CN106546901A - 一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法与装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法与装置。还提出了一种射频电路板，该射频电路板包括由多个射频器件组成的射频通路，还包括射频功率采样电路，该采样电路布置于所述射频通路周围，用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频通路功率衰减特性的影响，通过应用该射频电路湿度性能校准的方法和装置，使得在不同湿度环境下，可以准确的校正由于湿度环境而产生的射频模块的信号功率测量偏差，提高了射频信号测量的精确度。

Description

一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法与装置

技术领域

本发明涉及射频测试领域，特别涉及一种射频电路板，还特别涉及一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法及装置。

背景技术

目前业界的射频信号测试仪表，均使用高频段、高带宽、高精度的射频模块。该射频模块包含各种射频元器件如晶振、放大器、A/D(模/数转换)器件等。这些器件性能会受到湿度变换的影响，使得射频模块在接收/测量信号时，出现功率测量结果偏差，进而影响到仪表的测试精度。因此，在不同湿度下，需要对仪表的功率测量结果进行补偿和校准。

仪表的射频模块电路通常布置于PCB电路板上，是通常由多个射频器件构成的射频通路，当环境湿度发生变化后，会影响到仪表的射频电路的功率测量。

在当前业界内，仪表出厂前，通常只对射频电路的温度敏感性能进行校准和补偿。但是并没有单独为环境湿度对射频电路造成的影响进行校准和补偿。这样则导致了当环境湿度无法达到仪表使用要求，或者在使用中发生变化，仪表射频电路的功率测量准确性会受到影响。

如何确定出针对射频电路湿度性能的功率校准已经成为了当前业界亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明提供了一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法与装置，以确定出不同湿度环境中对射频仪表的功率测量结果影响。

为了达到上述目的，本申请实施例提出了一种射频电路板，所述射频电路板包括由多个射频器件组成的射频通路，所述射频电路板还包括射频功率采样电路，其中：

所述射频功率采样电路布置于所述射频通路周围；

所述射频功率采样电路用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板湿度性能的影响。

优选的，所述射频功率采样电路包括射频信号源接入点，第一功率测量点，第二功率测量点，采样线，负载，其中：

所述采样线贯穿射频通路两端；

所述采样线首端连接射频信号源，所述采样线的末端连接所述负载并接地。

优选的，所述第一功率测量点位于所述采样线的首端，所述第二功率测量点位于所述采样线的末端，所述射频功率采样电路用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板测试结果的影响，具体为：

所述第一功率测量点与所述第二功率测量点用于获取所述湿度环境对所述射频功率采样电路造成的功率测量偏差。

基于与上述相同的发明构思，本申请还提出了针对射频电路湿度性能的功率校准的方法，其特征在于，该方法应用于多个包含如上述的射频电路板的待校准设备中，所述方法包括：

获取全部所述待校准设备位于不同测试条件下的所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果，

根据所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果确定所述待测设备在所述不同测试条件下的功率测量偏差，根据所述不同测试条件对应的功率测量偏差确定标准增益补偿值对照表；

将所述标准增益补偿值对照表存储于待校准设备的数据库中；

其中，所述测试条件包括不同的湿度环境，不同频点以及不同功率的测试信号。

优选的，根据所述不同测试条件对应的功率偏差确定标准增益补偿值对照表，并将所述标准增益补偿值对照表存储于待校准设备的数据库中，具体为：

根据当前测试条件对应的功率测量偏差确定所述待校准设备受当前测试条件影响的功率增益值，根据所述功率增益值确定所述反向增益补偿值，根据所述全部待校准设备在当前测试条件下的反向增益补偿值的平均值，来确定所述待校准设备在当前测试条件下对应的标准增益补偿值对照表；

依次确定所述待校准设备在所述不同测试条件对应的标准增益补偿值对照表。

优选的，将所述标准增益补偿值对照表存储于待校准设备的数据库中之后，还包括：

根据所述待校准设备的当前测试条件，在所述标准增益补偿值获取所述测试条件对应的增益补偿值，所述标准增益补偿表用于确定所述待校准设备在不同测试条件下的测量结果的增益补偿值。

