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CN104720815B - 高度量测装置及其方法 - Google Patents

高度量测装置及其方法 Download PDF

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CN104720815B
CN104720815B CN201410006494.4A CN201410006494A CN104720815B CN 104720815 B CN104720815 B CN 104720815B CN 201410006494 A CN201410006494 A CN 201410006494A CN 104720815 B CN104720815 B CN 104720815B
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李佳宪
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Abstract

本发明提出一种高度量测装置及其方法，适用于具有反射面的环境，此高度量测方法包含沿第一光径发射第一激光至反射面。判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光。若接收到第一反射光，依据对应于第一反射光的第一数据，计算第一长度值。沿第二光径发射第二激光，第二激光被反射面反射至待测物。判断是否接收到对应于第二激光的第二反射光。若接收到第二反射光，依据对应于第二反射光的第二数据，计算第二长度值。并且，至少依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的待测物高度。

Description

高度量测装置及其方法
技术领域
本发明涉及一种高度量测装置与其方法，特别是涉及一种应用激光测距的高度量测装置与其方法。
背景技术
一般市面上量测身高的仪器包括：手动身高测量计、电子身高体重秤、婴儿身长计、机械式身高体重秤、BMI身高体重计等。为了准确量得身高，在使用身高体重计的时候，往往需要由旁人协助操作。此外，为了能适用于所有人，身高体重计通常需要比人还要高，因此会具有很大的体积，而不便于携带使用。
发明内容
有鉴于以上的问题，本发明提出一种高度量测装置与其方法，此高度量测装置以激光测距法量测第一长度(天花板的高度)与关于天花板以及待测物的第二长度，而后依据第一长度与第二长度可以计算待测物的高度。此高度量测装置无需占用非常大的空间，而可以被整合至体重计中，因此便于携带并运用于具有天花板的环境。
依据本发明一实施例的一种高度量测方法，适用于具有第一反射面的环境，此高度量测方法包含沿第一光径发射第一激光至第一反射面。判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光，其中第一反射光直接反射于第一反射面。若接收到第一反射光，依据对应于第一反射光的第一数据，计算第一长度值。沿第二光径发射第二激光，第二激光被第一反射面反射至待测物。判断是否接收到对应于第二激光的第二反射光，其中第二反射光是被待测物与第一反射面所反射。若接收到第二反射光，依据对应于第二反射光的第二数据，计算第二长度值。并且，至少依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的待测物高度。
依据本发明一实施例的一种高度量测装置，适用于具有反射面的环境，此高度量测装置包含基板、至少一个激光发射模块、至少一个光检测模块与控制模块。基板具有基板上表面，用以承载待测物。激光发射模块配置于基板上表面的发射位置，用以沿第一光径发射第一激光至天花板，并沿第二光径发射第二激光，第二激光被天花板反射至待测物。光检测模块配置于基板上表面的检测位置，用以判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光与对应于第二激光的第二反射光，以选择性地产生对应于第一反射光的第一数据与对应于第二反射光的第二数据，其中第一反射光直接反射于天花板而第二反射光是被待测物与天花板所反射。控制模块分别电性连接至激光发射模块与光检测模块，用以依据第一数据与第二数据分别计算第一长度值与第二长度值，并依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的待测物高度。
