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CN106201096A - 一种触控显示基板、触控显示装置以及驱动方法 - Google Patents

一种触控显示基板、触控显示装置以及驱动方法 Download PDF

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CN106201096A
CN106201096A CN201610570492.7A CN201610570492A CN106201096A CN 106201096 A CN106201096 A CN 106201096A CN 201610570492 A CN201610570492 A CN 201610570492A CN 106201096 A CN106201096 A CN 106201096A
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touch detection
detection electrodes
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CN201610570492.7A
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曹兆铿
崔婷婷
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Tianma Microelectronics Co Ltd
Shanghai AVIC Optoelectronics Co Ltd
Original Assignee
Tianma Microelectronics Co Ltd
Shanghai AVIC Optoelectronics Co Ltd
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Abstract

本发明公开了一种触控显示基板、触控显示装置以及驱动方法,该触控显示基板包括:显示区以及边框区;设置在显示区的多个在第一方向上平行排布的触控检测电极组,每一触控检测电极组具有多个在第一方向上平行排布的触控检测电极;设置在边框区的控制电路,控制电路具有与触控检测电极一一对应连接的检测端口;在触控时序段时,控制电路执行第一检测模式或第二检测模式;当执行第一检测模式时,控制电路用于按照第一预设扫描顺序对触控检测电极进行逐一扫描;当执行第二检测模式时,控制电路用于按照第二预设扫描顺序对触控检测电极组逐一进行扫描,同一触控检测电极组的触控检测电极同时扫描。本发明技术方案降低了扫描周期以及功耗。

Description

一种触控显示基板、触控显示装置以及驱动方法
技术领域
本发明涉及触控装置技术领域,更具体的说,涉及一种触控显示基板、触控显示装置以及驱动方法。
背景技术
随着科学技术的进步,越来越多的触控显示装置被广泛的应用到人们的日常生活以及工作当中,为人们的日常生活以及工作带来了巨大的便利,成为当前人们不可或缺的重要工具。
触控显示装置实现触控显示功能的主要部件是触控显示基板,传统的触控显示基板为了能够实现识别手指的触控操作以及触控笔的触控操作,需要设计具有较窄线宽触控检测电极的触控显示基板,在执行触控检测时,通过触控电路逐一扫描所述触控检测电极实现触控操作。
发明人研究发现,现有的触控显示基板中,在进行触控检测时,控制电路驱动触控检测电极识别具有较大接触线宽的手指触控操作以及具有较小接触线宽的触控笔触控操作的方式相同,均是对触控检测电极进行逐一扫描,触控电路进行触控检测时的扫描周期长,且功耗高。
发明内容
为了解决上述问题,本发明提供了一种触控显示基板、触控显示装置以及驱动方法,降低了控制电路进行触控检测时的扫描周期以及扫描功耗。
为了实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种触控显示基板,用于显示装置,所述触控显示基板包括:显示区以及边框区;
