CN105528977A - 一种检测电路、驱动集成电路及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种检测电路、驱动集成电路及其检测方法,用以确定感应线的电压值,从而有利于进一步确定感应线的寄生电容的值。所述检测电路,所述检测电路包括:复位模块、电荷分享模块和输出模块,其中,所述复位模块用于对所述电荷分享模块和感应线进行复位;所述电荷分享模块用于在复位后将电荷分享至所述感应线;所述输出模块用于在电荷分享后将所述感应线的电压进行输出。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域,尤其涉及一种检测电路、驱动集成电路及其检测方法。
背景技术
显示面板中每根感应线由于成膜、刻蚀工艺的限制,使得每根感应线的寄生电容的值有所不同。据估计,感应线产生的寄生电容的最大差异可达50%。一般地,在外部补偿电压检测方法中会利用了每根感应线的寄生电容。因此由于每根感应线的寄生电容的不同,影响了检测薄膜晶体管(ThinFilmTransistor,TFT)的电流电压特性的检测结果,从而造成结果不精确等。因此,在检测TFT特性前,需要确定不同的感应线的寄生电容的值,并且进一步对其进行校准。
综上所述,如何检测感应线的寄生电容是本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
本发明提供了一种检测电路、驱动集成电路(IntegratedCircuit,IC)及其检测方法,用以确定感应线的电压值,从而有利于进一步确定感应线的寄生电容的值。
本发明实施例提供了一种检测电路,所述检测电路包括:复位模块、电荷分享模块和输出模块,其中,
所述复位模块用于对所述电荷分享模块和感应线进行复位;
所述电荷分享模块用于在复位后将电荷分享至所述感应线;
所述输出模块用于在电荷分享后将所述感应线的电压进行输出。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述检测电路中,所述复位模块的第一输入端连接第一信号的信号输入端,其第二输入端连接第二信号的信号输入端,其第一输出端连接所述感应线,其第二输出端连接电荷分享模块的输入端;
所述电荷分享模块的输出端连接所述感应信号线;
所述输出模块的输入端连接所述感应线,其输出端连接输出端子;
其中,所述第一信号为低电平的直流电压信号,所述第二信号为高电平的直流电压信号。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述检测电路中,所述复位模块具体包括:
第一开关单元,所述第一开关单元的第一端作为所述复位模块的第一输入端,所述第一开关单元的第二端作为所述复位模块的第一输出端;
第二开关单元,所述第二开关单元的第一端作为所述复位模块的第二输入端,所述第二开关单元的第二端作为所述复位模块的第二输出端。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述检测电路中,所述电荷分享模块具体包括:
第一电容,所述第一电容的第一端作为所述电荷分享模块的输入端,所述第一电容的第二端接地;
第三开关单元,所述第三开关单元的第一端连接所述第一电容的第一端,所述第三开关单元的第二端作为所述电荷分享模块的输出端。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述检测电路中,所述输出模块具体包括:
第四开关单元,所述第四开关单元的第一端作为所述输出模块的输入端,所述第四开关单元的第二端作为所述输出模块的输出端。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述检测电路中,所述检测电路还包括:
稳压电容,连接于所述感应线和地之间。