综上所述，依据本发明至少一实施例所提出的高度量测装置及其方法，以激光测距法量测第一长度(基板到第一反射面的距离)与第二长度(第一反射面与待测物的距离)，而后依据第一长度与第二长度可以计算待测物的高度。此高度量测装置无需占用非常大的空间，而可以被整合至体重计中，因此便于携带并运用于具有反射面的环境。
以上关于本发明内容的说明及以下的实施方式的说明是用以示范与解释本发明的精神与原理，并且提供本发明的权利要求更进一步的解释。
附图说明
图1A为本发明一实施例的高度量测装置俯视示意图。
图1B为对应于图1A的剖面示意图。
图1C为本发明另一实施例的高度量测装置俯视示意图。
图2为本发明一实施例的高度量测装置功能方块图。
图3A为本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。
图3B为本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。
图3C为本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。
图3D为本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。
图3E为本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。
图3F为本发明一实施例中以余弦辐射体(Lambert radiator)来说明图3E的技术的示意图。
图3G为本发明一实施例的高度量测装置误操作示意图。
图4为本发明一实施例的时间光强度示意图。
图5A为本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。
图5B为本发明另一实施例的高度量测装置操作示意图。
图6为本发明一实施例的高度量测方法流程图。
附图符号说明
1 高度量测装置
11 第一激光发射模块
13 第一光检测模块
15 第二激光发射模块
17 第二光检测模块
18 基板
19 控制模块
201 第一光径
203、205、207、209 第二光径
22 反射面
24 使用者
h1 第一长度值
h2 高度
d1 第二长度值
d3 第三长度值
t1、t2 时间
Ith 强度阈值
θ、θ1、θ2 夹角
具体实施方式
以下在实施方式中详细叙述本发明的详细特征以及优点，其内容足以使本领域技术人员了解本发明的技术内容并据以实施，且根据本说明书所揭示的内容、权利要求及附图，本领域技术人员可轻易地理解本发明相关的目的及优点。以下的实施例是进一步详细说明本发明的观点，但非以任何观点限制本发明的范畴。
依据本发明一实施例的一种高度量测装置请参照图1A与图1B，图1A是依据本发明一实施例的高度量测装置俯视示意图，图1B是对应于图1A的剖面示意图。如图1A所示，高度量测装置1可包含第一激光发射模块11、第一光检测模块13、第二激光发射模块15、第二光检测模块17与基板18。第一激光发射模块11与第二激光发射模块15分别位于基板18的基板上表面的第一发射位置与第二发射位置。而第一光检测模块13与第二光检测模块17分别位于基板18的基板上表面的第一检测位置与第二检测位置。于另一实施例中，请参照图1C，其是依据本发明另一实施例的高度量测装置俯视示意图。如图1C所示，高度量测装置1可包含多个第一激光发射模块11、多个第一光检测模块13与基板18。
对应于图1A的高度量测装置请一并参照图2，其是依据本发明一实施例的高度量测装置功能方块图。如图2所示，高度量测装置1可以包含第一激光发射模块11、第一光检测模块13、第二激光发射模块15、第二光检测模块17与控制模块19(未绘示于图1A但绘示于图2)。控制模块19分别电性连接至第一激光发射模块11、第一光检测模块13、第二激光发射模块15与第二光检测模块17。
然而，于另一实施例中，高度量测装置1可以只包含第一激光发射模块11、第一光检测模块13与控制模块19。控制模块19分别电性连接至第一激光发射模块11与第一光检测模块13。
