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CN106526367A - 一种电子设备测试方法及装置 - Google Patents

一种电子设备测试方法及装置 Download PDF

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CN106526367A
CN106526367A CN201610947514.7A CN201610947514A CN106526367A CN 106526367 A CN106526367 A CN 106526367A CN 201610947514 A CN201610947514 A CN 201610947514A CN 106526367 A CN106526367 A CN 106526367A
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CN
China
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test
mark
instruction
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program
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Application number
CN201610947514.7A
Other languages
English (en)
Inventor
郭子明
肖永君
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ChinaGPS Co Ltd Shenzhen
Original Assignee
ChinaGPS Co Ltd Shenzhen
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Publication date
Application filed by ChinaGPS Co Ltd Shenzhen filed Critical ChinaGPS Co Ltd Shenzhen
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

本发明适用计算机技术领域,提供了一种电子设备测试方法及装置,该方法包括:依次获取存储在电子设备上的测试指令,在执行读取的当前测试指令时,对前一测试指令的测试标识号对应的测试状态标识进行检测,当检测到对应的测试状态标识为测试通过标识时,根据当前测试指令中测试标识号获取对应的测试程序并执行,当测试程序测试通过时,将当前测试指令中测试标识号对应的测试状态标识设置为测试通过标识,从而实现测试的全自动化执行,而当测试程序测试未通过时,将测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对电子设备进行及时、准确的修复,防止测试程序发生中断,提高了测试效率。

