CN108847899A - 电子设备射频通信性能测试系统、方法、装置及设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种电子设备射频通信性能测试系统、方法、装置及设备，其中系统包括：陪测设备、信号衰减设备及控制设备；陪测设备的输出端通过信号衰减设备与陪测设备的天线连接；控制设备的第一连接端与陪测设备的控制端连接，用于控制陪测设备的工作模式；控制设备的第二连接端与信号衰减设备的控制端连接，用于控制信号衰减设备的衰减值；控制设备的第三连接端与被测电子设备连接，用于获取被测电子设备的吞吐量。该系统不仅减少构建测试环境花费成本，并且还能提高测试效率，改善用户使用体验。

Description

电子设备射频通信性能测试系统、方法、装置及设备

技术领域

本申请涉及无线通信技术领域，特别涉及一种电子设备射频通信性能测试系统、方法、装置及设备。

背景技术

具有无线射频功能的电子设备，在开发阶段需要对电子设备的无线距离覆盖、穿墙能力以及不同距离下的吞吐量等参数进行测试，以确保电子设备在实际使用中性能更稳定。

目前，对电子设备进行测试时，通常是通过搭建与实际的应用场景相似的测试环境，进行相关的无线性能测试。例如，如图1所示，在开放环境下搭建测试环境，其中N1、N2、N3、N4为不同的房间，并且各个房间之间通过建立墙体做隔离，同时在每个房间的一边设置房门以便于通行。在实际测试过程中，需要将待测设备(Device Under Test，简称为：DUT)放置在N1、N2、N3、N4房间，以模拟测试DUT在现实场景下、不同隔墙层数下的无线能力，同时在固定了DUT的位置后，对陪测设备(System Under Test，简称为：SUT)进行不同距离下的移动测试，以验证DUT在不同距离下的吞吐量等性能。

然而，由于在开放环境下搭建测试环境时，需要建立各房间之间的隔离墙体以及为各房间设置房门，这就使得测试环境的搭建，需要花费较多的成本，并且整个测试过程，还需要测试人员的参与来移动陪测设备，从而降低了测试效率。

发明内容

本申请提供一种电子设备射频通信性能测试系统、方法、装置及设备，用于解决相关技术中，搭建测试环境花费成本高，以及需要测试人员参与，降低测试效率的问题。

本申请一方面实施例提供一种电子设备射频通信性能测试系统，该系统包括：陪测设备、信号衰减设备及控制设备；所述陪测设备的输出端通过所述信号衰减设备与所述陪测设备的天线连接；所述控制设备的第一连接端与所述陪测设备的控制端连接，用于控制所述陪测设备的工作模式；所述控制设备的第二连接端与所述信号衰减设备的控制端连接，用于控制所述信号衰减设备的衰减值；所述控制设备的第三连接端与被测电子设备连接，用于获取所述被测电子设备的吞吐量。

本申请另一方面实施例提供一种电子设备射频通信性能测试方法，该方法包括：根据当前被测电子设备的属性信息，确定所述被测电子设备的应用环境信息；根据所述被测电子设备的应用环境信息，确定信号衰减设备的目标衰减值；根据所述目标衰减值，调整所述信号衰减设备的衰减量，以获取所述被测电子设备的吞吐量。

本申请另一方面实施例提供一种电子设备射频通信性能测试装置，该装置包括：第一确定模块，用于根据当前被测电子设备的属性信息，确定所述被测电子设备的应用环境信息；第二确定模块，用于根据所述被测电子设备的应用环境信息，确定信号衰减设备的目标衰减值；调整模块，用于根据所述目标衰减值，调整所述信号衰减设备的衰减量，以获取所述被测电子设备的吞吐量。

本申请又一方面实施例的电子设备，该电子设备包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，以实现第二方面实施例所述的电子设备射频通信性能测试方法。

本申请再一方面实施例的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，以实现第二方面实施例所述的电子设备射频通信性能测试方法。