在对应于图2的一实施例中，可以用第一激光发射模块11以第一光径发射第一激光，而用第二激光发射模块15以第二光径发射第二激光。其中，以第一光径为例，第一光径关联于第一激光发射模块11所在的第一发射位置以及一个第一发射角度，因此第一激光发射模块11可以藉由调整第一发射位置(例如移动第一激光发射模块11或是选择另一个第一激光发射模块)或是调整第一发射角度来调整/改变第一光径。以同样的原则，可以用第二激光发射模块来调整第二光径。依据本发明的精神，前述多个激光发射模块可以是二氧化碳激光器、一氧化碳激光器、金属蒸气激光器、金属卤化物激光器、盐酸激光器、碘激光器或其他可用来发射激光进行测距的激光器，本发明不以此为限。
在对应于图2的一实施例中，可以第一光检测模块13来判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光，以选择性地产生对应于第一反射光的第一数据。以第二光检测模块17来判断是否接收到对应于第二激光的第二反射光，以选择性地产生对应于第二反射光的第二数据。更明确地说，以第一光检测模块13为例，第一光检测模块13可以包含一个光耦合单元与一个比较单元。当光耦合单元接收到特定频率的光(以本发明为例，是第一激光的频率)时，会产生第一耦合讯号。而比较单元就把第一耦合讯号与第一强度阈值进行比较，当第一耦合讯号的电流或者电压大于第一强度阈值，则比较单元判断第一光检测模块有接收到对应于第一激光的第一反射光。以同样的原则，可以用第二光检测模块17，第二强度阈值去判断是否有接收到对应于第二激光的第二反射光。
相对的，在另一实施例中，高度量测装置1因为只包含第一激光发射模块11、第一光检测模块13与控制模块19，故可以用第一激光发射模块11先以第一光径发射第一激光，再以第二光径发射第二激光。并且，可以用第一光检测模块13分别判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光与对应于第二激光的第二反射光，以选择性地产生对应于第一反射光的第一数据与对应于第二反射光的第二数据。
控制模块19是用以依据第一数据与第二数据分别计算第一长度值与第二长度值，并依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的高度。举例来说第一数据可以包含第一激光的发射时间与第一反射光被接收的时间，而第二数据可以包含第二激光的发射时间与第二反射光被接收的时间。由于光速恒定，因此可以依据上述多个时间来分别算出对应于第一数据(也就是对应于第一激光与第一反射光)的第一长度值，以及对应于第二数据的第二长度值。依据本发明的精神，第一数据与第二数据也可分别包含第一激光的发射相位、第一反射光的接收相位、第二激光的发射相位与第二反射光的接收相位，并且依据相位之间的差异来求得第一长度值与第二长度值。而后依据第一长度值与第二长度值可以估算待测物的待测物高度。依据本发明的精神，控制模块19可以由特殊应用集成电路(application-specific integrated circuit,ASIC)、进阶精简指令集机器(advanced RISC machine,ARM)、中央处理单元(central processing unit,CPU)、单晶片控制器或其他适于执行运算及控制指令的设备来实现，本发明在此不加以限制。
关于计算待测物的高度，以下为更详尽的说明并请一并参照图3A，其是依据本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。如图3A所示，控制模块19先控制第一激光发射模块11沿第一光径201发射第一激光至一反射面22。在本实施例中，反射面22可以是屋顶的天花板，而在另一实施例，当使用者平躺时，该反射面可以是一个墙面或一个挡板，端视实际需要而定，本发明并不加以限制。接着，第一光检测模块13可以判断是否接收到第一反射光，藉此，控制模块19可以用前述的方法来计算第一长度值h1，也就是基板18到反射面22的距离。更明确地说，由于知道激光在空间中传递的第一光径201的长度(以前述方法计算)，当第一光径201几乎与地面垂直时，可以直接利用第一光径201的长度，也就是从第一激光发射模块11到天花板再到第一光检测模块13的长度，来当作两倍的第一长度值h1。当第一光径201如图所示并非近乎垂直于地面时，可以第一光径201的长度乘上第一光径201与基板18的法线的夹角θ的正弦函数值，来当作两倍的第一长度值h1。
