CN108873404A - 测量显示面板亮度的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种测量显示面板亮度的方法。所述测量显示面板亮度的方法包括如下步骤：提供显示面板、掩膜板及亮度测量设备，所述掩膜板包括至少两个透光区及位于各个透光区四周的遮光区，所述亮度测量设备的最小测量面积小于所述各个透光区的面积之和；用所述掩膜板遮挡所述显示面板，并使得所述透光区与所述显示面板的目标测量区域对位，以暴露出所述显示面板的目标测量区域；用所述亮度测量设备测量所述显示面板的目标测量区域的亮度，通过掩膜板遮挡显示面板的目标测量区域以外的区域，能够实现利用现有的亮度测量设备测量特定子像素区域或特定非发光区域的亮度，为分析和定位显示面板的漏光位置提供便利。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种测量显示面板亮度的方法。
背景技术
随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。
现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子，两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线，通过通电与否来控制液晶分子改变方向，将背光模组的光线折射出来产生画面。
通常液晶显示面板由彩膜基板(CF，Color Filter)、薄膜晶体管基板(TFT，ThinFilm Transistor)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC，Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中，前段Array制程主要是形成TFT基板，以便于控制液晶分子的运动；中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶；后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合，进而驱动液晶分子转动，显示图像。
液晶显示器的全白最亮画面和全黑最暗画面的亮度的比值是一个用于衡量液晶显示器画质好坏的重要参数，从5000:1向6000：1、7000：1和8000:1的产品进阶的过程中，分析液晶显示器全白最亮画面和全黑最暗画面的亮度的比值，需要测量液晶显示器在全白最亮画面和全黑最暗画面的亮度。目前的亮度测量设备的测量过程通常包括测量一个区域的亮度，并根据设备内置的公式分析该区域内各个子像素及子像素之间的黑矩阵的亮度。提升液晶显示器全白最亮画面和全黑最暗画面的亮度的比值的主要方法包括减少液晶显示器全黑最暗画面的漏光，但由于目前的亮度测量设备的最小测量面积通常包括几十个甚至几千个像素，从而利用现有的亮度测量设备难以实现像素级的测量，只能分析得到一个区域内的亮度情况，但在该区域内既包括多种不同颜色的子像素也包含各个子像素之间的黑矩阵，此时由于亮度测量设备的最小测量面积的限制，无法仅测量一个子像素或仅测量两个子像素之间的一段黑矩阵的亮度，在分析漏光时，也就无法准确确定漏光是来自黑矩阵还是哪一种颜色的像素，从而无法准确分析漏光原因。
发明内容
本发明的目的在于提供一种测量显示面板亮度的方法，能够利用现有的亮度测量设备测量特定子像素区域或特定非发光区域的亮度，为分析和定位显示面板的漏光位置提供便利。
为实现上述目的，本发明提供一种测量显示面板亮度的方法，包括如下步骤：
步骤S1、提供显示面板、掩膜板及亮度测量设备，所述掩膜板包括至少两个透光区及位于各个透光区四周的遮光区，所述亮度测量设备的最小测量面积小于所述各个透光区的面积之和；
步骤S2、用所述掩膜板遮挡所述显示面板，并使得所述透光区与所述显示面板的目标测量区域对位，以暴露出所述显示面板的目标测量区域；
步骤S3、用所述亮度测量设备测量所述显示面板的目标测量区域的亮度。
所述步骤S3中测量所述显示面板的目标测量区域在所述显示面板的最暗画面下的亮度。
所述显示面板包括阵列排布的多个子像素区域以及分隔各个相邻的子像素区域的非发光区域。
所述显示面板的目标测量区域为所述显示面板的至少两个子像素区域或至少两个子像素区域的一部分。
所述多个子像素区域包括红色子像素、绿色子像素区域及蓝色子像素区域。
所述显示面板的目标测量区域为所述显示面板的至少两个红色子像素区域或至少两个红色子像素区域的一部分。
所述显示面板的目标测量区域为所述显示面板的至少两个绿色子像素区域或至少两个绿色子像素区域的一部分。
所述显示面板的目标测量区域为所述显示面板的至少两个蓝色子像素区域或至少两个蓝色子像素区域的一部分。
所述显示面板的目标测量区域为所述显示面板的非发光区域或非发光区域的一部分。
每一个透光区的宽度均大于1μm。
本发明的有益效果：本发明提供一种测量显示面板亮度的方法。所述测量显示面板亮度的方法包括如下步骤：提供显示面板、掩膜板及亮度测量设备，所述掩膜板包括至少两个透光区及位于各个透光区四周的遮光区，所述亮度测量设备的最小测量面积小于所述各个透光区的面积之和；用所述掩膜板遮挡所述显示面板，并使得所述透光区与所述显示面板的目标测量区域对位，以暴露出所述显示面板的目标测量区域；用所述亮度测量设备测量所述显示面板的目标测量区域的亮度，通过掩膜板遮挡显示面板的目标测量区域以外的区域，能够实现利用现有的亮度测量设备测量特定子像素区域或特定非发光区域的亮度，为分析和定位显示面板的漏光位置提供便利。
