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CN108008203B - 一种检测电路及电压补偿方法 - Google Patents

一种检测电路及电压补偿方法 Download PDF

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CN108008203B CN201711207919.8A CN201711207919A CN108008203B CN 108008203 B CN108008203 B CN 108008203B CN 201711207919 A CN201711207919 A CN 201711207919A CN 108008203 B CN108008203 B CN 108008203B
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Abstract

本发明提供了一种检测电路及电压补偿方法。通过本发明提供的检测电路，确定显示面板内部检测线上的待测电容的电容值，并根据该待测电容的电容值，确定对该内部检测线的补偿电压，再按照与该待测电容对应的补偿电压，对该内部检测线进行电压补偿。从而可以消除各内部检测线上电容差异对电压补偿结果的影响，有效提升对内部检测线的电压补偿精度。

Description

一种检测电路及电压补偿方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种检测电路及电压补偿方法。
背景技术
现有的补偿算法中，忽略显示面板中各内部检测线(sense line)上的电容差异，默认为同一标准化电容值，然而由于工艺偏差等因素会导致各内部检测线上的电容实际上并不相同。以相同的补偿电压对内部检测线进行补偿，将导致补偿结果存在偏差，使显示画面显示不均。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种检测电路及电压补偿方法，以解决如何确定内部检测线上的电容，从而提高电压补偿精度的问题。
一方面，提供了一种检测电路，用于检测显示面板内部检测线上的待测电容，包括：重置模块、充电模块、调节模块、电压检测模块和计算模块；
所述重置模块，与所述待测电容连接，用于将所述待测电容上的电压重置为基准电压；
所述充电模块，与所述调节模块中的参考电容连接，用于将所述参考电容充电至第一电压；
所述调节模块，包括与所述充电模块连接的参考电容，用于在所述参考电容充电至第一电压后，与所述待测电容串联，将所述待测电容上的电压调节为第二电压；
所述电压检测模块，与所述待测电容连接，用于检测所述第二电压的电压值；
所述计算模块，与所述电压检测模块连接，用于根据所述参考电容的电容值，所述基准电压、所述第一电压及所述第二电压，计算所述待测电容的电容值。
进一步地，所述重置模块包括与低电压输入端连接的重置开关；所述重置开关，与所述待测电容连接，用于在对所述待测电容放电时导通，以通过所述低电压输入端重置所述待测电容上的电压；所述充电模块包括与高电压输入端连接的充电开关；所述充电开关，与所述参考电容连接，用于在对所述参考电容充电时导通，以通过所述高电压输入端重置所述参考电容上的电压；所述调节模块包括与所述参考电容连接的共享开关；所述共享开关，与所述待测电容连接，用于在调节所述待测电容上的电压时导通，以将所述参考电容上的电荷共享至所述待测电容；所述电压检测模块包括模数转换器和检测开关；所述模数转换器的一端通过所述检测开关与所述待测电容连接，所述模数转换器的另一端与所述计算模块连接；所述模数转换器，用于当所述检测开关导通时，将所述第二电压由模拟电压信号转换为数字电压信号。
