CN107608838A - 一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质，其中该方法包括：获取取值范围预先确定的N类测试参数；从每一类测试参数中选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；判断参与性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。本发明提供的一种存储设备测试方法实现了自动组合测试参数，降低了用户组合测试参数的组合难度，解决了如何提高存储设备测试过程的测试效率的技术问题。
Description
技术领域
本发明涉及存储设备测试技术领域，更具体地说，涉及一种存储设备测试方法、系统、设备及计算机存储介质。
背景技术
随着互联网的高速发展，数据也随之爆发式增长，通常用户会选择高效率低成本的存储设备来存储数据，这就需要对存储设备的效率进行测试。
现有的一种测试存储设备的方法是采用fio(IOPS压力测试工具)作为测试工具对存储设备进行效率测试，此工具可以按照设定的速率向磁盘并向写入或读取一定数量的数据，获得数据输入输出的速率，以此作为评价存储设备效率的指标，但是，测试时的读写速率、读写并发量、文件尺寸等测试参数需要用户自行组合。
然而，由于测试参数的复杂性，用户难以自已组合出合适的测试参数，进而使得测试过程的测试效率较低。
综上所述，如何提高存储设备测试过程的测试效率是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种存储设备测试方法，其能在一定程度上解决如何提高存储设备测试过程的测试效率的技术问题。本发明还提供了一种存储设备测试系统、设备及计算机存储介质。
为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种存储设备测试方法，包括：
获取取值范围预先确定的N类测试参数；
从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；
判断参与所述性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行所述从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，所述计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。
优选的，判断参与所述性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，还包括：
基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价。
优选的，所述基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价之前，还包括：
获取所述存储设备的价格；
所述基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价，包括：
将每一类测试参数对应的性能指数除以所述价格得到对应的比值，基于所述比值对所述存储设备进行性能评价；
所述基于所述比值对所述存储设备进行性能评价之后，还包括：
生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图。
本发明还提供了一种存储设备测试系统，包括：
获取模块，用于获取取值范围预先确定的N类测试参数；
组合模块，用于从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；
判断模块，用于判断参与所述性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则提示所述组合模块从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，若否，则结束测试，所述计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。
优选的，还包括：
性能评价模块，用于在所述判断模块判断参与所述性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价。
优选的，还包括：
价格获取模块，用于在所述性能评价模块基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价之前，获取所述存储设备的价格；
所述性能评价模块包括：
计算单元，用于将每一类测试参数对应的性能指数除以所述价格得到对应的比值，基于所述比值对所述存储设备进行性能评价；
还包括：
生成模块，用于在所述性能评价模块基于所述比值对所述存储设备进行性能评价之后，生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图。
本发明还提供了一种存储设备测试设备，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序以实现上述存储设备测试方法的步骤。
本发明还提供了一种计算机存储介质，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上所述存储设备测试方法的步骤。