本申请再一方面实施例的计算机程序，当所述计算机程序被处理器执行时，实现第二方面实施例所述的电子设备射频通信性能测试方法。

本申请公开的技术方案，具有如下有益效果：

通过将陪测设备输出端通过信号衰减器设备与陪测设备的天线连接，并将控制设备的第一连接端与陪测设备的控制端连接，以用于控制陪测设备的工作模式，控制设备的第二连接端与信号衰减设备的控制端连接，以用于控制信号衰减设备的衰减值，控制设备的第三连接端与被测电子设备连接，用于获取被测电子设备的吞吐量。由此，实现了利用信号衰减设备来模拟被测设备在实际应用场景中的空间路径衰减，从而使得对电子设备的射频通信能力进行测试时，通过调整信号衰减设备的衰减值，即可实现不同衰减场景下的测试，从而能够减少构建测试环境花费成本，并且还能提高测试效率，改善用户使用体验。

本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。

附图说明

本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中，

图1为相关技术的电子设备射频通信性能测试系统的结构示意图；

图2是根据本申请一个实施例的电子设备射频通信性能测试系统的结构示意图；

图3是根据本申请另一个实施例的电子设备射频通信性能测试系统的结构示意图；

图4是根据本申请又一个实施例的电子设备射频通信性能测试系统的结构示意图；

图5是根据本申请再一个实施例的电子设备射频通信性能测试系统的结构示意图；

图6是根据本申请一个实施例的电子设备射频通信性能测试方法的流程示意图；

图7是根据本申请另一个实施例的电子设备射频通信性能测试方法的流程示意图；

图8是根据本申请又一个实施例的电子设备射频通信性能测试方法的流程示意图；

图9是根据本申请一个实施例的电子设备射频通信性能测试装置的结构示意图；

图10是根据本申请另一个实施例的电子设备射频通信性能测试装置的结构示意图；

图11是根据本申请又一个实施例的电子设备射频通信性能测试装置的结构示意图；

图12是根据本申请一个实施例的电子设备的结构示意图；

图13是根据本申请另一个实施例的电子设备的结构示意图。

附图标记：

电子设备射频通信性能测试系统-100、陪测设备-10、信号衰减设备-20、控制设备-30、被测电子设备-40、承载平台-50、屏蔽设备-60。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。

本申请各实施例针对相关技术中，搭建测试环境花费成本高，以及需要测试人员参与，降低测试效率的问题，提出一种电子设备射频通信性能测试系统。

本申请实施例的电子设备射频通信性能测试系统，包括陪测设备、信号衰减设备及控制设备，通过将陪测设备的输出端通过信号衰减设备与陪测设备的天线进行连接，并将控制设备的第一连接端与陪测设备的控制端连接，用于控制陪测设备的工作模式，控制设备的第二连接端与信号衰减设备的控制端连接，用于控制信号衰减设备的衰减值，控制设备的第三连接端与被测电子设备连接，用于获取被测设备的吞吐量。由此，实现了利用信号衰减设备来模拟被测设备在实际应用场景中的空间路径衰减，从而使得对电子设备的射频通信能力进行测试时，通过调整信号衰减设备的衰减值，即可实现不同衰减场景下的测试，从而能够减少构建测试环境花费成本，并且还能提高测试效率，改善用户使用体验。

下面参考附图描述本申请实施例的电子设备射频通信性能测试系统、方法、装置及设备进行详细说明。

首先，结合附图2，对本申请实施例提出的电子设备射频通信性能测试系统进行详细描述。

图2是根据本申请一个实施例的电子设备射频通信性能测试系统的结构示意图。

如图2所示，本申请电子设备射频通信性能测试系统100包括：陪测设备10、信号衰减设备20及控制设备30。

其中，陪测设备10的输出端通过信号衰减设备20与陪测设备10的天线连接；

控制设备30的第一连接端与陪测设备10的控制端连接，用于控制陪测设备10的工作模式；

控制设备30的第二连接端与信号衰减设备20的控制端连接，用于控制信号衰减设备20的衰减值；

控制设备30的第三连接端与被测电子设备40连接，用于获取被测电子设备40的吞吐量。

需要说明的是，在本实施例中，陪测设备10和被测电子设备40为相同类型的设备，比如，陪测设备10和被测电子设备40均为多输入多输出系统(Multiple-Input Multiple-Output，简称为MIMO)设备。其中，陪测设备10可以是智能手机、平板电脑等，相应的，被测电子设备40也可以是智能手机，平板电脑等。