相应的，本申请还提出了针对射频电路湿度性能的功率校准的装置，其特征在于，该装置应用于多个包含如前述的射频电路板的待校准设备中，所述装置包括：

获取模块，获取全部所述待校准设备位于不同测试条件下的所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果，

确定模块，根据所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果确定所述待测设备在所述不同测试条件下的功率测量偏差，根据所述不同测试条件对应的功率偏差确定标准增益补偿值对照表；

存储模块，将所述标准增益补偿值对照表存储于数据库中；

其中，所述测试条件包括不同的湿度环境，不同频点以及不同功率的测试信号。

优选的，所述确定模块具体用于：

根据当前测试条件对应的功率测量偏差确定所述待校准设备受当前测试条件影响的功率增益值，根据所述功率增益值确定所述反向增益补偿值，根据所述全部待校准设备在当前测试条件下的反向增益补偿值的平均值，来确定所述待校准设备在当前测试条件下对应的标准增益补偿值对照表；

依次确定所述待校准设备在所述不同测试条件对应的标准增益补偿值对照表。

优选的，在所述存储模块将所述标准增益补偿值对照表存储于数据库中之后，还包括：

所述获取模块，还用于根据所述待校准设备的当前测试条件，在所述标准增益补偿值获取所述测试条件对应的增益补偿值；

其中，所述标准增益补偿表用于确定所述待校准设备在不同测试条件下的测量结果的增益补偿值。

通过应用本申请提出的技术方案，一种射频电路板，该射频电路板包括由多个射频器件组成的射频通路，还包括射频功率采样电路，该射频功率采样电路布置于所述射频通路的关键射频器件周围，用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板湿度性能的影响，通过应用该射频电路板，使得在湿度环境下，可以准确的测量出湿度环境对射频电路板的测试结果的影响，减少功率测量结果的误差。

附图说明

图1为本申请实施例提出的一种射频电路板的结构示意图；

图2为本申请实施例提出的一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法的流程示意图；

图3为本申请具体实施例中提出的一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法的流程示意图；

图4为本申请具体实施例中提出的一种针对射频电路湿度性能的功率校准的装置的结构示意图。

具体实施方式

正如本申请背景技术所陈述的，现有技术中射频器件在测量过程中会受到湿度变换的影响，使得射频模块在接收/测量信号时，出现功率测量结果偏差，影响测试设备的测试精度，进而影响到仪表的测试精度。

本申请提出了一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法与装置，通过在射频电路板上设置射频功率采样电路，在射频功率采样电路的一端加载参考信号源来测量湿度环境对射频功率采样电路的影响，来有效准确地获取到湿度环境对射频电路性能的影响，以减少湿度环境对测试结果的误差。

如图1所示本申请实施例提出了一种射频电路板，该射频电路板包括射频功率采样电路以及多个射频器件，以下对射频电路板中各个重要特征部件进行介绍：

射频功率采样电路用于确定射频电路板所处的湿度环境对信号功率的影响。

在具体的应用场景中，射频电路板上包含有多个射频器件，往往由多个射频器件组成一个射频通路，当湿度环境发生变化时对射频器件产生影响，即对射频通路产生影响，导致测试结果产生影响，故需要根据射频电路板上的湿度环境对测试设备的影响进行校准。

在本申请的优选实施例中，在射频电路板上设置射频功率采样电路，为了保证湿度环境对射频功率采样电路和射频器件的影响一致，故射频功率采样电路中的采样线的材质和布置方式应该与射频电路板上的其他电路相同，采样线贯穿射频模块通路两端，采样线的首端设置有射频信号源接入点，用于连接射频信号源，采样线末端连接负载并接地，在采样线的首末两端分别设置第一功率测量点，第二功率测量点，用于检测实时的功率，其中，第一功率测量点应该设置于电路板的边缘处，尽量减少湿度环境对该第一功率测量点的影响，如此第一功率测量点测出的测量结果接近标准测量结果，将第二功率点布置于射频电路板中射频通路的末端，以准确测量湿度环境对当前电路板的影响。