本发明提供的一种存储设备测试方法包括：获取取值范围预先确定的N类测试参数；从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；判断参与性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。本发明提供的一种存储设备测试方法中，由于测试参数的类型和取值范围均是预先确定的，可以在一定程度上降低测试参数的复杂性；而且每一类测试参数中均选取一个参数组合成一组测试参数，实现了自动组合测试参数，与现有技术中用户组合测试参数相比，降低了用户组合测试参数的组合难度；此外，由于新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合的测试参数组中的参数不同，也即每次组合出的测试参数组不同，使得测试参数组的组合更加多样性，能够满足不同的测试需求，具有更好的适应性，进而可以提高基于测试参数组对存储设备进行性能测试时的测试效率。综上所述，本发明提供的一种存储设备测试方法在一定程度上解决了如何提高存储设备测试过程的测试效率的技术问题。本发明提供的一种存储设备测试系统、设备及计算机存储介质也解决了相应的技术问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种存储设备测试方法的流程图；
图2为本发明实施例提供的一种存储设备测试系统的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的一种存储设备测试设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图1，图1为本发明实施例提供的一种存储设备测试方法的流程图。
本发明实施例提供的一种存储设备测试方法可以包括以下步骤：
步骤S101：获取取值范围预先确定的N类测试参数。
实际应用中，可以先获取测试参数，测试参数为影响存储设备性能的参数。测试参数的种类及每类的取值范围可以是根据往常的测试经验预先确定的，这些测试参数可以借助C++语言(一种计算机编程语言)封装进函数库，每次需要测试参数时，从函数库中调用即可，当然也可以有其他获取测试参数的方法，本发明在这里不做具体限定。实际应用中，测试参数的类型可以包括测试速率、并发量和文件尺寸等，其中，测试速率为外界输入存储设备的数据写入速率和数据读取速率的最大值，并发量为同时访问存储设备的访问者的数量，文件尺寸为存储设备自身用于保存数据的文件的大小，比如1M等，当然，还可以根据实际需要在本发明实施例提供的一种存储设备测试方法中添加其他类型的测试参数，本发明在这里不做具体限定。
步骤S102：从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同。
在获取到测试参数后，便可从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，而且新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同，也即组合出来的测试参数组两两不同。在得到一个测试参数组后，便可基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试。
步骤S103：判断参与性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值，若是，则返回执行步骤S102；若否，则执行步骤S104：结束测试。
这里的判断参与性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，也即判断是否组合出所有类型的测试参数组，并且判断所有类型的测试参数组是否均参与性能测试，这里所说的计算值是将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值，若参与性能测试的测试参数组的组数小于计算值，则返回执行从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若参与性能测试的测试参数组的组数等于计算值，则可以结束测试过程，当然也可以有其他操作，本发明在这里不做具体限定。
比如现在有三类测试参数，分别为第一类、第二类和第三类测试参数，假设每一类测试参数均有两个测试参数，第一类测试参数中的参数用A、B表示，第二类测试参数中的参数用C、D表示，第三类测试参数中的参数用E、F表示，那么组合成测试参数组时，测试参数组中必然包含每一类测试参数中的一个参数，组合后的测试参数组可以为(A、C、E)等，此外，每一类测试参数中的参数均会与其他类测试参数中的参数组合成测试参数组，也就是说第一类测试参数中的参数A和参数B均与第二、第三类中的每一个测试参数组合成为过测试参数组，那么最终组合成的测试参数组的所有类型如下：(A、C、E)、(A、C、F)、(A、D、E)、(A、D、F)、(B、C、E)、(B、C、F)、(B、D、E)、(B、D、F)，这时，计算值便为2*2*2＝8，也即组合出的测试参数组的组数应该为8，因为每组合出一个测试参数组，便会基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，所以如果参与性能测试的测试参数组的组数小于计算值，也就是说还可以组合出新的测试参数组，比如参与性能测试的测试参数组的类型为(A、C、E)、(A、C、F)、(A、D、E)，这时测试参数组的组数为3，小于8，需要返回执行从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，这时还可以组合出(A、D、F)、(B、C、E)、(B、C、F)、(B、D、E)、(B、D、F)这5种类型的测试参数组，当这5组类型的测试参数组均参与性能测试后，便可以结束测试过程。
本发明提供的一种存储设备测试方法包括：获取取值范围预先确定的N类测试参数；从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；判断参与性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。本发明提供的一种存储设备测试方法中，由于测试参数的类型和取值范围均是预先确定的，可以在一定程度上降低测试参数的复杂性；而且每一类测试参数中均选取一个参数组合成一组测试参数，实现了自动组合测试参数，与现有技术中用户组合测试参数相比，降低了用户组合测试参数的组合难度；此外，由于新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合的测试参数组中的参数不同，也即每次组合出的测试参数组不同，使得测试参数组的组合更加多样性，能够满足不同的测试需求，具有更好的适应性，进而可以提高基于测试参数组对存储设备进行性能测试时的测试效率。综上所述，本发明提供的一种存储设备测试方法在一定程度上解决了如何提高存储设备测试过程的测试效率的技术问题。