其中，在本实施例中，信号衰减设备20可以是可编程衰减器。

控制设备30可以是任一具有控制功能的硬件设备，比如电脑、单片机、微控制处理器等等，此处对其不作具体限定。

可选的，本申请通过将信号衰减设备20设置在陪测设备10的输出端与陪测设备10的天线之间，以及将信号衰减设备20的控制端与控制设备30的第二连接端连接，并且将陪测设备10的控制端与控制设备30的第一连接端连接，从而使得控制设备30可以对陪测设备10的工作模式进行控制，并根据陪测设备10的工作模式对信号衰减设备20的衰减值进行控制，从而控制设备30可以利用被测设备10及信号衰减设备20对被测电子设备的射频通信性能进行测试。其中，射频通信性能主要是指被测电子设备的吞吐量。由此，实现了利用信号衰减设备来模拟被测设备在实际应用场景中的空间路径衰减，从而使得对电子设备的射频通信能力进行测试时，通过调整信号衰减设备的衰减值，即可实现不同衰减场景下的测试，从而能够减少构建测试环境花费成本，并且还能提高测试效率，改善用户使用体验。

为了能够更清楚的说明本申请实施例，下面对被测电子设备的吞吐量测试过程进行详细说明。

假设本申请中是通过陪测设备10向被测电子设备40发送电磁波信号，并根据被测电子设备40接收到的电磁波信号确定被测电子设备40的吞吐量，那么控制设备30可根据预先配置的陪测设备10、信号衰减设备20以及被测电子设备40的工作参数信息，控制陪测设备10、信号衰减设备20以及被测电子设备40处于相匹配的工作状态下，并当设置好相关控制信息之后，可向陪测设备10发送触发操作，以控制陪测设备10向被测电子设备40发送对应的电磁波信号，同时控制信号衰减设备20利用设置好的衰减值，对陪测设备10发送的电磁波信号进行衰减，当被测电子设备40接收到经过衰减的电磁波信号之后，可将接收到的电磁波信号发送给控制设备30，从而控制设备30可根据被测电子设备40发送的电磁波信号与陪测设备10发送的电磁波信号进行比对，并根据比对结果可以确定出被测电子设备40的吞吐量情况。

其中，在本实施例中，可通过公式(1)确定信号衰减设备20的衰减值：

S＝32.44+20log₁₀F+20log₁₀d…………………………………………(1)

其中，S为衰减值，F为陪测设备的工作频率，d为被测电子设备与陪测设备间的距离。

在实际使用时，通过改变F和d即可确定不同的衰减值，从而为衰减设备配置不同的衰减值，即可实现对被测电子设备在不同频段、不同距离下的吞吐量的测试。

需要说明的是，在本实施例中，控制设备30可以根据实际需要设置为一个或多个，本实施例对此不作具体限定。

举例来说，若控制设备30为一个，则通过将陪测设备10、信号衰减设备20以及被测电子设备40的相关信息预先配置在控制设备30中，使得控制设备30对被测电子设备40进行吞吐量测试时，可以根据预先配置的信息进行准确可靠的测试。其中，相关信息可以是陪测设备10、信号衰减设备20以及被测电子设备40的工作模式、工作频率、工作带宽等等，此处对其不作具体限定。

若控制设备30为多个，则需要将陪测设备10、信号衰减设备20以及被测电子设备40的相关信息分别预先配置在多个控制设备30中，从而使得多个控制设备30对被测电子设备40进行吞吐量测试时，可以保证各控制设备30之间的信息同步，从而保证被测电子设备40的吞吐量测试结果准确可靠。

然而，由于设置多个控制设备30可能会增大花费成本，并且测试难度也可能会根据控制设备30的增多而变大，因此为了节省花费以及降低测试难度，本实施例则以设置一个控制设备30为例对本申请进行具体说明。作为一种可选的实现形式，本实施例可根据一个控制设备30对陪测设备10的工作模式及信号衰减设备20的衰减值进行控制，并根据陪测设备10的工作模式及信号衰减设备20的衰减值，获取被测电子设备10的吞吐量。

由于在实际的应用中，电磁环境复杂，存在大量不稳定的无线电磁波的干扰，从而会影响整个测试效率和测试结果，并且还会对存在的问题复现和解决，带来不利影响。因此，为了避免无线电磁波的干扰，如图3所示，本实施例电子设备射频通信性能测试系统100还包括：根据被测电子设备40的属性信息，产生屏蔽环境的屏蔽设备60。