相应地,本发明实施例提供了一种驱动IC,包括与每一感应线连接的,如本发明实施例提供的多个检测电路。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述驱动IC中,所述驱动IC还包括:与所述多个检测电路中输出端子相连的模数转换器。
相应地,本发明实施例还提供了一种本发明提供的驱动IC的检测方法,该方法包括:
复位阶段,通过所述复位模块对所述电荷分享模块和感应线进行复位;
电荷分享阶段,在复位后将所述电荷分享模块中的电荷分享至所述感应线;
输出阶段,在电荷分享后通过所述输出模块将所述感应线的电压进行输出。
在一种可能的实施方式中,本发明实施例提供的上述驱动IC的检测方法中,该方法还包括:
根据所述第一信号和第二信号的值、第一电容和输出端子输出的电压值确定所述感应线的电容值。
本发明有益效果如下:
本发明实施例提供了一种检测电路、驱动集成电路及其检测方法,所述检测电路包括:复位模块、电荷分享模块和输出模块,其中,所述复位模块用于对所述电荷分享模块和感应线进行复位;所述电荷分享模块用于在复位后将电荷分享至所述感应线;所述输出模块用于在电荷分享后将所述感应线的电压进行输出。在本发明实施例提供的检测电路中,通过复位模块、电荷分享模块和输出模块的共同作用,确定感应线在电荷分享后的电压。从而有利于进一步根据能量守恒定理,确定感应线的电容的值。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种检测电路的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的一种检测电路的具体结构示意图;
图3为本发明实施例提供的第二种检测电路的具体结构示意图;
图4为本发明实施例提供的一种检测电路的时序示意图;
图5为本发明实施例提供的一种驱动IC的结构示意图;
图6为本发明实施例提供的一种本发明提供的驱动IC的检测方法的流程示意图;
图7为本发明实施例提供的一种驱动IC的检测方法的时序示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明提供了一种检测电路、驱动IC及其检测方法,用以确定感应线的电压值,从而有利于进一步确定感应线的寄生电容的值。
下面结合附图,对本发明实施例提供的检测电路、驱动集成电路及其检测方法的具体实施方式进行详细地说明。
参见图1,本发明实施例提供的一种检测电路,检测电路包括:复位模块11、电荷分享模块12和输出模块13,其中,
复位模块11用于对电荷分享模块12和感应线14进行复位;
电荷分享模块12用于在复位后将电荷分享至感应线14;
输出模块13用于在电荷分享后将感应线14的电压进行输出。
本发明实施例提供的上述检测电路中,包括:复位模块、电荷分享模块和输出模块,其中,复位模块用于对电荷分享模块和感应线进行复位;电荷分享模块用于在复位后将电荷分享至感应线;输出模块用于在电荷分享后将感应线的电压进行输出。本发明实施例提供的检测电路中,通过复位模块、电荷分享模块和输出模块的共同作用,确定感应线在电荷分享后的电压。从而有利于进一步根据能量守恒定理,确定感应线的电容的值。
下面结合具体实施例,对本发明进行详细说明。需要说明的是,本实施例中是为了更好的解释本发明,但不限制本发明。
在具体实施例中,本发明实施例提供的上述检测电路中,参见图1,复位模块11的第一输入端连接第一信号VREFL的信号输入端,其第二输入端连接第二信号VREFH的信号输入端,其第一输出端连接感应线14,其第二输出端连接电荷分享模块12的输入端;
电荷分享模块12的输出端连接感应信号线14;
输出模块13的输入端连接感应线14,其输出端连接输出端子OUTPUT;
其中,第一信号VREFL为低电平的直流电压信号,第二信号VREFH为高电平的直流电压信号。
需要说明的是,本发明实施例中提供的第一信号VREFL和第二信号VREFH的值不做具体限定。具体地,第一信号VREFL用于提供给感应线电压信号,使得感应线复位为VREFL,其中第一信号VREFL的值可以为0V,当然不限于0V。第二信号VREFH用于提供给电荷分享模块电压信号,使得电荷分享模块的电压为VREFH,其中第二信号VREFH的值大于第一信号VREFL的值。