本发明实施例提供的一种存储设备测试方法中，判断参与性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，还可以包括：
基于测试参数及性能指数对存储设备进行性能评价。
实际应用中，在判断出参与性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，还可以基于测试参数及对应的性能指数对存储设备进行性能评价，这样可以为外界提供存储设备的相关性能评价信息，便于外界根据自身需要选取性能合适的存储设备。
本发明实施例提供的一种存储设备测试方法中，基于测试参数及性能指数对存储设备进行性能评价之前，还可以包括：
获取存储设备的价格；
基于测试参数及性能指数对存储设备进行性能评价，可以包括：
将每一类测试参数对应的性能指数除以价格得到对应的比值，基于比值对存储设备进行性能评价；
基于比值对存储设备进行性能评价之后，还可以包括：
生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图。
实际应用中，还可以在基于测试参数及性能指数对存储设备进行性能评价前预先获取存储设备的价格，这样，在评价每一类测试参数对存储设备的性能影响时，可以计算该类测试参数对应的性能指数与价格的比值，根据得到的比值对存储设备的性能进行评价，由于在存储设备的评价过程中考虑到了存储设备的价格，可以让外界直接根据评价结果选取合适的存储设备，不需要单独考虑存储设备价格的影响，为外界选取存储设备提供方便。实际应用中，在基于比值对存储设备进行性能评价之后，还可以生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图，比如可以以每一类测试参数中的参数为横坐标，以每个参数对应的比值为纵坐标得到坐标图，在将同种类的相邻两坐标点连起来构成曲线图，这样可以很直观的看出每一类测试参数对存储设备的性能影响。因为存储设备的性能指数可能有多类，所以实际应用中可以生成多个曲线图，比如在性能指数为数据写入速率及数据读取速率时，每个参数对应两个比值，一个是数据写入速率与价格的比值，另一个是数据读取速率与价格的比值，所以在生成曲线图时，可以生成两个曲线图，一个是数据写入速率与价格比值跟测试参数的曲线图，另一个是数据读取速率与价格的比值跟测试参数的曲线图，也可以在一幅曲线图中体现这两个比值，这时，在连接坐标点时需要区分坐标点的种类，也即这个坐标点是属于数据写入速率与价格的比值还是属于数据读取速率与价格的比值，然后将同种类的坐标点连接起来。当然还可以有其他体现比值与测试参数关系的方法，本发明在这里不做具体限定。
本发明实施例提供的一种存储设备测试方法中，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，可以包括：
输入该测试参数组至存储设备；
测试该测试参数组下存储设备的性能指数，性能指数包括数据写入速率及数据读取速率；
在存储设备中清除该组测试参数。
实际应用中，在得到一个测试参数组后，便可以将该测试参数组输入至存储设备，这里所说的将该测试参数组输入至存储设备也即将存储设备中的相关参数设置为该组测试参数中的对应数据。在将该测试参数组输入至存储设备后，便可测试该测试参数组下存储设备的数据写入速率及数据读取速率等性能指数，测试完成后，便可在存储设备中清除该测试参数组。这样可以使得对存储设备的性能测试过程简单易实现。
实际应用中，在测试存储设备的数据写入速率及数据读取速率时，可以调用fio将大小为10G的数据写入该组测试参数下的存储设备，以预设时间间隔对写入速率进行采样，待数据写入完成后，计算采样得到的写入速率的平均值并将该平均值作为数据写入速率；调用fio在存储设备中读取数据，以预设时间间隔对读取速率进行采样，待数据读取完成后，计算采样得到的读取速率的平均值并将该平均值作为数据读取速率。调用fio将预设的大小为10G的数据写入存储设备，同时以预设的时间间隔对写入速率进行采样，这样可以实时得到多个写入速率，在数据全部写入存储设备后，可以计算采样的写入速率的平均值并将其作为最后的数据写入速率，这样可以使得测试得到的数据写入速率更加具有实时性和准确性，调用fio将数据写入存储设备或将数据从存储设备读出的过程与现有技术中的相关过程相同，这里不再赘述；大小为10G的数据即可以满足测试需求又不会使得测试时间过长，当然也可以将数据设为其他大小，本发明在这里不做具体限定；采样的时间间隔可以根据实际需要进行设定，比如0.1秒等；测试得到数据读取速率的过程和原理与测试得到数据写入速率的过程和原理相同，这里不再赘述。
本发明还提供了一种存储设备测试系统，其具有本发明实施例提供的一种存储设备测试方法具有的对应效果。请参阅图2，图2为本发明实施例提供的一种存储设备测试系统的结构示意图。
本发明实施例提供的一种存储设备测试系统可以包括：
获取模块A1，用于获取取值范围预先确定的N类测试参数；
组合模块A2，用于从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；
判断模块A3，用于判断参与性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则提示组合模块A2从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，若否，则结束测试，计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。
