述第一光测量信号提供至所述被测设备的所述光输入端，
-所述第二测量端口适于接收来自所述被测设备的第六模拟测量信号，所述第六模拟测量信号由所述被测设备基于所述第一光测量信号生成，以及
-所述处理器适于根据所述第五模拟测量信号和所述第六模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。
7.如权利要求5或6所述的矢量网络分析仪，
其中，如果所述第一光接口连接到所述被测设备的光输出端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输入端，则
-所述第二测量端口适于生成第七模拟测量信号并将所述第七模拟测量信号提供至所述被测设备的所述射频输入端，
-所述第一光接口适于接收第二光测量信号，所述第二光测量信号由所述被测设备基于所述第七模拟测量信号生成，
-所述第一光接口适于基于所述第二光测量信号生成第八模拟测量信号，以及
-所述处理器适于根据所述第七模拟测量信号和所述第八模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。
8.如权利要求5至7中任一项所述的矢量网络分析仪，
其中，所述测量设备还包括：
-第二测量端口连接器，所述第二测量端口连接器适于将所述被测设备的所述射频输入端或射频输出端连接到所述第三测量端口，
-第一光接口连接器，所述第一光接口连接器适于将所述被测设备的所述数字输入端或数字输出端连接到所述第一光接口，以及
-另一耦合器，所述另一耦合器适于将所述第三测量端口连接到所述第二测量端口连接器和所述第一光接口连接器。
9.如权利要求1至8中任一项所述的矢量网络分析仪，
其中，所述矢量网络分析仪包括：
-第四测量端口，所述第四测量端口适于连接到所述被测设备的另一射频输入端或射频输出端，
-第五测量端口，
-第二数字接口，所述第二数字接口连接到所述第五测量端口，所述第二数字接口适于连接到所述被测设备的另一数字输入端或数字输出端，
其中，所述处理器适于基于发送到所述被测设备并且由所述第一测量端口、所述第二测量端口和所述第四测量端口从所述被测设备接收的测量信号来确定所述被测设备的散射参数。
10.如权利要求9所述的矢量网络分析仪，
其中，如果所述第一数字接口连接到所述被测设备的数字同相(I)-参数输入端，并且所述第二数字接口连接到所述被测设备的数字正交相位(Q)-参数输入端，并且所述第四测量端口连接到所述被测设备的本地振荡器输入端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输出端，则：
-所述第一测量端口适于生成第一模拟I-参数信号并将所述第一模拟I-参数信号提供至所述第一数字接口，
-所述第一数字接口适于生成第一数字I-参数信号并将所述第一数字I-参数信号提供至所述被测设备的数字I-参数输入端，
-所述第五测量端口适于生成第一模拟Q-参数信号并将所述第一模拟Q-参数信号提供至所述第二数字接口，
-所述第二数字接口适于生成第一数字Q-参数信号并将所述第一数字Q-参数信号提供至所述被测设备的数字Q-参数输入端，
-所述第四测量端口适于生成本地振荡器信号并将所述本地振荡器信号提供至所述被测设备的所述本地振荡器输入端，
-所述第二测量端口适于接收第九模拟测量信号，以及
-所述处理器适于根据所述第一模拟I-参数信号、所述第一模拟Q-参数信号、所述本地振荡器信号和所述第九模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。
11.如权利要求9或10所述的矢量网络分析仪，
其中，如果所述第一数字接口连接到所述被测设备的数字I-参数输出端，并且所述第二数字接口连接到所述被测设备的数字Q-参数输出端，并且所述第四测量端口连接到所述被测设备的本地振荡器输入端，并且所述第二测量端口连接到所述被测设备的射频输入端，则：
-所述第四测量端口适于生成本地振荡器信号并将所述本地振荡器信号提供至所述被测设备的所述本地振荡器输入端，
-所述第二测量端口适于生成第十模拟测量信号并将所述第十模拟测量信号提供至所述被测设备的所述射频输入端，
-所述第一数字接口适于接收第二数字I-参数信号并根据所述第二数字I-参数信号生成第二模拟I-参数信号，
-所述第二数字接口适于接收第二数字Q-参数信号并根据所述第二数字Q-参数信号生成第二模拟Q-参数信号，
-所述第一测量端口适于接收所述第二模拟I-参数信号，
-所述第五测量端口适于接收所述第二模拟Q-参数信号，以及
-所述处理器适于根据所述第二模拟I-参数信号、所述第二模拟Q-参数信号、所述本地振荡器信号和所述第十模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。
12.一种用于测量被测设备的散射参数的方法，包括以下步骤：
-将被测设备连接到矢量网络分析仪的数字接口，
-将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的测量端口，
-通过所述数字接口将根据第一模拟测量信号生成的数字测量信号提供至所述被测设备，
-通过所述矢量网络分析仪的所述测量端口测量第二模拟测量信号，所述第二模拟测量信号由所述被测设备生成作为对所述数字测量信号的反应，以及
-根据所述第一模拟测量信号和所述第二模拟测量信号确定所述待测设备的散射参数。
13.一种用于测量被测设备的散射参数的方法，包括以下步骤：
-将被测设备连接到矢量网络分析仪的数字接口，
-将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的测量端口，
-通过所述测量端口将第一模拟测量信号提供至所述被测设备，
-通过所述第一数字接口接收数字测量信号并根据所述数字测量信号生成第二模拟测量信号，
-通过所述第一测量端口测量所述第二模拟测量信号，以及
-根据所述第二模拟测量信号和所述第一模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。
14.一种用于测量被测设备的散射参数的方法，包括以下步骤：
-将被测设备连接到矢量网络分析仪的第一数字接口，
-将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第二数字接口，
-将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第一测量端口，