进一步地，所述检测电路包括至少两条内部检测线上的待测电容；所述共享开关与所述待测电容一一对应，所述参考电容通过各共享开关分别与对应待测电容连接。
另一方面，还提供了一种电压补偿方法，应用于上述检测电路；所述电压补偿方法包括：
通过所述检测电路，确定待测电容的电容值，其中，所述待测电容为待测的显示面板内部检测线上的电容；
根据所述待测电容的电容值，确定对所述内部检测线的补偿电压；
按照与所述待测电容对应的补偿电压，对所述内部检测线进行电压补偿。
进一步地，所述通过所述检测电路，确定待测电容的电容值的步骤，包括：将待测电容上的电压重置为基准电压，并将参考电容上的电压重置为第一电压，以确定所述待测电容和所述参考电容在串联前的电压值；通过串联所述待测电容和所述参考电容，将所述待测电容上的电压从所述基准电压调节为第二电压，其中，所述第二电压为所述待测电容和所述参考电容在串联后的电压；检测所述第二电压的电压值；根据所述待测电容和所述参考电容在串联前后的电压值，以及所述参考电容的电容值，计算得到所述待测电容的电容值。
进一步地，所述根据所述待测电容和所述参考电容在串联前后的电压值，以及所述参考电容的电容值，计算得到所述待测电容的电容值的步骤，包括：根据所述参考电容的电容值、所述基准电压的电压值、所述第一电压和所述第二电压的电压值，计算得到所述待测电容的电容值。
进一步地，所述检测电路包括至少两个并联连接的待测电容；所述根据所述待测电容的电容值，确定对所述内部检测线的补偿电压的步骤，包括：对各待测电容的电容值进行归一化处理，获得归一化结果；根据所述各待测电容对应的归一化结果，确定对各待测电容所在内部检测线的补偿电压。
进一步地，所述对各待测电容的电容值进行归一化处理的步骤，包括：计算各待测电容的电容值的平均值，作为标准化电容值；将各待测电容的电容值分别除以所述标准化电容值，获得所述各待测电容对应的归一化结果。
进一步地，所述根据所述各待测电容对应的归一化结果，确定对各待测电容所在内部检测线的补偿电压的步骤，包括：根据所述各待测电容对应的归一化结果、补偿系数、灰阶值和阈值电压计算得到对各待测电容所在内部检测线的补偿电压。
进一步地，当所述检测电路包括至少两条内部检测线上的待测电容时，所述通过所述检测电路，确定待测电容的电容值的步骤，包括：在确定一个待测电容的电容值后，将下一待测电容上的电压重置为基准电压，并将参考电容上的电压重置为第一电压，以重置所述待测电容和所述参考电容上的电荷量。
与现有技术相比，本发明包括以下优点：
本发明提供了一种检测电路及电压补偿方法，通过本发明提供的检测电路，确定显示面板内部检测线上的待测电容的电容值，并根据该待测电容的电容值，确定对该内部检测线的补偿电压，再按照与该待测电容对应的补偿电压，对该内部检测线进行电压补偿。从而可以消除各内部检测线上电容差异对电压补偿结果的影响，有效提升对内部检测线的电压补偿精度。
附图说明
图1是本发明实施例提供的一种检测电路的结构示意图；
图2是本发明实施例提供的一种检测电路的电路图；
图3是本发明实施例提供的另一种检测电路的结构示意图；
图4是本发明实施例提供的另一种检测电路的电路图；
图5是本发明实施例提供的一种电压补偿方法的流程图；
图6是本发明实施例提供的另一种电压补偿方法的流程图；
图7是本发明实施例提供的一种检测电路检测时的开关时序图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的机或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面结合附图和实施例对本发明的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
参照图1，示出了本发明实施例提供的一种检测电路的结构示意图。该检测电路用于检测显示面板内部检测线上的待测电容。该检测电路包括重置模块1、充电模块2、调节模块3、电压检测模块4和计算模块5。