此外，由于基板18可能设置不当或是第一激光发射模块11一开始选择的第一光径201不当，导致第一光检测模块13无法收到对应于第一激光的第一反射光，也因此第一光检测模块13无法依据第一反射光来产生第一数据。为避免此依状况产生，控制模块19可以还判断是否在第一时间阈值(例如为1秒)内收到第一数据。如果没有在第一时间阈值内接收到第一数据，控制模块19可以发出警告，或是直接控制第一激光发射模块11修正第一光径并发射第一激光，其方法如前述，于此不再赘述。
请参照图3B，其是依据本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。如图3B所示，当一个使用者24站到基板18上，控制模块19可以控制第一激光发射模块11以第二光径203发射第二激光，并由第一光检测模块13检测对应的第二反射光。而后用前述方法计算第二光径203的长度，以估算反射面22与使用者24的头顶的一个第二长度值d1。更明确地说，可以将第二光径203的长度当作两倍的第一长度值h1加上两倍的第二长度值d1。当第二光径203如图所示并非近乎垂直于地面时，可以将第二光径203的长度乘上第二光径203与基板18的法线的夹角θ的正弦函数值，来当作两倍的第一长度值h1加上两倍的第二长度值d1。藉此，可以进一步算出第二长度值d1。最后，将第一长度值h1减去第二长度值d1，就可以得到使用者24的身高，也就是待测物的待测物高了。
于某些实施例中，请参照图3C与图3D，其是分别依据本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。其中图3C的反射面22的高度h2较图3B的反射面22的高度(也就是第一长度值h1)还大，因此当第一激光发射模块11以原有的第二光径203发射第二激光时，第二激光对应的第二反射光无法被第一光检测模块13所接收到。因此第一光检测模块13无法依据第二反射光产生第二数据。当控制模块19判断在第二时间阈值内(例如为1秒)没有收到第二数据，控制模块19可以控制第一激光发射模块11藉由调整发射角度来修正第二光径203，并以修正后的第二光径205重新发射第二激光。
其中图3D中，第一激光发射模块11以原有的第二光径203发射第二激光时，第二激光被使用者24遮蔽了。因此第一光检测模块13无法依据第二反射光产生第二数据。当控制模块19判断在第二时间阈值内(例如为1秒)没有收到第二数据，控制模块19可以控制第一激光发射模块11藉由调整第一激光发射模块的发射位置，来修正第二光径203，并以修正后的第二光径207重新发射第二激光。
于本发明一实施例中，第一激光发射模块11与第一光检测模块13可以在基板18上同一个位置，请参照图3E，其是依据本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。如图3E所示，由于以激光测距时，待测物的平面与激光无须垂直，因此可以用第一激光发射模块11从第一发射位置发射第一激光与第二激光，并且在第一发射位置以第一光检测模块13接收对应于第一激光的第一反射光与对应于第二激光的第二反射光。
关于图3E中的第二光径203在使用者20的头顶处不符合一般常识中的「反射定律」的原因，解释如下。请参照图3F，其是本发明一实施例中以余弦辐射体(Lambert radiator)来说明图3E的技术的示意图。在大多数的实施环境下，由于反射面22与使用者24的头顶并非完美的反射表面，举反射面22为例，反射面22可以被视为介于完美反射表面与余弦辐射体之间的一个反射表面。因此如图3F所示，当入射光沿着第二光径203射到反射面22上，会产生对应于入射光的一个主要反射光203’与多个次要反射光203a至203c等。更明确的说，把主要反射光203’的强度与所有次要反射光的强度加起来会大约等于原来的入射光的强度。因此，藉由这样的一个光学原理，激光测距时，待测物的平面与激光无须垂直也能测量到待测物的距离。同时，藉由这样的光学原理，即使在理想反射角(也就是依据反射原理所预期的方向)以外的其他方向也有一定强度的次要反射光可以被第一光检测模块13所检测到。
因此，在一个例子中，可以仅发射一次激光，而检测第一反射光与第二反射光。于此例子中，第一反射光就是激光直接被反射面22所反射的光线，而第二反射光则是激光经过反射面22至使用者24的头顶再回到反射面22而后回到第一光检测模块13的光线。
