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CN109239955A - 一种显示面板的测量方法、系统及显示装置 - Google Patents

一种显示面板的测量方法、系统及显示装置 Download PDF

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CN109239955A
CN109239955A CN201811386245.7A CN201811386245A CN109239955A CN 109239955 A CN109239955 A CN 109239955A CN 201811386245 A CN201811386245 A CN 201811386245A CN 109239955 A CN109239955 A CN 109239955A
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brightness
display
efficiency
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宋振莉
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HKC Co Ltd
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Abstract

本申请提供一种显示面板的测量方法、系统及显示装置，所述测量方法包括：确定显示面板上符合预设条件的目标位置；在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息；根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率。本申请实施例解决常规测量方法需要多次拆卸模组或重新粘贴偏振片，测量过程繁琐且时间较长，导致数据的准确性、可信性较低且工作效率低的问题；加快了显示面板的测量工作的效率，以及提高了显示面板的测量的准确度。

Description

一种显示面板的测量方法、系统及显示装置
技术领域
本申请实施例属于显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的测量方法、系统及显示装置。
背景技术
随着液晶显示技术的不断发展，液晶面板因其良好的显示效果在电视机、大型会场的显示屏幕、PC(personal computer，个人计算机)机显示器等领域应用广泛。目前，常用的液晶面板显示模式包括：扭曲向列模式面板(TwistedNematic，简写TN)，平面转换模式面板(InPlaneSwitching，简称IPS)以及垂直配向模式面板(Vertical Alignment，简称VA)。
由于液晶分子在其长轴和短轴上的电子云密度分布不均，造成液晶分子在光学和电学上的存在各向异性；在整个显示过程中，液晶起到电压控制的光阀作用，直接影响光的穿透率。常规的显示面板的测量方法需要多次拆卸模组或重新粘贴偏振片，测量过程繁琐且时间较长，导致数据的准确性、可信性较低且工作效率低。
申请内容
本申请实施例提供一种显示面板的测量方法、系统及显示装置，旨在解决常规测量方法需要多次拆卸模组或重新粘贴偏振片，测量过程繁琐且时间较长，导致数据的准确性、可信性较低且工作效率低的问题。
本申请实施例提供一种显示面板的测量方法，应用于显示面板，所述测量方法包括：
确定显示面板上符合预设条件的目标位置；
在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息；
根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率。
在一个实施例中，所述确定显示面板上符合预设条件的目标位置，包括：
确定显示面板上的第一目标位置和第二目标位置，所述第一目标位置与所述第二目标位置的连线与行子像素平行，所述第一目标位置与所述第二目标位置之间的距离满足第一条件。
在一个实施例中，所述根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率，包括：
根据第一目标位置的亮度信息计算所述第一目标位置对应的第一显示效率；
根据第二目标位置的亮度信息计算所述第二目标位置对应的第二显示效率；
计算所述第一显示效率与所述第二显示效率的平均值，获取显示面板的显示效率。
在一个实施例中，所述在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息，包括：
测量所述第一目标位置处的第一背光亮度和第一显示面板亮度；其中，所述第一背光亮度为去除液晶面板时的第一目标位置处的背光亮度，第一显示面板亮度为显示面板保留上偏光片和下偏光片时的显示面板的亮度；