该重置模块1与待测电容Ci连接，用于将待测电容Ci上的电压重置为基准电压。其中，该待测电容Ci为显示面板的待测内部检测线Si上连接的电容。该内部检测线Si可以为有机电致发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示面板中的检测线(SenseLine)，用于实时对OLED显示面板的显示电压进行补偿，以使显示效果更加均一，避免OLED显示面板的电学性能随时间发生漂移。
充电模块2与调节模块3中的参考电容Ce连接，用于将该参考电容Ce充电至第一电压。具体的，该参考电容Ce为具有确定电容值的电容。当通过充电模块2将该参考电容Ce充电至第一电压时，由于该第一电压具有确定电压值，因此，在通过充电模块2对该参考电容Ce充电后，该参考电容Ce上的电荷量为确定的数值，可以作为计算待测电容Ci的电容值的依据。
调节模块3包括与充电模块2连接的参考电容Ce，用于在参考电容Ce充电至第一电压后，与待测电容Ci串联，将待测电容Ci上的电压调节为第二电压。具体的，当参考电容Ce与待测电容Ci形成串联连接时。参考电容Ce上的电荷可以与待测电容Ci共享。在参考电容Ce和待测电容Ci电荷共享后，待测电容Ci上的电压也会随之变化为第二电压。根据电荷守恒定律，在对待测电容Ci和参考电容Ce上的电压进行重置后，关断重置模块1和充电模块2，待测电容Ci和参考电容Ce上的电荷量之和在两者串联前后将保持一致。
电压检测模块4与待测电容Ci连接，用于检测该第二电压的电压值。具体的，在待测电容Ci和参考电容Ce完成电荷共享后，可以通过电压检测模块4检测出该第二电压的电压值。
计算模块5与电压检测模块4连接，用于根据参考电容Ce的电容值，基准电压、第一电压及第二电压，计算待测电容Ci的电容值。
参照图2，示出了本发明实施例提供的一种检测电路的电路图。结合图2，对本发明实施例的电路结构做详细说明。
具体的，重置模块1包括与低电压输入端V_SL连接的重置开关SW_L。其中，该重置开关SW_L，与待测电容Ci连接，用于在对该待测电容Ci放电时导通，以通过低电压输入端V_SL重置待测电容Ci上的电压。例如，该低电压输入端V_SL可以为接地端，从而可以将待测电容Ci上的电荷全部释放，使待测电容Ci上的电压为0伏，电荷量为0库仑。
充电模块2包括与高电压输入端V_SH连接的充电开关SW_H。其中，该充电开关SW_H，与参考电容Ce连接，用于在对该参考电容Ce充电时导通，以通过高电压输入端V_SH重置参考电容Ce上的电压。从而使得高电压输入端V_SH可以准确地将参考电容Ce上的电荷量重置为预设电荷量。
调节模块3包括与参考电容Ce连接的共享开关SCLi。该共享开关与待测电容Ci连接，用于在调节待测电容Ci上的电压时导通，以将参考电容Ce上的电荷共享至该待测电容Ci上。
电压检测模块4包括模数转换器(Analog-to-Digital Converter，ADC)和检测开关SMP。该模数转换器的一端通过检测开关与待测电容Ci连接，该模数转换器的另一端与计算模块5连接。其中，模数转换器，用于当检测开关导通时，将第二电压由模拟电压信号转换为数字电压信号。从而获取可以用于计算的第二电压的电压值。
需要说明的是本发明实施例中重置模块1的重置开关SW_L、充电模块2的充电开关SW_H、调节模块3的共享开关SCLi、以及电压检测模块4的检测开关均为开关器件。各开关器件均可以是开关晶体管等具有开关特性的半导体器件。例如，若采用开关晶体管作为该检测电路中的开关器件，该开关晶体管可以为P型开关晶体管也可以为N型开关晶体管。若采用的是N型开关晶体管，在栅极为高电平时导通，在栅极为低电平时截止。若采用的是P型开关晶体管，在栅极为低电平时导通，在栅极为低电平时截止。
