CN107367866A - Cf基板及其制作方法与配向膜配向角度量测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种CF基板及其制作方法与配向膜配向角度量测方法。本发明的CF基板的制作方法通过在CF基板的非显示区形成数个凹槽,使得后续在数个凹槽上涂布配向膜后,可以直接在该数个凹槽处对配向膜进行配向角度量测。本发明的CF基板采用上述方法制得,有利于简化配向膜配向角度的量测方法。本发明的配向膜配向角度量测方法包括:在上述CF基板上形成配向膜,在所述数个凹槽处直接对配向膜进行配向角度的量测,与现有技术相比,本发明不需要重新制作量测基板,简化了配向膜配向角度量测方法,提高量测精度,同时实现了生产过程中配向膜配向角度的实时监控,避免出现批量产品不良。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种CF基板及其制作方法与配向膜配向角度量测方法。
背景技术
随着显示技术的发展,液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点,而被广泛地应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品,成为显示装置中的主流。
现有市场上的液晶显示装置大部分为背光型液晶显示器,其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在两片平行的玻璃基板当中放置液晶分子,两片玻璃基板中间有许多垂直和水平的细小电线,通过通电与否来控制液晶分子改变方向,将背光模组的光线折射出来产生画面。
通常液晶显示面板由彩膜(CF,Color Filter)基板、薄膜晶体管(TFT,Thin FilmTransistor)基板、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LC,Liquid Crystal)及密封胶框(Sealant)组成,其成型工艺一般包括:前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)。其中,前段Array制程主要是形成TFT基板,以便于控制液晶分子的运动;中段Cell制程主要是在TFT基板与CF基板之间添加液晶;后段模组组装制程主要是驱动IC压合与印刷电路板的整合,进而驱动液晶分子转动,显示图像。
液晶显示面板中,CF基板对于彩色图像的显示起着关键的作用,CF基板通常包括从下到上依次设置的衬底基板、黑色矩阵、彩色光阻层,在液晶成盒制程中,通常需要在CF基板上制作配向膜,由于配向膜的配向角度对液晶显示面板的光学性能有着显著影响,因此通常需要对其配向角度进行量测,以确认是否在合适范围,所述配向膜的配向角度量测方法通常利用光反射原理,由于CF基板上设有黑色矩阵与彩色光阻层等具有色彩的结构层,容易对光反射造成影响,因此不能直接在CF基板上进行量测,如图1所示,现有的配向膜配向角度量测方法通常为:在白玻璃基板100上按照CF基板上配向膜的制作方法形成数个间隔设置的配向膜200,在其中一个或数个配向膜200上选取数个量测位点300,在该数个量测位点300处对配向膜200的配向角度进行量测,测得的配向角度即为CF基板上配向膜的配向角度,然而,由于该方法属于间接测量,因此测量结果不够准确,并且无法实现生产过程中产品的实时监控,容易出现批量产品不良。
发明内容
本发明的目的在于提供一种CF基板的制作方法,能够简化配向膜的配向角度量测方法,提高量测精度。
本发明的目的还在于提供一种CF基板,能够简化配向膜的配向角度量测方法,提高量测精度。
本发明的目的还在于提供一种配向膜配向角度量测方法,不需要单独制作量测基板,量测方法简单,且量测精度高,有利于实现生产过程中配向膜配向角度的实时监控,避免出现批量产品不良。
为实现上述目的,本发明首先提供一种CF基板的制作方法,包括如下步骤:
步骤1、提供衬底基板,所述衬底基板包括显示区与设于所述显示区周围的非显示区;
在所述衬底基板上形成数个层叠设置的结构层,所述数个层叠设置的结构层上对应于所述非显示区的区域设有数个通孔;