测量所述第二目标位置处的第二背光亮度和第二显示面板亮度；其中，所述第二背光亮度为去除液晶面板时时的第二目标位置处的背光亮度，第二显示面板亮度为显示面板保留上偏光片和下偏光片时的显示面板的亮度；
测量所述第一目标位置处的第三显示面板亮度；其中，所述第三显示面板亮度为显示面板去除所述第一位置处的上偏光片时的显示面板亮度；
测量所述第二目标位置处的第四显示面板亮度；其中，所述第四显示面板亮度为显示面板去除第二目标位置处的下偏光片时的显示面板亮度；
测量第一目标位置处的第五显示面板亮度；其中，所述第五显示面板亮度为显示面板去除第一目标位置处的上偏光片和下偏光片时的显示面板亮度；
测量第二目标位置处的第六显示面板亮度；其中，所述第六显示面板亮度为显示面板去除第二目标位置处的上偏光片和下偏光片时的显示面板亮度。
在一个实施例中，所述根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率，包括：
根据所述第一背光亮度和所述第一显示面板亮度计算第一穿透率；
根据所述第一背光亮度和所述第三显示面板亮度计算第二穿透率；
根据所述第二背光亮度和所述第四显示面板亮度计算第三穿透率；
根据所述第一背光亮度和所述第五显示面板亮度计算第四穿透率；
根据所述第二背光亮度和所述第二显示面板亮度计算第五穿透率；
根据所述第二背光亮度和所述第六显示面板亮度计算第六穿透率；
根据所述第一穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率、所述第四穿透率计算所述第一目标位置对应的显示效率；
根据所述第五穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率、所述第六穿透率计算所述第二目标位置对应的显示效率。
在一个实施例中，所述根据所述第一穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率和所述第四穿透率计算所述第一目标位置对应的显示效率，计算公式为：
其中，ηLC，1为第一目标位置对应的显示效率，T1为第一穿透率，T2为第二穿透率，T3为第三穿透率，T4为第四穿透率；
根据所述第五穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率、所述第六穿透率计算所述第二目标位置对应的显示效率，计算公式为：
其中，ηLC，2为第二目标位置对应的显示效率，T5为第五穿透率，T2为第二穿透率，T3为第三穿透率，T6为第六穿透率；
根据所述第一目标位置对应的显示效率和所述第一目标位置对应的显示效率计算显示面板的显示效率，计算公式为：
其中，ηLC为显示面板的显示效率。
在一个实施例中，所述在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息，包括：
测量所述目标位置处的背光亮度和所述显示面板的亮度。
在一个实施例中，在测量所述目标位置处的背光亮度和所述显示面板的亮度之后，包括：
根据所述目标位置处的背光亮度和所述显示面板的亮度计算所述目标位置处的光穿透率；
根据所述目标位置处的光穿透率计算所述目标位置对应的显示效率。
本申请实施例还提供一种显示面板的测量系统，包括：
目标位置确定单元，用于确定显示面板上符合预设条件的目标位置；
亮度信息测量单元，用于在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息；
显示效率计算单元，用于根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率。
本申请实施例还提供一种显示装置，其特征在于，包括显示面板、存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述显示面板的测量方法的步骤。
本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现上述显示面板的测量方法的步骤。
本申请实施例通过确定符合预设条件的目标位置，在固定外加电压下，测量目标位置的亮度信息，并根据亮度信息计算显示面板的显示效率，解决了常规测量方法需要多次拆卸模组或重新粘贴偏振片，测量过程繁琐且时间较长，导致数据的准确性、可信性较低且工作效率低的问题；加快了显示面板的测量工作的效率，以及提高了显示面板的测量的准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请的一个范例提供的一种显示面板的结构示意图；
图2是本申请的一个实施例提供的显示面板的测量方法的流程示意图；
图3是本申请的一个实施例提供的目标位置的示意图；
图4是本申请的一个实施例提供的测量不同亮度信息时显示面板的结构示意图；