综上所述，在本发明实施例提供的检测电路中，重置模块1与待测电容Ci连接，用于将该待测电容Ci上的电压重置为基准电压。充电模块2与参考电容Ce连接，用于将该参考电容Ce充电至第一电压。从而可以确定待测电容Ci和参考电容Ce上的电荷量之和。参考电容Ce通过共享开关SCLi与对应的待测电容Ci连接，用于当共享开关SCLi导通时，与待测电容Ci串联，以将该待测电容Ci上的电压调节为第二电压。由于待测电容Ci和参考电容Ce在串联前后电荷量之和不变，因此，可以通过检测到的第二电压的电压值，以及待测电容Ci和参考电容Ce上的电荷量之和，计算得到待测电容Ci的电容值。进而可以依据该电容值调节对显示面板内部检测线的补偿电压，有效提升对内部检测线的电压补偿精度。
参照图3，示出了本发明实施例提供的另一种检测电路的结构示意图。参考图3可知，本发明实施例提供的检测电路包括至少两条内部检测线上的待测电容。其中，调节模块3包括至少两个共享开关，各共享开关与待测电容一一对应，参考电容Ce通过各共享开关分别与对应待测电容Ci连接。
具体的，现有技术中通常会默认各条内部检测线上的电容相同，因而在计算对内部检测线Si上的补偿电压时，通常向各条内部检测线Si提供相同的补偿电压。然而，由于工艺偏差等因素，各条内部检测线上的电容并不相同，对电容不同的各条内部检测线提供相同的补偿电压会导致补偿结果存在偏差，使得补偿精度降低。本发明实施例提供的检测电路通过对每一待测电容分别进行独立检测，可以准确获取各条内部检测线上待测电容的电容值。从而可以针对各待测电容的电容值的差异，向各条内部检测线提供具有针对性地补偿电压，进而可以有效提高补偿精度。
参照图4，示出了本发明实施例提供的另一种检测电路的电路图。参考图4可知，各待测电容并联连接于重置模块1，因此，当重置模块1导通时，重置模块1可以对各待测电容上的电压进行重置。例如，若重置模块1中的低电压输入端V_SL为接地端，当重置模块1导通时，可以将各待测电容上的电压均重置为0伏，即通过接地端对各待测电容放电，使各待测电容上电荷量均重置为0库仑，以确定各待测电容在与参考电容Ce串联前所具有的电荷量，使得对各待测电容的电容值的计算结果更加准确。
具体的，调节模块3中各共享开关的一端与参考电容Ce连接，另一端与对应的待测电容连接。以控制各待测电容与参考电容Ce的通断，使得参考电容Ce每次与各待测电容中的一个串联，电压检测模块4可以检测到参考电容Ce与待测电容Ci串联后的电压值。进而可以通过计算模块5准确计算出该待测电容Ci的电容值。
综上所述，在本发明实施例提供的检测电路包括至少两条内部检测线上的待测电容。各共享开关与待测电容一一对应，参考电容Ce通过各共享开关分别与对应待测电容Ci连接。检测电路中的电压检测模块4可以逐一对各待测电容进行检测，从而可以分别检测出各待测电容的电容值，并可以依据各待测电容的电容值，针对性地确定对各条内部检测线的补偿电压，有效提升对内部检测线的电压补偿精度。
对应于上述任意一种检测电路，本发明实施例还提供一种电压补偿方法。参照图5，示出了本发明实施例提供的一种电压补偿方法的流程图。该电压补偿方法包括：
步骤501，通过检测电路，确定待测电容的电容值。
具体的，可以按照如下子步骤，确定待测电容Ci的电容值。
子步骤A，将待测电容Ci上的电压重置为基准电压，并将参考电容Ce上的电压重置为第一电压。
在确定对显示面板中一条内部检测线Si进行检测后，可以将该内部检测线Si上的待测电容Ci的电压重置为基准电压，并将参考电容Ce上的电压重置为第一电压，以确定该待测电容Ci和参考电容Ce在串联前的电压值。
子步骤B，通过串联待测电容Ci和参考电容Ce，将待测电容Ci上的电压从基准电压调节为第二电压。