步骤2、在所述数个层叠设置的结构层及衬底基板上形成平坦层,所述平坦层包覆所述数个通孔,所述平坦层表面对应于所述数个通孔处形成数个凹槽。
所述数个层叠设置的结构层至少包括设于所述衬底基板上的第一结构层与设于所述第一结构层上的第二结构层,所述第一结构层与第二结构层为黑色矩阵与彩色光阻层的任意排列组合。
所述步骤1中,所述数个通孔的制作方法为:在所述数个层叠设置的结构层的制作过程中,每一结构层上均制作有相互对应的过孔,所述数个层叠设置的结构层的数个过孔相互贯通,形成通孔。
所述凹槽的开口形状为长方形,所述长方形的边长为5mm~10mm。
所述凹槽的深度为
本发明还提供一种CF基板,包括衬底基板、设于所述衬底基板上的数个层叠设置的结构层、及设于所述数个层叠设置的结构层上的平坦层;
所述衬底基板包括显示区与设于所述显示区周围的非显示区,所述数个层叠设置的结构层上对应于所述非显示区的区域设有数个通孔,所述平坦层包覆所述数个通孔,所述平坦层表面对应于所述数个通孔处形成数个凹槽。
所述数个层叠设置的结构层至少包括设于所述衬底基板上的第一结构层与设于所述第一结构层上的第二结构层,所述第一结构层与第二结构层为黑色矩阵与彩色光阻层的任意排列组合;
所述数个层叠设置的结构层中,每一结构层上均设有相互对应的过孔,所述数个层叠设置的结构层上的数个过孔相互贯通,形成通孔。
所述凹槽的开口形状为长方形,所述长方形的边长为5mm~10mm。
所述凹槽的深度为
本发明还提供一种配向膜配向角度量测方法,包括:提供如上文所述的CF基板,在所述CF基板的平坦层上形成配向膜,所述配向膜覆盖所述数个凹槽,采用配向膜量测仪对配向膜的配向角度进行量测,所述配向膜量测仪向所述配向膜上位于所述凹槽内的部分发射光线并接收反射光线,利用光反射的原理对配向膜的配向角度进行量测。
本发明的有益效果:本发明的CF基板的制作方法通过在CF基板的非显示区形成数个凹槽,使得后续在数个凹槽上涂布配向膜后,可以直接在该数个凹槽处对配向膜进行配向角度量测。本发明的CF基板采用上述方法制得,有利于简化配向膜配向角度的量测方法。本发明的配向膜配向角度量测方法包括:在上述CF基板上形成配向膜,在所述数个凹槽处直接对配向膜进行配向角度的量测,由于在所述数个凹槽处所述配向膜的下方仅设有平坦层,避免了彩色光阻层与黑色矩阵等结构层对配向膜的配向角度量测造成影响,所述平坦层呈透明状且表面平滑,对配向膜的配向角度量测结果影响极小,与现有技术相比,本发明不需要重新制作量测基板,简化了配向膜配向角度量测方法,提高量测精度,同时实现了生产过程中配向膜配向角度的实时监控,避免出现批量产品不良。
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而附图仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限制。
附图说明
下面结合附图,通过对本发明的具体实施方式详细描述,将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
附图中,
图1为现有的配向膜配向角度量测方法的示意图;
图2为本发明的CF基板的制作方法的流程图;
图3为本发明的CF基板的制作方法的步骤1的示意图;
图4为本发明的CF基板的制作方法的步骤2的示意图及本发明的CF基板的剖视示意图;
图5为本发明的CF基板的俯视示意图;
图6为本发明的配向膜配向角度量测方法的示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果,以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图2,本发明首先提供一种CF基板的制作方法,包括如下步骤:
步骤1、如图3所示,提供衬底基板10,所述衬底基板10包括显示区与设于所述显示区周围的非显示区;
在所述衬底基板10上形成数个层叠设置的结构层20,所述数个层叠设置的结构层20上对应于所述非显示区的区域设有数个通孔30。
具体的,所述步骤1中,所述数个通孔30的制作方法为:在所述数个层叠设置的结构层20的制作过程中,每一结构层20上均制作有相互对应的过孔25,所述数个层叠设置的结构层20的数个过孔25相互贯通,形成通孔30。