其中，被测电子设备40的属性信息可以是被测电子设备40的工作频率、工作带宽等，此处不作具体限定。

也就是说，本申请通过获取被测电子设备40的属性信息，以根据属性信息产生与属性信息对应的屏蔽设备60，使得整个测试系统处于屏蔽环境中，从而保证测试结果的稳定和可靠。

进一步的，由于被测电子设备的天线在不同角度下，所对应的无线性能存在差别，因此为了对被测电子设备40的天线在不同角度下的吞吐量进行测试，本实施例电子设备射频通信性能测试系统100还包括：用于放置被测电子设备40的承载平台50，具体参见图4所示。

可选的，本实施例中承载平台50的控制端与控制设备30的第四连接端连接，用于在控制设备30的控制下，带动被测电子设备40旋转，从而控制设备30，还用于：获取被测电子设备40在不同旋转角度时的吞吐量。由此实现了通过控制承载平台50的转动，来控制被测电子设备40的角度，从而方便测量不同角度下的被测电子设备40的吞吐量性能，实现了对被测电子设备40的全方位的测试。

在实际应用时，由于被测电子设备40为MIMO设备，因此被测电子设备40可以具有多个天线，而为了对每个天线的吞吐量都能进行测试，本申请可以将电子设备射频通信性能测试系统100中的信号衰减设备20，根据被测电子设备40的天线数量，设置为对应的多个，如图5所示。也就是说，本实施例中信号衰减设备20，可以包括：N个信号衰减器，其中，N为大于1的整数。

其中，N个信号衰减器分别与陪测设备10的N个输出端及陪测设备10的N个天线连接；

控制设备30，还用于根据当前待测电子设备40中包含的天线数量M，控制N个信号衰减器的工作状态，其中M为小于或等于N的整数。

可以理解的是，通过控制设备30根据当前待测电子设备40包含的天线数量M，对N个信号衰减器的工作状态分别进行控制，以实现对当前待测电子设备40包含的M个天线均能进行吞吐量的测试。

举例来说，若待测电子设备40包括2个天线，而陪测设备10中包含4条天线，那么在对待测电子设备40进行测试时，即可仅控制2个信号衰减器工作，另外的2个信号衰减器处于无效状态即可，从而即可实现对待测电子设备40包含的2个天线的吞吐量进行测试。

本申请实施例提供的电子设备射频通信性能测试系统，通过将陪测设备输出端通过信号衰减器设备与陪测设备的天线连接，并将控制设备的第一连接端与陪测设备的控制端连接，以用于控制陪测设备的工作模式，控制设备的第二连接端与信号衰减设备的控制端连接，以用于控制信号衰减设备的衰减值，控制设备的第三连接端与被测电子设备连接，用于获取被测电子设备的吞吐量。由此，实现了利用信号衰减设备来模拟被测设备在实际应用场景中的空间路径衰减，从而使得对电子设备的射频通信能力进行测试时，通过调整信号衰减设备的衰减值，即可实现不同衰减场景下的测试，从而能够减少构建测试环境花费成本，并且还能提高测试效率，改善用户使用体验。

基于上述实施例提供的电子设备射频通信性能测试系统，本申请实施例还提出了一种电子设备射频通信性能测试方法。

具体的，如图6所示，本申请电子设备射频通信性能测试方法可以包括以下步骤：

步骤601，根据当前被测电子设备的属性信息，确定被测电子设备的应用环境信息。

其中，本申请实施例提供的电子设备射频通信性能测试方法，可以由电子设备执行，该电子设备中具有电子设备射频通信测试系统，以实现对被测电子设备的测试进行控制。

在本实施例中，当前被测电子设备的属性信息可以为，工作频率、工作带宽、谐振频率等等，此处对其不作具体限定。

也就是说，通过获取当前被测电子设备的属性信息，以根据当前被测电子设备的属性信息，即可确定出当前被测电子设备当前所在的应用环境信息。

步骤602，根据被测电子设备的应用环境信息，确定信号衰减设备的目标衰减值。

可选的，当确定出被测电子设备的应用环境信息之后，电子设备即可根据应用环境信息确定出信号衰减设备的目标衰减值。

作为一种可选的实现形式，本实施例根据被测电子设备的应用环境信息，确定信号衰减设备的目标衰减值，可以通过公式(2)实现：

S＝32.44+20log₁₀F+20log₁₀d…………………………………………(2)