图5是本申请的一个实施例提供的测量不同亮度信息时显示面板的另一结构示意图；
图6是本申请的一个实施例提供的测量不同亮度信息时显示面板的另一结构示意图；
图7是本申请的一个实施例提供的显示面板的测量系统的结构示意图；
图8是本申请的一个实施例提供的显示装置的结构框图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本申请保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含一系列步骤或单元的过程、方法或系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。此外，术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而非用于描述特定顺序。
如图1所示，本申请的一个范例提供一种显示面板的结构示意图，其包括上偏光片110，下偏光片120，液晶面板130和背光模组140，还包括：彩色滤光玻璃150，阵列玻璃160；所述彩色滤光玻璃150设置于上偏光片110与液晶面板130之间，所述液晶面板130设置于彩色滤光玻璃150与阵列玻璃160之间，所述下偏光片120设置于阵列玻璃160下方，所述背光模组设置于下偏光片下方。
在一个实施例中，以垂直配向模式液晶显示面板为例，显示面板在不加电压时，液晶不会偏转，光线经过液晶面板不会发生偏方向的改变，由于上下偏光片的透光方向互相垂直，通过上下偏光片后呈暗态；在施加电压后，液晶在电场的作用下沿配向方向发生偏转，产生偏振光，通过上下偏光片后呈亮态。在整个过程中，液晶面板起到一个电压控制的光阀作用，对光的穿透率的影响至关重要，因此液晶影响着显示面板的显示效率。
如图2所示，本申请的一个实施例提供一种显示面板的测量方法，应用于显示面板，所述显示面板可以包括：上偏光片、下偏光片、液晶面板和背光模组；所述测量方法包括：
步骤S10：确定显示面板上符合预设条件的目标位置。
在一个实施例中，目标位置的确定，可以选择显示面板中心位置处的一个点作为目标位置，也可以选择靠近中心位置的两个点或四个点，两个点或四个点的连线与行子像素平行；所述的预设条件包括：若选择一点作为目标位置，则选择距离显示面板中心点为小于或等于第一距离的位置处；若选择两个点或者多个点，则所选择的点在一条线上，并且所有点的连线与像素阵列的行子像素平行，显示面板的中心点位于所有点的连线上，或者位于连线的延长线上，或者连线距离显示面板中心点的距离小于或等于第二距离；其中，第一距离和第二距离可以根据显示面板像素阵列情况进行设定，距离越小越好。如图3所示，以两个点A、B为例，由于显示面板的亮度可能存在亮度不均，所以选择两个点之间距离越小越好；由于背光模组的发光源为平行于行子像素的行设置方式，因此选择的两个点必须在同一水平线上，消除背光的影响，具体两个点目标位置的确定也可以依据背光模组的发光源的设置方式而定。
在一个实施例中，步骤S10包括：
确定显示面板上第一目标位置和第二目标位置，所述第一目标位置与所述第二目标位置的连线与行子像素平行，所述第一目标位置与所述第二目标位置之间的距离满足第一条件。
在一个实施例中，第一目标位置与第二目标位置的连线与行子像素平行，确保两个目标位置不受背光模组亮度的影响。
步骤S20：在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息。
在一个实施例中，外加电压是固定的值，使液晶保持在相同状态下，进行亮度信息的测量；可以选取255灰阶状态测量亮度信息；在进行亮度测量过程中，所述背光模组的亮度保持不变。
在一个实施例中，步骤S20包括：
测量所述目标位置处的背光亮度和显示面板的亮度。
在一个实施例中，所述背光亮度为背光源法向亮度，显示面板亮度为面板出射的法向亮度。
在一个实施例中，在测量所述目标位置处的背光亮度和所述显示面板的亮度之后，包括：
根据所述目标位置处的背光亮度和所述显示面板的亮度计算所述目标位置处的光穿透率；
根据所述目标位置处的光穿透率计算所述目标位置对应的显示效率。
在一个实施例中，穿透率的计算公式为
T＝L1/L0(1)
其中，T为穿透率，L1为显示面板亮度，L0为背光亮度。
在一个实施例中，所述在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息，包括：
测量所述第一目标位置处的第一背光亮度和第一显示面板亮度；其中，所述第一背光亮度为去除液晶面板时的第一目标位置处的背光亮度，第一显示面板亮度为显示面板保留上偏光片和下偏光片时的显示面板的亮度；
测量所述第二目标位置处的第二背光亮度和第二显示面板亮度；其中，所述第二背光亮度为去除液晶面板时时的第二目标位置处的背光亮度，第二显示面板亮度为显示面板保留上偏光片和下偏光片时的显示面板的亮度；