设置在所述显示区的多个在第一方向上平行排布的触控检测电极组,每一所述触控检测电极组具有多个在所述第一方向上平行排布的触控检测电极;
设置在所述边框区的控制电路,所述控制电路具有与所述触控检测电极一一对应连接的检测端口;
其中,所述控制电路的扫描周期包括:触控检测时序段以及显示时序段;在触控时序段时,所述控制电路执行第一检测模式或是执行第二检测模式;
当所述控制电路执行第一检测模式时,所述控制电路用于按照第一预设扫描顺序对所述触控检测电极进行逐一扫描;
当所述控制电路执行第二检测模式时,所述控制电路用于按照第二预设扫描顺序对所述触控检测电极组逐一进行扫描,同一触控检测电极组的触控检测电极同时扫描。
本发明还提供了一种触控显示装置,包括:相对设置的触控显示基板以及盖板;其中,所述触控显示基板为上述触控显示基板。
本发明还提供了一种触控显示装置的驱动方法,该驱动方法包括:
在显示时序段,控制电路为触控检测电极提供公共电压信号,进行显示驱动;
在触控检测时序段,控制电路选择执行第一检测模式或是第二检测模式;
当所述控制电路执行第一工作模式时,所述控制电路按照第一预设扫描顺序对所述触控检测电极进行逐一扫描;
当所述控制电路执行第二检测模式时,所述控制电路按照第二预设扫描顺序对所述触控检测电极组逐一进行扫描,同一触控检测电极组的触控检测电极同时扫描。
通过上述描述可知,本发明技术方案所述触控显示基板中,将触控检测电极分为多个在第一方向上平行排布的触控检测电极组。控制电路的扫描周期包括触控时序段以及显示时序段。在触控时序段,控制电路能够执行第一检测模式或是第二检测模式。
当执行第一检测模式时,控制电路对触控检测电极进行逐一扫描,这样可以识别较小接触线宽的第一操作体的触控操作。当执行第二检测模式时,控制电路对触控检测电极组进行逐一扫描,同时扫描同一触控检测电极组的所有触控检测电极,这样可以识别具有较大接触线宽的第二操作体的触控操作。其中,所述第一操作体可以触控笔,所述第二操作体可以为手指。可见,所述触控显示基板中,所述控制电路执行第二检测模式时,能够对具有较大接触线宽的第二操作体的触控操作进行识别,且扫描周期取决于触控检测电极组的数量,相对于逐一扫描所有触控检测电极,大大缩短了扫描周期以及扫描功耗。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例提供的一种触控检测原理示意图;
图2为本发明实施例提供的另一种触控检测原理示意图;
图3为本发明实施例提供的一种触控显示基板的结构示意图;
图4为本发明实施例提供的一种触控显示基板的电极结构示意图;
图5为本发明实施例提供的一种触控检测电极的结构示意图;
图6为本发明实施例提供的一种触控感应电极层的结构示意图;
图7为本发明实施例提供的另一种触控显示基板的电极结构示意图;
图8为本发明实施例提供的又一种触控显示基板的电极结构示意图;
图9为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
参考图1和图2,图1为本发明实施例提供的一种触控检测原理示意图,图2为本发明实施例提供的另一种触控检测原理示意图。操作体21进行触控操作,触控检测电极22用于检测操作体21的触控操作。触控检测电极22在第一方向X上并行排布。触控检测电极22在第一方向X上的节距为B。操作体21执行触控操作时,在第一方向X上与触控显示基板的接触区域的长度为A。其中,触控检测电极22在第一方向X上的节距指触控检测电极22的长度与相邻两个触控检测电极22之间的间隙长度之和。
如图1所示,若要能够精确定位操作体21进行触控操作时在触控显示基板上的位置,至少需要B<A。如图2所示,若B>A,操作体21可能只引起一个触控检测电极22的感应,无法准确定位操作体21在触控显示基板上的位置。
所以要实现高精度的触控检测,在第一方向X上,触控检测电极22的节距必须小于操作体21的长度。
一般的,为了实现真实的字迹再现,触控笔的直径为在0.5mm-2mm。所以要实现高精度的触控检测,采用触控笔作为操作体21进行触控操作时,触控检测电极22的节距需要小于1mm。而采用手指作为操作体21进行触控操作时,手指在第一方向X上与触控显示基板的接触长度一般为15mm-20mm,因此采用手指作为操作体21进行触控操作时,只需使得触控检测电极22的节距为5mm即可实现高精度的触控检测。