对该待测电容Ci和参考电容Ce的电压重置后，可以通过串联该待测电容Ci和参考电容Ce，将该待测电容Ci上的电压从基准电压调节为第二电压。其中，该第二电压为待测电容Ci和参考电容Ce在串联后的电压。即在关断重置模块1和充电模块2后，使参考电容Ce上的电荷仅流向该待测电容Ci，实现参考电容Ce和该待测电容Ci上电荷的共享。由于该待测电容Ci接收了来自参考电容Ce的电荷，使得该待测电容Ci上的电压将随之变化为第二电压。
子步骤C，检测第二电压的电压值。
当待测电容Ci上的电压由基准电压变化为第二电压后，可以通过与该待测电容Ci连接的电压检测模块4检测出该第二电压的电压值。具体的，在该检测电路中，该待测电容Ci上的电压为模拟电压信号，可以通过电压检测模块4中的模数转换器，将该第二电压对应的模拟电压信号转换为数字电压信号，以获取该第二电压的电压值。
子步骤D，根据该待测电容Ci和参考电容Ce在串联前后的电压值，以及参考电容Ce的电容值，计算得到该待测电容Ci的电容值。
在检测到该第二电压的电压值后，可以根据参考电容Ce的电容值、基准电压Uj的电压值、第一电压U1的电压值和第二电压U2的电压值，计算得到该待测电容Ci的电容值。
具体的，参考电容Ce与待测电容Ci串联前，参考电容Ce上的电荷量为Ce*U1，待测电容Ci上的电荷量为Ci*Uj，参考电容Ce与待测电容Ci上的电荷量之和为Ce*U1+Ci*Uj。在参考电容Ce与待测电容Ci串联后，总电容为Ce*Ci/(Ce+Ci)，因此，参考电容Ce与待测电容Ci串联后的电荷量之和为[Ce*Ci/(Ce+Ci)]*U2。根据电荷守恒定律，参考电容Ce与待测电容Ci的电荷量之和在串联前后保持一致，因此，存在如下关系式：
Ce*U1+Ci*Uj＝[Ce*Ci/(Ce+Ci)]*U2。
在已确定参考电容Ce、基准电压、第一电压和第二电压取值的情况下，可以计算出该待测电容Ci的电容值。
在实际应用中，若重置模块1中的低电压输入端V_SL为接地端，则基准电压的电压值为0伏。上述关系式可以简化为：
Ci＝CeU1/(U2-U1)。
步骤502，根据该待测电容的电容值，确定对内部检测线的补偿电压。
具体的，在通过检测电路检测到该待测电容Ci的电容值后，可以将该实际检测得到的电容值与标准化电容值进行比较，根据该待测电容Ci的电容值与标准化电容值的差异，调节对内部检测线Si的补偿电压。其中，该标准化电容值可以为预先设定的电容值，也可以为经过实际测量得到的多个电容对应电容值的平均值。该待测电容Ci的电容值与标准化电容值的差异，可以通过该待测电容Ci的电容值与标准化电容值之比进行表征。在实际应用中，也可以采用对两者的比值进行开方等方式表征两者的差异。
步骤503，按照与该待测电容对应的补偿电压，对内部检测线进行电压补偿。
具体的，在确定对内部检测线Si的补偿电压后，便可以按照该补偿电压对该内部检测线Si进行具有针对性地电压补偿，从而有效提高补偿的精度，提升显示面板显示的均匀度。
在实际应用中，检测电路可以包括至少两个并联连接的待测电容Ci，针对该检测电路，参照图6，示出了本发明实施例提供的另一种电压补偿方法的流程图。该电压补偿方法包括：
步骤601，通过检测电路，逐一确定各待测电容的电容值。
在通过检测电路确定每一待测电容的电容值时，可以分为三个阶段完成测量。该三个阶段包括：重置阶段a、电荷共享阶段b和电压检测阶段c。在重置阶段a，对待测电容Ci和参考电容Ce上的电压进行重置。在电荷共享阶段b，将参考电容Ce与待测电容Ci串联，实现两电容上的电荷的共享，以改变待测电容Ci上的电压。在电压检测阶段c，通过将待测电容Ci上的模拟电压信号转换为数字电压信号，获取待测电容Ci的电压值。进而可以计算出待测电容Ci的电容值。