该射频功率采样电路为独立的电路，在后期的应用中不参与实际测量设备的测量工作中，采样线的布置在射频电路板的空隙位置，以不干扰主要射频器件工作为准，需要说明的是，考虑到采样线的测量的准确度，采样线在PCB板上的布置路线应尽可能延长，尽量使用PCB板的空余位置布置，这样布置采样线可以使功率测量点的变化更为清晰和可测。

在具体的应用场景中，通过在信号源处加载不同频率与不同功率的参考信号，在不同湿度条件下对这些参考信号进行测量，具体的，通过获取第一功率测量点与第二功率测量点的测量结果，确定功率测量结果的差值，该差值即为当前湿度环境对射频电路板性能的影响。

通过应用本申请实施例提出的一种射频电路板，该射频电路板包括由多个射频器件组成的射频通路，还包括射频功率采样电路，该射频功率采样电路布置于所述射频通路的重要射频器件周围，用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板湿度性能的影响，通过应用该射频电路板，使得在湿度环境下，可以准确的测量出湿度环境对射频电路板的测试结果的影响，减少功率测量结果的误差。

在本申请的具体实施例中，提出了一种射频电路板，如图1所示，射频模块的PCB电路板包含多个射频器件组成的射频通路以及射频功率采样电路，该射频电路板具体结构如下：

具体的，在射频PCB电路中的射频功率采样电路，其中采样线(2)的材质和布置的方式与PCB其他电路相同，采样线(2)贯穿射频模块通路两端，采样线(2)首端连接射频信号源(1)，采样线(2)末端连接负载(5)并接地(6)，在采样线(2)首末两端设置功率测量点P1(3)和P2(4)，用于检测实时功率。

采样线(2)在PCB电路上的布置与射频电路PCB板的空隙位置，尽量围绕主要的射频器件来进行布置，分别环绕射频器件1、射频器件2、射频器件3及射频器件4，采样线(2)在PCB板上布置在PCB板的空余位置，这样布置采样线可以使功率测量点的变化更为清晰和可测。

通过应用本申请具体实施例提出的一种射频电路板，该射频电路板包括由多个射频器件组成的射频通路，还包括射频功率采样电路，该射频功率采样电路布置于所述射频通路周围，用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板湿度性能的影响，通过应用该射频电路板，使得在湿度环境下，可以准确的测量出湿度环境对射频电路板的测试结果的影响，减少测量功率结果的误差。

基于以上实施例提出的射频电路板，本申请还提出了一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法的流程示意图，通过对射频功率采样电路在不同湿度环境下进行测试，来测试不同湿度环境造成的射频电路的功率偏差，根据多个设备的测量结果的统计平均确定出湿度敏感增益补偿值，该方法应用于包含实施例一中的图1为基础的射频电路板的待校准设备中，如图2所示，本申请实施提出的一种湿度校准方法的流程示意图，具体步骤如下：

步骤201，获取全部待校准设备位于不同测试条件下的第一功率测量点与第二功率测量点的测试结果；

在具体的应用场景中，待校准设备的测量结果会受到很多因素的影响，在不同的环境条件下，影响程度也不同，需要设置不同的测试条件，在不同的测试条件下对待校准设备进行测试，以准确的确定出环境条件对其性能的影响，测试条件具体为湿度环境，温度环境。在同一测试条件下，设置参考测试信号为不同频点以及不同功率。在本实施例中，对基于不同湿度环境的待校准设备的测试结果进行确定。

为了获取湿度环境对待校准设备的湿度性能的影响，主要通过对射频电路板上的射频功率采样电路进行测量来得出的，具体的，通过射频功率采样电路中第一功率测量点以及第二功率测量点的功率偏差进行确定，在此之前需要获取全部待校准设备位于不同测试条件下的第一功率测量点与第二功率测量点的测量结果。

步骤202，根据所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果确定所述待校准设备在不同测试条件下的功率偏差，并根据不同测试条件对应的功率偏差确定待校准设备的标准增益补偿值对照表；