于一实施例中，请参照图3G，其是依据本发明一实施例的高度量测装置误操作示意图。如图3G所示，当第一激光发射模块11以一个光径209发射激光时，有可能会依循光径209使第一光检测模块13可以检测到对应于激光的光线。如果将光径209当作两倍的第一长度值h1加上两倍的第二长度值d1，则可能造成最后运算结果的不正确，因此第一光检测模块13需要有防止误操作的机制。请参照图4，其是依据本发明一实施例的时间光强度示意图。第一光检测模块13中的光耦合单元可能一直都有检测到频率与激光频率相同的光线，因此输出耦合讯号的强度一直不为零，然而可以藉由设定一个强度阈值Ith，或对应于第一激光与第二激光的第一反射光与第二反射光，分别设定第一强度阈值与第二强度阈值。从而将低于强度阈值Ith的讯号过滤掉。以光径209而言，因其超出预期的反射次数，故第一光检测模块13所检测到的反射光强度将低于强度阈值Ith，使得误操作的讯号得以被滤掉，而仅得到在时间t1与时间t2所接收到的第一反射光与第二反射光，藉此可以大幅度降低误操作的可能性。
关于本发明一实施例中如何精确地量到待测物(使用者24)的高度，请参照图5A，其是依据本发明一实施例的高度量测装置操作示意图。如图5A所示，以如图3E的高度量测装置来举例说明，第一激光发射模块11先在第一发射位置以相对于基板18的法线有夹角θ的第一光径503发射激光，如此可以量到第一长度值h1与第二长度值d1。而后第一激光发射模块11调整第一发射位置后以相对于基板18的法线有夹角θ的第二光径505发射激光，如此可以量到第一长度值h1与第三长度值d3。由于第二长度值d1小于第三长度值d3，因此控制模块19可以判断使用者24表面的最高点(也就是使用者24的头顶)与第一反射面22的距离是第二长度值d1。而后依据第二长度值d1与第一长度值h1，计算得到使用者24的高度是h1-d1。
于另一实施例中，请参照图5B，其是依据本发明另一实施例的高度量测装置操作示意图。如图5B所示，相较于图5A，第一激光发射模块11并不是改变第一发射位置，而是调整发射角度(也就是与基板18的法线的夹角)以相对于基板18的法线的夹角θ1的光径507发射激光，并以相对于基板18的法线的夹角θ2的光径503发射激光。因此，控制模块19可以分别量到第一长度值h1、第二长度值d1与第三长度值d3。而后，由于第二长度值d1小于第三长度值d3，因此控制模块19可以判断使用者24表面的最高点(也就是使用者24的头顶)与第一反射面22的距离是第二长度值d1。而后依据第二长度值d1与第一长度值h1，计算得到使用者24的高度是h1-d1。
换句话说，控制模块19可以控制第一激光发射模块11以多个不同的光径来发射激光，如此可以得到第一长度值h1与多个数值不等的第二长度值，而后从多个第二长度值中，选择数值最小的第二长度值，则这个被选择的第二长度值应该是使用者24的头顶。依据第一长度值h1与被选择的第二长度值，可以计算出使用者24的高度。
于一实施例中，控制模块19还可以控制第一激光发射模块11与第一光检测模块13对待测物进行多次的测距，以取得多个待测物高度，并把前述多个待测物高度平均，以作为最终输出的待测物高度。由于数字电路的时钟周期长度有其极限，量测一次可能会有最大半个周期的误差，然而连续量测一百次可能也只是半个周期的误差，藉此可以大幅度地降低量测待测物高度的误差。
于本发明一实施例中，控制模块19还可以依据基板18是否被待测物(使用者24)所压，来决定是否发射第一激光及/或第二激光。举例来说，如图3B所示，当控制模块19检测到基板18被使用者24所压，则开始发射第二激光，先量测第二长度值与第一长度值的总和(于此是d1+h1)。当使用者24离开基板18时，控制模块19可以控制第一激光发射模块11铅直地发射第一激光，以量测反射面22与基板18之间的距离，也就是第一长度值h1。由此可以计算使用者24的身高为h1-d1。
于本发明一实施例中的高度量测方法流程图，请参照图6，其是依据本发明一实施例的高度量测方法流程图。如步骤S610所示，沿第一光径发射第一激光至第一反射面。如步骤S620所示，沿第二光径发射第二激光，第二激光被第一反射面反射至待测物。如步骤S630，判断是否接收到对应于第一激光的第一反射光。若未接收到第一反射光，则如步骤S631所示，判断未接收到第一反射光的时间是否大于第一时间阈值。若大于第一时间阈值，则如步骤S635所示，修正第一光径，并回到步骤S610。若小于第一时间阈值，则回到步骤S630。若接收到第一反射光，则如步骤S640所示，依据对应于第一反射光的第一数据，计算第一长度值。如步骤S650，判断是否接收到对应于第二激光的第二反射光。若未接收到第二反射光，则如步骤S651所示，判断未接收到第二反射光的时间是否大于第二时间阈值。若大于第二时间阈值，则如步骤S655所示，修正第二光径，并回到步骤S620。若小于第二时间阈值，则回到步骤S650。若接收到第二反射光，则如步骤S660所示，依据对应于第二反射光的第二数据，计算第二长度值。并且如步骤S670所示，至少依据第一长度值与第二长度值，计算待测物的待测物高度。