Description

一种电子设备测试方法及装置
技术领域
本发明属于计算机技术领域,尤其涉及一种电子设备测试方法及装置。
背景技术
在科技日新月异的现今时代中,大多数科技企业都推出了自身的电子设备或产品,以满足用户的不同需求。电子产品的可靠性和稳定性是用户选择电子产品的重要依据,而测试是保证电子产品可靠性和稳定性的重要途径之一,是电子产品制造的重要一环。
然而,在现有电子产品的测试过程中,在检测到故障时通常需要检测人员以人工操作方式对错误代码进行分析,对故障进行清除修复,之后才通过手动操作进入下一阶段的测试,降低了电子产品的检测效率,同时也造成了能源的浪费。
发明内容
本发明的目的在于提供一种电子设备测试方法及装置,旨在解决由于现有技术无法提供一种有效的电子设备测试方法,导致电子设备测试周期长、测试效率低下的问题。
一方面,本发明提供了一种电子设备测试方法,所述方法包括下述步骤:
依次获取存储在电子设备上的测试指令,所述测试指令中包括测试工序的测试标识号;
执行读取的当前测试指令;
所述执行读取的当前测试指令的步骤,包括:
对前一测试指令的测试标识号对应的测试状态标识进行检测;
当检测到所述对应的测试状态标识为测试通过标识时,根据所述当前测试指令中所述测试标识号获取对应的测试程序并执行;
当所述测试程序测试通过时,将所述当前测试指令中所述测试标识号对应的测试状态标识设置为测试通过标识;
当所述测试程序测试未通过时,将所述测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对所述电子设备进行修复。
另一方面,本发明提供了一种电子设备测试装置,其特征在于,所述装置包括:
指令获取单元,用于依次获取存储在电子设备上的测试指令,所述测试指令中包括测试工序的测试标识号;
指令执行单元,用于执行读取的当前测试指令;
所述指令执行单元包括:
状态检测单元,用于对前一测试指令的测试标识号对应的测试状态标识进行检测;
程序执行单元,用于当检测到所述对应的测试状态标识为测试通过标识时,根据所述当前测试指令中所述测试标识号获取对应的测试程序并执行;
标识设置单元,用于当所述测试程序测试通过时,将所述当前测试指令中所述测试标识号对应的测试状态标识设置为测试通过标识;以及
修复引导单元,用于当所述测试程序测试未通过时,将所述测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对所述电子设备进行修复。
本发明依次获取存储在电子设备上的测试指令,在执行读取的当前测试指令时,对前一测试指令的测试标识号对应的测试状态标识进行检测,当检测到对应的测试状态标识为测试通过标识时,根据当前测试指令中测试标识号获取对应的测试程序并执行,当测试程序测试通过时,将当前测试指令中测试标识号对应的测试状态标识设置为测试通过标识,从而实现测试的全自动化执行,提高了测试效率,而当测试程序测试未通过时,将测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对电子设备进行及时、准确的修复,防止测试程序发生中断,同样可提高电子产品的测试效率。
附图说明
图1是本发明实施例一提供的电子设备测试方法的实现流程图;
图2是本发明实施例一提供的电子设备测试方法中执行读取的当前测试指令的实现流程图;
图3是本发明实施例二提供的电子设备测试装置的结构示意图;以及
图4是本发明实施例二提供的电子设备测试装置中指令执行单元的结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
以下结合具体实施例对本发明的具体实现进行详细描述:
实施例一:
图1示出了本发明实施例一提供的电子设备测试方法的实现流程,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,详述如下:
在步骤S11中,依次获取存储在电子设备上的测试指令,测试指令中包括测试工序的测试标识号。
本发明实施例适用于移动终端、车载电子设备等具有存储空间的电子设备,例如,智能手机。其中,存储空间用于存储对电子设备进行测试的测试指令序列或测试指令集合,该测试指令序列或测试指令集合包括多条测试指令,测试指令中至少包括测试工序的测试标识号,以根据测试标识号获取对应的测试程序。在具体测试时,可依次或逐条获取存储在电子设备上的测试指令,根据当前读取的当前测试指令进行测试。
在步骤S12中,执行读取的当前测试指令。
在本发明实施例中,可依据图2所示的流程执行读取的当前测试指令,以对电子设备进行测试,其中:
在步骤S120中,对前一测试指令的测试标识号对应的测试状态标识进行检测。
在本发明实施例中,测试标识号用于标识测试指令或对应的测试程序,对于每一条测试指令设置有对应的测试状态标识,以用于标识测试指令是否已通过测试。
在步骤S121中,当检测到前一测试指令测试标识号对应的测试状态标识为测试通过标识时,根据当前测试指令中测试标识号获取对应的测试程序并执行。
在本发明实施例中,当检测到前一测试指令对应的测试状态标识为测试通过标识时,则执行当前测试指令,以进入当前测试指令对应的测试。优选地,在获取对应的测试程序时,从连接的测试服务器获取对应的测试程序。这样,无需将所有测试程序导入到电子设备上,只需将测试程序统一存储在测试服务器上,以向不同种类、型号的电子设备提供测试程序,提高测试效率。
在步骤S122中,判断测试程序是否测试通过,是则执行步骤S123,否则执行步骤S124。
在步骤S123中,当测试程序测试通过时,将当前测试指令中测试标识号对应的测试状态标识设置为测试通过标识。
在步骤S124中,当测试程序测试未通过时,将测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对电子设备进行修复。
在本发明实施例中,当测试程序测试未通过时,将测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对电子设备进行修复。
优选地,测试未通过标识根据电子设备的不同类型的故障进行设置,也就是说,可预先设置不同的测试未通过标识,以标识测试过程中测试程序测试未通过时不同的故障或故障原因,这样可根据该测试未通过标识获取与测试未通过标识关联的、用于电子设备的对应修复引导操作指令,执行该修复引导操作指令,以引导用户对电子设备进行修复,提高电子设备的测试效率,间接提高电子设备的生产效率。优选地,修复引导操作指令可包括对应的语音提示,以在用户执行完一修复操作后,提示用户进行下一修复操作,最终引导用户完成对检测到的故障的修复。
在本发明实施例中,无论测试程序是测试通过还是未通过,优选地,将测试标识号和对应的测试状态标识发送给连接的测试服务器并存储,以形成对应的测试日志或记录,便于用户或测试人员对电子设备测试过程的跟踪或查看,方便后续电子设备使用过程中故障的确定。
在本发明实施例中,当检测到对应的测试状态标识为预设的测试未通过标识时,执行前一测试指令,执行过程可参考前述对当前测试指令的执行,在此不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可以存储于一计算机可读取存储介质中,所述的存储介质,如ROM/RAM、磁盘、光盘等。
实施例二:
图3示出了本发明实施例二提供的电子设备测试装置的结构,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,其中包括:
指令获取单元11,用于依次获取存储在电子设备上的测试指令,测试指令中包括测试工序的测试标识号;以及
指令执行单元12,用于执行读取的当前测试指令。
在本发明实施例中,如图4所示,指令执行单元12包括:
状态检测单元120,用于对前一测试指令的测试标识号对应的测试状态标识进行检测;
程序执行单元121,用于当检测到对应的测试状态标识为测试通过标识时,根据所述当前测试指令中测试标识号获取对应的测试程序并执行;
标识设置单元122,用于当测试程序测试通过时,将当前测试指令中测试标识号对应的测试状态标识设置为测试通过标识;以及
修复引导单元123,用于当测试程序测试未通过时,将测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对电子设备进行修复。
在本发明实施例中,测试标识号用于标识测试指令或对应的测试程序,对于每一条测试指令设置有对应的测试状态标识,以用于标识测试指令是否已通过测试。当检测到前一测试指令对应的测试状态标识为测试通过标识时,则执行当前测试指令,以进入当前测试指令对应的测试。优选地,在获取对应的测试程序时,从连接的测试服务器获取对应的测试程序。这样,无需将所有测试程序导入到电子设备上,只要将测试程序统一存储在测试服务器上,以向不同种类、型号的电子设备提供测试程序,提高测试效率。
在本发明实施例中,当测试程序测试未通过时,将测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对电子设备进行修复。
优选地,测试未通过标识根据电子设备的不同类型的故障进行设置,也就是说,可预先设置不同的测试未通过标识,以标识测试过程中测试程序测试未通过时不同的故障或故障原因,这样可根据该测试未通过标识获取与测试未通过标识关联的、用于电子设备的修复引导操作指令,执行该修复引导操作指令,以引导用户对电子设备进行修复,提高电子设备的测试效率,间接提高电子设备的生产效率。优选地,修复引导操作指令可包括对应的语音提示,以在用户执行完一修复操作后,提示用户进行下一修复操作,最终引导用户完成对检测到的故障的修复。
在本发明实施例中,无论测试程序是测试通过还是未通过,优选地,将测试标识号和对应的测试状态标识发送给连接的测试服务器并存储,以形成对应的测试日志或记录,便于用户或测试人员对电子设备测试过程的跟踪或查看,方便后续电子设备使用过程中故障的确定。
因此,优选地,修复引导单元123可包括修复引导子单元,用于获取与预设的测试未通过标识关联的、用于电子设备的修复引导操作指令,执行修复引导操作指令,以引导用户对电子设备进行修复。
进一步地,当检测到对应的测试状态标识为预设的测试未通过标识时,指令执行单元12还用于执行前一测试指令。
进一步地,程序执行单元121还可以包括程序执行子单元,用于根据当前测试指令中测试标识号,从连接的测试服务器获取对应的测试程序并执行。
进一步地,电子设备测试装置还包括测试记录单元,用于将测试标识号和对应的测试状态标识发送给连接的测试服务器并存储。
在本发明实施例中,电子设备测试装置的各单元可由相应的硬件或软件单元实现,各单元可以为独立的软、硬件单元,也可以集成为电子设备的一个软、硬件单元,在此不用以限制本发明。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电子设备测试方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:
依次获取存储在电子设备上的测试指令,所述测试指令中包括测试工序的测试标识号;
执行读取的当前测试指令;
所述执行读取的当前测试指令的步骤,包括:
对前一测试指令的测试标识号对应的测试状态标识进行检测;
当检测到所述对应的测试状态标识为测试通过标识时,根据所述当前测试指令中所述测试标识号获取对应的测试程序并执行;
当所述测试程序测试通过时,将所述当前测试指令中所述测试标识号对应的测试状态标识设置为测试通过标识;
当所述测试程序测试未通过时,将所述测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对所述电子设备进行修复。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,执行关联的修复引导操作指令的步骤,包括:
获取与所述预设的测试未通过标识关联的、用于所述电子设备的修复引导操作指令,执行所述修复引导操作指令,以引导用户对所述电子设备进行修复。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
当检测到所述对应的测试状态标识为预设的测试未通过标识时,执行所述前一测试指令。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据所述当前测试指令中所述测试标识号获取对应的测试程序并执行的步骤,包括:
根据所述当前测试指令中所述测试标识号,从连接的测试服务器获取对应的测试程序并执行。
5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
将所述测试标识号和所述对应的测试状态标识发送给所述连接的测试服务器并存储。
6.一种电子设备测试装置,其特征在于,所述装置包括:
指令获取单元,用于依次获取存储在电子设备上的测试指令,所述测试指令中包括测试工序的测试标识号;
指令执行单元,用于执行读取的当前测试指令;
所述指令执行单元包括:
状态检测单元,用于对前一测试指令的测试标识号对应的测试状态标识进行检测;
程序执行单元,用于当检测到所述对应的测试状态标识为测试通过标识时,根据所述当前测试指令中所述测试标识号获取对应的测试程序并执行;
标识设置单元,用于当所述测试程序测试通过时,将所述当前测试指令中所述测试标识号对应的测试状态标识设置为测试通过标识;以及
修复引导单元,用于当所述测试程序测试未通过时,将所述测试标识号对应的测试状态标识设置为预设的测试未通过标识,并执行关联的修复引导操作指令,以引导用户对所述电子设备进行修复。
7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述修复引导单元包括:
修复引导子单元,用于获取与所述预设的测试未通过标识关联的、用于所述电子设备的修复引导操作指令,执行所述修复引导操作指令,以引导用户对所述电子设备进行修复。
8.如权利要求6所述的装置,其特征在于,当检测到所述对应的测试状态标识为预设的测试未通过标识时,所述指令执行单元还用于执行所述前一测试指令。
9.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述程序执行单元包括:
程序执行子单元,用于根据所述当前测试指令中所述测试标识号,从连接的测试服务器获取对应的测试程序并执行。
10.如权利要求9所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
测试记录单元,用于将所述测试标识号和所述对应的测试状态标识发送给所述连接的测试服务器并存储。
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PB01 Publication
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