具体的,所述衬底基板10为玻璃基板。
具体的,所述数个层叠设置的结构层20至少包括设于所述衬底基板10上的第一结构层21与设于所述第一结构层21上的第二结构层22,所述第一结构层21与第二结构层22为黑色矩阵与彩色光阻层的任意排列组合。
步骤2、如图4与图5所示,在所述数个层叠设置的结构层20及衬底基板10上形成平坦层40,所述平坦层40包覆所述数个通孔30,所述平坦层40表面对应于所述数个通孔30处形成数个凹槽60。
具体的,所述平坦层40为透明有机材料。
具体的,所述数个凹槽60的个数,依照产品尺寸不同,设计个数也不同。
优选的,所述凹槽60的开口形状为长方形,所述长方形的边长为5mm~10mm,优选的,所述凹槽60的开口为5mm×5mm的正方形。
具体的,所述凹槽60的深度为优选为
本发明的CF基板的制作方法通过在CF基板的非显示区形成数个凹槽60,使得后续在数个凹槽60上涂布配向膜50后,可以直接在该数个凹槽60处对配向膜50进行配向角度量测,有利于简化配向膜配向角度量测方法。
请参阅图4与图5,基于上述CF基板的制作方法,本发明还提供一种CF基板,包括衬底基板10、设于所述衬底基板10上的数个层叠设置的结构层20、及设于所述数个层叠设置的结构层20上的平坦层40;
所述衬底基板10包括显示区与设于所述显示区周围的非显示区,所述数个层叠设置的结构层20上对应于所述非显示区的区域设有数个通孔30,所述平坦层40包覆所述数个通孔30,所述平坦层40表面对应于所述数个通孔30处形成数个凹槽60。
具体的,所述衬底基板10为玻璃基板。
具体的,所述数个层叠设置的结构层20至少包括设于所述衬底基板10上的第一结构层21与设于所述第一结构层21上的第二结构层22,所述第一结构层21与第二结构层22为黑色矩阵与彩色光阻层的任意排列组合。
所述数个层叠设置的结构层20中,每一结构层20上均设有相互对应的过孔25,所述数个层叠设置的结构层20上的数个过孔25相互贯通,形成通孔30。
具体的,所述平坦层40为透明有机材料。
具体的,所述数个凹槽60的个数,依照产品尺寸不同,设计个数也不同。
优选的,所述凹槽60的开口形状为长方形,所述长方形的边长为5mm~10mm,优选的,所述凹槽60的开口为5mm×5mm的正方形。
具体的,所述凹槽60的深度为优选为
本发明的CF基板通过在非显示区设置数个凹槽60,使得后续在数个凹槽60上涂布配向膜50后,可以直接在该数个凹槽60处对配向膜50进行配向角度量测,有利于简化配向膜配向角度量测方法。
请参阅图6,本发明还提供一种配向膜配向角度量测方法,包括:提供如上文所述的CF基板,在所述CF基板的平坦层40上形成配向膜50,所述配向膜50覆盖所述数个凹槽60,采用配向膜量测仪对配向膜50的配向角度进行量测,所述配向膜量测仪向所述配向膜50上位于所述凹槽60内的部分发射光线并接收反射光线,利用光反射的原理对配向膜50的配向角度进行量测。
由于在所述数个凹槽60处所述配向膜50的下方仅设有平坦层40,避免了彩色光阻层与黑色矩阵等结构层20对配向膜配向角度量测过程中的光反射进程造成影响,所述平坦层40呈透明状且表面平滑,对配向膜50的配向角度量测结果影响极小。
具体的,所述配向膜50为光配向膜。
本发明的配向膜配向角度量测方法包括:在上述CF基板上形成配向膜50,在所述数个凹槽60处直接对配向膜50进行配向角度的量测,由于在所述数个凹槽60处所述配向膜50的下方仅设有平坦层40,避免了彩色光阻层与黑色矩阵等结构层对配向膜50的配向角度量测造成影响,所述平坦层40呈透明状且表面平滑,对配向膜50的配向角度量测结果影响极小,与现有技术相比,本发明不需要重新制作量测基板,简化了配向膜配向角度量测方法,提高量测精度,同时实现了生产过程中配向膜配向角度的实时监控,避免出现批量产品不良。