如果按照上述分析,为了使得触控显示基板在能够识别手指的触控操作的同时还可以识别触控笔的触控操作,需要将触控检测电极22的节距由5mm改为1mm。此时,如果仍按照原有的扫描方式对触控检测电极进行扫描,此时,理论上需要的检测时间以及功耗均会增加五倍。
可见,正如背景技术所述,现有的触控显示基板中,在进行触控检测时,控制电路驱动触控检测电极识别具有较大接触线宽的手指触控操作以及具有较小接触线宽的触控笔触控操作的方式相同,均是对触控检测电极进行逐一扫描,触控电路进行触控检测时的扫描周期长,且功耗高。
为了解决上述问题,本发明实施例提供了一种触控显示基板,用于显示装置,所述触控显示基板包括:显示区以及边框区;
设置在所述显示区的多个在第一方向上平行排布的触控检测电极组,每一所述触控检测电极组具有多个在所述第一方向上平行排布的触控检测电极;
设置在所述边框区的控制电路,所述控制电路具有与所述触控检测电极一一对应连接的检测端口;
其中,所述控制电路的扫描周期包括:触控检测时序段以及显示时序段;在触控时序段时,所述控制电路执行第一检测模式或是执行第二检测模式;
当所述控制电路执行第一检测模式时,所述控制电路用于按照第一预设扫描顺序对所述触控检测电极进行逐一扫描;
当所述控制电路执行第二检测模式时,所述控制电路用于按照第二预设扫描顺序对所述触控检测电极组逐一进行扫描,同一触控检测电极组的触控检测电极同时扫描。
本发明实施例所述触控显示基板中,将触控检测电极分为多个在第一方向上平行排布的触控检测电极组。控制电路的扫描周期包括触控时序段以及显示时序段。在触控时序段,控制电路能够执行第一检测模式或是第二检测模式。
当执行第一检测模式时,控制电路对触控检测电极进行逐一扫描,这样可以识别较小接触线宽的第一操作体的触控操作。当执行第二检测模式时,控制电路对触控检测电极组进行逐一扫描,同时扫描同一触控检测电极组的所有触控检测电极,这样可以识别具有较大接触线宽的第二操作体的触控操作。其中,所述第一操作体可以为触控笔,所述第二操作体可以为手指。
可见,所述触控显示基板中,所述控制电路执行第二检测模式时,能够对具有较大接触线宽的第二操作体的触控操作进行识别,且扫描周期取决于触控检测电极组的数量,相对于逐一扫描所有触控检测电极,大大缩短了扫描周期以及扫描功耗。
为了使本发明实施例提供的技术方案更加清楚,下面结合附图对上述方案进行详细描述。
参考图3,图3为本发明实施例提供的一种触控显示基板的结构示意图,该触控显示基板用于显示装置,该触控显示基板包括:显示区11以及边框区12;设置在所述显示区11的多个在第一方向X上平行排布的触控检测电极组13,每一所述触控检测电极组13具有多个在所述第一方向X上平行排布的触控检测电极14;设置在所述边框区12的控制电路15,所述控制电路15具有与所述触控检测电极14一一对应连接的检测端口。每一所述触控检测电极14通过一走线16与一个对应的所述检测端口电连接。所述触控检测电极14沿第二方向Y延伸。
其中,所述控制电路15的扫描周期包括:触控检测时序段以及显示时序段;在触控时序段时,所述控制电路执行第一检测模式或是执行第二检测模式。
当所述控制电路15执行第一检测模式时,所述控制电路15用于按照第一预设扫描顺序对所述触控检测电极14进行逐一扫描。设定所述触控显示基板具有N个触控检测电极14,设定N个触控检测电极14在第一方向X上依次为第1个触控检测电极-第N个触控检测电极,N为大于1的正整数。
所述第一预设扫描顺序为在所述第一方向X上对所述触控检测电极14逐一进行扫描;或是,在所述第一方向X的反方向上对所述触控检测电极14逐一进行扫描。
具体的,所述第一预设扫描顺序可以为在所述第一方向X上,由第1个触控检测电极开始逐一对各个触控检测电极14进行扫描,直至第N个触控检测电极结束扫描。或者,所述第一预设扫描顺序可以为在所述第一方向X反方向上,由第N个触控检测电极开始逐一对各个触控检测电极14进行扫描,直至第1个触控检测电极结束扫描。