对处于不同测试条件下的待校准设备，通过接收参考信号源发送的多组不同频点以及不同功率的标准射频信号，进行反复多次的检测，通过统计平均计算可以的到第一功率测量点以及第二功率测量的功率偏差值。

根据第一功率测量点所处的位置是在信号源的首端位置，第一功率测量点的测量结果接近于标准测试结果，而第二功率测量点位于采样线的末端，第二功率测量点与待校准设备的射频通路都受湿度环境的影响，故根据第一功率测量点与第二功率测量点的功率偏差可以确定出湿度环境对射频电路板性能的具体影响。

在本申请的优选实施例中，为了校正在湿度环境对射频电路板功率测量结果的影响，需要对待校准设备的功率测试结果进行补偿，由此来达到标准的测量结果。根据射频功率采样电路确定出不同湿度测试条件下的功率偏差，来确定出不同湿度及不同测试条件下对测量结果进行反向增益补偿，分别获取全部待校准设备在不同测试条件下的反向增益补偿值，以统计平均的方式，获取其平均值，根据在不同测试条件下的平均值生成标准增益补偿对照表，当待校准设备的湿度环境发生变化，根据标准增益补偿对照表查询相应湿度条件下的增益补偿值，来对待校准设备的测量结果功率进行补偿。

需要说明的是，本申请实施例提出的技术方案不仅限用于对环境湿度造成的功率测量结果偏差进行校正，也可用于对其他环境因素如温度、气压等综合因素造成的功率测量结果偏差进行校正，环境因素的变化不会影响本申请的保护范围。

步骤203，将标准增益补偿标识对照表存储于待校准设备的数据库中；

为了方便在不同环境条件下对待校准的设备的测量结果功率进行校准，将标准增益补偿标识对照表存储于待校准设备的数据库中，当待校准设备的测试环境发生变化，通过查询设备当前环境条件下的标准增益补偿对照表中对应增益补偿值，来对待校准设备的测量结果功率进行补偿。

通过应用本申请实施例提出的一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法，该方法应用于包含射频电路板的待校准设备中，该射频电路板包括由多个射频器件组成的射频通路，还包括射频功率采样电路，该射频功率采样电路布置于所述射频通路的重要射频器件周围，用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板湿度性能的影响，通过抽样的方法，从同一批次的出厂射频测试设备中选取多个待校准设备进行测试，根据不同测试条件下的射频功率采样电路中的功率偏差，通过统计平均来确定标准增益补偿表，可以准确的测量出湿度环境对射频电路板的测试结果的影响，减少功率测量结果的误差。

下面将结合本申请中的附图，对本申请中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例是本申请的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

如图3所示，为本申请具体实施例中提出的一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法的流程示意图，该实施例中具体采用了抽样选取的方法，通过对射频功率采样电路在不同湿度环境下进行测试，来测试不同湿度环境对射频电路的功率偏差，通过对多个设备的测量结果进行统计平均，确定出湿度敏感增益补偿值，应用于包含如图1为基础的射频电路板的射频测试仪表中，具体步骤如下：

步骤301，获取在当前环境下射频功率采样电路首尾两端的功率偏差；

具体的，对于具有一定数量的射频测试仪表进行抽样，抽出数台经过检测合格的仪表，将这些仪表分别放入带有湿度调节功能的高低温试验箱，分别对这些仪表进行湿度检测。将高低温试验箱的工作环境设定在一个典型工作温度和湿度环境下。每一台抽样仪表在不同频点上接收多组不同功率的标准校验信号。在每一种频率配置条件下，均记录下射频PCB板上的射频功率采样电路的首末两端的功率测量点上的功率值P₁，P₂，则可以得到在当前湿度环境下射频功率采样电路首尾两端的功率偏差：ΔP＝P₂-P₁。

步骤302，确定功率偏差与射频通道湿度敏感增益之间的关系；

对于不同测试条件的标准校验信号均进行反复多次的检测，通过统计平均可以得到P₁与P₂的差值ΔP与射频通道湿度敏感增益ΔG之间的关系：

ΔG＝f_dB(ΔP)＝f_dB(P₂-P₁)