具体的，在确定一个待测电容Ci的电容值后，将下一待测电容Ci+1上的电压重置为基准电压，并将参考电容Ce上的电压重置为第一电压，以重置该待测电容和参考电容上的电荷量。例如，可以按照如图7所示的开关时序图，逐一对C1、C2等各待测电容进行检测。在重置阶段a，可以通过导通重置模块1的重置开关SW_L和充电模块2的充电开关SW_H，对待测电容C1和参考电容Ce上的电压进行重置。在重置待测电容C1和参考电容Ce上的电压后，先关断该重置开关SW_L和充电开关SW_H，再导通与待测电容C1对应的共享开关SCL1，以将该待测电容C1与参考电容Ce串联连接，从而进入电荷共享阶段b，使得该待测电容C1与参考电容Ce的电荷量之和，在串联前后保持电荷守恒。在完成该待测电容C1与参考电容Ce的电荷共享后，即使得该待测电容C1的电压从基准电压变为第二电压后，可以通过导通电压检测模块4的检测开关，进入电压检测阶段c，检测该第二电压的电压值。进而计算出该待测电容C1的电容值。在获得待测电容C1的电容值后，可以按照上述方法依次获得C2、C3等各待测电容的电容值。在对下一待测电容进行测试时，可以通过执行重置阶段a，使得待测电容C1和参考电容Ce上的电压得到重置。从而既可以使参考电容Ce上的电荷量的充足，避免被不断分享电荷后，电荷逐渐减少。也可以消除累积误差，使测试结果更加准确，进而保障对电压补偿的精确度。
步骤602，对各待测电容的电容值进行归一化处理，获得归一化结果。
具体的，在确定各待测电容的电容值后，可以计算各待测电容的电容值的平均值，作为标准化电容值。再将各待测电容的电容值分别除以该标准化电容值，从而获得各待测电容对应的归一化结果。在实际应用中，可以将各待测电容对应的归一化结果进行存储。待计算各待测电容所在内部检测线的补偿电压时，再调取预先存储的各待测电容对应的归一化结果。
步骤603，根据各待测电容对应的归一化结果，确定对各待测电容所在内部检测线的补偿电压。
具体的，在获得各待测电容对应的归一化结果后，可以根据各待测电容对应的归一化结果、补偿系数、灰阶值和阈值电压计算得到对各待测电容所在内部检测线的补偿电压。例如，可以通过公式
Figure BDA0001484059800000111
计算出对第i条内部检测线Si的补偿电压。其中，Vcomp为补偿电压，K为补偿系数，L为灰阶值，Vth为阈值电压，Ci/C0为对第i条内部检测线Si上待测电容Ci的归一化结果。
步骤604，按照与各待测电容对应的补偿电压，对各内部检测线进行电压补偿。
具体的，在确定对各待测电容所在内部检测线的补偿电压后，便可以针对性地对各内部检测线进行电压补偿。从而提升电压补偿的精度。使显示面板的显示效果更加均匀。
综上所述，本发明实施例提供的电压补偿方法，通过检测电路，确定待测电容的电容值。并根据该待测电容的电容值，确定对内部检测线的补偿电压。再按照与该待测电容对应的补偿电压，对内部检测线进行具有针对性地电压补偿。从而可以消除各内部检测线上电容差异对电压补偿结果的影响，有效提升对内部检测线的电压补偿精度。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
以上对本发明所提供的一种检测电路及电压补偿方法进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (9)

1.一种检测电路，其特征在于，用于检测显示面板内部检测线上的待测电容，包括：重置模块、充电模块、调节模块、电压检测模块和计算模块；
所述重置模块，与所述待测电容串联连接，用于将所述待测电容上的电压重置为基准电压；
所述充电模块，与所述调节模块中的参考电容连接，用于将所述参考电容充电至第一电压；
所述调节模块，包括与所述充电模块连接的参考电容，用于在所述参考电容充电至第一电压后，与所述待测电容串联，将所述待测电容上的电压调节为第二电压；
所述电压检测模块，与所述待测电容连接，用于检测所述第二电压的电压值；
所述计算模块，与所述电压检测模块连接，用于根据所述参考电容的电容值，所述基准电压、所述第一电压及所述第二电压，计算所述待测电容的电容值；