需要说明的是,无论是从第一方向X上或是从第一方向X的反方向上对各个触控检测电极14进行扫描,所述第一预设扫描顺序开始扫描的起始触控检测电极14不局限于第1个或是第N个,可以从任意一个触控检测电极14开始扫描,按照第一方向X或是第一方向X的反方向对各个触控检测电极14逐一进行扫描。
当所述控制电路15执行第二检测模式时,所述控制电路15用于按照第二预设扫描顺序对所述触控检测电极组13逐一进行扫描,同一触控检测电极组13的触控检测电极14同时扫描。
当所述控制电路15执行第二检测模式时,所述控制电路15用于按照第一预设扫描顺序对所述触控检测电极组13进行逐一扫描。设定所述触控显示基板具有n个触控检测电极组13,设定n个触控检测电极组13在第一方向X上依次为第1个触控检测电极组-第n个触控检测电极组,n为大于1,且小于N的正整数。可选的,可以设定N=n*M,M为大于1的正整数。即将N个触控检测电极14平均分为n个触控检测电极组13,每个触控检测电极组13具有M个触控检测电极14。
所述第二预设扫描顺序为在所述第一方向X上对所述触控检测电极组逐一进行扫描;或是,在所述第一方向X的反方向上对所述触控检测电极组13逐一进行扫描。其中,同一触控检测电极组13的各个触控检测电极14的触控检测信号相同。
具体的,所述第二预设扫描顺序可以为在所述第一方向X上,由第1个触控检测电极组开始逐一对各个触控检测电极组13进行扫描,直至第n个触控检测电极组结束扫描。或者,所述第二预设扫描顺序可以为在所述第一方向X的反方向上,由第n个触控检测电极组开始逐一对各个触控检测电极组13进行扫描,直至第1个触控检测电极组结束扫描。
根据所述第二扫描顺序对各个触控检测电极组13进行扫描时,同一触控检测电极组13中的触控检测电极14同时进行扫描,同一触控检测电极组13中的触控检测电极14同时进行扫描采用相同的扫描信号。
需要说明的是,无论是从第一方向X上或是从第一方向X的反方向上对各个触控检测电极组13进行扫描,所述第二预设扫描顺序开始扫描的起始触控检测电极组13不局限于第1个或是第n个,可以从任意一个触控检测电极组13开始扫描,按照第一方向X或是第一方向X的反方向对各个触控检测电极组13逐一进行扫描。在其他实施方式中,也可以设置各个触控检测电极组13中的触控检测电极14的个数不完全相同,或是完全不相同。
当所述控制电路处于显示时序段时,所述控制电路15用于提供公共电压信号。可选的,所述触控检测电极14复用为公共电极,输入所述公共电压信号,所述触控显示基板用于液晶显示装置,所述液晶显示装置还包括像素电极。触控检测电极14输入的公共电压信号与像素电极输入的数据信号形成用于进行图像显示控制的电场,所述电场控制液晶分子进行图像显示。
当所述触控检测电极14作为所述公共电极时,所述控制电路的扫描周期中,触控检测时序段与显示时序段需要分时进行,如二者可以交替进行。
当显示装置的公共电极与触控检测电极不同时,触控检测时序段与显示时序段可以分时进行,或者同时进行。
本发明实施例所述触控显示基板还包括触控感应电极层。所述触控感应电极层与所述触控检测电极14同层设置或是位于不同的导电层。通过检测所述触控感应电极层与所述触控检测电极14之间的电容信号变化实现触控位置的检测。所述触控感应电极层与所述触控检测电极14之间绝缘。
本发明实施例所述触控显示基板中,将触控检测电极14分为多个在第一方向X上平行排布的触控检测电极组13。控制电路15的扫描周期包括触控时序段以及显示时序段。在触控时序段,控制电路15能够执行第一检测模式或是第二检测模式。
可选的,所述第一检测模式用于识别第一操作体的触控操作,所述第二检测模式用于识别第二操作体的触控操作。对所述触控显示基板进行触控操作时,所述第一操作体与所述触控显示基板的接触区域在所述第一方向X上的接触线宽的长度小于所述第二操作体与所述触控显示基板的接触区域在所述第一方向X上接触线宽的长度。
当执行第一检测模式时,控制电路15对触控检测电极14进行逐一扫描,这样可以识别较小接触线宽的第一操作体的触控操作。当执行第二检测模式时,控制电路15对触控检测电极组13进行逐一扫描,同时扫描同一触控检测电极组13的所有触控检测电极14,这样可以识别具有较大接触线宽的第二操作体的触控操作。其中,所述第一操作体可以触控笔,所述第二操作体可以为手指。