附图说明
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图中，
图1为本发明的测量显示面板亮度的方法的步骤S1及步骤S3的示意图；
图2为本发明的测量显示面板亮度的方法的步骤S1的显示面板的俯视示意图；
图3和图4为本发明的测量显示面板亮度的方法的第一实施例的步骤S2的示意图；
图5和图6为本发明的测量显示面板亮度的方法的第二实施例的步骤S2的示意图；
图7为本发明的测量显示面板亮度的方法的流程图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图1及图7，本发明提供一种测量显示面板亮度的方法，包括如下步骤：
步骤S1、提供显示面板1、掩膜板2及亮度测量设备3，所述掩膜板2包括至少两个透光区21及位于各个透光区21四周的遮光区22，所述亮度测量设备3的最小测量面积大于每一透光区21的面积且小于各个透光区21的面积之和；
步骤S2、用所述掩膜板2遮挡所述显示面板1，并使得所述透光区21与所述显示面板1的目标测量区域11对位，以暴露出所述显示面板1的目标测量区域11；
步骤S3、用所述亮度测量设备3测量所述显示面板1的目标测量区域11的亮度。
具体地，定义所述目标测量区域11中被单独一个透光区21所暴露出的区域为一个子目标测量区域，所述子目标测量区域的面积等于该一个透光区21的面积，从而所述亮度测量设备3的最小测量面积大于所述子目标测量区域的面积，因此无法量测通过所述亮度测量设备3单独量测一个子目标测量区域的亮度，因为在这种情况下，即便将亮度测量设备3的测量面积调整至最小测量面积，在测量一个子目标测量区域的亮度时，所述亮度测量设备3的测量面积比子目标测量区域的面积大，会同时测量该子目标测量区域及该子目标测量区域周围其他区域的亮度。
具体地，所述步骤S3具体包括：先调整所述亮度测量设备3的测量面积至对应的目标测量面积，所述目标测量面积大于亮度测量设备3的最小测量面积，接着用所述亮度测量设备3测量所述显示面板1目标测量区域11的亮度，此时所述亮度测量设备3目标测量面积是大于所述目标测量区域11的面积的，但由于除目标测量区域11以外的区域均被所述掩膜板2的遮光区22遮挡，从而使得所述亮度测量设备3目标测量面积中只有目标测量区域11是发光的，也即所述亮度测量设备3实际测量到的亮度只包含目标测量区域11的亮度，从而能够在不改变亮度测量设备3的最小测量面积的情况下，实现利用现有的亮度测量设备测量特定子像素区域或特定非发光区域的亮度，为分析和定位显示面板的漏光位置提供便利。
进一步地，由于该目标测量区域11是由所述掩膜板2的透光区21暴露出来的，而所述掩膜板2的各个透光区21的面积之和是大于所述亮度测量设备3的最小测量面积的，即所述目标测量区域11的面积是大于所述亮度测量设备3的最小测量面积的，从而能够保证不会因目标测量区域11的面积过小导致目标测量区域11的亮度过低，超出亮度测量设备的感光精度，而无法被量测。
优选地，所述亮度测量设备3的最小测量面积大于0.1mm2。
进一步地，通过设置所述步骤S3测量所述显示面板1的目标测量区域11在所述显示面板1的最暗画面下即灰阶为0时的亮度，能够将本发明的应用到显示面板的漏光分析中，进而通过测量特定子像素区域或特定非发光区域的亮度，准确定位显示面板1的漏光位置，有效分析显示面板1的漏光原因。
具体地，所述显示面板1包括阵列排布的多个子像素区域12以及分隔各个相邻的子像素区域12的非发光区域13，更进一步地，所述非发光区域13包括所述显示面板1中用于形成扫描线、数据线及TFT的区域，所述多个子像素区域12包括红色子像素区域R、绿色子像素区域G及蓝色子像素区域B。
优选地，所述显示面板1为4K2K的液晶显示面板，每一个子像素区域12的面积约为0.03mm2。
具体地，如图3所示，在本发明的第一实施例中，所述显示面板1的目标测量区域11为所述显示面板1的至少两个子像素区域12或至少两个子像素区域12的一部分，所述至少两个透光区21与作为目标测量区域11的至少两个子像素区域12或至少两个子像素区域12的一部分一一对应，从而能够通过亮度测量设备测量该至少两个子像素区域12或至少两个子像素区域12的一部分的亮度。
优选地，所述作为目标测量区域11的至少两个子像素区域12或至少两个子像素区域12的一部分为至少两个颜色相同的子像素区域12或至少两个颜色相同的子像素区域12的一部分，例如图3和图4所示，所述至少两个颜色相同的子像素区域12或至少两个颜色相同的子像素区域12的一部分为至少两个红色子像素R或至少两个红色子像素R的一部分，此时通过分析该目标测量区域11的亮度，即可得出该至少两个红色子像素R的亮度或至少两个红色子像素R的一部分的亮度。
当然该至少两个子像素区域12还可以为至少两个绿色子像素区域G、至少两个绿色子像素区域G的一部分、至少两个蓝色子像素区域B或至少两个蓝色子像素区域B的一部分，这都不会影响本发明的实现。