其中，S为目标衰减值，F为陪测设备的工作频率，d为被测电子设备与陪测设备间的距离。

步骤603，根据目标衰减值，调整信号衰减设备的衰减量，以获取被测电子设备的吞吐量。

可选的，当确定出信号衰减设备的目标衰减值之后，电子设备即可根据目标衰减值，调整信号衰减设备的衰减量，从而获取被测电子设备的吞吐量。

在本申请的另一个实施例中，由于在实际的应用中，电磁环境复杂，存在大量不稳定的无线电磁波的干扰，从而会影响整个测试效率和测试结果，并且还会对存在的问题的复现和解决，带来不利影响。因此，为了避免无线电磁波的干扰，本实施例电子设备射频通信性能测试方法，还包括：根据所述被测电子设备的属性信息，确定目标屏蔽环境；根据所述目标屏蔽环境，调整屏蔽设备的工作参数。其中，被测电子设备的属性信息可以是被测电子设备的工作频率、工作带宽等，此处不作具体限定。

也就是说，本申请通过获取被测电子设备的属性信息，以根据属性信息确定目标屏蔽环境，从而根据目标屏蔽环境，调整屏蔽设备的工作参数，使得整个测试系统处于屏蔽环境中，从而保证测试结果的稳定和可靠。

本发明实施例提供的电子设备射频通信性能测试方法，通过将陪测设备输出端通过信号衰减器设备与陪测设备的天线连接，并将控制设备的第一连接端与陪测设备的控制端连接，以用于控制陪测设备的工作模式，控制设备的第二连接端与信号衰减设备的控制端连接，以用于控制信号衰减设备的衰减值，控制设备的第三连接端与被测电子设备连接，用于获取被测电子设备的吞吐量。由此，实现了利用信号衰减设备来模拟被测设备在实际应用场景中的空间路径衰减，从而使得对电子设备的射频通信能力进行测试时，通过调整信号衰减设备的衰减值，即可实现不同衰减场景下的测试，从而能够减少构建测试环境花费成本，并且还能提高测试效率，改善用户使用体验。

通过上述实施例可知，本申请通过确定被测电子设备的应用环境信息，以确定信号衰减设备的目标衰减值，从而根据目标衰减值对信号衰减设备的衰减量进行调整，从而获取被测电子设备的吞吐量。

在具体实现时，由于被测电子设备可以为MIMO设备，因此被测电子设备40可以具有多个天线，而为了对每个天线的吞吐量都能进行测试，则需要设置包括多个信号衰减器的信号衰减设备，比如设置具有N个信号衰减器的信号衰减设备，其中N为大于1的整数，从而通过上述具有N个信号衰减器的信号衰减设备，对被测电子设备中多个天线的吞吐量进行测试。下面结合图7，对本申请电子设备射频通信性能测试方法进行进一步的说明。

图7是本申请的另一个实施例的电子设备射频通信性能测试方法的流程示意图。

如图7所示，本申请电子设备射频通信性能测试方法可以包括以下步骤：

步骤701，根据当前被测电子设备的属性信息，确定所述被测电子设备的应用环境信息。

步骤702，根据被测电子设备中包含的天线数量及应用环境信息，确定N个信号衰减分别对应的目标工作状态及目标衰减量。

其中，由于陪测设备、信号衰减设备及被测电子设备的参数信息是预先设置在控制设备中，因此电子设备可以根据控制设备中预先设置的参数信息确定出被测电子设备包含的天线数量，从而根据确定的天线数量即可对应确定出N个信号衰减分别对应的目标工作状态及目标衰减量。

步骤703，根据N个信号衰减分别对应的目标工作状态及目标衰减量，对N个信号衰减器进行控制，以获取被测电子设备的吞吐量。

可选的，当确定出N个信号衰减分别对应的目标工作状态及目标衰减辆之后，电子设备即可对具有N各信号衰减器的信号衰减设备进行控制，以获取被测电子设备的吞吐量。

可以理解的是，通过根据当前待测电子设备包含的天线数量，对N个信号衰减器分别进行控制，以实现对被测电子设备包含的M个天线分别进行吞吐量的测试。

通过上述实施例可知，本申请根据被测电子设备中包含的天线数量，确定N个信号衰减分别对应的目标工作状态及目标衰减量，并根据确定的目标工作状态及目标衰减辆，对N个信号衰减器进行控制，以实现对被测电子设备包含的多个天线分别进行吞吐量的测试。