其中，f_dB(·)表示进行统计平均并取dB单位。

步骤303，根据射频通道湿度敏感增益确定反向增益补偿；

在校正过程中，在当前湿度环境和当前频率配置下，对于射频模块接收射频信号的功率测量结果，使用硬件或软件的方式进行反向增益补偿使得射频通道的功率增益这样即可以确保整个射频通道在当前湿度环境下湿度敏感通路增益为零。

步骤304，确定标准增益补偿对照表；

每一台抽样仪表均在不同频率配置上按照上述方法进行相同的检测，可以得出不同频率配置对应的湿度敏感增益ΔG对照表，依据此表数据可以得出增益补偿对照表。将数个抽样仪表检测出的增益补偿对照表进行统计平均，就可以得到标准增益补偿对照表。在实际使用中，在当前湿度环境下，本批次的所有仪表均使用此标准增益补偿对照表，对照频率配置参数，通过软件或者硬件对于仪表在不同频率下的功率测试结果进行补偿。

步骤305，将标准增益补偿表存储于存储器中；

改变湿度检测环境，生成多个标准增益补偿对照表与不同的湿度环境相对应，将这些数据均预存于仪表的存储器中，在实际生产中，可以根据不同的湿度环境参数，调取相对应的补偿数据，通过软件或硬件的方式对仪表功率测量结果进行补偿。

由此可见，通过应用本申请具体实施例提出的一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法，该方法应用于包含射频电路板的待校准设备中，该射频电路板包括由多个射频器件组成的射频通路和射频功率采样电路，该射频功率采样电路布置于所述射频通路的重要射频器件周围，用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板湿度性能的影响，通过抽样选取的方法对多个待校准设备进行测试，根据不同测试条件下的射频功率采样电路中的功率偏差来确定标准增益补偿表，可以准确的测量出湿度环境对射频电路板的测试结果的影响，减少功率测量结果的误差。

基于与上述方法同样的发明构思，本申请实施例还提出了一种针对射频电路湿度性能的功率校准的装置，其结构示意图如图4所示，该装置应用于包含如实施一提出的射频电路板的设备中，该装置包括：

获取模块41，获取全部所述待校准设备位于不同测试条件下的所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果，

确定模块42，根据所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果确定所述待测设备在所述不同测试条件下的功率测量偏差，根据所述不同测试条件对应的功率偏差确定标准增益补偿值对照表；

存储模块43，将所述标准增益补偿值对照表存储于数据库中；

其中，所述测试条件包括不同的湿度环境，不同频点以及不同功率的测试信号。

在具体的应用场景中，所述确定模块42具体用于：

根据所述测试条件对应的功率测量偏差确定所述待校准设备受所述测试条件影响的功率增益值，根据所述功率增益值确定所述反向增益补偿值，，根据全部待测设备在不同测试条件下的反向增益补偿值的平均值来确定标准增益补偿值对照表；

在具体的应用场景中，在所述存储模块将所述标准增益补偿值对照表存储于数据库中之后，还包括：

所述获取模块43，还用于根据所述待校准设备的当前测试条件，在所述标准增益补偿值获取所述测试条件对应的增益补偿值；

其中，所述标准增益补偿表用于确定所述待校准设备在不同测试条件下的测量结果的增益补偿值。

通过应用本申请实施例提出技术方案，应用于包含射频电路板的待校准设备中，该射频电路板包括由多个射频器件组成的射频通路和射频功率采样电路，该射频功率采样电路布置于所述射频通路的重要射频器件周围，用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板湿度性能的影响，通过抽样选取的方法对多个待校准设备进行测试，根据不同测试条件下的射频功率采样电路中的功率偏差来确定标准增益补偿表，可以准确的测量出湿度环境对射频电路板的测试结果的影响，减少功率测量结果的误差。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可以通过硬件实现，也可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施场景所述的方法。

