CN108872905A - 电容式感测装置及对应的短路测试方法 - Google Patents

Abstract

一种电容式感测装置的短路测试方法，电容式感测装置具有复数条感测线及复数条驱动线，短路测试方法包括有：于一短路测试模式中，将感测线及驱动线中至少一第一线路耦接至一参考准位；利用一特定感测线所对应的一感测电路读取一测试结果讯号；以及比对测试结果讯号与一参考讯号，以判断感测线及驱动线中是否有发生短路。

Description

电容式感测装置及对应的短路测试方法

技术领域

本发明系关于一种测试机制，尤指一种电容式感测装置及对应的短路测试方法。

背景技术

一般而言，为了对电容式感测装置的线路进行短路测试，目前现有技术的作法为采用一颗电容组件，利用该一颗电容组件并联该电容式感测装置之感测面版的每一感测组件(cell)的线路，对于每一感测组件均产生一个假的电压差值，据此来判断是否发生短路异常，但此种作法需要等待过长的测试时间才得以完成多个感测组件之线路测试，不符合现今使用者的要求。

发明内容

因此，本发明之目的之一在于提供一种电容式感测装置及对应的短路测试方法，以解决现有技术所面临的问题。

根据本发明实施例，其系揭露了一种电容式感测装置的短路测试方法，该电容式感测装置具有复数条感测线及复数条驱动线，该短路测试方法包含：于一短路测试模式中，将该些感测线及该些驱动线中至少一第一线路耦接至一参考准位；利用一特定感测线所对应之一感测电路读取一测试结果讯号；以及比对该测试结果讯号与一参考讯号，以判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路。

根据本发明实施例，另揭露了一种电容式感测装置，该电容式感测装置至少包含复数条感测线、复数条驱动及至少一第一开关。该至少一第一开关选择性连接至该些感测线及该些驱动线中至少一第一线路；其中于一短路测试模式中，该至少一第一开关系将该至少一第一线路耦接至一参考准位，令一特定感测线所对应之一感测电路读取出一测试结果讯号，使得通过比对该测试结果讯号与一参考讯号，进行短路测试以判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1为本发明之实施例之一电容式感测装置之一短路异常测试方法的流程示意图；

图2为该电容式感测装置测量两待测的感测线之间是否发生短路异常的一实施示意图；

图3为该电容式感测装置测量两待测的感测线之间是否短路异常的另一实施例示意图；

图4为该电容式感测装置测量一待测的感测线与一待测的驱动线之间是否发生短路异常的实施示意图；

图5为该电容式感测装置测量一待测的感测线与一待测的驱动线之间是否发生短路异常的另一实施示意图；

图6为该电容式感测装置测量任两待测的驱动线之间是否发生短路异常的一实施示意图；

图7为该电容式感测装置测量任两待测的驱动线之间是否发生短路异常的另一实施示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				105～125	步骤	200	电容式感测装置

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

图1为本发明之实施例之一电容式感测装置之一短路测试方法的流程示意图。该电容式感测装置至少包含复数个感测电容、连接至该些感测电容之复数条驱动线(driveline)、连接至该些感测电容之复数条感测线(sense line)，实作上依照不同线路的短路异常测试方式例如另包含对应于该些驱动线的复数个驱动线垫片、对应于该些感测线的复数个感测线垫片、连接至该些感测线垫片之复数个第一防静电干扰电阻、连接至该些驱动线垫片之复数个第二防静电干扰电阻、连接至该些第一防静电干扰电阻之复数个感测电路(每一感测电路例如包含一比较电路、一滤波器及一模拟数字转换器)、设置于该些感测线垫片与一参考准位之间的复数个感测线开关、设置于该些驱动线垫片与一参考准位之间的复数个驱动线开关以及/或分别连接不同感测线与不同驱动线之至少复数个内部开关，其中该参考准位例如是一接地准位(但非以此为限)。该电容式感测装置可采用该短路测试方法来测试内部电路/线路以得知是否发生短路的情况，侦测该电容式感测装置之传感器(例如触控传感器) 的质量，详言之，该短路测试方法可用以测试出任两驱动线之间是否发生短路、任两感测线之间是否发生短路及/或任一驱动线与任一感测线之间是否发生短路；此外，实现该短路测试方法时仅需要采用该电容式感测装置之原有内建的电路组件(例如电阻、电容或其他电路组件)来实现，不需另采用复杂的测试电路，因而本案的优点在于成本相对低廉。