在具体实现时，由于被测电子设备的天线在不同角度下，所对应的无线性能存在差别，因此为了对被测电子设备的天线在不同角度下的吞吐量进行测试，可以将被测电子设备放置在可旋转的承载平台上，以通过控制承载平台的旋转，对被测电子设备的天线在不同角度下的吞吐量进行测试。下面结合图8，对本申请电子设备射频通信性能测试方法进行进一步的说明。

图8是本申请的另一个实施例的电子设备射频通信性能测试方法的流程示意图。

如图8所示，本申请电子设备射频通信性能测试方法可以包括以下步骤：

步骤801，根据当前被测电子设备的属性信息，确定被测电子设备的应用环境信息及承载平台的目标旋转方式，其中，承载平台用于放置被测电子设备。

其中，当前被测电子设备的属性信息可以是天线的设置位置，以及天线的工作频率、工作带宽等，此处对其不作具体限定。

可选的，承载平台的目标旋转方式可以是每次旋转的角度、旋转的时间间隔等等。

步骤802，根据被测电子设备的应用环境信息，确定信号衰减设备的目标衰减值。

步骤803，根据目标衰减值，调整信号衰减设备的衰减量，并根据目标旋转方式，控制承载平台带动被测电子设备旋转，以获取被测电子设备的吞吐量。

例如，目标旋转方式为每次旋转15°，那么电子设备可以控制承载平台每次旋转15°，然后对被测电子设备的天线的吞吐量进行测试。

也就是说，通过控制承载平台的转动，来控制被测电子设备的角度，从而方便测量不同角度下的被测电子设备的吞吐量性能，实现了对被测电子设备的全方位的测试。

为了实现上述实施例，本申请还提出了一种电子设备射频通信性能测试装置。

图9是本申请一个实施例的电子设备射频通信性能测试装置的结构示意图。

如图9所示，本申请的电子设备射频通信性能测试装置包括：第一确定模块11、第二确定模块12以及调整模块13。

其中，第一确定模块11用于根据当前被测电子设备的属性信息，确定所述被测电子设备的应用环境信息；

第二确定模块12用于根据所述被测电子设备的应用环境信息，确定信号衰减设备的目标衰减值；

调整模块13用于根据所述目标衰减值，调整所述信号衰减设备的衰减量，以获取所述被测电子设备的吞吐量。

作为本申请的一种可选的实现形式，所述第一确定模块11包括：第一确定单元和第一调整单元。

其中，第一确定单元用于根据所述被测电子设备的属性信息，确定目标屏蔽环境；

第一调整单元用于根据所述目标屏蔽环境，调整屏蔽设备的工作参数。

需要说明的是，前述对电子设备射频通信性能测试方法实施例的解释说明也适用于该实施例的电子设备射频通信性能测试装置，其实现原理类似，此处不再赘述。

本实施例提供的电子设备射频通信性能测试装置，通过将陪测设备输出端通过信号衰减器设备与陪测设备的天线连接，并将控制设备的第一连接端与陪测设备的控制端连接，以用于控制陪测设备的工作模式，控制设备的第二连接端与信号衰减设备的控制端连接，以用于控制信号衰减设备的衰减值，控制设备的第三连接端与被测电子设备连接，用于获取被测电子设备的吞吐量。由此，实现了利用信号衰减设备来模拟被测设备在实际应用场景中的空间路径衰减，从而使得对电子设备的射频通信能力进行测试时，通过调整信号衰减设备的衰减值，即可实现不同衰减场景下的测试，从而能够减少构建测试环境花费成本，并且还能提高测试效率，改善用户使用体验。

在示例性实施例中，还提供了一种电子设备射频通信性能测试装置。

图10为本申请另一个实施例的电子设备射频通信性能测试装置的结构示意图。

参照图10所示，本申请的电子设备射频通信性能测试装置可以包括：第一确定模块11、第二确定模块12、第一控制模块14。

其中，第一确定模块11用于根据当前被测电子设备的属性信息，确定所述被测电子设备的应用环境信息；

第二确定模块12具体用于根据被测电子设备中包含的天线数量及应用环境信息，确定N个信号衰减分别对应的目标工作状态及目标衰减量。

其中，信号衰减设备中包括N个信号衰减器。

第一控制模块14用于根据N个信号衰减分别对应的目标工作状态及目标衰减量，对N个信号衰减器进行控制，以获取被测电子设备的吞吐量。

需要说明的是，本实施例的电子设备射频通信性能测试装置的实施过程和技术原理参见前述对第二方面实施例的电子设备射频通信性能测试方法的解释说明，此处不再赘述。

本申请实施例提供的电子设备射频通信性能测试装置，通过根据当前待测电子设备包含的天线数量，对N个信号衰减器分别进行控制，以实现对被测电子设备包含的M个天线分别进行吞吐量的测试。