测量所述第一目标位置处的第三显示面板亮度；其中，所述第三显示面板亮度为显示面板去除所述第一位置处的上偏光片时的显示面板亮度；
测量所述第二目标位置处的第四显示面板亮度；其中，所述第四显示面板亮度为显示面板去除第二目标位置处的下偏光片时的显示面板亮度；
测量第一目标位置处的第五显示面板亮度；其中，所述第五显示面板亮度为显示面板去除第一目标位置处的上偏光片和下偏光片时的显示面板亮度；
测量第二目标位置处的第六显示面板亮度；其中，所述第六显示面板亮度为显示面板去除第二目标位置处的上偏光片和下偏光片时的显示面板亮度。
在一个实施例中，选择两个目标位置，只需要对显示面板进行两次拆装，并同时测得两个位置处相关的亮度信息；在拆卸之前，测量A点和B点相对显示面板中心的距离，并同时测量A点和B点的显示面板的亮度；第一次拆装过程包括：只取下液晶面板，同时测量A点和B点的背光亮度，测量结束后去除A点的上偏光片以及B点的下偏光片，将液晶面板组装回显示面板，同时测量A点和B点的显示面板亮度，即A、B两点的面板出射的法向亮度；第二次拆装过程包括：只取下液晶面板，同时测量A点和B点的背光亮度，测量结束后将A、B两点的上偏光片和下偏光片全部去除，将液晶面板组装回显示面板后，测量A、B两点显示面板亮度。通过测量两个点的亮度信息，减少了拆卸的次数，节约测量时间，提高了工作效率，避免了因为拆卸过程使偏光片发生漏光或位置发生变化的问题，提高了测量精度以及数据处理的准确度。
由于A点和B点的背光亮度存在较小的差异，因此测量过程中，分别测得两点的背光亮度，在计算过程中可以忽略存在的较小误差。
在一个实施例中，对显示面板的中心进行标记，固定并记录A点和B点相对于显示面板中心的距离，等待10-30分钟后，背光稳定开始进行测量，保证测量环境条件一致，减小测量误差。
步骤S30，根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率。
在一个实施例中，所述根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率，包括：
根据所述第一背光亮度和所述第一显示面板亮度计算第一穿透率；
根据所述第一背光亮度和所述第三显示面板亮度计算第二穿透率；
根据所述第二背光亮度和所述第四显示面板亮度计算第三穿透率；
根据所述第一背光亮度和所述第五显示面板亮度计算第四穿透率；
根据所述第二背光亮度和所述第二显示面板亮度计算第五穿透率；
根据所述第二背光亮度和所述第六显示面板亮度计算第六穿透率；
根据所述第一穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率、所述第四穿透率计算所述第一目标位置对应的显示效率；
根据所述第五穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率、所述第六穿透率计算所述第二目标位置对应的显示效率。
在一个实施例中，如图4所示，A点为第一目标位置，B点为第二目标位置；测量保留液晶面板、上偏光片和下偏光片时，A点的第一显示面板亮度L1A和B点的第二显示面板亮度L1B；测量去除液晶面板，保留上偏光片和下偏光片时，A点的第一背光亮度L0A和B点的第二背光亮度L0B；从而可以得到A点的第一穿透率T1为：
T1＝L1A/L0A (2)；
B点的第五穿透率T5为：
T5＝L1B/L0B (3)。
在一个实施例中，如图5所示，测量去除上偏光片时的A点的第三显示面板亮度L2A，从而计算A点的第二穿透率T2为：
T2＝L2A/L0A (4)；
同时，测量去除下偏光片时的B点的第四显示面板亮度L2B，从而计算B点的第三穿透率T3为：
T3＝L2B/L0B (5)。
在一个实施例中，如图6所示，测量去除上偏光片和下偏光片时，A点的第五显示面板亮度L3A，从而计算A点的第四穿透率T4为：
T4＝L3A/L0A (6)；
同时，测量去除上偏光片和下偏光片时，B点的第六显示面板亮度L3B，从而计算B点的第六穿透率T6为：
T6＝L3B/L0B (7)。
在一个实施例中，根据所述第一穿透率T1、所述第二穿透率T2、所述第三穿透率T3和所述第四穿透率T4计算所述第一目标位置对应的显示效率，计算公式为：
其中，ηLC，1为第一目标位置对应的显示效率，即A点对应的显示效率。
在一个实施例中，根据所述第五穿透率T5、所述第二穿透率T2、所述第三穿透率T3、所述第六穿透率T6计算所述第二目标位置对应的显示效率，计算公式为：
其中，ηLC，2为第二目标位置对应的显示效率，即B点对应的显示效率。
在一个实施例中，根据所述第一目标位置对应的显示效率ηLC，1和所述第一目标位置对应的显示效率ηLC，2计算显示面板的显示效率，计算公式为：
其中，ηLC为显示面板的显示效率。
在一个实施例中，显示效率的测量方法，应用于显示面板，所述显示面板包括：上偏光片、下偏光片和液晶层；所述测量方法包括：