具体地，如图5及图6所示，在本发明的第二实施例中，所述显示面板1的目标测量区域11为所述显示面板1的非发光区域13或非发光区域13的一部分，该非发光区域13或非发光区域13的一部分包括间隔排列的至少两个独立区块，所述至少两个透光区21与至少两个独立区块一一对应，从而能够通过亮度测量设备测量该非发光区域13或非发光区域13的一部分的亮度，以分析非发光区域13或非发光区域13的一部分是否存在漏光。
优选地，本发明通过在所述掩膜板2上设置开口以形成所述掩膜板2的透光区21，并设置每一个开口的宽度均大于1μm，以避免可见光波段的衍射等光学现象影响测量结果。
综上所述，本发明提供一种测量显示面板亮度的方法。所述测量显示面板亮度的方法包括如下步骤：提供显示面板、掩膜板及亮度测量设备，所述掩膜板包括至少两个透光区及位于各个透光区四周的遮光区，所述亮度测量设备的最小测量面积小于所述各个透光区的面积之和；用所述掩膜板遮挡所述显示面板，并使得所述透光区与所述显示面板的目标测量区域对位，以暴露出所述显示面板的目标测量区域；用所述亮度测量设备测量所述显示面板的目标测量区域的亮度，通过掩膜板遮挡显示面板的目标测量区域以外的区域，能够实现利用现有的亮度测量设备测量特定子像素区域或特定非发光区域的亮度，为分析和定位显示面板的漏光位置提供便利。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种测量显示面板亮度的方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤S1、提供显示面板(1)、掩膜板(2)及亮度测量设备(3)，所述掩膜板(2)包括至少两个透光区(21)及位于各个透光区(21)四周的遮光区(22)，所述亮度测量设备(3)的最小测量面积大于每一个透光区(21)的面积且小于各个透光区(21)的面积之和；
步骤S2、用所述掩膜板(2)遮挡所述显示面板(1)，并使得所述透光区(21)与所述显示面板(1)的目标测量区域(11)对位，以暴露出所述显示面板(1)的目标测量区域(11)；
步骤S3、用所述亮度测量设备(3)测量所述显示面板(1)的目标测量区域(11)的亮度。
2.如权利要求1所述的测量显示面板亮度的方法，其特征在于，所述步骤S3中测量所述显示面板(1)的目标测量区域(11)在所述显示面板(1)的最暗画面下的亮度。
3.如权利要求1所述的测量显示面板亮度的方法，其特征在于，所述显示面板(1)包括阵列排布的多个子像素区域(12)以及分隔各个相邻的子像素区域(12)的非发光区域(13)。
4.如权利要求3所述的测量显示面板亮度的方法，其特征在于，所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的至少两个子像素区域(12)或至少两个子像素区域(12)的一部分。
5.如权利要求4所述的测量显示面板亮度的方法，其特征在于，所述多个子像素区域(12)包括红色子像素(R)、绿色子像素区域(G)及蓝色子像素区域(B)。
6.如权利要求5所述的测量显示面板亮度的方法，其特征在于，所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的至少两个红色子像素区域(R)或至少两个红色子像素区域(R)的一部分。
7.如权利要求5所述的测量显示面板亮度的方法，其特征在于，所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的至少两个绿色子像素区域(G)或至少两个绿色子像素区域(G)的一部分。
8.如权利要求5所述的测量显示面板亮度的方法，其特征在于，所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的至少两个蓝色子像素区域(B)或至少两个蓝色子像素区域(B)的一部分。
9.如权利要求3所述的测量显示面板亮度的方法，其特征在于，所述显示面板(1)的目标测量区域(11)为所述显示面板(1)的非发光区域(13)或非发光区域(13)的一部分。
10.如权利要求1所述的测量显示面板亮度的方法，其特征在于，每一个透光区(21)的宽度均大于1μm。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| CB02 | Change of applicant information |
Address after: 9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant after: TCL China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. Address before: 9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Applicant before: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. |
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| CB02 | Change of applicant information | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20181123 |
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |