CN108701073B

CN108701073B - 一种方便调试的电子装置、系统及方法

Info

Publication number: CN108701073B
Application number: CN201780004650.5A
Authority: CN
Inventors: 庄铁铮
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 2017-08-21
Filing date: 2017-08-21
Publication date: 2025-09-19
Anticipated expiration: 2037-08-21
Also published as: US20210325444A1; CN108701073A; WO2019036857A1; US11531055B2

Abstract

本发明公开了一种方便调试的电子装置、系统及方法。本发明巧妙地将电子装置的电源接口与信号接口整合，仅从电子装置常规输出端与主控装置相互搭配，实现了PACKAGE(封装片)/PCBA/COB模块半成品及电子类产品等电子装置的调试工作，克服了现有技术中为了对电子装置进行多种测试、烧录和校正，需要在电子装置上设置不同的端口，导致电子装置体积及成本增加的技术问题，实现了通过较少的外部接口即可对电子装置进行调试的目的，从而有利于PACKAGE(封装片)/PCBA/COB模块半成品及电子类产品等电子装置的小型化，以及装置壳体机构的防水、防尘、美观设计,进而有利于保障电子产品的质量，具有良好的经济和社会效益。本发明可广泛应用于各种电子产品及其系统调试。

Description

一种方便调试的电子装置、系统及方法

技术领域

本发明涉及电子装置领域，尤其涉及一种需进行测试、烧录或校正的电子装置及系统及方法。

背景技术

调试：测试和/或调整机器、仪器等。

电子类产品(包含成品电子装置和PACKAGE(封装片)/PCBA/COB阶段的半成品电子装置)，进行批量化生产时，存在多种类多样化多阶段的测试及刻录、设定、校正需求。

现有技术中，常用的调试手段主要包括：

1.利用被测试电子产品预留的测试/校正口与测试主机连接，再由测试主机运行相应的测试程序。该手段需在电子产品上预留测试/校正口，会占用一定的接口资源和产品面积，除增加成本外也不利于电子产品的小型化。

2.预留的测试/校正口有时也会与其他I/O口共享，主要目的也是充分利用接口资源，降低电子产品成本。但是因为产品应用的多种类多样化，I/O口需要连接的电子组件种类繁多，电子产品预留的测试/校正口与其他I/O口共享方式很容易受到外线路干扰，影响测试/校正口的电气特性。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明的第一个目的是提供一种节省接口资源、通用性强，从而方便调试的电子装置。

本发明的第二个目的是提供一种基于上述电子装置的调试系统。

本发明的第三个目的是提供一种应用于上述调试系统的调试方法。

本发明所采用的技术方案是：

一种方便调试的电子装置，包括：

电源接口；

信号处理电路，所述信号处理电路的输入端与电源接口的输出端连接，用于接收并处理电源接口接收的访问信号，并根据访问信号驱动输出元件输出相应的动作信号；

输出元件，与信号处理电路的输出端连接，用于输出可感知的动作信号。

优选的，所述信号处理电路包括整流单元、输入单元、逻辑运算单元和输出单元，所述访问信号依次经过整流单元、输入单元、逻辑运算单元和输出单元，输出到输出元件。

优选的，所述整流单元包括正半波/负半波/全波整流电路、与正半波/负半波/全波整流电路输出端并联的电容、连接在整流单元输入端和输出端之间的分压电路，所述分压电路包括上/下拉电阻和与其串接的串接电阻/二极管，所述上/下拉电阻和串接电阻/二极管分压后输出信号到输入单元。

优选的，所述信号处理电路还包括存储器单元，所述存储器单元与逻辑运算单元连接。

优选的，还包括频率/基准电压调节单元，所述频率/基准电压调节单元用于调节电子装置的时钟振荡频率和基准电压。

优选的，还包括复位单元，所述复位单元用于控制电子装置复位重启。

优选的，所述输出单元为PWM输出单元。

优选的，所述输出元件为光波、电磁波、声波/超声波或机械震动波输出元件等，对应的，所述动作信号为光波、电磁波、声波/超声波或机械震动波信号等。

优选的，所述电子装置可以是LED灯、LDO、LVD、充电管理IC、无线射频模块、语音IC、单片机MCU、内存、传感器、舵机、伺服电机等少管脚数的芯片及装置；所述电子装置也可以是LED灯泡、LED灯珠、LED灯串、LED灯条、LED灯带、LED铜线灯、LED铜丝灯、LED网灯、LED窗帘灯、LED流星灯、LED灯管、LED计分牌、LED指示牌、LED指示板、LED广告板、LED显示屏幕、LED显示器等应用于装饰、照明、应急、警示、指示、指挥、信息显示类LED灯具产品；所述电子装置也可以是LCD/LED手表、手环、手套、项链、项圈、眼镜、头盔、胸牌、臂章、腰带、马甲、背心、背包、耳机、鞋等电子类穿戴设备；所述电子装置也可以是遥控器、跳舞机、游戏机、游戏手柄、手写笔、手写板、鼠标、光枪、光剑、闪光棒、加油棒、指挥棒、手电筒、按摩器、无线对讲机、计算器、计分器、计数器、电子烟、移动电源、美容美发器等电子式手持设备；所述电子装置还可以是门铃、对讲机、楼宇对讲机、门禁锁、智能锁、人体远红外线传感器(PIR)、门窗传感器、温湿度传感器、烟雾报警器、报警器、无线开关、智能网关、定时器、电话交换机、加湿器、雾化器、超声波清洗机、喷香机、按摩椅、洗脚机等电器设备。

所述电子装置还可以是电子秤、电子式血压计、耳温枪、电子式温度计、电子式湿度计、电度表、测距仪等电子式测量设备；所述电子装置还可以是音乐闹钟、音乐挂钟、导览仪、点菜机、遥控车、遥控船、遥控飞行器、机器人、声控灯、LED蜡烛灯、LED小夜灯、LED床头灯、无线开关、音乐床铃、八音盒、音乐水晶球、智能枕、电动牙刷、语音牙刷、电子乐器、电子贺卡、电子积木、电子玩具、电子教育设备、动作机芯、语音公仔、电子鱼、电子龟、电子水母、电子密码锁等电子类产品。

显然，电子装置不限于上述类型，还包括PACKAGE(封装片)/PCBA/COB模块半成品及其它电子产品，在此不做一一列举。

优选的，所述电子装置为LED灯珠，所述LED灯珠包括壳体和引出壳体外部的电源接口，所述电源接口包括负极引脚及正极引脚，所述壳体内部设置有负极支架和正极支架，所述负极支架上设置有信号处理电路，所述正极支架上设置有作为输出元件的LED。