-将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第二测量端口，
-通过第三测量端口生成第一模拟同相参数信号，
-通过所述第一数字接口将根据所述模拟I-参数信号生成的数字I-参数信号提供至所述被测设备，
-通过第四测量端口生成模拟正交相位参数信号，
-通过所述第二数字接口将根据所述模拟Q-参数信号生成的数字Q-参数信号提供至所述被测设备，
-通过所述第四测量端口将本地振荡器信号提供至所述被测设备，
-通过所述第二测量端口测量模拟测量信号，以及
-根据所述模拟测量信号、所述本地振荡器信号、所述模拟I-参数信号和所述第一模拟Q-参数信号确定所述被测设备的散射参数。
15.一种用于测量被测设备的散射参数的方法，包括以下步骤：
-将被测设备连接到矢量网络分析仪的第一数字接口，
-将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第二数字接口，
-将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第一测量端口，
-将所述被测设备连接到所述矢量网络分析仪的第二测量端口，
-通过所述第二测量端口将本地振荡器信号提供至所述被测设备，
-通过所述第一测量端口将模拟测量信号提供至所述被测设备，
-接收数字同相(I)参数信号并根据所述数字同相(I)参数信号确定模拟同相(I)参数信号，
-接收数字正交相位(Q)参数信号并根据所述数字正交相位(Q)参数信号确定模拟Q参数信号，
-根据所述模拟同相(I)参数信号、所述模拟正交相位(Q)参数信号、所述本地振荡器信号和所述模拟测量信号确定所述被测设备的散射参数。
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|---|---|---|---|
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| US15/898,874 | 2018-02-19 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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|---|---|---|---|
| CN201810402583.9A Active CN109406884B (zh) | 2017-08-18 | 2018-04-28 | 具有数字接口的矢量网络分析仪 |
Country Status (3)
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|---|---|
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| EP (1) | EP3444622B8 (zh) |
| CN (1) | CN109406884B (zh) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106468739A (zh) * | 2015-08-14 | 2017-03-01 | 特克特朗尼克公司 | 供相位稳定仪器之用的不稳定信号源的同步 |
| CN113791285A (zh) * | 2021-08-23 | 2021-12-14 | 电子科技大学 | 一种无参考接收机的矢量网络分析仪 |
| CN115021834A (zh) * | 2022-06-01 | 2022-09-06 | 电子科技大学 | 基于数字矢网的数字相控阵校准和测试方法 |
| CN116593874A (zh) * | 2023-07-17 | 2023-08-15 | 宁波吉品科技有限公司 | 芯片测试方法 |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3951405B1 (en) * | 2020-08-07 | 2024-07-31 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. KG | Measurement system and measurement method |
| CN113641545B (zh) | 2021-10-14 | 2022-02-08 | 南京宏泰半导体科技有限公司 | 一种数字测试向量自动学习方法及系统 |
| CN115356541B (zh) * | 2022-07-04 | 2023-09-05 | 广东健博通科技股份有限公司 | 多端口天线散射参数测量方法 |
| US12313666B2 (en) * | 2023-05-10 | 2025-05-27 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Method and device for early warning of device under test failure during an electromagnetic compatibility test |
| US20250290972A1 (en) * | 2024-03-13 | 2025-09-18 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Test and measurement instrument, test and measurement setup and method of measuring a device under test |
Citations (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1181562A2 (en) * | 1999-02-02 | 2002-02-27 | Com Dev Limited | Scattering parameter calibration system and method |
| US20060066289A1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-03-30 | Hassan Tanbakuchi | Method and apparatus for measuring a digital device |