依据本发明至少一实施例所提出的高度量测装置及其方法，以激光测距法量测第一长度(天花板的高度)与关于天花板以及待测物的第二长度，而后依据第一长度与第二长度可以计算待测物的高度。此高度量测装置无需占用非常大的空间，而可以被整合至体重计中，因此便于携带并运用于具有天花板的环境。
虽然本发明以前述的实施例揭示如上，然其并非用以限定本发明。在不脱离本发明的精神和范围的前提下，所作的更动与润饰，均属本发明的专利保护范围。关于本发明所界定的保护范围是以本发明的权利要求为准。

Claims (22)

1.一种高度量测方法，适用于具有一第一反射面的环境，该高度量测方法包含：
沿一第一光径发射一第一激光；
判断是否接收到对应于该第一激光的一第一反射光，其中该第一反射光是被该第一反射面所反射；
若接收到该第一反射光，依据对应于该第一反射光的一第一数据，计算一第一长度值；
沿一第二光径发射一第二激光；
判断是否接收到对应于该第二激光的一第二反射光，其中该第二反射光是被待测物与该第一反射面所反射；
若接收到该第二反射光，依据对应于该第二反射光的一第二数据，计算一第二长度值；以及
至少依据该第一长度值与该第二长度值，计算该待测物的一待测物高度。
2.如权利要求1所述的高度量测方法，其中该第一反射面选自由一天花板、一墙面与一挡板所组成的群组其中之一。
3.如权利要求1所述的高度量测方法，其中在判断是否接收到对应于该第一激光的该第一反射光的步骤中为一第一强度阈值与一第一时间阈值判断是否接收到对应于该第一激光的该第一反射光。
4.如权利要求1所述的高度量测方法，其中在判断是否接收到对应于该第一激光的该第一反射光的步骤中，若未接收到该第一反射光，则修正该第一光径以重新发射该第一激光。
5.如权利要求4所述的高度量测方法，其中该第一光径关联于一第一发射位置与一第一发射角度，并且修正该第一光径至少修正该第一发射位置或该第一发射角度。
6.如权利要求1所述的高度量测方法，其中在判断是否接收到对应于该第二激光的该第二反射光的步骤中为一第二强度阈值与一第二时间阈值判断。
7.如权利要求1所述的高度量测方法，其中在判断是否接收到对应于该第二激光的该第二反射光的步骤中，若未接收到该第二反射光，则修正该第二光径以重新发射该第二激光。
8.如权利要求7所述的高度量测方法，其中该第二光径关联于一第二发射位置与一第二发射角度，并且修正该第二光径至少修正该第二发射位置或该第二发射角度。
9.如权利要求1所述的高度量测方法，其中该第一数据包含该第一激光的一第一发射时间与该第一反射光被接收的一第一接收时间，并且该第二数据包含该第二激光的一第二发射时间与该第二反射光被接收的一第二接收时间，并且在依据该第一数据，计算该第一长度值的步骤中为该第一发射时间与该第一接收时间计算该第一长度值，并且在依据该第二数据，计算该第二长度值的步骤中为该第二发射时间与该第二接收时间计算该第二长度值。
10.如权利要求1所述的高度量测方法，其中该第一数据包含该第一激光的一第一发射相位与该第一反射光被接收的一第一接收相位，并且该第二数据包含该第二激光的一第二发射相位与该第二反射光被接收的一第二接收相位，并且在依据该第一数据，计算该第一长度值的步骤中为该第一发射相位与该第一接收相位计算该第一长度值，并且在依据该第二数据，计算该第二长度值的步骤中为该第二发射相位与该第二接收相位计算该第二长度值。
11.如权利要求1所述的高度量测方法，还包含：
沿一第三光径发射一第三激光；
判断是否接收到对应于该第三激光的一第三反射光，其中该第三反射光是被该待测物与该第一反射面所反射；以及
若接收到该第三反射光，依据对应于该第三反射光的一第三数据，计算一第三长度值；
其中，在计算该待测物的该待测物高度的步骤中为该第一长度值、该第二长度值与该第三长度值，计算该待测物高度。
12.一种高度量测装置，适用于具有一第一反射面的环境，该高度量测装置包含：