一种电子装置调试系统，包括一种方便调试的电子装置和主控装置，所述主控装置包括主控处理电路和测试装置，所述主控处理电路用于输出访问信号到电子装置的电源接口，所述测试装置包括感测元件，所述感测元件与电子装置输出元件对应设置，所述测试装置用于侦测电子装置输出元件所输出的可感知的动作信号，将动作信号转换为电信号回传到主控处理电路。

优选的，所述主控处理电路包括输入单元、逻辑运算单元和输出单元，所述输入单元与逻辑运算单元连接，所述逻辑运算单元与输出单元连接，所述输出单元用于输出访问信号到电子装置的电源接口，所述输入单元用于接收测试装置回传的电信号。

优选的，所述主控装置还包括驱动电路，所述输出单元通过驱动电路输出访问信号到电子装置的电源接口。

优选的，所述驱动电路为电压跟随器，用于增强主控装置输出单元的输出驱动能力。

优选的，所述主控处理电路还包括存储器单元、频率/基准电压调节单元及复位单元，所述存储器单元与逻辑运算单元连接，所述频率/基准电压调节单元用于调节主控装置的时钟振荡频率，所述复位单元用于控制主控装置复位重启。

优选的，所述输出元件为光波、电磁波、声波/超声波或机械震动波输出元件，对应的，所述感测元件为光波、电磁波、声波/超声波或机械震动波感测元件。

优选的，所述系统包括多个电子装置，所述多个电子装置依次串联/并联，对应的，所述主控装置包括多个用于侦测每个电子装置输出元件所输出的可感知的动作信号的测试装置，所述多个测试装置的输出端均与主控处理电路的输入端连接。

优选的，所述多个电子装置依次串联，所述信号处理电路包括整流单元，所述电子装置的电源接口或整流单元输出端的正极和负极之间反向并接有稳压二极管。

一种电子装置调试方法，其应用于一种电子装置调试系统，所述方法包括步骤：

S1，主控装置输出用于调试的访问信号至电子装置的电源接口；

S2，电子装置利用电源接口接收访问信号并根据访问信号驱动输出元件输出相应的动作信号；

S3，主控装置利用测试装置侦测电子装置输出元件所输出的可感知的动作信号，将动作信号转换为电信号回传到主控处理电路进行处理。

优选的，所述步骤S3具体包括子步骤：

S31，主控装置利用测试装置侦测电子装置输出元件所输出的可感知的动作信号，将动作信号转换为电信号回传到主控处理电路；

S32，主控处理电路的逻辑运算单元根据步骤S31所述的电信号，计算电子装置输出元件输出的动作信号的信号参数；

S33，将步骤S32所述的信号参数与预设的基准值作比对，得出偏差值，若偏差值符合预设范围，跳至步骤S8，否则进入步骤S4；

所述方法还包括步骤：

S4，主控装置通过其输出单元调制访问信号将偏差值传送至电子装置；

S5，电子装置接收到步骤S4所述的偏差值后，将该数值写入电子装置的存储器单元；

S6，主控装置通过其输出单元对电子装置进行复位重启操作；

S7，电子装置复位后，读取存储器单元内的偏差值，根据偏差值对其输出单元输出的动作信号的信号参数进行调整，返回执行步骤S1-S3；

S8，确认电子装置输出的动作信号的信号参数符合预设要求。

优选的，所述信号参数具体为：所述信号参数为动作信号对应的基准电压、频率或周期等。

优选的，所述方法还包括步骤：

S9，确认电子装置输出的动作信号的信号参数符合要求后，主控装置可对电子装置进行写入设定。

优选的，所述方法还包括步骤：

S10，将电子装置与主控装置分离，使电子装置独立上电运行。

优选的，所述方法还包括步骤：利用频率/基准电压调节单元，将电子装置的时钟振荡频率，调整至与主控装置的时钟振荡频率匹配。

本发明的有益效果是：

本发明巧妙地将电子装置的电源接口与信号接口整合，仅从电子装置常规输出端与主控装置相互搭配，实现了PACKAGE(封装片)/PCBA/COB模块半成品及电子类产品等电子装置的调试工作，克服了现有技术中为了对电子装置进行多种测试、烧录和校正，需要在电子装置上设置不同的端口，导致电子装置体积及成本增加的技术问题，实现了通过较少的外部接口即可对电子装置进行调试的目的，从而有利于PACKAGE(封装片)/PCBA/COB模块半成品及电子类产品等电子装置的小型化，以及装置壳体机构的防水、防尘、美观设计,进而有利于保障电子产品的质量，具有良好的经济和社会效益。

本发明可广泛应用于各种电子产品及其系统调试。

附图说明

下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步说明：

图1是本发明实施例1A一种方便调试系统的原理图；

图2a是本发明实施例1A一种方便调试系统的频率/基准电压调节单元使用固定等效电阻设定参数的示意图；

图2b是本发明实施例1A一种方便调试系统的频率/基准电压调节单元使用可调等效电阻设定参数的示意图；

图3是本发明实施例1A一种方便调试系统的电子装置工作原理说明波形图；

图4是本发明实施例1A电子装置LVD电压参数调节过程的信号波形图；

图5是本发明实施例1A电子装置独立上电的原理图；

图6是本发明实施例1B调节电子装置频率/周期参数的波形图；

图7a和图7b为本发明实施例1B不同Rosc振荡频率对应的串列信号对比图；

图8是本发明实施例1C一种方便调试系统的原理图；

图9是本发明实施例1C一种方便调试系统对应的信号波形示意图；

图10a是本发明实施例1D一种方便调试系统的原理图；

图10b是本发明实施例1D电子装置独立上电的原理图；

图11a是本发明实施例1E一种方便调试系统的原理图；

图11b是本发明实施例1E电子装置独立上电的原理图；

图12是本发明实施例2A一种方便调试系统的原理图；

图13是本发明实施例2A电子装置参数调试过程的信号波形图；

图14是本发明实施例2A一种方便调试系统的电子装置工作原理说明波形图；

图15是本发明实施例2B一种方便调试系统的原理图；

图16是本发明实施例2B一种方便调试系统对应的信号波形示意图；

图17是本发明实施例2B电子装置独立上电的原理图；

图18a是本发明实施例2C一种方便调试系统的原理图；

图18b是本发明实施例2C电子装置独立上电的原理图；

图19a是本发明实施例2D一种方便调试系统的原理图；

图19b是本发明实施例2D电子装置独立上电的原理图；

图20是本发明实施例3A一种方便调试系统的原理图；

图21是本发明实施例3A电子装置参数调试过程的信号波形图；

图22是本发明实施例3A一种方便调试系统的电子装置工作原理说明波形图；

图23a是本发明实施例3B一种方便调试系统的原理图；

图23b是本发明实施例3B电子装置独立上电的原理图；

图24是本发明实施例3B一种方便调试系统对应的信号波形示意图；

图25a是本发明实施例3C一种方便调试系统的原理图；

图25b是本发明实施例3C电子装置独立上电的原理图；

图26a是本发明实施例3D一种方便调试系统的原理图；

图26b是本发明实施例3D电子装置独立上电的原理图；

图27是本发明实施例4A电子装置的俯向透视图；

图28是本发明实施例4A电子装置的侧面透视图；

图29是本发明实施例4A对应的调试系统的原理图；

图30是本发明实施例4B电子装置的俯向透视图；

图31是本发明实施例4B对应的调试系统的原理图。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

概述：

本发明通过电子装置的电源脚，即可实现主控装置对电子装置的测试、电压和频率参数校正以及数据高速传输、控制和刻录等功能。

本发明基本构思为：

1.将电子装置电源接口连接至主控装置输出单元，测试装置将电子装置输出单元与主控装置输入单元进行连接；

2.利用主控装置上的感测元件，侦测电子装置输出单元连接输出元件的输出信号；

3.测试装置对侦测到的电子装置输出信号进行电信号转换之后，再输入到主控处理电路输入单元。

为便于理解，本发明所列举的实施例中，电子装置输出单元连接的输出元件，均通过测试装置做电信号转换再连接至主控装置输入单元，本行从业人员亦可轻易的对测试装置进行简化，将测试装置进行简单改造，例如可将电子装置输出单元与主控装置输入单元进行简单耦合连接甚至是电性直连，此类等同变化也应包含在本发明权利请求范围内。

下面以多种实施例详述本发明的实现原理和过程。

下列实施例中，均需先实施前期安装步骤：将主控装置与电子装置妥善设置(电子装置电源接口与主控装置输出单元相连接，电子装置输出单元所连接的输出元件处于感测元件可访问范围内，使测试装置上的感测元件能侦测到电子装置输出元件的动作信号)。

下列实施例中，系统上电并开始运行后，主控装置对电子装置的控制、读取状态、测试流程包括：

1.主控装置通过其输出单元调制电源载波信号访问电子装置；

2.电子装置接收到有效访问信号后，通过其输出单元驱动输出元件做出相应的动作信号(光波、电磁波、声波/超声波、机械震动波)，或是将电子装置存储器单元内的资料或状态或运算结果，经由与电子装置输出单元相连接的输出元件转换成动作信号输出；

3.测试装置上的感测元件侦测到电子装置的输出动作信号后，将其转换成电信号回传到主控装置进行确认；

4.将电子装置与主控装置分离，使电子装置独立上电运行，完成对电子装置的控制、读取状态、测试等流程。

需要说明的是，电子装置的工作电源可以由主控装置输出的电源载波信号提供；也可以由电子装置内置的电池或电容器提供；也可以由电子装置电源接口VP0/VN0外接的电源(电池)提供。

实施例1A:

一种电子装置调试系统,包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括正半波整流电路，输出元件为一个LED。

如图1所示，主控装置的主控处理电路U201，测试装置U301，电子装置的信号处理电路U101，电子装置的输出元件D460。

主控装置组成说明：主控装置包括主控处理电路U201和测试装置U301。

主控处理电路U201包括输入单元、逻辑运算单元、存储器单元、频率/基准电压调节单元、复位单元、和输出单元，所述输入单元与逻辑运算单元连接，所述逻辑运算单元与输出单元连接，所述输出单元用于输出访问信号到电子装置的电源接口VP0/VN0，所述输入单元用于接收测试装置U301回传的电信号。主控处理电路U201可采用集成IC芯片(RISC/6502/51单片机、ARM单片机或FPGA等)实现。

主控装置还包括驱动电路，所述输出单元通过驱动电路输出访问信号到电子装置的电源接口VP0/VN0。本实施例中，所述驱动电路为由运算放大器OPA209、晶体管Q505和电阻R506构成的电压跟随器，其连接关系如图1所示，用于增强主控装置输出单元的输出驱动能力。

测试装置U301包括作为感测元件的光电晶体管Q902和与其串接的偏压电阻R901。偏压电阻R901用于给光电晶体管Q902提供工作偏压，如果主控装置的输入单元已内置有上/下拉电阻时，可将偏压电阻R901省去。光电晶体管Q902与LED(图中标记D460)对应设置，光电晶体管Q902用于侦测LED(图中标记D460)所输出的可感知的光波信号，将光波信号转换为电信号回传到主控处理电路U201的输入单元输入端MPI_0。

主控装置的存储器单元可以采用Flash或MTP或EEPROM或OTP(EPROM)或SRAM或DRAM或Register或前述组合的可读写存储装置。

主控装置的供电单元包括电源(电池)BAT590、电源端VCC和滤波电容C501。

电子装置组成说明：包括电源接口VP0/VN0、信号处理电路U101、输出元件D460。其中，信号处理电路U101的输入单元的输入端还可外接触控按键，电子装置可通过触控按键接收用户的控制指令。

信号处理电路U101包含有整流单元、逻辑运算单元、存储器单元、复位单元、输出单元、输入单元、频率/基准电压调节单元(用于通过数字方式进行频率/准位阀值的调节)，电子装置的信号处理电路可采用集成IC芯片(RISC/6502/51单片机、ARM单片机或FPGA等)实现。

整流单元包括正半波整流电路。正半波整流电路包括整流二极管D400P(亦可在IC芯片内部实现等效二极管)，与整流二极管D400P输出端并联的电容C406(亦可在IC芯片内部实现等效电容)、连接在整流二极管D400P输入端和输出端之间的分压电路，所述分压电路包括上拉电阻R407U(亦可在IC芯片内部采用PMOS/NMOS等方式实现等效电阻)和与其串接的串接电阻R408P(亦可在IC芯片内部采用PMOS/NMOS等方式实现等效电阻)，所述上拉电阻R407U和串接电阻R408P分压后输出信号到输入单元的输入端Data_In。所述整流单元接收电源接口VP0/VN0的输入信号并利用电容C406的充放电特性为信号处理电路U101提供工作电源。本电路结构简单，节约成本。

如图2a和图2b所示，频率/基准电压调节单元包括振荡单元和带隙基准单元，可提供基准电压准位，给予LVD(低电压侦测)/LVR(低电压复位)/ADC(模数转换)/DAC(数模转换)/LDO(低压差线性稳压)/过温过流保护/阀值调整等相关电路/单元做为参照。频率/基准电压调节单元可通过数字方式进行频率/基准电压的调节，因集成IC芯片内部的Oscillator或Bandgap电路，都可基于频率/基准电压调节单元输入端连接的等效电阻Radj的数值变化，改变电路的输出参数，例如:R/C振荡电路(改变R值即可使振荡频率产生变化)。图2a中，电阻R1为原本固定不可调节的等效电阻示意图；图2b中，R1a与R1b0～R1b3为串联可调节等效电阻网络，可通过利用各个输入端ADJ_b0～ADJ_b3输入不同状态(1111b～0000b)，使得频率/基准电压调节单元输入端连接的等效电阻Radj成为可调节16阶等效电阻。本实施例中，等效电阻Radj可调节范围为92R～107R，图2b中的晶体管Q1～Q4(N-MOS晶体管)为开关等效元件，分别控制R1b0～R1b3四个串接电阻的加权值。

电子装置存储器单元可以采用Flash或MTP或EEPROM或OTP(EPROM)或Mask-ROM或Laser-Fuse或Metal-Fuse或Poly-Fuse或SRAM或DRAM或Register或前述混合类型的可读写记忆装置。

本实施例中，正半波整流电子装置工作原理如图3所示。图3中包括电源接口的负极输入端VN0、正极输入端VP0、电源VDD、输入单元的输入端Data_In的信号波形图。

主控装置输出单元对电子装置电源接口的正极输入端VP0输入高电平并对负极输入端VN0输入低电平，VP0/VN0经二极管D400P对电容C406进行充电，待电容C406上储存的电位与电源接口VP0/VN0电位基本平衡，且电子装置输入单元的上拉电阻R407U及串接电阻R408P合力将Data_In电位抬高至电子装置输入单元VIH(高电平输入电压)准位以上，使电子装置的逻辑运算单元识别到有效的高电平输入信号，待上述状态稳定持续一小段时间后，完成电子装置PWR(Power On Reset)周期。

由主控装置输出单元或放电电阻R506，对电子装置VP0输入低脉冲(Low-Pulse)，此时电子装置电源VDD/VSS由电容C406储存的电能提供放电支持，但正极输入端VP0上的低电平会通过串接电阻R408P及上拉电阻R407U产生分压，将电子装置输入单元的输入端Data_In输入电平拉低，当输入到Data_In的电平低于电子装置输入单元VIL(低电平输入电压)准位时，电子装置的逻辑运算单元识别到有效的低电平输入信号，此时再将正极输入端VP0的电平置高，重新通过二极管D400P对电容C406进行充电。

下面详述本实施例正半波整流的电子装置调节LVD(低电压侦测)电压参数的实施范例:

对电子装置LVD电压参数进行调节的信号波形图如图4所示。

首先将电子装置与主控装置和测试装置妥善连接。

调节工作过程包括以下阶段：

PWR:主控装置输出单元通过驱动电路对电子装置上电复位周期。

TxD1:主控装置输出单元通过驱动电路对电子装置下达“电子装置输出单元随LVD电压数值动作指令”，输入电子装置的信号电平需低于电子装置的VIL准位。

其中，可以设置当外部输入电子装置电压高于电子装置LVD电压数值时，电子装置输出单元动作；也可以设置当外部输入电子装置电压低于电子装置LVD电压数值时，电子装置输出单元动作。本实施范例采取当外部输入电子装置电压低于电子装置LVD电压数值时，电子装置输出单元动作方式进行说明。

Adj2:由主控装置的输出单元，通过驱动电路，逐步改变供应给电子装置正极输入端VP0的电压值，同时通过测试装置上的感测元件监控电子装置的输出状态。

其中，所述逐步改变供应电子装置正极输入端VP0的电压值，可以是逐步上升或逐步下降或二分搜寻法等多种形式。本实施例采用逐步下调供应给电子装置正极输入端VP0电压值的方式进行说明。

RxD2a:电子装置监测到正极输入端VP0的电压值与LVD电压数值关系式成立，电子装置通过其输出单元驱动输出元件进行动作。

主控装置经由测试装置接收到电子装置的输出动作信号，将此时供应给电子装置的正极输入端VP0的电压值进行记录并与需求数值进行比对，得出差异数值。

主控装置经由输出单元，通过驱动电路，将供应给电子装置正极输入端VP0的电压值恢复至可对电子装置的存储器单元进行写入的电压值。

TxD3:如电子装置的LVD电压值不满足规格需求，主控装置通过输出单元对电子装置下达“调节LVD电压数值的指令”，将前述差异数值写入电子装置的存储器单元内，输入电子装置的信号电平需低于电子装置的VIL准位；如电子装置的LVD电压值已满足规格需求，可省去此步骤。如须再次确认电子装置的LVD电压参数状态，可返回执行上述调节工作过程进行确认。

当电子装置LVD电压参数完成调节之后，可将主控装置移除，使电子装置独立上电运行，如图5所示。电子装置与测试装置和主控装置分离后独立上电运行，正极输入端VP0与负极输入端VN0连接至电源BAT490。

在本实施例中，主控装置亦可通过侦测RxD2a周期时间或是电子装置输出单元反映的频率，得到电子装置周期/频率值与需求的数值进行比对，得出差异数值，同样在TxD3阶段，由主控装置通过输出单元对电子装置下达“调节电子装置内部振荡频率数值的指令”，完成电子装置的频率调节动作。调节电子装置频率/周期参数的波形图如图6所示。

实施例1B:

一种电子装置调试方法,应用于实施例1A中的一种电子装置调试系统。

本实施例中，系统上电并开始运行对电子装置的写入、校正参考电压和振荡频率等参数的方法具体步骤如下：

1.主控装置通过其输出单元调制电源载波信号(访问信号)访问电子装置。(此阶段访问信号可使用容许误差范围较大的调制信号，如PWM(PDM)/PPM等俗称长短波信号。)

2.电子装置接收到有效访问信号后，通过其输出单元驱动输出元件输出相应的动作信号(光波、电磁波、声波/超声波、机械震动波等)，或是将电子装置存储器单元内的资料或状态或运算结果，经由与电子装置输出单元相连接的输出元件转换成动作信号输出。

3.测试装置上的感测元件侦测到电子装置的输出动作信号后，将其转换成电信号回传到主控装置进行确认。

4.主控装置的逻辑运算单元计算电子装置的输出动作信号对应的频率或周期数值，将其与需求的频率或周期数值作比对，得出偏差值，若偏差值符合需求范围，则跳至步骤13，否则进入步骤5。

5.主控装置通过其输出单元调制电源载波信号将偏差值传送至电子装置。

6.电子装置接收到有效的偏差值后，将该数值写入内部存储器单元。

7.主控装置通过其输出单元对电子装置进行上电重启，进行复位。

8.电子装置复位后，读取内部存储器单元内的偏差值，对相关(基准电压/频率)单元的相关参数进行调节。

9.主控装置通过其输出单元调制电源载波信号(访问信号)访问电子装置。

10.电子装置接收到有效访问信号后，通过其输出单元驱动输出元件输出相应的动作信号(光波、电磁波、声波/超声波、机械震动波等)，或是将电子装置存储器单元内的资料或状态或运算结果，经由与电子装置输出单元相连接的输出元件转换成动作信号输出。

11.测试装置上的感测元件侦测到电子装置的输出动作信号后，将其转换成电信号回传到主控装置进行确认。

12.主控装置计算电子装置的输出动作信号频率或周期，计算其偏差值，若仍未符合需求范围，返回至步骤5。

13.确认电子装置的输出动作信号符合要求后，主控装置可对电子装置进行写入设定。

此时，可将电子装置设置为高速接收信号调制模式，后续电子装置可接受主控装置使用高速调制信号(异步/起止式)进行访问，提高传输效率。

14.将电子装置与主控装置和测试装置分离，使电子装置独立上电运行，完成对电子装置的写入、校正参考电压和振荡频率等参数流程。

此外，由于本实施例中采用单线式串列数据传输，主控装置和电子装置之间没有时钟(Clock)信号相连接，导致发射/接收两端无法取得完全同步一致的振荡频率/时钟(Clock)信号，常规采用以下两种方式进行通信。

1.PWM(PDM)、PPM、FSK....等信号调制编码方式。

此类方式优点为:发送/接收两端的Rosc(振荡电阻)振荡频率/时钟(Clock)信号可容许存在较大的误差范围，例如+/-10％。

此类调制编码方式，将一个bit信号使用多种不同(周期、频率)的比例值进行排列组合，实现bit信号的表示。

具体作法:接收端对bit信号进行采样并完整接收，并对该bit信号进行(周期、频率)的比例值比对。

按照占空比或频率或振幅的比例值，判断该bit信号属于"bit 0"或"bit 1"。

缺点:在相同接收采样条件下，此类信号调制编码方式的传送效率相对较差。

2.异步(起止式)单线串列通讯协定(Asynchronous Communications)。

此类方式则要求发送/接收两端的Rosc振荡频率/时钟(Clock)信号尽可能接近。

常规会在发射/接收两端使用特定频率的晶振，尽量减少发射/接收两端Rosc振荡频率/时钟(Clock)信号的误差范围，例如小于+/-0.5％。

此类信号调制编码方式的传送效率相对较高，但成本也相对的提高。

假设发射/接收两端的系统Rosc振荡频率分别存在+/-5％误差。大批量生产时就必须考虑最差情况，否则就可能出现接收到错误数据的问题。即需要考虑主控装置和电子装置双方出现Rosc振荡频率+5％的发射端与Rosc振荡频率-5％的接收端互相搭配，或是Rosc振荡频率-5％的发射端与Rosc振荡频率+5％的接收端互相搭配的极端应用状态。

图7a为不同Rosc振荡频率对应的串列信号对比图，图中，将接收端的读取时间LH0～LH7固定不变。

发射端TX_Rosc在+0％偏差值的情况下，LH0～LH7每次都可以落在单线式串列信号的有效读取区域。

发射端TX_Rosc在+10％偏差值的情况下，LH0～LH3勉强落在单线式串列信号的有效读取区域，但从LH4开始就存在读取到错误状态的机会。

发射端TX_Rosc在-10％偏差值的情况下，LH0～LH2勉强落在单线式串列信号的有效读取区域，但从LH3开始就存在读取到错误状态的机会。

图7a中通过先送出LSB(Least-Significant-Bit，最低有效位)方式作说明，亦可使用先送出MSB(Most-Significant-Bit，最高有效位)方式，两者皆为等同变化。

PDM(PWM)、PPM等信号调制编码方式的说明如图7b所示，可与异步(起止式)单线串列通讯协定(Asynchronous Communications)进行对比，在相同的接收端采样条件时，此类信号调制编码方式的传送效率相对较差。图7b中的Bit0和Bit1定义可互换，也是等同变化。

假设主控装置与电子装置的振荡频率，量产时存在+/-10％误差，在设计规划传输协议时就需要考虑到最差情况，即可能遇到+10％与-10％或-10％与+10％的发射/接收端相互配对的极端情况，常规电子装置的接收时序就需要预留至少+/-20％的误差余量，否则就可能出现接收到错误数据的情况。

本实施例可将电子装置的振荡频率误差，调整至与主控装置极为接近的范围内，例如：将误差范围调整至小于+/-0.5％，在同样的发送周期时间内，可允许更多阶(种类)的数据传输。

实施例1C：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括正半波整流电路，输出元件为一个扬声器。

如图8所示，本实施例与实施例1A的区别在于，电子装置的输出元件从LED(图中标记D460)改为扬声器SPK480。本实施例系统包括主控处理电路U201、测试装置U302、电子装置U101、电子装置输出元件SPK480。

测试装置U302上的感测元件为麦克风MIC932。测试装置U302包括由电容C931、电阻R933、电容C934、电容C935、电阻R936、电阻R937、电阻R938、电阻R939、电阻R940、晶体管Q941、电容C942组成的麦克风前级信号放大电路，目的是将MIC932麦克风(Microphone)接收到的信号进一步放大并传送至主控装置输入端。

与本实施例对应的信号波形示意图如图9所示,图中描述电子装置的电源接口负极输入端VN0、正极输入端VP0，输出单元的输出端SPWM0/SPWM1的信号波形对应关系，其工作原理与实施例1A类似，在此不做赘述。

实施例1D：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括正半波整流电路，输出元件为一个LED，电子装置内置有可充电电池或电容器。

本实施例原理图如图10a所示，其与实施例1A的区别在于，电子装置内置有可充电电池或电容器。

完成对电子装置的操作后，可将主控装置移除，电子装置使用内置可充电电池BAT490a或电容器独立运行，或者将电子装置的正极输入端VP0与负极输入端VN0连接至外接电源BAT490，如图10b所示。

本实施例中，可充电电池BAT490a或电容器并接在电子装置的电源VDD/VSS两端，外接电源BAT490可对电子装置内置的可充电电池BAT490a或电容器进行充电。

实施例1E：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括正半波整流电路，输出元件为一个LED，电子装置内置有电池。

本实施例原理图如图11a所示，其与实施例1A的区别在于，电子装置内置有电池。

完成对电子装置的操作后，可将主控装置移除，电子装置使用内置电池BAT490b独立运行，或是将电子装置的正极输入端VP0与负极输入端VN0连接至外接电源BAT490，如图11b所示。

图中，内置电池BAT490b串接有二极管D418P后并接在电子装置的电源VDD/VSS两端，避免外接电源BAT490与内置电池BAT490b产生相互影响。

本实施例中，外接电源BAT490的电压，一般会略高于内置电池BAT490b的电压。这样设计的目的是，当电子装置连接外部电源BAT490时，电子装置的系统耗电可以主要由外部电源BAT490提供，可尽量减少电子装置内置电池BAT490b的能量消耗。

实施例2A：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括负半波整流电路，输出元件为一个LED。

本实施例原理图如图12所示，主控装置包括主控处理电路U203和测试装置U303，电子装置包括信号处理电路U103。本实施例与实施例1A的区别在于，所述整流单元包括负半波整流电路，与本实施例对应的参数调试波形图如图13所示。图13中包括负极输入端VN0、正极输入端VP0、输出单元的输出端SPWM2的信号波形图。本实施例工作过程PWR、TxD1、RxD2、TxD3与实施例1A的工作过程类似，在此不做赘述。

负半波整流电子装置工作原理如图14所示。主控装置输出单元对电子装置电源接口的正极输入端VP0输入高电平并对电子装置电源接口的负极输入端VN0输入低电平，电源接口VP0/VN0经二极管D400N对电容C406进行充电，待电容C406上储存的电位与VP0/VN0电位基本平衡，且电子装置的输入单元的下拉电阻R407D及串接电阻R408N合力将电子装置输入单元的输入端Data_In电位拉低至电子装置输入单元的VIH准位以下，使电子装置的逻辑运算单元识别到有效的低电平输入信号，待上述状态稳定持续一小段时间后，完成电子装置PWR(Power On Reset)周期。

由主控装置输出单元或放电电阻R505，对电子装置VN0输入高脉冲(High-Pulse)，此时电子装置电源VDD/VSS由电容C406储存的电能提供放电支持，但负极输入端VN0上的高电位会通过串接电阻R408N及下拉电阻R407D产生分压，将电子装置输入单元的输入端Data_In输入电位拉高，当输入到电子装置输入单元的输入端Data_In的电位高于电子装置输入单元VIH准位时，电子装置的逻辑运算单元识别到有效高电平输入信号，此时再将负极输入端VN0的电位置低，重新通过二极管D400N对电容C406进行充电。

实施例2B：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括负半波整流电路，输出元件为一个扬声器。

如图15所示，主控装置包括主控处理电路U203、测试装置U304，电子装置包括信号处理电路U103。本实施例与实施例2A的区别在于，电子装置的输出元件从LED(图中标记D460)改为扬声器SPK480，测试装置上的感测元件为麦克风MIC932。

与本实施例对应的波形示意图如图16所示。

操作完成后，可将主控装置移除，使电子装置独立上电运行，如图17所示。

电子装置与测试装置和主控装置分离后独立上电运行，电源接口的正极输入端VP0与负极输入端VN0连接至电源BAT490。

实施例2C：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括负半波整流电路，输出元件为一个LED，电子装置内置有可充电电池或电容器。

本实施例原理图如图18a所示，其与实施例2A的区别在于，电子装置内置有可充电电池或电容器。

电子装置内置有可充电电池或电容器BAT490a，完成对电子装置的操作后，可将主控装置移除，电子装置使用内置可充电电池或电容器BAT490a独立运行，或是将电子装置的正极输入端VP0与负极输入端VN0连接至外接电源BAT490，如图18b所示。

实施例2D：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括负半波整流电路，输出元件为一个LED，电子装置内置有电池。

本实施例原理图如图19a所示，其与实施例2A的区别在于，电子装置内置有电池。

主控装置输出单元MPOUT3使用GPIO(通用端口)方式直推电子装置的负极输入端VN0。

电子装置内置有电池BAT490b，完成对电子装置的操作后，可将主控装置移除，电子装置使用内置电池BAT490b独立运行，或是将电子装置的正极输入端VP0与负极输入端VN0连接至外接电源BAT490，如图19b所示。

实施例3A：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括全波整流电路，输出元件为一个LED。

本实施例原理图如图20所示，主控装置包括主控处理电路U205和测试装置U305，电子装置包括信号处理电路U105。本实施例与实施例1A的区别在于，所述整流单元包括全波整流电路，与本实施例对应的参数调试波形图如图21所示。图21中包括电子装置电源输入端VNP0/VPN0、电子装置输出单元的输出端SPWM2的信号波形图。其工作过程PWR、TxD1、RxD2、TxD3与实施例1A的调节工作过程类似，在此不做赘述。

全波整流电子装置工作原理如图22所示。主控装置输出单元对电子装置的电源接口VPN0/VNP0分别输入高电平和低电平，电源接口VPN0/VNP0两端的电位经由二极管D402、D403、D404、D405组成的全波桥式整流电路后对电容C406进行充电，待电容C406上储存的电位与电源接口VPN0/VNP0电位基本平衡，且电子装置输入单元的上拉电阻R407U将电子装置输入单元的输入端Data_In电位拉高至VIH准位以上或是被串接二极管D408拉低至VIL准位以下，使电子装置的逻辑运算单元识别到有效的高/低电平输入信号，待上述状态稳定持续一小段时间后，完成电子装置PWR(Power On Reset)周期。

由主控装置输出单元对电子装置电源接口VPN0/VNP0做电位相互转态，转态时的短暂间隙，电子装置电源VDD/VSS由电容C406储存的电能提供放电支持，转态完成后电源接口VPN0/VNP0两端的电位重新经由全波桥式整流电路对电容C406充电。

若电源输入端VNP0转态为低电位，通过串接二极管D408下拉，将电子装置输入单元的输入端Data_In输入电位拉低，当输入到电子装置输入单元的输入端Data_In的电位低于电子装置输入单元VIL准位时，电子装置的逻辑运算单元将识别到有效的低电平输入信号。

若电源输入端VNP0转态为高电位，通过上拉电阻R407U上拉，将电子装置输入单元的输入端Data_In输入电位拉高，当输入到电子装置输入单元的输入端Data_In的电位高于电子装置输入单元VIH准位时，电子装置的逻辑运算单元将识别到有效的高电平输入信号。