本发明实施例提供的一种存储设备测试系统中，还可以包括：
性能评价模块，用于在判断模块判断参与性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，基于测试参数及性能指数对存储设备进行性能评价。
本发明实施例提供的一种存储设备测试系统，还可以包括：
价格获取模块，用于在性能评价模块基于测试参数及性能指数对存储设备进行性能评价之前，获取存储设备的价格；
性能评价模块可以包括：
计算单元，用于将每一类测试参数对应的性能指数除以价格得到对应的比值，基于比值对存储设备进行性能评价；
还可以包括：
生成模块，用于在性能评价模块基于比值对存储设备进行性能评价之后，生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图。
本发明实施例提供的一种存储设备测试系统中，组合模块可以包括：
输入单元，用于输入该测试参数组至存储设备；
测试单元，用于测试该测试参数组下存储设备的性能指数，性能指数包括数据写入速率及数据读取速率；
清除单元，用于在存储设备中清除该组测试参数。
本发明还提了一种存储设备测试设备及计算机存储介质，均具有本发明实施例提供的一种存储设备测试方法具有的对应效果。请参阅图3，图3为本发明实施例提供的一种存储设备测试设备的结构示意图。
本发明实施例提供的一种存储设备测试设备可以包括：
存储器B1，用于存储计算机程序；
处理器B2，用于执行计算机程序以实现上文所说的存储设备测试方法的步骤。
本发明实施例提供的一种计算机存储介质中，计算机存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上文所说到的存储设备测试方法的步骤。
本发明实施例提供的一种存储设备测试系统、设备及计算机存储介质中相关部分的说明请参见本发明实施例提供的一种存储设备测试方法中对应部分的详细说明，在此不再赘述。另外，本发明实施例提供的上述技术方案中与现有技术中对应技术方案实现原理一致的部分并未详细说明，以免过多赘述。
对所公开的实施例的上述说明，使本领域技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
Claims (8)
1.一种存储设备测试方法，其特征在于，包括：
获取取值范围预先确定的N类测试参数；
从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；
判断参与所述性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则执行所述从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组的步骤，若否，则结束测试，所述计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，判断参与所述性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，还包括：
基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价之前，还包括：
获取所述存储设备的价格；
所述基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价，包括：
将每一类测试参数对应的性能指数除以所述价格得到对应的比值，基于所述比值对所述存储设备进行性能评价；
所述基于所述比值对所述存储设备进行性能评价之后，还包括：
生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图。
4.一种存储设备测试系统，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取取值范围预先确定的N类测试参数；
组合模块，用于从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，基于该测试参数组完成对存储设备的性能测试，新组合的测试参数组中至少有一个参数与已组合成的测试参数组中的参数不同；
判断模块，用于判断参与所述性能测试的测试参数组的组数是否小于计算值，若是，则提示所述组合模块从每一类测试参数中均选取一个参数组合成测试参数组，若否，则结束测试，所述计算值为将每一类测试参数的参数项数相乘得到的值。
5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，还包括：
性能评价模块，用于在所述判断模块判断参与所述性能测试的测试参数组的组数等于计算值之后，基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价。
6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，还包括：
价格获取模块，用于在所述性能评价模块基于所述测试参数及所述性能指数对所述存储设备进行性能评价之前，获取所述存储设备的价格；
所述性能评价模块包括：
计算单元，用于将每一类测试参数对应的性能指数除以所述价格得到对应的比值，基于所述比值对所述存储设备进行性能评价；
还包括：
生成模块，用于在所述性能评价模块基于所述比值对所述存储设备进行性能评价之后，生成每一类测试参数与对应的比值的曲线图。
7.一种存储设备测试设备，其特征在于，包括：
存储器，用于存储计算机程序；
处理器，用于执行所述计算机程序以实现权利要求1至3任一项所述存储设备测试方法的步骤。
8.一种计算机存储介质，其特征在于，所述计算机存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至3任一项所述存储设备测试方法的步骤。
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