确定显示面板上的第一目标位置和第二目标位置，所述第一目标位置与所述第二目标位置的间距满足预设条件；
在固定的外加电压下，测量所述第一目标位置的背光亮度信息和显示面板亮度，测量所述第二目标位置的背光亮度和显示面板亮度；
根据所述第一目标位置的背光亮度信息和显示面板亮度，计算所述第一目标位置的第一穿透率；根据所述第二目标位置的背光亮度和显示面板亮度，计算所述第二目标位置的第二穿透率；
根据所述第一穿透率和所述第二穿透率计算所述显示面板的显示效率。
如图7所示，本申请的一个实施例提供一种显示面板的测量系统，包括：
目标位置确定单元71，用于确定显示面板上符合预设条件的目标位置；
亮度信息测量单元72，用于在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息；
显示效率计算单元73，用于根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率。
本申请实施例通过确定符合预设条件的目标位置，在固定外加电压下，测量目标位置的亮度信息，并根据亮度信息计算显示面板的显示效率，解决了常规测量方法需要多次拆卸模组或重新粘贴偏振片，测量过程繁琐且时间较长，导致数据的准确性、可信性较低且工作效率低的问题；加快了显示面板的测量工作的效率，以及提高了显示面板的测量的准确度。
如图8所示，本申请的一个实施例提供一种显示装置80，其包括：显示面板1、处理器800、存储器801以及存储在所述存储器801中并可在所述处理器800上运行的计算机程序802。所述处理器800执行所述计算机程序802时实现上述各个显示面板的测量方法实施例中的步骤，例如图1所示的步骤10至30。或者，所述处理器800执行所述计算机程序802时实现上述各装置实施例中各模块/单元的功能，例如图7所示模块71至73的功能。
示例性的，所述计算机程序802可以被分割成一个或多个模块/单元，所述一个或者多个模块/单元被存储在所述存储器801中，并由所述处理器800执行，以完成本发明。所述一个或多个模块/单元可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段，该指令段用于描述所述计算机程序802在所述显示装置80中的执行过程。例如，所述计算机程序802可以被分割成目标位置确定单元、亮度信息测量单元、显示效率计算单元，各单元具体功能如下：
目标位置确定单元，用于确定显示面板上符合预设条件的目标位置；
亮度信息测量单元，用于在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息；
显示效率计算单元，用于根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率。
所述显示装置可包括，但不仅限于，处理器800、存储器801。本领域技术人员可以理解，图8仅仅是显示装置80的示例，并不构成对显示装置80的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件，例如所述显示装置80还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
本申请的测量方法可以测量的显示面板的种类可以为扭曲向外型(TwistedNematic，TN)显示面板、光学补偿弯曲排列型(optically compensated Birefringence，OCB)显示面板、垂直配向型(Vertical Alignment，VA)显示面板、曲面型液晶显示器件，但并不限于此。该液晶显示器件可以运用直下背光，背光源可以为白光、红绿蓝RGB三色光源、红绿蓝白RGBW四色光源或者红绿蓝黄RGBY四色光源，但并不限于此。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)等。
以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并不用以限制本申请，凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种显示面板的测量方法，其特征在于，应用于显示面板，所述显示面板的测量方法包括：
确定显示面板上符合预设条件的目标位置；
在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息；
根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率。
2.如权利要求1所述的显示面板的测量方法，其特征在于，所述确定显示面板上符合预设条件的目标位置，包括：
确定显示面板上的第一目标位置和第二目标位置，所述第一目标位置与所述第二目标位置的连线与行子像素平行，所述第一目标位置与所述第二目标位置之间的距离满足第一条件。