| US7359814B1 (en) * | 2000-02-07 | 2008-04-15 | Advantest | Multi-port analysis apparatus and method and calibration method thereof |
| JP2008164418A (ja) * | 2006-12-28 | 2008-07-17 | Campus Create Co Ltd | ベクトルネットワークアナライザ及びこれを用いた測定方法並びにプログラム |
| US20080317171A1 (en) * | 2007-06-19 | 2008-12-25 | Roger Lee Jungerman | Impulse Calibration Of An IQ Demodulator And Low Frequency DC-Coupled Cross-Over Network |
| CN102187233A (zh) * | 2008-10-20 | 2011-09-14 | 罗森伯格高频技术有限及两合公司 | 用于确定散射参数的测量系统 |
| CN103809056A (zh) * | 2014-02-14 | 2014-05-21 | 南京捷希科技有限公司 | S参数和无源互调综合测试系统 |
| CN104111164A (zh) * | 2014-07-23 | 2014-10-22 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于矢量网络分析仪的光波元器件测试的校准方法 |
| CN104202085A (zh) * | 2014-08-28 | 2014-12-10 | 北京邮电大学 | 一种光通信中的矢量网络分析仪及其使用方法 |
| CN104204840A (zh) * | 2012-03-27 | 2014-12-10 | 罗森伯格高频技术有限及两合公司 | 矢量网络分析仪 |
| CN104429002A (zh) * | 2012-05-16 | 2015-03-18 | 瑞典爱立信有限公司 | 确定光通信网络中的光通信路径的特性 |
| US20150084656A1 (en) * | 2013-09-25 | 2015-03-26 | Tektronix, Inc. | Two port vector network analyzer using de-embed probes |
| CN104849585A (zh) * | 2015-04-16 | 2015-08-19 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 基于矢量网络分析仪的光器件s参数测量系统及方法 |
| CN105230119A (zh) * | 2013-05-21 | 2016-01-06 | 高知有限公司 | Rf处理系统的校准 |
| CN105281829A (zh) * | 2015-09-23 | 2016-01-27 | 中国科学院半导体研究所 | 基于萨格纳克环的光矢量网络分析仪装置 |
| CN105490760A (zh) * | 2014-10-06 | 2016-04-13 | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 | 用于至少提供射频信号参数的变频传感器和系统 |
| CN105846918A (zh) * | 2016-05-24 | 2016-08-10 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种模块化多端口散射参数测试装置及方法 |
Family Cites Families (42)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5175492A (en) * | 1989-08-08 | 1992-12-29 | Hewlett-Packard Company | Calibration and error correction for electrical-source-to-e/o-device impedance mismatch and o/e-device-to-electrical-receiver impedance mismatch in a lightwave component analyzer |
| US5191294A (en) * | 1990-04-02 | 1993-03-02 | Wiltron Company | Measuring noise figure and y-factor |
| US6347382B1 (en) * | 1998-11-30 | 2002-02-12 | Advantest Corp. | Multi-port device analysis apparatus and method |
| US6411252B1 (en) * | 1999-06-25 | 2002-06-25 | Anritsu Company | Narrow band millimeter wave VNA for testing automotive collision avoidance radar components |
| US6920407B2 (en) * | 2000-09-18 | 2005-07-19 | Agilent Technologies, Inc. | Method and apparatus for calibrating a multiport test system for measurement of a DUT |
| JP2004512504A (ja) * | 2000-09-18 | 2004-04-22 | アジレント・テクノロジーズ・インク | 複数端子不平衡又は平衡装置の線形同定方法及び装置 |
| JP2002296329A (ja) | 2001-03-30 | 2002-10-09 | Agilent Technologies Japan Ltd | 集積回路の試験装置 |
| US20040066857A1 (en) * | 2002-10-02 | 2004-04-08 | Radha Srinivasan | Reducing I/Q imbalance through image rejection |