可见,所述触控显示基板中,所述控制电路15执行第二检测模式时,能够对具有较大接触线宽的第二操作体的触控操作进行识别,且扫描周期取决于触控检测电极组13的数量,相对于逐一扫描所有触控检测电极14的第一检测模式,大大缩短了扫描周期以及扫描功耗。
在所述第一方向X上,所述触控检测电极14的节距小于所述第一操作体的接触线宽;所述触控检测电极组13的节距小于所述第二操作体的接触线宽。所述触控检测电极14的节距为所述触控检测电极在所述第一方向X上的长度与相邻两个所述触控检测电极14间隙长度之和。所述触控检测电极组13的节距为所述触控检测电极组13在所述第一方向X上的长度与相邻两个所述触控检测电极组13间隙长度之和。如上述,当第一操作体为触控笔时,触控笔的接触线宽为0.5mm-2mm;当第二操作体为手指时,手指的接触线宽为15mm-20mm。
可选的,为了实现高精度的触控检测设置所述触控检测电极14在所述第一方向上的宽度为1mm-2mm,包括端点值;设置所述触控检测电极14在所述第一方向上的间距为3μm-8μm,包括端点值,即设置在第一方向X上相邻的任意两触控检测电极14之间的间隙长度为3μm-8μm,包括端点值。
在图3所示实施方式中,所述触控检测电极14为沿第二方向Y延伸的条形电极。其中,所述第二方向Y垂直于所述第一方向X。所述条形电极包括但不局限于图3所示的矩形条状电极。此时,所述触控感应电极层可包括沿第一方向X延伸的条形电极。
需要说明的时,触控感应电极层的电极形状与触控检测电极的电极形状可以相同或是不同。
当所述触控检测电极14为沿第二方向Y延伸的条形电极时,所述触控感应电极层的结构可以如图4所示,图4为本发明实施例提供的一种触控显示基板的电极结构示意图,图4所示实施方式中,触控检测电极14与触控感应电极层位于不同层,二者采用不同的导电层制备。触控感应电极层包括多个触控感应电极41。触控感应电极41为沿第一方向X延伸的条形电极。触控检测电极14为沿第二方向Y延伸的条形电极。
本发明实施例所述触控显示基板中,所述触控检测电极14的结构还可以如图5所示。
参考图5,图5为本发明实施例提供的一种触控检测电极的结构示意图,在图5所示实施方式中,触控检测电极14包括沿第二方向Y延伸的锯齿形电极141。可选的,设置在第一方向X上相邻的两个触控检测电极14的锯齿形电极141相互咬合设置。此时,所述触控感应电极层的结构可以图6所示。
参考图6,图6为本发明实施例提供的一种触控感应电极层的结构示意图,触控感应电极层包括多个触控感应电极61,触控感应电极61与触控检测电极不同层,二者采用不同的导电层制备。触控感应电极61为沿第一方向X延伸的条形电极。触控感应电极61为锯齿电极,可选的,设置在第二方向Y上相邻的两个锯齿形的触控感应电极61相互咬合。
本发明实施例所述触控显示基板中,所述触控检测电极14的结构还可以如图7所示。
参考图7,图7为本发明实施例提供的另一种触控显示基板的电极结构示意图,图7所示实施方式中,触控检测电极14包括:多个在第二方向Y上排布的菱形电极;同一所述触控检测电极14的所述菱形电极在所述第二方向Y上依次电连接。触控感应电极层包括多个触控感应电极71。触控感应电极71在第二方向Y上平行排布。触控感应电极71包括多个在第一方向X上依次电连接的菱形电极。此时触控感应电极71的菱形电极与触控检测电极14的菱形电极同层设置,即触控感应电极71的菱形电极与触控检测电极14的菱形电极通过同一导电层形成。在第一方向X上,同一触控感应电极71相邻的两个菱形电极通过跨桥结构连接。跨桥结构包括跨界部分73,所述跨界部分73的两端分别通过一过孔72与所述触控感应电极71的菱形电极连接。跨界部分73与触控检测电极14的菱形电极之间具有绝缘层,过孔72贯穿所述绝缘层。