在并未测试之前，每一驱动线及每一感测线对于该短路测试方法而言，可均被视为是待测的线路，亦即待测驱动线及待测感测线，该短路测试方法可用来测试所有的驱动线及所有的感测线，侦测出是否其中发生短路。倘若大体上可达到相同的结果，并不需要一定照图1所示之流程中的步骤顺序来进行，且图1所示之步骤不一定要连续进行，亦即其他步骤亦可插入其中；步骤内容说明于下：

步骤105：进入短路测试模式；

步骤110：于短路测试模式中，将该些感测线及该些驱动线中至少一第一线路耦接至一参考准位Vref，该参考准位Vref例如是一接地准位(但非以此为限)；

步骤115：利用一特定感测线所对应之一感测电路读取一测试结果讯号；

步骤120：比对该测试结果讯号与一参考讯号，以判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路，其中该参考讯号可以是一参考直流值或一参考交流讯号；以及

步骤125：结束。

此外，该特定感测线系指一待测感测线及/或一特定用以读出测试结果讯号的感测线，举例来说，如果测量两待测感测线，则上述测试结果讯号可利用其中之一待测感测线之一感测电路所读取，亦即该其中之一待测感测线即为该特定感测线，而如果测量一待测感测线及一待测驱动线，则上述测试结果讯号可利用该待测感测线之一感测电路所读取，亦即该待测感测线即为该特定感测线，而如果测量两待测驱动线，则上述测试结果讯号可利用某一个感测线之一感测电路所读取，亦即该某一个感测线即为该特定感测线。此外，本案之电容式感测装置于该短路测试模式中，该参考讯号可以是一参考直流值或一参考交流讯号，当采用该参考交流讯号来实现该参考讯号时，该短路测试模式可被视为一短路交流测试模式，而当采用参考直流值来实现该参考讯号时，该短路测试模式可被视为一短路直流测试模式。

本案之发明于短路测试模式中可测量驱动线及/或感测线之短路状况，兹逐一将不同线路之间的短路测试方式列举于下。例如，当测量两待测的感测线之间是否发生短路时，除了将该特定感测线(此时为一待测的感测线)耦接至该参考准位(例如接地准位)，也将该些感测线中除了该特定感测线之外至少一其他感测线耦接至该参考准位，例如将某一感测线(视为另一待测的感测线)耦接至该参考准位，接着从该特定感测线对应之该感测电路读出一测试结果讯号，并比对该测试结果讯号与该参考讯号(参考直流值或参考交流讯号)，判断该特定感测线是否短路连接至该另一待测的感测线，实作请参照图2。

图2为电容式感测装置200测量两待测的感测线之间是否发生短路的一实施示意图。如图2所示，电容式感测装置200包括一条驱动线(未显示于图2)、感测电容C1～Cn、复数条感测线SL1～SLn、复数个感测线垫片 PAD1～PADn、分别对应于该些感测线SL1～SLn之复数感测电路的复数个比较电路IPGA1～IPGAn以及分别对应于该些感测线SL1～SLn之复数个开关 SW1～SWn(分别设置于该些感测线垫片PAD1～PADn与接地准位之间)，应注意的是每一条驱动线与同一条感测线均可产生一个感测电容(Cell)，图2之范例仅是以说明一条驱动线的实施状况，而每一条感测线仅有一个感测电容。当测量感测线SL1、SL2之间是否短路时，电容式感测装置200系开启例如感测线SL1所对应之感测电路的比较电路IPGA1，并关闭其他感测电路的比较电路IPGA2～IPGAn，并将除了感测线SL1的其他感测线电性连接至接地准位，令对应感测线垫片上的准位为低逻辑准位，以及通过该比较电路IPGA1来读取该测试结果讯号ST，亦即，感测线SL1为上述之特定感测线，并且电容式感测装置200令开关SW1为开路，而令其他开关SW2～SWn为闭路并均连接至该参考准位(例如接地准位)。