| US7409617B2 (en) * | 2004-09-30 | 2008-08-05 | Credence Systems Corporation | System for measuring characteristics of a digital signal |
| US7509107B2 (en) * | 2005-01-05 | 2009-03-24 | Anritsu Company | Method and apparatus for extending the lower frequency operation of a sampler based VNA |
| US7831222B1 (en) * | 2006-02-24 | 2010-11-09 | Clear Channel Management Services, Inc. | Method and apparatus for improving the isolation characteristics of HD radio combiners |
| DE102006035827B4 (de) * | 2006-03-15 | 2021-12-23 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur vektoriellen Messung der Streuparameter von frequenzumsetzenden Schaltungen |
| US7518353B2 (en) * | 2006-04-07 | 2009-04-14 | Agilent Technologies, Inc. | Vector network analysis system and method using offset stimulus signals |
| US20080020726A1 (en) * | 2006-07-14 | 2008-01-24 | Blackham David V | N-port signal separation apparatus with improved frequency selectivity and dynamic range |
| US8508237B2 (en) | 2007-12-20 | 2013-08-13 | Agilent Technologies, Inc. | Network analyzer calibrator having electrical and electrooptical components |
| US20090216468A1 (en) * | 2008-02-21 | 2009-08-27 | Keith Frederick Anderson | Dual Mode Vector Network Analyzer |
| CA2722161C (en) * | 2008-04-21 | 2016-05-24 | Anteverta-Mw B.V. | Open loop load pull arrangement with determination of injections signals |
| US8180433B2 (en) * | 2008-09-30 | 2012-05-15 | Vivant Medical, Inc. | Microwave system calibration apparatus, system and method of use |
| US8378693B2 (en) * | 2008-10-27 | 2013-02-19 | National Instruments Corporation | Vector network analyzer (VNA) on a chip |
| DE102010004726A1 (de) * | 2009-01-15 | 2010-07-22 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren und Netzwerkanalysator zur Messung der Gruppenlaufzeit in einem Messobjekt |
| CN102545935B (zh) * | 2011-12-08 | 2014-07-02 | 南京航空航天大学 | 射频仿真系统校准接收装置及射频仿真系统校准接收方法 |
| DE102013200033B4 (de) * | 2012-10-10 | 2023-06-15 | Rohde & Schwarz GmbH & Co. Kommanditgesellschaft | Verfahren und System zur Bestimmung von Streuparametern eines frequenzumsetzenden Messobjekts |
| US9575107B2 (en) * | 2013-04-25 | 2017-02-21 | Minus174, Llc | Electronic arrangement and vector network analyzer characterized by reduced phase noise |
| CN103605024B (zh) * | 2013-11-15 | 2017-02-15 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于usb接口的多端口s参数测试装置 |
| CN103618569B (zh) * | 2013-11-25 | 2016-03-02 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种矢量网络分析仪的中频处理系统及中频处理方法 |
| US9236836B2 (en) * | 2013-12-24 | 2016-01-12 | Keysight Technologies, Inc. | Signal processing for digital network analyzer |
| CN106062568B (zh) * | 2014-03-07 | 2020-02-07 | 是德科技股份有限公司 | 双向电光探测器 |