其中，所述检测电路包括至少两条内部检测线上的待测电容；所述调节模块包括至少两个共享开关；
所述共享开关与所述待测电容一一对应，所述参考电容通过各共享开关分别与对应待测电容连接。
2.根据权利要求1所述的检测电路，其特征在于，
所述重置模块包括与低电压输入端连接的重置开关；
所述重置开关，与所述待测电容连接，用于在对所述待测电容放电时导通，以通过所述低电压输入端重置所述待测电容上的电压；
所述充电模块包括与高电压输入端连接的充电开关；
所述充电开关，与所述参考电容连接，用于在对所述参考电容充电时导通，以通过所述高电压输入端重置所述参考电容上的电压；
所述调节模块包括与所述参考电容连接的共享开关；
所述共享开关，与所述待测电容连接，用于在调节所述待测电容上的电压时导通，以将所述参考电容上的电荷共享至所述待测电容；
所述电压检测模块包括模数转换器和检测开关；
所述模数转换器的一端通过所述检测开关与所述待测电容连接，所述模数转换器的另一端与所述计算模块连接；所述模数转换器，用于当所述检测开关导通时，将所述第二电压由模拟电压信号转换为数字电压信号。
3.一种电压补偿方法，其特征在于，应用于如权利要求1至2中任一项所述的检测电路；所述电压补偿方法包括：
通过所述检测电路，确定待测电容的电容值，其中，所述待测电容为待测的显示面板内部检测线上的电容；
根据所述待测电容的电容值，确定对所述内部检测线的补偿电压；
按照与所述待测电容对应的补偿电压，对所述内部检测线进行电压补偿。
4.根据权利要求3所述的电压补偿方法，其特征在于，所述通过所述检测电路，确定待测电容的电容值的步骤，包括：
将待测电容上的电压重置为基准电压，并将参考电容上的电压重置为第一电压，以确定所述待测电容和所述参考电容在串联前的电压值；
通过串联所述待测电容和所述参考电容，将所述待测电容上的电压从所述基准电压调节为第二电压，其中，所述第二电压为所述待测电容和所述参考电容在串联后的电压；
检测所述第二电压的电压值；
根据所述待测电容和所述参考电容在串联前后的电压值，以及所述参考电容的电容值，计算得到所述待测电容的电容值。
5.根据权利要求4所述的电压补偿方法，其特征在于，所述根据所述待测电容和所述参考电容在串联前后的电压值，以及所述参考电容的电容值，计算得到所述待测电容的电容值的步骤，包括：
根据所述参考电容的电容值、所述基准电压的电压值、所述第一电压和所述第二电压的电压值，计算得到所述待测电容的电容值。
6.根据权利要求3所述的电压补偿方法，其特征在于，所述检测电路包括至少两个并联连接的待测电容；所述根据所述待测电容的电容值，确定对所述内部检测线的补偿电压的步骤，包括：
对各待测电容的电容值进行归一化处理，获得归一化结果；
根据所述各待测电容对应的归一化结果，确定对各待测电容所在内部检测线的补偿电压。
7.根据权利要求6所述的电压补偿方法，其特征在于，所述对各待测电容的电容值进行归一化处理的步骤，包括：
计算各待测电容的电容值的平均值，作为标准化电容值；
将各待测电容的电容值分别除以所述标准化电容值，获得所述各待测电容对应的归一化结果。
8.根据权利要求6所述的电压补偿方法，其特征在于，所述根据所述各待测电容对应的归一化结果，确定对各待测电容所在内部检测线的补偿电压的步骤，包括：
根据所述各待测电容对应的归一化结果、补偿系数、灰阶值和阈值电压计算得到对各待测电容所在内部检测线的补偿电压。
9.根据权利要求6所述的电压补偿方法，其特征在于，当所述检测电路包括至少两条内部检测线上的待测电容时，所述通过所述检测电路，确定待测电容的电容值的步骤，包括：
在确定一个待测电容的电容值后，将下一待测电容上的电压重置为基准电压，并将参考电容上的电压重置为第一电压，以重置所述待测电容和所述参考电容上的电荷量。
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