本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。

本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。

上述本发明序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。

以上公开的仅为本发明的几个具体实施场景，但是，本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种射频电路板，所述射频电路板包括由多个射频器件组成的射频通路，其特征在于，所述射频电路板还包括射频功率采样电路，其中：

所述射频功率采样电路布置于所述射频通路周围；

所述射频功率采样电路用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板湿度性能的影响。

2.如权利要求1所述的射频电路板，其特征在于，所述射频功率采样电路包括射频信号源接入点，第一功率测量点，第二功率测量点，采样线，负载，其中：

所述采样线贯穿射频通路两端；

所述采样线首端连接射频信号源，所述采样线的末端连接所述负载并接地。

3.如权利要求2所述的射频电路板，其特征在于，所述第一功率测量点位于所述采样线的首端，所述第二功率测量点位于所述采样线的末端，所述射频功率采样电路用于确定所述射频电路板所处的湿度环境对所述射频电路板测试结果的影响，具体为：

所述第一功率测量点与所述第二功率测量点用于获取所述湿度环境对所述射频功率采样电路造成的功率测量偏差。

4.一种针对射频电路湿度性能的功率校准的方法，其特征在于，该方法应用于多个包含如权利要求1-3任意一项所述的射频电路板的待校准设备中，所述方法包括：

获取全部所述待校准设备位于不同测试条件下的所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果，

根据所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果确定所述待测设备在所述不同测试条件下的功率测量偏差，根据所述不同测试条件对应的功率测量偏差确定标准增益补偿值对照表；

将所述标准增益补偿值对照表存储于待校准设备的数据库中；

其中，所述测试条件包括不同的湿度环境，不同频点以及不同功率的测试信号。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，根据所述不同测试条件对应的功率偏差确定标准增益补偿值对照表，并将所述标准增益补偿值对照表存储于待校准设备的数据库中，具体为：

根据当前测试条件对应的功率测量偏差确定所述待校准设备受当前测试条件影响的功率增益值，根据所述功率增益值确定所述反向增益补偿值，根据所述全部待校准设备在当前测试条件下的反向增益补偿值的平均值，来确定所述待校准设备在当前测试条件下对应的标准增益补偿值对照表；

依次确定所述待校准设备在所述不同测试条件对应的标准增益补偿值对照表。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，将所述标准增益补偿值对照表存储于待校准设备的数据库中之后，还包括：

根据所述待校准设备的当前测试条件，在所述标准增益补偿值获取所述测试条件对应的增益补偿值，所述标准增益补偿表用于确定所述待校准设备在不同测试条件下的测量结果的增益补偿值。

7.一种针对射频电路湿度性能的功率校准的装置，其特征在于，该装置应用于多个包含如权利要求1-3任意一项所述的射频电路板的待校准设备中，所述装置包括：

获取模块，获取全部所述待校准设备位于不同测试条件下的所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果，

确定模块，根据所述第一功率测量点与所述第二功率测量点的测试结果确定所述待测设备在所述不同测试条件下的功率测量偏差，根据所述不同测试条件对应的功率偏差确定标准增益补偿值对照表；

存储模块，将所述标准增益补偿值对照表存储于数据库中；

其中，所述测试条件包括不同的湿度环境，不同频点以及不同功率的测试信号。

8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述确定模块具体用于：

根据当前测试条件对应的功率测量偏差确定所述待校准设备受当前测试条件影响的功率增益值，根据所述功率增益值确定所述反向增益补偿值，根据所述全部待校准设备在当前测试条件下的反向增益补偿值的平均值，来确定所述待校准设备在当前测试条件下对应的标准增益补偿值对照表；

依次确定所述待校准设备在所述不同测试条件对应的标准增益补偿值对照表。

9.如权利要求7所述的装置，其特征在于，在所述存储模块将所述标准增益补偿值对照表存储于数据库中之后，还包括：

所述获取模块，还用于根据所述待校准设备的当前测试条件，在所述标准增益补偿值获取所述测试条件对应的增益补偿值；

其中，所述标准增益补偿表用于确定所述待校准设备在不同测试条件下的测量结果的增益补偿值。