在具体实施例中,本发明实施例提供的上述检测电路中,如图2所示,复位模块具体包括:
第一开关单元S1,第一开关单元的第一端作为复位模块11的第一输入端,第一开关单元的第二端作为复位模块11的第一输出端;
第二开关单元S2,第二开关单元的第一端作为复位模块11的第二输入端,第二开关单元的第二端作为复位模块11的第二输出端。
进一步地,在具体实施例中,第一开关单元S1和第二开关单元S2可以为任一具有开关功能的器件。例如,第一开关单元和第二开关单元可以为薄膜晶体管TFT,其中薄膜晶体管可以为N型晶体管,或者P型晶体管。本发明实施例不做具体限定。其中,当开关单元为薄膜晶体管时,则薄膜晶体管的源极作为第一开关单元的第一端,薄膜晶体管的漏极作为第一开关单元的第二端,在复位阶段,通过施加控制信号给薄膜晶体管的栅极,使得薄膜晶体管的源极和漏极导通。
具体地,本发明实施例中提供的上述检测电路中,在复位阶段,第一开关单元导通,将第一信号VREFL通过复位模块的第一输入端提供给感应线,第二开关单元导通,将第二信号VREFH通过复位模块的第二输入端提供给电荷分享模块的输入端,从而进行电压的复位。
以上仅是举例说明检测电路中复位模块的具体结构,在具体实施时,复位模块的具体结构不限于本发明实施例提供的上述结构,还可以是本领域技术人员可知的其他结构,在此不做限定。
在具体实施例中,本发明实施例提供的上述检测电路中,如图2所示,电荷分享模块12具体包括:
第一电容C1,第一电容C1的第一端作为电荷分享模块12的输入端,第一电容C2的第二端接地GND;
第三开关单元S3,第三开关单元S3的第一端连接第一电容C1的第一端,第三开关单元S3的第二端作为电荷分享模块12的输出端。
进一步地,在具体实施例中,第三开关单元S3可以为任一具有开关功能的器件。例如,第三开关单元可以为薄膜晶体管TFT,其中薄膜晶体管可以为N型晶体管,或者P型晶体管。本发明实施例不做具体限定。其中,当开关单元为薄膜晶体管时,则薄膜晶体管的源极作为第三开关单元的第一端,薄膜晶体管的漏极作为第三开关单元的第二端,在电荷分享阶段,通过施加控制信号给薄膜晶体管的栅极,使得薄膜晶体管的源极和漏极导通。
具体地,本发明实施例中提供的上述检测电路中,在电荷分享阶段,将电荷分享模块中的第一电容的电压通过第三开关单元的导通作用分享给感应线,使得感应线上存在电压。
以上仅是举例说明检测电路中电荷分享模块的具体结构,在具体实施时,电荷分享模块的具体结构不限于本发明实施例提供的上述结构,还可以是本领域技术人员可知的其他结构,在此不做限定。
在具体实施例中,本发明实施例提供的上述检测电路中,输出模块13具体包括:
第四开关单元S4,第四开关单元S4的第一端作为输出模块13的输入端,第四开关单元S4的第二端作为输出模块13的输出端。
进一步地,在具体实施例中,第四开关单元S4可以为任一具有开关功能的器件。例如,第四开关单元可以为薄膜晶体管TFT,其中薄膜晶体管可以为N型晶体管,或者P型晶体管。本发明实施例不做具体限定。其中,当开关单元为薄膜晶体管时,则薄膜晶体管的源极作为第四开关单元的第一端,薄膜晶体管的漏极作为第四开关单元的第二端,在输出阶段,通过施加控制信号给薄膜晶体管的栅极,使得薄膜晶体管的源极和漏极导通。
具体地,本发明实施例中提供的上述检测电路中,在输出阶段,通过第四开关单元的导通,将电荷分享后的感应线上的电压输出给输出端子。
以上仅是举例说明检测电路中输出模块的具体结构,在具体实施时,输出模块的具体结构不限于本发明实施例提供的上述结构,还可以是本领域技术人员可知的其他结构,在此不做限定。
需要说明的是本发明上述实施例中提到的第一开关单元、第二开关单元、第三开关单元和第四开关单元可以是薄膜晶体管(TFT,ThinFilmTransistor),也可以是金属氧化物半导体场效应管(MOS,MetalOxideScmiconductor),或者是简单的开关,在此不做限定。