本实施例中，系采用一参考交流讯号SREF作为该参考讯号来与该测试结果讯号ST进行比对，比较电路IPGA1此时所读出的测试结果讯号ST包括一交流讯号，比较电路IPGA1系被安排用以比对该测试结果讯号ST之交流讯号的一峰对峰振幅(peak-to-peakamplitude)与该参考交流讯号SREF的一峰对峰振幅，如果感测线SL1、SL2之间没有短路，表示并未出现图2所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之峰对峰振幅不会因为短路电阻RS的关系而连接至接地准位而受影响变成实质上有所不同，例如两者的峰对峰振幅之差值如果小于一特定门坎值，表示峰对峰振幅的值实质上相同(亦即并无有所不同)，反之，如果感测线SL1、SL2之间发生短路，表示出现了图2所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之峰对峰振幅会因为短路电阻RS的关系而连接至接地准位而受影响，使得实质上有所不同，因而当侦测到该测试结果讯号ST之一峰对峰振幅不同于该参考交流讯号SREF之峰对峰振幅，该电容式感测装置200的短路测试方法可判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路，亦即感测线SL1、SL2之间发生短路，如果上述两个峰对峰振幅实质上相同，则判定感测线SL1、SL2之间没有短路。上述的机制可应用于侦测判断任两个感测线之间是否短路，并不仅限于感测线SL1、SL2。

再者，电容式感测装置200亦可选定感测线SL2作为一特定感测线，通过对应的感测电路之比较电路IPGA2来读取出测试结果讯号，并且电容式感测装置200令开关SW2为开路，而令其他开关SW1、SW3～SWn为闭路并均连接至该参考准位(例如接地准位)，而得以侦测并判断感测线SL2与邻近一感测线(SL1或SL3)之间是否短路，如果为了判断感测线SL1与感测线SL2 是否短路，则可参考选定感测线SL1或SL2作为特定感测线的一测试结果以及选定感测线SL1或SL2以外的感测线作为特定感测线的一测试结果，根据两测试结果来进行判断，相似地，如果为了判断感测线SL2与感测线SL3是否短路，则可参考选定感测线SL2或SL3作为特定感测线的一测试结果以及选定感测线SL2或SL3以外的感测线作为特定感测线的一测试结果，根据两测试结果来进行判断。再者，上述参考准位并不限于接地准位，任一直流准位值均适用作为该参考准位。

另外，其他实施例中，亦可采用一参考直流值SDC作为该参考讯号来与该测试结果讯号ST进行比对，图3为上述电容式感测装置200测量两待测的感测线之间是否短路的另一实施例示意图，如图3所示，该些感测电容C1～Cn 的另一端均连接至接地准位，比较电路IPGA1此时所读出的测试结果讯号ST 包括一直流值，比较电路IPGA1系被安排用以比对该测试结果讯号ST之直流值与该参考直流值SDC，每一条感测线测试结果均会有一个预定的分压准位区间，如果感测线SL1、SL2之间没有短路，表示并未出现图3所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之直流值不会因为短路电阻RS连接至接地准位的关系而变成一个过高的分压准位，其中该直流值是否为过高的分压准位可利用该条感测线SL1之测试结果的预定分压准位区间来判断，如果超出该区间，则表示为过高的分压准位，反之，如果感测线SL1、SL2之间发生短路，表示出现了图3所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之直流值会因为短路电阻RS连接至接地准位的关系而变成另一个过高的分压准位，使得实质上有所不同，因而当侦测到该测试结果讯号ST之直流值不同于该参考直流值 SDC，该电容式感测装置200的短路测试方法可判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路，亦即感测线SL1、SL2之间发生短路，如果上述两个直流值实质上相同，则判定感测线SL1、SL2之间没有短路。上述的机制可应用于侦测判断任两个感测线之间是否短路，并不仅限于感测线SL1、SL2。