搭配合适的访问信号(例如:曼彻斯特编码信号)，全波整流电子装置还存在电源脚位不分极性的优点。

实施例3B：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括全波整流电路，输出元件为一个扬声器。

如图23a所示，本实施例与实施例3A的区别在于，电子装置的输出元件从LED(图中标记D460)改为扬声器SPK480，测试装置上的感测元件为麦克风MIC932。

与本实施例对应的波形示意图如图24所示。

操作完成后，可将主控装置移除，使电子装置独立上电运行，如图23b所示。

电子装置与测试装置和主控装置分离后独立上电运行，VPN0与VNP0连接至电源BAT490。

实施例3C：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括全波整流电路，输出元件为一个LED，电子装置内置有可充电电池或电容器。

本实施例原理图如图25a所示，其与实施例3A的区别在于，电子装置内置有可充电电池或电容器。

本实施例中，电子装置内置有可充电电池或电容器BAT490a，完成对电子装置的操作后，可将主控装置移除，电子装置使用内置可充电电池或电容器BAT490a独立运行，或是将电子装置的电源输入端VPN0/VNP0连接至外接电源BAT490，如图25b所示。

实施例3D：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和一个电子装置，整流单元包括全波整流电路，输出元件为一个LED，电子装置带有内置电池。

本实施例原理图如图26a所示，其与实施例3A的区别在于，电子装置内置有电池。主控装置输出单元的输出端MPOUT1/MPOUT2使用PWM/Push-Pull(推挽输出)方式直推电子装置电源接口VPN0/VNP0。

电子装置内置有电池BAT490b，完成对电子装置的操作后，可将主控装置移除，电子装置使用内置电池BAT490b独立运行，或是将电子装置电源输入端VPN0/VNP0连接至外接电源BAT490，如图26b所示。

实施例4A：

本实施例中，电子装置为DIP直插式LED灯珠，其结构如图27和图28所示。图28中，DIP直插式LED灯珠包括壳体100、负极支架110、正极支架120、单电极LED121、双电极LED122、双电极LED123、信号处理电路集成IC芯片111、负极引脚210、正极引脚220。其中，负极支架110和负极引脚210一体化成型设计，两者电性连接；正极支架120和正极引脚220一体化成型设计，两者电性连接。信号处理电路集成IC芯片111的正极端VP与正极支架120电性连接，信号处理电路集成IC芯片111的负极端VSS与负极支架110电性连接。单电极LED121的负极端与信号处理电路集成IC芯片111的输出端SPWM0电性连接，单电极LED121的正极端通过在底层贴导电胶与正极支架120电性连接；双电极LED122的负极端N与信号处理电路集成IC芯片111的输出端SPWM1电性连接，双电极LED122的正极端P与正极支架120电性连接；双电极LED123的负极端N与信号处理电路集成IC芯片111的输出端SPWM2电性连接，双电极LED123的正极端P与正极支架120电性连接。

本实施例对应的调试系统原理图如图29所示，图中，包括主控处理电路U201、测试装置U301和正半波整流电子装置U101。本实施例工作原理与实施例1A类似，在此不做赘述。

本实施例中，所述LED灯珠包括壳体和引出壳体外部的电源接口，所述电源接口包括负极引脚及正极引脚，所述壳体内部设置有负极支架和正极支架，所述负极支架上设置有信号处理电路，所述正极支架上设置有作为输出元件的LED。信号处理电路采用集成IC芯片实现。

原则上驱动LED分为Drive/Sink两种方式，本实施例适用两种方式，但考虑到DIP直插式LED灯珠的封装便利性，LED集中放在正极支架120上有较佳的混光效果，信号处理电路IC芯片放置在负极支架110上，将摆放位置进行合理分配，如图27和图28所示。考虑到部份LED灯珠支架仅有一个大支架可供芯片摆放，亦可将LED与信号处理电路IC芯片都放在大支架上。

实施例4B：

本实施例中，电子装置也可以是SMD贴片封装的LED灯珠，其结构如图30所示。图中，SMD贴片封装的LED灯珠包括壳体300、贴片电源引脚310/320、参考地330、单电极LED321、双电极LED322、双电极LED323、信号处理电路集成IC芯片311。信号处理电路集成IC芯片311的电源接口端VPN/VNP分别与贴片电源引脚310/320电性连接。单电极LED321的正极端与信号处理电路集成IC芯片311的输出端SPWM0电性连接，单电极LED321的负极端通过在底层贴导电胶与参考地330电性连接；双电极LED322的正极端P与信号处理电路集成IC芯片311的输出端SPWM1电性连接，双电极LED322的负极端N与参考地330电性连接；双电极LED323的正极端P与信号处理电路集成IC芯片311的输出端SPWM2电性连接，双电极LED323的负极端N与参考地330电性连接。

本实施例对应的调试系统原理图如图31所示，图中，包括主控处理电路U205、测试装置U305和全波整流电子装置U105。其工作原理与实施例3A类似，在此不做赘述。

实施例5A：

一种电子装置调试系统，包括一个主控装置和多个电子装置，所述电子装置为LED灯珠。

本实施例中，所述系统包括多个电子装置，所述多个电子装置依次串联/并联，对应的，所述主控装置包括多个用于侦测每个电子装置输出元件所输出的可感知的动作信号的测试装置，所述多个测试装置的输出端均与主控处理电路的输入端连接。

该实施例中，多个LED灯珠串联或并联形成灯串。由于每个LED灯珠均可独立控制和运行，可方便地实现独控/点控功能的LED灯串，亦可方便实现同步闪/跳闪/来回跑马闪……等其他类型LED灯串的所有功能。

多个电子装置串联时，需要在每个电子装置的电源接口或整流单元输出端的正极和负极之间反向并接稳压二极管。信号调试阶段，主控装置可输出AC交流信号驱动多个串接的电子装置；独立运行阶段，多个串接的电子装置可外接AC交流信号运行。

本发明实现的技术效果包括但不限于：

1.电子装置外部接口极少：

(1)PACKAGE(封装片)/PCBA/COB接/焊点少，降低生产成本，还有利于PACKAGE(封装片)/PCBA/COB的小型化；

(2)有益于电子产品(电子装置)壳体机构的防水、防尘、美观设计，除原有电源接口外，不需额外引出测试、烧录、校正接口；

(3)有利于方便产品(电子装置)组装完成后的程序资料更新、测试和除错，方便用户自行完成定制化/实时资料内容的更新，从而有利于定制差异化产品的销售。

2.可实现PACKAGE(封装片)/PCBA/COB模块半成品、电子类产品等电子装置，批量生产时的测试、电压和频率参数校正、高速传输、控制、刻录需求。

3.产品(电子装置)可调节信号处理电路内部振荡频率(如可修正IC半导体内部振荡频率受封装材质影响造成的偏移)，在搭配误差范围较大的被动元件进行批量生产时，可使批量生产的产品(电子装置)有较好的一致性，提升产品(电子装置)的质量，还提高产品(电子装置)资料内容烧录更新的效率。