综上所述,本发明提供一种CF基板及其制作方法与配向膜配向角度量测方法。本发明的CF基板的制作方法通过在CF基板的非显示区形成数个凹槽,使得后续在数个凹槽上涂布配向膜后,可以直接在该数个凹槽处对配向膜进行配向角度量测。本发明的CF基板采用上述方法制得,有利于简化配向膜配向角度的量测方法。本发明的配向膜配向角度量测方法包括:在上述CF基板上形成配向膜,在所述数个凹槽处直接对配向膜进行配向角度的量测,由于在所述数个凹槽处所述配向膜的下方仅设有平坦层,避免了彩色光阻层与黑色矩阵等结构层对配向膜的配向角度量测造成影响,所述平坦层呈透明状且表面平滑,对配向膜的配向角度量测结果影响极小,与现有技术相比,本发明不需要重新制作量测基板,简化了配向膜配向角度量测方法,提高量测精度,同时实现了生产过程中配向膜配向角度的实时监控,避免出现批量产品不良。
以上所述,对于本领域的普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形,而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种CF基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1、提供衬底基板(10),所述衬底基板(10)包括显示区与设于所述显示区周围的非显示区;
在所述衬底基板(10)上形成数个层叠设置的结构层(20),所述数个层叠设置的结构层(20)上对应于所述非显示区的区域设有数个通孔(30);
步骤2、在所述数个层叠设置的结构层(20)及衬底基板(10)上形成平坦层(40),所述平坦层(40)包覆所述数个通孔(30),所述平坦层(40)表面对应于所述数个通孔(30)处形成数个凹槽(60)。
2.如权利要求1所述的CF基板的制作方法,其特征在于,所述数个层叠设置的结构层(20)至少包括设于所述衬底基板(10)上的第一结构层(21)与设于所述第一结构层(21)上的第二结构层(22),所述第一结构层(21)与第二结构层(22)为黑色矩阵与彩色光阻层的任意排列组合。
3.如权利要求1所述的CF基板的制作方法,其特征在于,所述步骤1中,所述数个通孔(30)的制作方法为:在所述数个层叠设置的结构层(20)的制作过程中,每一结构层(20)上均制作有相互对应的过孔(25),所述数个层叠设置的结构层(20)的数个过孔(25)相互贯通,形成通孔(30)。
4.如权利要求1所述的CF基板的制作方法,其特征在于,所述凹槽(60)的开口形状为长方形,所述长方形的边长为5mm~10mm。
5.如权利要求1所述的CF基板的制作方法,其特征在于,所述凹槽(60)的深度为
6.一种CF基板,其特征在于,包括衬底基板(10)、设于所述衬底基板(10)上的数个层叠设置的结构层(20)、及设于所述数个层叠设置的结构层(20)上的平坦层(40);
所述衬底基板(10)包括显示区与设于所述显示区周围的非显示区,所述数个层叠设置的结构层(20)上对应于所述非显示区的区域设有数个通孔(30),所述平坦层(40)包覆所述数个通孔(30),所述平坦层(40)表面对应于所述数个通孔(30)处形成数个凹槽(60)。
7.如权利要求6所述的CF基板,其特征在于,所述数个层叠设置的结构层(20)至少包括设于所述衬底基板(10)上的第一结构层(21)与设于所述第一结构层(21)上的第二结构层(22),所述第一结构层(21)与第二结构层(22)为黑色矩阵与彩色光阻层的任意排列组合;
所述数个层叠设置的结构层(20)中,每一结构层(20)上均设有相互对应的过孔(25),所述数个层叠设置的结构层(20)上的数个过孔(25)相互贯通,形成通孔(30)。
8.如权利要求6所述的CF基板,其特征在于,所述凹槽(60)的开口形状为长方形,所述长方形的边长为5mm~10mm。
9.如权利要求6所述的CF基板,其特征在于,所述凹槽(60)的深度为
10.一种配向膜配向角度量测方法,其特征在于,包括:提供如权利要求6所述的CF基板,在所述CF基板的平坦层(40)上形成配向膜(50),所述配向膜(50)覆盖所述数个凹槽(60),采用配向膜量测仪对配向膜(50)的配向角度进行量测,所述配向膜量测仪向所述配向膜(50)上位于所述凹槽(60)内的部分发射光线并接收反射光线,利用光反射的原理对配向膜(50)的配向角度进行量测。
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