在示例性实施例中，还提供了一种电子设备射频通信性能测试装置。

图11为本申请又一个实施例的电子设备射频通信性能测试装置的结构示意图。

如图11所示，本申请的电子设备射频通信性能测试装置可以包括：第一确定模块11、第二确定模块12、第二控制模块15

其中，第一确定模块11具体用于根据当前被测电子设备的属性信息，确定被测电子设备的应用环境信息及承载平台的目标旋转方式，其中，承载平台用于放置被测电子设备；

第二确定模块12用于根据所述被测电子设备的应用环境信息，确定信号衰减设备的目标衰减值；

第二控制模块15用于根据目标衰减值，调整信号衰减设备的衰减量，并根据目标旋转方式，控制承载平台带动被测电子设备旋转，以获取被测电子设备的吞吐量。

需要说明的是，前述对电子设备射频通信性能测试方法实施例的解释说明也适用于该实施例的电子设备射频通信性能测试装置，其实现原理类似，此处不再赘述。

本实施例提供的电子设备射频通信性能测试装置，通过控制承载平台的转动，来控制被测电子设备的角度，从而方便测量不同角度下的被测电子设备的吞吐量性能，实现了对被测电子设备的全方位的测试。

为了实现上述实施例，本申请还提出一种电子设备。

图12为本申请一个实施例的电子设备的结构示意图。图12显示的电子设备仅仅是一个示例，不应对本申请实施例的功能和使用范围带来任何限制。

如图12所示，上述电子设备200包括：存储器210、处理器220及存储在存储器210上并可在处理器220上运行的计算机程序，所述处理器220执行所述程序时，以实现第二方面实施例所述的电子设备射频通信性能测试方法。

在一种可选的实现形式中，如图13所示，该电子设备200还可以包括：存储器210及处理器220，连接不同组件(包括存储器210和处理器220)的总线230，存储器210存储有计算机程序，当处理器220执行所述程序时实现本申请实施例所述的电子设备射频通信性能测试方法。

总线230表示几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，外围总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说，这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线，微通道体系结构(MAC)总线，增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。

电子设备200典型地包括多种计算机设备可读介质。这些介质可以是任何能够被电子设备200访问的可用介质，包括易失性和非易失性介质，可移动的和不可移动的介质。

存储器210还可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质，例如随机存取存储器(RAM)240和/或高速缓存存储器250。电子设备200可以进一步包括其他可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例，存储系统260可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图13未显示，通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图13中未示出，可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器，以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM,DVD-ROM或者其他光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下，每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线230相连。存储器210可以包括至少一个程序产品，该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块，这些程序模块被配置以执行本申请各实施例的功能。

具有一组(至少一个)程序模块270的程序/实用工具280，可以存储在例如存储器210中，这样的程序模块270包括——但不限于——操作系统、一个或者多个应用程序、其他程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块270通常执行本申请所描述的实施例中的功能和/或方法。

电子设备200也可以与一个或多个外部设备290(例如键盘、指向设备、显示器291等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备200交互的设备通信，和/或与使得该电子设备200能与一个或多个其他计算设备进行通信的任何设备(例如网卡，调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口292进行。并且，电子设备200还可以通过网络适配器293与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图所示，网络适配器293通过总线230与电子设备200的其他模块通信。应当明白，尽管图中未示出，可以结合电子设备200使用其他硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

需要说明的是，本实施例的电子设备的实施过程和技术原理参见前述对第二方面实施例的电子设备射频通信性能测试方法的解释说明，此处不再赘述。

本申请实施例提供的电子设备，通过将陪测设备输出端通过信号衰减器设备与陪测设备的天线连接，并将控制设备的第一连接端与陪测设备的控制端连接，以用于控制陪测设备的工作模式，控制设备的第二连接端与信号衰减设备的控制端连接，以用于控制信号衰减设备的衰减值，控制设备的第三连接端与被测电子设备连接，用于获取被测电子设备的吞吐量。由此，实现了利用信号衰减设备来模拟被测设备在实际应用场景中的空间路径衰减，从而使得对电子设备的射频通信能力进行测试时，通过调整信号衰减设备的衰减值，即可实现不同衰减场景下的测试，从而能够减少构建测试环境花费成本，并且还能提高测试效率，改善用户使用体验。

为实现上述目的，本申请还提出一种计算机可读存储介质。

其中该计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时，以实现第二方面实施例所述的电子设备射频通信性能测试方法。

一种可选实现形式中，本实施例可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括——但不限于——电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括——但不限于——无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如”C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

为实现上述目的，本申请还提出一种计算机程序。其中当计算机程序被处理器执行时，以实现第二方面实施例所述的电子设备射频通信性能测试方法。

在本申请中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连接”等术语应做广义理解，例如，可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。

流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。

应当理解，本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。

本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。

上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (13)

1.一种电子设备射频通信性能测试系统，其特征在于，包括：陪测设备、信号衰减设备及控制设备；

所述陪测设备的输出端通过所述信号衰减设备与所述陪测设备的天线连接；

所述控制设备的第一连接端与所述陪测设备的控制端连接，用于控制所述陪测设备的工作模式；

所述控制设备的第二连接端与所述信号衰减设备的控制端连接，用于控制所述信号衰减设备的衰减值；

所述控制设备的第三连接端与被测电子设备连接，用于获取所述被测电子设备的吞吐量。

2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括：用于放置所述被测电子设备的承载平台；

所述承载平台的控制端与所述控制设备的第四连接端连接，用于在所述控制设备的控制下，带动所述被测电子设备旋转。

3.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述控制设备，还用于：

获取所述被测电子设备在不同旋转角度时的吞吐量。

4.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述信号衰减设备，包括：N个信号衰减器，其中，N为大于1的整数；

所述N个信号衰减器分别与所述陪测设备的N个输出端及所述陪测设备的N个天线连接；

所述控制设备，还用于根据当前待测电子设备中包含的天线数量M，控制所述N个信号衰减器的工作状态，其中M为小于或等于N的整数。

5.如权利要求1-4任一所述的测试系统，其特征在于，还包括：用于根据所述被测电子设备的属性信息，产生屏蔽环境的屏蔽设备。

6.一种电子设备射频通信性能测试方法，其特征在于，包括：

根据当前被测电子设备的属性信息，确定所述被测电子设备的应用环境信息；

根据所述被测电子设备的应用环境信息，确定信号衰减设备的目标衰减值；

根据所述目标衰减值，调整所述信号衰减设备的衰减量，以获取所述被测电子设备的吞吐量。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述信号衰减设备中包括N个信号衰减器；

所述方法还包括：

根据所述被测电子设备中包含的天线数量，确定所述N个信号衰减分别对应的目标工作状态及目标衰减量；

根据所述N个信号衰减分别对应的目标工作状态及目标衰减量，对所述N个信号衰减器进行控制。

8.如权利要求6所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述被测电子设备的属性信息，确定承载平台的目标旋转方式，其中，所述承载平台用于放置所述被测电子设备；

根据所述目标旋转方式，控制所述承载平台带动所述被测电子设备旋转。

9.如权利要求6-8任一所述的方法，其特征在于，还包括：

根据所述被测电子设备的属性信息，确定目标屏蔽环境；

根据所述目标屏蔽环境，调整屏蔽设备的工作参数。

10.一种电子设备射频通信性能测试装置，其特征在于，包括：

第一确定模块，用于根据当前被测电子设备的属性信息，确定所述被测电子设备的应用环境信息；

第二确定模块，用于根据所述被测电子设备的应用环境信息，确定信号衰减设备的目标衰减值；

调整模块，用于根据所述目标衰减值，调整所述信号衰减设备的衰减量，以获取所述被测电子设备的吞吐量。

11.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时，以实现如权利要求6-9任一所述的电子设备射频通信性能测试方法。

12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时，以实现如权利要求6-9任一所述的电子设备射频通信性能测试方法。

13.一种计算机程序，其特征在，其特征在于，当所述计算机程序被处理器执行时，实现如权利要求6-9任一所述的电子设备射频通信性能测试方法。