图4为电容式感测装置200测量一待测的感测线与一待测的驱动线之间是否发生短路的实施示意图。举例来说，本实施例，电容式感测装置200系测量一待测的感测线SL1与一待测的驱动线DL1之间是否发生短路，待测的感测线SL1与待测的驱动线DL1之间产生感测电容Cm并达到电性连接，对应于各自的垫片PAD1、PAD1’及各自的防静电干扰电阻R_esd、R_esd’，防静电干扰电阻Resd’与接地准位之间设置一开关SW1’，而防静电干扰电阻 Resd则连接至对应的感测电路之比较电路IPGA1、反锯齿滤波器AAF1及模拟数字转换器ADC1，当测量例如感测线SL1与驱动线DL1之间是否短路时，电容式感测装置200系令该开关SW1’闭路，并通过该对应的感测电路的比较电路IPGA1来读取出测试结果讯号ST，亦即，感测线SL1也是上述之特定感测线。本实施例中，该参考讯号采用参考直流值SDC来与该测试结果讯号ST之直流值进行比对，比较电路IPGA1系被安排用以比对该测试结果讯号ST之直流值与该参考直流值SDC，如果感测线SL1、驱动线DL1之间没有短路，表示并未出现图4所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之直流值不会因为短路电阻RS连接至一接地准位的关系而变成一个过高的分压准位，反之，如果感测线SL1、驱动线DL1之间发生短路，表示出现了图4 所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之直流值会因为短路电阻RS连接至接地准位的关系而变成另一个过高的分压准位，使得实质上有所不同，因而当侦测到该测试结果讯号ST之直流值不同于该参考直流值SDC，该电容式感测装置200的短路测试方法可判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路，亦即感测线SL1、驱动线DL1之间发生短路，反之，如果上述两个直流值实质上相同，则判定感测线SL1、驱动线DL1之间没有短路。上述的机制可应用于侦测判断任一个感测线与任一个驱动线之间是否短路，并不仅限于感测线SL1、驱动线DL1。该参考直流值SDC也可以是接地准位，然此并非本案的限制。

此外，上述图4所述之实施例中的参考讯号亦可改成采用参考交流讯号 SREF，例如如图5所示，该开关SW1’改成设置于防静电干扰电阻Resd’与参考交流讯号SREF之间，当测量例如感测线SL1与驱动线DL1之间是否短路时，电容式感测装置200系令该开关SW1’闭路，并通过该对应的感测电路的比较电路IPGA1来读取出测试结果讯号ST，亦即，感测线SL1也是上述之特定感测线。本实施例中，该参考讯号采用参考交流讯号SREF来与该测试结果讯号ST进行比对，比较电路IPGA1系被安排用以比对该测试结果讯号ST之峰对峰振幅与该参考交流讯号SREF之峰对峰振幅，如果感测线SL1、驱动线DL1之间没有短路，表示并未出现图5所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之峰对峰振幅不会因为短路电阻RS的关系而受影响变成实质上有所不同，反之，如果感测线SL1、驱动线DL1之间发生短路，表示出现了图5所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之峰对峰振幅会因为短路电阻RS的关系而受影响，使得实质上有所不同，因而当侦测到该测试结果讯号 ST之一峰对峰振幅不同于该参考交流讯号SREF之峰对峰振幅，该电容式感测装置200的短路测试方法可判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路，亦即感测线SL1、驱动线DL1之间发生短路，反之，如果上述两个峰对峰振幅实质上相同，则判定感测线SL1、驱动线DL1之间没有短路。上述的机制可应用于侦测判断任一个感测线与任一个驱动线之间是否短路，并不仅限于感测线SL1、驱动线DL1。

图6绘示了电容式感测装置200测量任两待测的驱动线之间是否发生短路的一实施示意图，举例来说，对于测量两驱动线DL1、DL2之间是否短路时，如图6所示，例如驱动线DL1是一待测驱动线，而驱动线DL2可以视为是除了驱动线DL1以外的其他驱动线，Cm1、Cm2为对应的感测电容，PAD1 为感测线SL1的感测线垫片，PAD1’与PAD2’分别为驱动线DL1、DL2的驱动线垫片，R_esd1、R_esd1’与R_esd2为各自的防静电干扰电阻，C_BIST 为电容式感测装置200本身的内部电容，开关SW1’、SW2’分别对应于驱动线DL1、DL2，开关SW为电容式感测装置200本身内部连接于驱动线DL1、感测线SL1之间的开关，图6所绘示的开关SW有三个，然其他实施例中可采用一个内部开关、两个内部开关或是其他不同数目的内部开关来实现，非本案的限制。电容式感测装置200系用以测量该待测驱动线DL1是否短路至其他的驱动线，因此在该短路测试模式中，电容式感测装置200系令该待测驱动线DL1所对应之一开关SW1’为开路，使对应的防静电干扰电阻R_esd1’与该接地准位之间的连接断开，而令至少一个其他驱动线所对应的开关(例如开关SW2’)为闭路，例如使对应的防静电干扰电阻R_esd2’的一端连接至该接地准位，电容式感测装置200并开启例如感测线SL1所对应之感测电路的比较电路IPGA1，亦即，感测线SL1为上述之特定感测线，此外电容式感测装置200也令连接于特定感测线SL1与待测驱动线DL1之间的至少一开关SW为闭路。