| US9609653B2 (en) * | 2014-10-15 | 2017-03-28 | National Instruments Corporation | Spectral stitching method to increase instantaneous bandwidth in vector signal generators |
| US10191098B2 (en) * | 2015-07-13 | 2019-01-29 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Electronic measurement device and method for operating an electronic measurement device |
| DE102015214289B3 (de) | 2015-07-28 | 2016-09-29 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vektorieller Netzwerkanalysator |
| US9735900B2 (en) * | 2015-10-14 | 2017-08-15 | Keysight Technologies, Inc. | Hybrid multimode network analyzer |
| US10365345B1 (en) * | 2015-12-02 | 2019-07-30 | Anritsu Company | Calibration device for use with measurement instruments |
| US10225073B1 (en) * | 2016-02-26 | 2019-03-05 | Anritsu Company | System and method for continuous acquisition of data during frequency and power sweeps with coherent measurement |
| WO2017223149A1 (en) * | 2016-06-21 | 2017-12-28 | The Regents Of The University Of California | Single-shot network analyzer (sina) |
| US9967041B1 (en) * | 2016-10-16 | 2018-05-08 | Ambit Microsystems (Shanghai) Ltd. | Multi-antenna noise power measuring method and apparatus |
| CN206161743U (zh) * | 2016-11-11 | 2017-05-10 | 南京鑫轩电子系统工程有限公司 | 一种数字阵列天线的通道特性测试及配相校准系统 |
| CN106788792A (zh) * | 2016-11-24 | 2017-05-31 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种应用于矢量网络分析仪的宽频带多通道功率控制方法 |
| US10534027B2 (en) * | 2017-01-17 | 2020-01-14 | Fluke Corporation | Phase coherent main and remote units of a network analyzer |
| US10514436B2 (en) * | 2017-03-03 | 2019-12-24 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Test device, remote measurement module and test method |
| US10454600B2 (en) * | 2017-04-13 | 2019-10-22 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Method for measuring group delay on a device under test, measurement device as well as measurement system |
| US20190072594A1 (en) * | 2017-09-04 | 2019-03-07 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Vector network analyzer and measuring method for frequency converting measurements |
| US10684317B2 (en) * | 2017-09-04 | 2020-06-16 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Vector network analyzer and measuring method for frequency-converting measurements |
-
2018
- 2018-02-19 US US15/898,874 patent/US11041894B2/en active Active
- 2018-03-20 EP EP18162710.0A patent/EP3444622B8/en active Active
- 2018-04-28 CN CN201810402583.9A patent/CN109406884B/zh active Active
-
2021
- 2021-03-18 US US17/205,740 patent/US11630141B2/en active Active
-
2023
- 2023-03-14 US US18/183,721 patent/US12196794B2/en active Active
Patent Citations (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1181562A2 (en) * | 1999-02-02 | 2002-02-27 | Com Dev Limited | Scattering parameter calibration system and method |