参考图8,图8为本发明实施例提供的又一种触控显示基板的电极结构示意图,图8所示实施方式中,触控检测电极14包括:多个在第二方向Y上排布的菱形电极;同一所述触控检测电极14的所述菱形电极在所述第二方向Y上依次电连接。触控感应电极层包括多个触控感应电极81。此时触控感应电极81包括:多个在第一方向X上排布的菱形电极;同一所述触控感应电极81的所述菱形电极在所述第一方向X上依次电连接。此时触控检测电极14与触控感应电极81位于不同层设置,二者之间具有绝缘层。通过上述描述可知,本发明实施例所述触控显示阵列基板中,可以通过该选择控制电路15处于不同的检测模式,对具有不同接触线宽的操作体进行触控操作识别。进而可以使得在识别具有较大接触线宽的第二操作体的触控操作时,能够提高扫描速度,并降低扫描功耗。
基于上述实施例,本发明另一实施例还提供了一种触控显示装置,该显示装置的结构如图9所示,图9为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图,该显示装置包括:相对设置的触控显示基板91以及盖板92。其中,所述触控显示基板91为上述实施例所述的触控显示基板。所述触控显示基板包括上述控制电路以及触控检测电极。
可选的,所述显示装置还包括:采集装置,所述采集装置用于采集操作体对显示装置执行触控输入时与显示装置的接触面积。所述控制电路还用于根据所述接触面积选择在触控检测时序段执行第一检测模式或是执行第二检测模式。
图9中未示出所述采集装置。所述采集装置可以为图像采集装置,用于采集所述操作体的图像信息,根据所述图像信息确认所述接触面积。或者,所述采集装置可以为感应传感器,根据操作体与显示装置的接触参数确认所述接触面积。所述采集装置可以设置在所述盖板92的表面。
当所述接触面积大于预设阈值时,所述控制电路在所述触控检测时序段执行第一检测模式;当所述接触面积小于所述预设阈值时,所述控制电路在所述触控检测时序段执行第二检测模式。
可选的,所述预设阈值可以为9mm2-100mm2,所述预设阈值可以根据触控显示基板中触控检测电极的节距以及触控检测电极组的节距设定。本发明实施例中对所述预设阈值不做具体限定。
上述接触面积可以等效换算为操作体的接触线宽。将所述接触面积等效为一个正方形的面积,开平方得到的正方形的边长等效为所述操作体的接触线宽。
在上述实施方式中,通过采集装置自动采集的接触面积,通过控制电路自动选择执行第一检测模式或是执行第二检测模式。
在其他实施方式中,还可以通过使用者手动选择执行第一检测模式或是执行第二检测模式。此时,所述显示装置还包括:触发装置,所述触发装置具有第一触发状态以及第二触发状态;所述控制电路还用于根据所述触发装置的触发状态选择在触控检测时序段执行第一检测模式或是执行第二检测模式;当所述触发装置处于第一触发状态时,所述控制电路在所述触控检测时序段执行第一检测模式;当所述触发装置处于第二触发状态时,所述控制电路在所述触控检测时序段执行第二检测模式。所述触发装置可以为机械按键或是触控按键。
通过上述描述可知,本发明实施例所述显示装置采用上述实施例所述触控显示基板,在执行第一检测模式时,能够识别具有较小接触线宽的操作体的触控输入操作,实现高精度的触控检测;在执行第二检测模式时,能够识别具有较大接触线宽的操作体的触控输入操作,且可以提高触控检测的扫描速度,并降低功耗。
基于上述显示装置实施例,本发明另一实施例还提供了一种触控显示装置的驱动方法,用于上述显示装置,该驱动方法包括:在显示时序段,控制电路为触控检测电极提供公共电压信号,进行显示驱动;在触控检测时序段,控制电路选择执行第一检测模式或是第二检测模式。
当所述控制电路执行第一工作模式时,所述控制电路按照第一预设扫描顺序对所述触控检测电极进行逐一扫描。
当所述控制电路执行第二检测模式时,所述控制电路按照第二预设扫描顺序对所述触控检测电极组逐一进行扫描,同一触控检测电极组的触控检测电极同时扫描。
其中,显示时序段与触控时序段交替进行或者是同时进行。在显示时序段,所述控制电路用于提供公共电压信号。
本发明实施例所述驱动方法,在触控检测时序段,可以根据不同的操作体选择执行第一检测模式或是第二检测模式,以降低扫描周期以及功耗。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的驱动方法而言,由于其与实施例公开的显示装置以及触控显示基板相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (12)