在具体实施例中,本发明实施例提供的上述检测电路中,检测电路还包括:
稳压电容C2,连接于感应线14和地GND之间。
需要说明的是,稳压电容的作用是起稳压作用,使得感应线和输出模块的连接点的电压稳定。
下面分别以图3所示的检测电路为例对本发明实施例提供的检测电路的工作过程作以描述。为了便于描述,规定第一电容C1的第一端为第一节点A,稳压电容C2的第一端为第二节点B。
以图3所示的检测电路的结构为例对其工作过程作以描述,其中在图3所示的检测电路中,对应的开关单元状态的图为图4所示,其中高电平为开关单元导通状态,低电平为开关单元断开状态。具体地,选用图4所示的状态时序图中的TI、T2、和T3阶段为例进行详细描述。
在T1阶段:第一开关单元和第二开关单元处于导通状态,第三开关单元和第四开关单元处于断开状态。
第一开关单元处于导通状态,将第一信号VREFL的电压信号提供给感应线,第二开关单元处于导通状态,将第二信号VREFH的电压信号提供给电荷分享模块中的第一电容C1的节点A。此时,感应线上的电压被复位为VREFL的值,节点A的电压值为VREFH的值。
在T2阶段:第三开关单元处于导通状态,第一开关单元、第二开关单元和第四开关单元处于断开状态。
第三开关单元处于导通状态,将节点A处的电压VREFH与感应线上的电压VREFL进行电荷分享。使得感应线上的电压,即节点B处的电压发生变化。
在T3阶段,第一开关单元、第二开关单元和第三开关单元断开,第四开关单元导通。
第四开关单元导通,将感应线上的电压,即节点B处的电压输出给输出端子。
需要说明的是,根据本发明实施例提供的检测电路的原理图,以及根据能量守恒原理,可以进一步确定感应线的电容值。具体地,第一电容C1的电容值为Cext,感应线上的电容值为Csense,电荷分享后的节点B的电压值为V,则根据能量守恒原理,得到:(Csense+Cext)V=Csense*VREFL+Cext*VREFH,从而得到感应线的电容值Csense=Cext*(VREFH-V)/(V-VREFL)。
相应地,本发明实施例提供的一种驱动IC,包括与每一感应线连接的,如本发明实施例提供的多个检测电路。该驱动IC解决问题的原理与前述一种检测电路相似,因此该驱动IC中的检测电路的实施可以参见前述实例中检测电路的实施,重复之处不再赘述。
需要说明的是,每一感应线对应一个检测电路。其中每一检测电路的结构与上述实施例提供的检测电路的结构相同。
在具体实施例中,本发明实施例提供的上述驱动IC中,参见图5,驱动IC还包括:与多个检测电路中输出端子OUTPUT相连的模数转换器(ADC)15。
其中,图5中仅示例了3个检测电路的输出端子连接到一个模数转换器中,但不限于图5所示的连接方式。每个检测电路的输出端连接一个模数转换器也属于本发明的保护范围。
相应地,参见图6,本发明实施例还提供的一种本发明提供的驱动IC的检测方法,该方法包括:
S601、复位阶段,通过复位模块对电荷分享模块和感应线进行复位;
S602、电荷分享阶段,在复位后将电荷分享模块中的电荷分享至感应线;
S603、输出阶段,在电荷分享后通过输出模块将感应线的电压进行输出。
在具体实施例中,本发明实施例提供的上述驱动IC的检测方法中,该方法还包括:
根据所述第一信号和第二信号的值、第一电容和输出端子输出的电压值确定感应线的电容值。
需要说明的是,与每个感应线相连的检测电路中,在利用本发明实施例提供的驱动IC的驱动方法时,在复位阶段对多个检测电路中的复位模块同时进行复位;在电荷分享阶段,可以实现通过每个检测电路中的电荷分享模块依次将电荷分享至感应线,也可以实现同时通过每个检测电路中的电荷分享模块将电荷分享至感应线;在输出阶段,通过多个检测电路中的输出模块将感应线的电压进行输出。其中,参见图7所示的开关单元导通状态时序图,在电荷分享阶段,实现通过每个检测电路中的电荷分享模块依次将电荷分享至感应线的情况,其中(1)表示与第一个感应线相连的检测电路,(m)表示与第m个感应线相连的检测电路。如图7所示,在电荷分享阶段,第二开关单元在所有第三开关单元断开的时候对第一电容继续进行施加第二信号,且该阶段,每个感应线依次与该感应线相连的第一电容进行电荷的分享。