比较电路IPGA1此时所读出的测试结果讯号ST包括一直流值，比较电路IPGA1系被安排用以比对该测试结果讯号ST之直流值与该参考直流值 SDC，如果待测驱动线DL1没有短路至任一驱动线例如DL2，表示并未出现图6所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之直流值不会因为短路电阻 RS的关系而连接至开关SW2’另一端的接地准位而变成一个过高的分压准位，反之，如果两驱动线DL1、DL2之间发生短路，表示出现了图6所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之直流值会因为短路电阻RS的关系而连接至开关SW2’另一端的接地准位而变成一个过高的分压准位，使得实质上的准位有所改变而不同，因而当侦测到该测试结果讯号ST之直流值不同于该参考直流值SDC，该电容式感测装置200的短路测试方法可判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路，亦即驱动线DL1、DL2之间发生短路，反之，如果上述两个直流值实质上相同，则判定驱动线DL1、DL2之间没有短路。上述的机制可应用于侦测判断任两个驱动线之间是否短路，并不仅限于驱动线DL1、DL2。

此外，上述图6所述之实施例中的参考讯号亦可改成采用参考交流讯号 SREF，例如如图7所示，该开关SW1’改成设置于防静电干扰电阻R_esd1’与参考交流讯号SREF之间，该开关SW2’改成设置于防静电干扰电阻R_esd2’与参考交流讯号SREF之间，当测量例如驱动线DL1、DL2之间是否短路时，电容式感测装置200系令该开关SW1’开路，使对应的防静电干扰电阻 R_esd1’与该参考交流讯号SREF之间的连接断开，并令至少一个其他驱动线所对应的开关(例如开关SW2’)为闭路，例如使对应的防静电干扰电阻 R_esd2’的一端连接至该参考交流讯号SREF，电容式感测装置200并开启例如感测线SL1所对应之感测电路的比较电路IPGA1，亦即，感测线SL1为上述之特定感测线，此外电容式感测装置200也令连接于特定感测线SL1与待测驱动线DL1之间的至少一开关SW为闭路。

比较电路IPGA1此时所读出的测试结果讯号ST包括一交流讯号，比较电路IPGA1系被安排用以比对该测试结果讯号ST之峰对峰振幅与该参考交流讯号SREF之峰对峰振幅，如果待测驱动线DL1没有短路至任一驱动线例如DL2，表示并未出现图7所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之峰对峰振幅不会因为短路电阻RS的关系而受影响使得实质的值有所不同，反之，如果两驱动线DL1、DL2之间发生短路，表示出现了图7所示之短路电阻RS，则该测试结果讯号ST之峰对峰振幅会因为短路电阻RS的关系而受影响使得实质的值有所改变而不同，因而当侦测到该测试结果讯号ST之峰对峰振幅不同于该参考交流讯号SREF之峰对峰振幅，该电容式感测装置200的短路测试方法可判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路，亦即驱动线DL1、 DL2之间发生短路，反之，如果上述两个峰对峰振幅实质上相同，则判定驱动线DL1、DL2之间没有短路。上述的机制可应用于侦测判断任两个驱动线之间是否短路，并不仅限于驱动线DL1、DL2。

以上所述仅为本发明之较佳实施例，凡依本发明申请专利范围所做之均等变化与修饰，皆应属本发明之涵盖范围。

Claims (12)