| US7359814B1 (en) * | 2000-02-07 | 2008-04-15 | Advantest | Multi-port analysis apparatus and method and calibration method thereof |
| US20060066289A1 (en) * | 2004-09-30 | 2006-03-30 | Hassan Tanbakuchi | Method and apparatus for measuring a digital device |
| JP2008164418A (ja) * | 2006-12-28 | 2008-07-17 | Campus Create Co Ltd | ベクトルネットワークアナライザ及びこれを用いた測定方法並びにプログラム |
| US20080317171A1 (en) * | 2007-06-19 | 2008-12-25 | Roger Lee Jungerman | Impulse Calibration Of An IQ Demodulator And Low Frequency DC-Coupled Cross-Over Network |
| CN102187233A (zh) * | 2008-10-20 | 2011-09-14 | 罗森伯格高频技术有限及两合公司 | 用于确定散射参数的测量系统 |
| CN104204840A (zh) * | 2012-03-27 | 2014-12-10 | 罗森伯格高频技术有限及两合公司 | 矢量网络分析仪 |
| CN104429002A (zh) * | 2012-05-16 | 2015-03-18 | 瑞典爱立信有限公司 | 确定光通信网络中的光通信路径的特性 |
| CN105230119A (zh) * | 2013-05-21 | 2016-01-06 | 高知有限公司 | Rf处理系统的校准 |
| US20150084656A1 (en) * | 2013-09-25 | 2015-03-26 | Tektronix, Inc. | Two port vector network analyzer using de-embed probes |
| CN103809056A (zh) * | 2014-02-14 | 2014-05-21 | 南京捷希科技有限公司 | S参数和无源互调综合测试系统 |
| CN104111164A (zh) * | 2014-07-23 | 2014-10-22 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于矢量网络分析仪的光波元器件测试的校准方法 |
| CN104202085A (zh) * | 2014-08-28 | 2014-12-10 | 北京邮电大学 | 一种光通信中的矢量网络分析仪及其使用方法 |
| CN105490760A (zh) * | 2014-10-06 | 2016-04-13 | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 | 用于至少提供射频信号参数的变频传感器和系统 |
| CN104849585A (zh) * | 2015-04-16 | 2015-08-19 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 基于矢量网络分析仪的光器件s参数测量系统及方法 |
| CN105281829A (zh) * | 2015-09-23 | 2016-01-27 | 中国科学院半导体研究所 | 基于萨格纳克环的光矢量网络分析仪装置 |
| CN105846918A (zh) * | 2016-05-24 | 2016-08-10 | 中国电子科技集团公司第四十研究所 | 一种模块化多端口散射参数测试装置及方法 |
Non-Patent Citations (3)
| Title |
|---|
| A. HENZE 等: "1 GHz automatic 2-Port Vector Network Analyzer using common laboratory instruments", 《2014 IEEE INTERNATIONAL INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT TECHNOLOGY CONFERENCE (I2MTC) PROCEEDINGS》 * |
| PEDRO CRUZ 等: "Mixed analog-digital instrumentation for software-defined-radio characterization", 《2008 IEEE MTT-S INTERNATIONAL MICROWAVE SYMPOSIUM DIGEST》 * |
| 杨亮 等: "一种多功能天线快速测量系统", 《2017年全国微波毫米波会议论文集（下册）》 * |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106468739A (zh) * | 2015-08-14 | 2017-03-01 | 特克特朗尼克公司 | 供相位稳定仪器之用的不稳定信号源的同步 |
| CN113791285A (zh) * | 2021-08-23 | 2021-12-14 | 电子科技大学 | 一种无参考接收机的矢量网络分析仪 |
| CN115021834A (zh) * | 2022-06-01 | 2022-09-06 | 电子科技大学 | 基于数字矢网的数字相控阵校准和测试方法 |
| CN115021834B (zh) * | 2022-06-01 | 2023-02-24 | 电子科技大学 | 基于数字矢网的数字相控阵校准和测试方法 |
| CN116593874A (zh) * | 2023-07-17 | 2023-08-15 | 宁波吉品科技有限公司 | 芯片测试方法 |
| CN116593874B (zh) * | 2023-07-17 | 2023-10-13 | 宁波吉品科技有限公司 | 芯片测试方法 |
Also Published As
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