综上所述,本发明实施例提供的一种检测电路、驱动集成电路及其检测方法,所述检测电路包括:复位模块、电荷分享模块和输出模块,其中,所述复位模块用于对所述电荷分享模块和感应线进行复位;所述电荷分享模块用于在复位后将电荷分享至所述感应线;所述输出模块用于在电荷分享后将所述感应线的电压进行输出。在本发明实施例提供的检测电路中,通过复位模块、电荷分享模块和输出模块的共同作用,确定感应线在电荷分享后的电压。从而有利于进一步根据能量守恒定理,确定感应线的电容的值。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种检测电路,其特征在于,所述检测电路包括:复位模块、电荷分享模块和输出模块,其中,
所述复位模块用于对所述电荷分享模块和感应线进行复位;
所述电荷分享模块用于在复位后将电荷分享至所述感应线;
所述输出模块用于在电荷分享后将所述感应线的电压进行输出。
2.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述复位模块的第一输入端连接第一信号的信号输入端,其第二输入端连接第二信号的信号输入端,其第一输出端连接所述感应线,其第二输出端连接电荷分享模块的输入端;
所述电荷分享模块的输出端连接所述感应信号线;
所述输出模块的输入端连接所述感应线,其输出端连接输出端子;
其中,所述第一信号为低电平的直流电压信号,所述第二信号为高电平的直流电压信号。
3.根据权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述复位模块具体包括:
第一开关单元,所述第一开关单元的第一端作为所述复位模块的第一输入端,所述第一开关单元的第二端作为所述复位模块的第一输出端;
第二开关单元,所述第二开关单元的第一端作为所述复位模块的第二输入端,所述第二开关单元的第二端作为所述复位模块的第二输出端。
4.根据权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述电荷分享模块具体包括:
第一电容,所述第一电容的第一端作为所述电荷分享模块的输入端,所述第一电容的第二端接地;
第三开关单元,所述第三开关单元的第一端连接所述第一电容的第一端,所述第三开关单元的第二端作为所述电荷分享模块的输出端。
5.根据权利要求2所述的检测电路,其特征在于,所述输出模块具体包括:
第四开关单元,所述第四开关单元的第一端作为所述输出模块的输入端,所述第四开关单元的第二端作为所述输出模块的输出端。
6.根据权利要求1所述的检测电路,其特征在于,所述检测电路还包括:
稳压电容,连接于所述感应线和地之间。
7.一种驱动集成电路,其特征在于,包括与每一感应线连接的,如权利要求1-6任一权项所述的多个检测电路。
8.根据权利要求7所述的驱动集成电路,其特征在于,所述驱动集成电路还包括:与所述多个检测电路中输出端子相连的模数转换器。
9.一种权利要求7或8所述的驱动集成电路的检测方法,其特征在于,该方法包括:
复位阶段,通过所述复位模块对所述电荷分享模块和感应线进行复位;
电荷分享阶段,在复位后将所述电荷分享模块中的电荷分享至所述感应线;
输出阶段,在电荷分享后通过所述输出模块将所述感应线的电压进行输出。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,该方法还包括:
根据所述第一信号和第二信号的值、第一电容和输出端子输出的电压值确定所述感应线的电容值。
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| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
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