一基板，具有一基板上表面，用以承载一待测物；
至少一激光发射模块，配置于该基板上表面的至少一发射位置，用以沿一第一光径发射一第一激光，并沿一第二光径发射一第二激光；
至少一光检测模块，配置于该基板上表面的至少一检测位置，用以判断是否接收到对应于该第一激光的一第一反射光与对应于该第二激光的一第二反射光，以选择性地产生对应于该第一反射光的一第一数据与对应于该第二反射光的一第二数据，其中该第一反射光是被该第一反射面所反射，该第二反射光是被该待测物与该第一反射面所反射；以及
一控制模块，分别电性连接至该激光发射模块与该光检测模块，用以依据该第一数据与该第二数据分别计算一第一长度值与一第二长度值，并至少依据该第一长度值与该第二长度值，计算该待测物的一待测物高度。
13.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该第一反射面选自由一天花板、一墙面与一挡板所组成的群组其中之一。
14.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该光检测模块依据一第一强度阈值，判断是否接收到对应于该第一激光的该第一反射光。
15.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该控制模块还判断是否在一第一时间阈值内接收到该第一数据，若未接收到该第一数据，则控制该激光发射模块至少修正该发射位置或一发射角度，以修正该第一光径重新发射该第一激光。
16.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该光检测模块依据一第二强度阈值，判断是否接收到对应于该第二激光的该第二反射光。
17.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该控制模块还判断是否在一第二时间阈值内接收到该第二数据，若未接收到该第二数据，则控制该激光发射模块至少修正该发射位置或一发射角度，以修正该第二光径重新发射该第二激光。
18.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该第一数据包含该第一激光的一第一发射时间与该第一反射光被接收的一第一接收时间，并且该第二数据包含该第二激光的一第二发射时间与该第二反射光被接收的一第二接收时间，并且该控制模块依据该第一发射时间与该第一接收时间计算该第一长度值，依据该第二发射时间与该第二接收时间计算该第二长度值。
19.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该第一数据包含该第一激光的一第一发射相位与该第一反射光被接收的一第一接收相位，并且该第二数据包含该第二激光的一第二发射相位与该第二反射光被接收的一第二接收相位，并且该控制模块依据该第一发射相位与该第一接收相位计算该第一长度值，依据该第二发射相位与该第二接收相位计算该第二长度值。
20.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该至少一激光发射模块包含：
一第一激光发射模块，配置于该基板上表面的该至少一发射位置中的一第一发射位置，用以发射该第一激光；以及
一第二激光发射模块，配置于该基板上表面的该至少一发射位置中的一第二发射位置，用以发射该第二激光，该第一发射位置不等于该第二发射位置。
21.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该至少一光检测模块包含：
一第一光检测模块，配置于该基板上表面的该至少一检测位置中的一第一检测位置，用以检测该第一反射光；以及
一第二光检测模块，配置于该基板上表面的该至少一检测位置中的一第二检测位置，用以检测该第二反射光，该第一检测位置不等于该第二检测位置。
22.如权利要求12所述的高度量测装置，其中该激光发射模块还沿一第三光径发射一第三激光；该光检测模块还判断是否接收到对应于该第三激光的一第三反射光，以选择性地产生对应于该第三反射光的一第三数据，其中该第三反射光是被该该待测物与该第一反射面所反射；该控制模块还依据该第三数据计算一第三长度值，并且还依据该第三长度值，计算该待测物的该待测物高度。
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