以上是对本发明的较佳实施例进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可做出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。

Claims

1.一种方便调试的电子装置，其特征在于，包括：

电源接口；所述电子装置的电源接口与主控装置输出单元连接；

输出元件，与信号处理电路的输出端连接，用于输出可感知的动作信号；

所述电子装置的输出元件用于与所述主控装置的测试装置的感测元件对应设置，所述测试装置用于侦测所述电子装置的输出元件所输出的可感知的动作信号；

所述输出元件为光波、电磁波、声波或机械震动波输出元件，对应的，所述动作信号为光波、电磁波、声波或机械震动波信号；

所述信号处理电路包括整流单元、输入单元、逻辑运算单元和输出单元，所述访问信号依次经过整流单元、输入单元、逻辑运算单元和输出单元，输出到输出元件；所述电子装置还包括复位单元，所述复位单元用于控制电子装置复位重启。

2.根据权利要求1所述的一种方便调试的电子装置，其特征在于，所述整流单元包括正半波/负半波/全波整流电路、与正半波/负半波/全波整流电路输出端并联的电容、连接在整流单元输入端和输出端之间的分压电路，所述分压电路包括上/下拉电阻和与其串接的串接电阻/二极管，所述上/下拉电阻和串接电阻/二极管分压后输出信号到输入单元。

3.根据权利要求2所述的一种方便调试的电子装置，其特征在于，所述信号处理电路还包括存储器单元，所述存储器单元与逻辑运算单元连接。

4.根据权利要求2所述的一种方便调试的电子装置，其特征在于，还包括频率/基准电压调节单元，所述频率/基准电压调节单元用于调节电子装置的时钟振荡频率和基准电压。

5.根据权利要求1所述的一种方便调试的电子装置，其特征在于，所述输出单元为PWM输出单元。

6.根据权利要求1所述的一种方便调试的电子装置，其特征在于，所述电子装置为LED灯、LDO、LVD、充电管理IC、无线射频模块、语音IC、单片机MCU、内存、传感器、舵机、伺服电机、电子式可穿戴设备、电子式手持智能设备、电子式测量设备或电子玩具。

7.根据权利要求5所述的一种方便调试的电子装置，其特征在于，所述电子装置为LED灯珠，所述LED灯珠包括壳体和引出壳体外部的电源接口，所述电源接口包括负极引脚及正极引脚，所述壳体内部设置有负极支架和正极支架，所述负极支架上设置有信号处理电路，所述正极支架上设置有作为输出元件的LED。

8.一种电子装置调试系统，其特征在于，包括如权利要求1-7任一项所述的一种方便调试的电子装置和主控装置，所述主控装置包括主控处理电路和测试装置，所述主控处理电路用于输出访问信号到电子装置的电源接口，所述测试装置包括感测元件，所述感测元件与电子装置输出元件对应设置，所述测试装置用于侦测电子装置输出元件所输出的可感知的动作信号，将动作信号转换为电信号回传到主控处理电路。

9.根据权利要求8所述的一种电子装置调试系统，其特征在于，所述主控处理电路包括输入单元、逻辑运算单元和输出单元，所述输入单元与逻辑运算单元连接，所述逻辑运算单元与输出单元连接，所述输出单元用于输出访问信号到电子装置的电源接口，所述输入单元用于接收测试装置回传的电信号。

10.根据权利要求9所述的一种电子装置调试系统，其特征在于，所述主控装置还包括驱动电路，所述输出单元通过驱动电路输出访问信号到电子装置的电源接口。

11.根据权利要求10所述的一种电子装置调试系统，其特征在于，所述驱动电路为电压跟随器，用于增强主控装置输出单元的输出驱动能力。

12.根据权利要求8-11任一项所述的一种电子装置调试系统，其特征在于，所述主控处理电路还包括存储器单元、频率/基准电压调节单元及复位单元，所述存储器单元与逻辑运算单元连接，所述频率/基准电压调节单元用于调节主控装置的时钟振荡频率，所述复位单元用于控制主控装置复位重启。

13.根据权利要求12所述的一种电子装置调试系统，其特征在于，所述输出元件为光波、电磁波、声波或机械震动波输出元件，对应的，所述感测元件为光波、电磁波、声波或机械震动波感测元件。

14.根据权利要求8、9、10、11或13所述的一种电子装置调试系统，其特征在于，所述系统包括多个电子装置，所述多个电子装置依次串联/并联，对应的，所述主控装置包括多个用于侦测每个电子装置输出元件所输出的可感知的动作信号的测试装置，所述多个测试装置的输出端均与主控处理电路的输入端连接。

15.根据权利要求14所述的一种电子装置调试系统，其特征在于，所述多个电子装置依次串联，所述信号处理电路包括整流单元，所述电子装置的电源接口或整流单元输出端的正极和负极之间反向并接有稳压二极管。

16.一种电子装置调试方法，其特征在于，其应用于权利要求8-15任一项所述的一种电子装置调试系统，所述方法包括步骤：

17.根据权利要求16所述的一种电子装置调试方法，其特征在于，所述步骤S3具体包括子步骤：

所述方法还包括步骤：

S5，电子装置接收到步骤S4所述的偏差值后，将所述偏差值写入电子装置的存储器单元；

18.根据权利要求17所述的一种电子装置调试方法，其特征在于，所述信号参数具体为：所述信号参数为动作信号对应的基准电压、频率或周期。

19.根据权利要求18所述的一种电子装置调试方法，其特征在于，所述方法还包括步骤：

S9，确认电子装置输出的动作信号的信号参数符合要求后，主控装置对电子装置进行写入设定。

20.根据权利要求16-19任一项所述的一种电子装置调试方法，其特征在于，所述方法还包括步骤：

21.根据权利要求16-19任一项所述的一种电子装置调试方法，其特征在于，所述方法还包括步骤：利用频率/基准电压调节单元，将电子装置的时钟振荡频率，调整至与主控装置的时钟振荡频率匹配。

22.根据权利要求20所述的一种电子装置调试方法，其特征在于，所述方法还包括步骤：利用频率/基准电压调节单元，将电子装置的时钟振荡频率，调整至与主控装置的时钟振荡频率匹配。