1.一种电容式感测装置之短路测试方法，该电容式感测装置具有复数条感测线及复数条驱动线，该短路测试方法包含：

于一短路测试模式中，将该些感测线及该些驱动线中至少一第一线路耦接至一参考准位；

利用一特定感测线所对应之一感测电路读取一测试结果讯号；以及

比对该测试结果讯号与一参考讯号，以判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路。

2.如申请专利范围第1项所述之短路测试方法，其中将该些感测线及该些驱动线中该至少一第一线路耦接至该参考准位的步骤包含：

于该短路测试模式中，将该些感测线中除了该特定感测线之外至少一其他感测线耦接至该参考准位；以及

判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路的步骤包含：

比对该测试结果讯号与该参考讯号，以判断该特定感测线是否有短路连接至该至少一其他感测线。

3.如申请专利范围第1项所述之短路测试方法，其中将该些感测线及该些驱动线中该至少一第一线路耦接至该参考准位的步骤包含：

于该短路测试模式中，将该些驱动线中除了一待测驱动线之外至少一其他驱动线耦接至该参考准位，该待测驱动线通过一开关耦接至该特定感测线；以及

判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路的步骤包含：

比对该测试结果讯号与该参考讯号，以判断该待测驱动线是否有短路连接至该至少一其他驱动线。

4.如申请专利范围第1项所述之短路测试方法，其中将该些感测线及该些驱动线中该至少一第一线路耦接至该参考准位的步骤包含：

于该短路测试模式中，将一待测驱动线耦接至该参考准位；以及

判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路的步骤包含：

比对该测试结果讯号与该参考讯号，以判断该待测驱动线是否有短路连接至该待测感测线。

5.如申请专利范围第1项所述之短路测试方法，其中该测试结果讯号具有一直流值，而该参考讯号为一参考直流值，判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路的步骤包含：

当侦测到该测试结果讯号之该直流值不同于该参考直流值，判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路。

6.如申请专利范围第1项所述之短路测试方法，其中该测试结果讯号为一交流讯号，而该参考讯号为一参考交流讯号，判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路的步骤包含：

当侦测到该测试结果讯号之一峰对峰振幅(peak-to-peak amplitude)不同于该参考交流讯号之一峰对峰振幅，判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路。

7.一种电容式感测装置，包含：

复数条感测线；

复数条驱动线；以及

至少一第一开关，选择性连接至该些感测线及该些驱动线中至少一第一线路；

其中于一短路测试模式中，该至少一第一开关系将该至少一第一线路耦接至一参考准位，令一特定感测线所对应之一感测电路读取出一测试结果讯号，使得通过比对该测试结果讯号与一参考讯号，进行短路测试以判断该些感测线及该些驱动线中是否有发生短路。

8.如申请专利范围第7项所述之电容式感测装置，其中：

于该短路测试模式中，该至少一第一开关系将该些感测线中除了该特定感测线之外至少一其他感测线耦接至该参考准位，使得通过比对该测试结果讯号与该参考讯号，进行短路测试以判断该特定感测线是否有短路连接至该至少一其他感测线。

9.如申请专利范围第7项所述之电容式感测装置，另包含：

至少一第二开关；

其中于该短路测试模式中，该至少一第一开关系将该些驱动线中除了一待测驱动线之外至少一其他驱动线耦接至该参考准位，该待测驱动线通过该至少一第二开关耦接至该特定感测线，使得通过比对该测试结果讯号与该参考讯号，以判断该待测驱动线是否有短路连接至该至少一其他驱动线。

10.如申请专利范围第7项所述之电容式感测装置，其中：

于该短路测试模式中，该至少一第一开关系将一待测驱动线耦接至该参考准位，使得通过比对该测试结果讯号与该参考讯号，以判断该待测驱动线是否有短路连接至该待测感测线。

11.如申请专利范围第7项所述之电容式感测装置，其中该测试结果讯号具有一直流值，而该参考讯号为一参考直流值，以及当侦测到该测试结果讯号之该直流值不同于该参考直流值，判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路。

12.如申请专利范围第7项所述之电容式感测装置，其中该测试结果讯号为一交流讯号，而该参考讯号为一参考交流讯号，以及当侦测到该测试结果讯号之一峰对峰振幅不同于该参考交流讯号之一峰对峰振幅，判定该些感测线及该些驱动线中已发生短路。