1.一种触控显示基板,用于显示装置,其特征在于,所述触控显示基板包括:显示区以及边框区;
设置在所述显示区的多个在第一方向上平行排布的触控检测电极组,每一所述触控检测电极组具有多个在所述第一方向上平行排布的触控检测电极;
设置在所述边框区的控制电路,所述控制电路具有与所述触控检测电极一一对应连接的检测端口;
其中,所述控制电路的扫描周期包括:触控检测时序段以及显示时序段;在触控时序段时,所述控制电路执行第一检测模式或是执行第二检测模式;
当所述控制电路执行第一检测模式时,所述控制电路用于按照第一预设扫描顺序对所述触控检测电极进行逐一扫描;
当所述控制电路执行第二检测模式时,所述控制电路用于按照第二预设扫描顺序对所述触控检测电极组逐一进行扫描,同一触控检测电极组的触控检测电极同时扫描。
2.根据权利要求1所述的触控显示基板,其特征在于,所述触控检测电极在所述第一方向上的宽度为1mm-2mm,包括端点值;
所述触控检测电极在所述第一方向上的间距为3μm-8μm,包括端点值。
3.根据权利要求1所述的触控显示基板,其特征在于,所述触控检测电极为沿第二方向延伸的条形电极;
其中,所述第二方向垂直于所述第一方向。
4.根据权利要求1所述的触控显示基板,其特征在于,所述触控检测电极包括:多个在第二方向上排布的菱形电极;同一所述触控检测电极的所述菱形电极在所述第二方向上依次电连接;
其中,所述第二方向垂直于所述第一方向。
5.根据权利要求1所述的触控显示基板,其特征在于,所述触控检测电极包括沿第二方向延伸的锯齿形电极;
其中,所述第二方向垂直于所述第一方向。
6.根据权利要求1所述的触控显示基板,其特征在于,所述第一预设扫描顺序为在所述第一方向上对所述触控检测电极逐一进行扫描;
或是,在所述第一方向的反方向上对所述触控检测电极逐一进行扫描。
7.根据权利要求1所述的触控显示基板,其特征在于,所述第二预设扫描顺序为在所述第一方向上对所述触控检测电极组逐一进行扫描;
或是,在所述第一方向的反方向上对所述触控检测电极组逐一进行扫描;
其中,同一触控检测电极组的各个触控检测电极的触控检测信号相同。
8.一种触控显示装置,其特征在于,包括:相对设置的触控显示基板以及盖板;其中,所述触控显示基板为权利要求1-7任一项所述的触控显示基板。
9.根据权利要求8所述的触控显示装置,其特征在于,还包括:采集装置,所述采集装置用于采集操作体对显示装置执行触控输入时与显示装置的接触面积;
所述控制电路还用于根据所述接触面积选择在触控检测时序段执行第一检测模式或是执行第二检测模式;
当所述接触面积大于预设阈值时,所述控制电路在所述触控检测时序段执行第一检测模式;当所述接触面积小于所述预设阈值时,所述控制电路在所述触控检测时序段执行第二检测模式。
10.根据权利要求8所述的触控显示装置,其特征在于,所述显示装置还包括:触发装置,所述触发装置具有第一触发状态以及第二触发状态;
所述控制电路还用于根据所述触发装置的触发状态选择在触控检测时序段执行第一检测模式或是执行第二检测模式;
当所述触发装置处于第一触发状态时,所述控制电路在所述触控检测时序段执行第一检测模式;当所述触发装置处于第二触发状态时,所述控制电路在所述触控检测时序段执行第二检测模式。
11.根据权利要求10所述的触控显示装置,其特征在于,所述触发装置为机械按键或是触控按键。
12.一种触控显示装置的驱动方法,其特征在于,包括:
在显示时序段,控制电路为触控检测电极提供公共电压信号,进行显示驱动;
在触控检测时序段,控制电路选择执行第一检测模式或是第二检测模式;
当所述控制电路执行第一工作模式时,所述控制电路按照第一预设扫描顺序对所述触控检测电极进行逐一扫描;
当所述控制电路执行第二检测模式时,所述控制电路按照第二预设扫描顺序对所述触控检测电极组逐一进行扫描,同一触控检测电极组的触控检测电极同时扫描。
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