3.如权利要求2所述的显示面板的测量方法，其特征在于，所述根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率，包括：
根据第一目标位置的亮度信息计算所述第一目标位置对应的第一显示效率；
根据第二目标位置的亮度信息计算所述第二目标位置对应的第二显示效率；
计算所述第一显示效率与所述第二显示效率的平均值，获取显示面板的显示效率。
4.如权利要求2所述的显示面板的测量方法，其特征在于，所述在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息，包括：
测量所述第一目标位置处的第一背光亮度和第一显示面板亮度；其中，所述第一背光亮度为去除液晶面板时的第一目标位置处的背光亮度，第一显示面板亮度为显示面板保留上偏光片和下偏光片时的显示面板的亮度；
测量所述第二目标位置处的第二背光亮度和第二显示面板亮度；其中，所述第二背光亮度为去除液晶面板时时的第二目标位置处的背光亮度，第二显示面板亮度为显示面板保留上偏光片和下偏光片时的显示面板的亮度；
测量所述第一目标位置处的第三显示面板亮度；其中，所述第三显示面板亮度为显示面板去除所述第一位置处的上偏光片时的显示面板亮度；
测量所述第二目标位置处的第四显示面板亮度；其中，所述第四显示面板亮度为显示面板去除第二目标位置处的下偏光片时的显示面板亮度；
测量第一目标位置处的第五显示面板亮度；其中，所述第五显示面板亮度为显示面板去除第一目标位置处的上偏光片和下偏光片时的显示面板亮度；
测量第二目标位置处的第六显示面板亮度；其中，所述第六显示面板亮度为显示面板去除第二目标位置处的上偏光片和下偏光片时的显示面板亮度。
5.如权利要求4所述的显示面板的测量方法，其特征在于，所述根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率，包括：
根据所述第一背光亮度和所述第一显示面板亮度计算第一穿透率；
根据所述第一背光亮度和所述第三显示面板亮度计算第二穿透率；
根据所述第二背光亮度和所述第四显示面板亮度计算第三穿透率；
根据所述第一背光亮度和所述第五显示面板亮度计算第四穿透率；
根据所述第二背光亮度和所述第二显示面板亮度计算第五穿透率；
根据所述第二背光亮度和所述第六显示面板亮度计算第六穿透率；
根据所述第一穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率、所述第四穿透率计算所述第一目标位置对应的显示效率；
根据所述第五穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率、所述第六穿透率计算所述第二目标位置对应的显示效率。
6.如权利要求5所述的显示面板的测量方法，其特征在于，所述根据所述第一穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率和所述第四穿透率计算所述第一目标位置对应的显示效率，计算公式为：
其中，ηLC，1为第一目标位置对应的显示效率，T1为第一穿透率，T2为第二穿透率，T3为第三穿透率，T4为第四穿透率；
根据所述第五穿透率、所述第二穿透率、所述第三穿透率、所述第六穿透率计算所述第二目标位置对应的显示效率，计算公式为：
其中，ηLC，2为第二目标位置对应的显示效率，T5为第五穿透率，T2为第二穿透率，T3为第三穿透率，T6为第六穿透率；
根据所述第一目标位置对应的显示效率和所述第一目标位置对应的显示效率计算显示面板的显示效率，计算公式为：
其中，ηLC为显示面板的显示效率。
7.如权利要求1所述的显示面板的测量方法，其特征在于，所述在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息，包括：
测量所述目标位置处的背光亮度和所述显示面板的亮度。
8.如权利要求7所述的显示面板的测量方法，其特征在于，在测量所述目标位置处的背光亮度和所述显示面板的亮度之后，包括：
根据所述目标位置处的背光亮度和所述显示面板的亮度计算所述目标位置处的光穿透率；
根据所述目标位置处的光穿透率计算所述目标位置对应的显示效率。
9.一种显示面板的测量系统，其特征在于，包括：
目标位置确定单元，用于确定显示面板上符合预设条件的目标位置；
亮度信息测量单元，用于在固定的外加电压下，测量所述目标位置处的亮度信息；
显示效率计算单元，用于根据所述亮度信息计算所述显示面板的显示效率。
10.一种显示装置，其特征在于，包括显示面板、存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至8任一项所述方法的步骤。
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