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CH589947A5 - Test pin for printed circuit boards - with spring loaded shank in barrel and test end with conical hollow for boards test point - Google Patents

Test pin for printed circuit boards - with spring loaded shank in barrel and test end with conical hollow for boards test point

Info

Publication number
CH589947A5
CH589947A5 CH190075A CH190075A CH589947A5 CH 589947 A5 CH589947 A5 CH 589947A5 CH 190075 A CH190075 A CH 190075A CH 190075 A CH190075 A CH 190075A CH 589947 A5 CH589947 A5 CH 589947A5
Authority
CH
Switzerland
Prior art keywords
hollow shaft
contact pin
rod
contact
carrier plate
Prior art date
Application number
CH190075A
Other languages
German (de)
Original Assignee
Ingun Ag
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ingun Ag filed Critical Ingun Ag
Publication of CH589947A5 publication Critical patent/CH589947A5/en

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01RELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R11/00Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
    • H01R11/11End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
    • H01R11/18End pieces terminating in a probe
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
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    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects
    • G01R1/06738Geometry aspects related to tip portion
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

The test pin, for testing pc boards, consists of a spring loaded shank with a conical hollow at its contacting end to engage the pointed head of a test pin fixed to the pc board. The spring-loaded test pin is connected to test equipment. The helical spring (18) is located inside the barrel (14) between the bottom of the moving shank (20) and the stopper (13) in the base of the barrel. The part of the shank just above the spring is thickened radially so that it touches the barrel inner surface and acts as a steadying guide.

Description

  

  
 



   Die Erfindung betrifft einen Kontaktstift für eine Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Bauteile, insbesondere gedruckter Schaltungen, auf welche der auf einer Trägerplatte der Prüfvorrichtung zu ruhen bestimmte und einenends mit einer Messstation durch eine Verdrahtung zu verbindende Kontaktstift mit seinem anderen Ende etwa punktoder linienförmig aufsetzbar ist.



   Eine derartige Vorrichtung mit in Aussparungen einer Trägerplatte eingesetzten Kontaktstiften offenbart die USA Patentschrift Nr. 3 043 021. Auf die freien Kontaktstiftenden werden elektronische Schaltungsplatten aufgelegt, um diese so für den Prüfvorgang mit der Messstation zu verbinden. Die Kontaktstifte werden auf der Trägerplatte entsprechend dem abzutastenden Schaltungsmuster festgesteckt.



   Die Erfindung hat zum Ziel, Kontaktstifte der eingangs erwähnten Art zu verbessern, vor allem deren Kontakteigenschaft zu erhöhen.



   Zur Lösung dieser Aufgabe führt ein Kontaktstift mit einem Hohlschaft und zumindest einem in diesem lagernden Kraftspeicher sowie einem von diesem berührten und axial im Hohlschaft verschieblichen Stab, dessen aus dem Hohlschaft ragendes freies Ende einen gegenüber dem Stab enveiterten Kontaktkopf trägt oder als Spitze ausgebildet ist; dank des axial gerichteten Kraftspeichers wird jener Kontaktkopf gegen das zu prüfende Bauteil gedrückt.



   Diese gefederten Kontaktstifte sind Miniatur-Präzisionswerkzeuge, deren bewegter Stab durch ein erweitertes Gleitstück. welches an der Innenwandung des Hohlschaftes anliegt, exakt geführt werden kann.



   Hohlschaft und Stab - samt Kontaktkopf - sind üblicherweise aus Edelstahl, gehärtet und hartvergoldet, auch kann der Hohlschaft selbst nur vergoldet sein; ebenfalls kann der   Kraftspeicher - bevorzugt    aus einer   BeCu-Legierung - einen    Goldüberzug aufweisen und zwischen zwei hartvergoldeten Flächen liegen, was eine besonders günstige Kontaktierung gewährleistet.



   Um einen verbesserten Sitz des Kontaktstiftes in seiner Trägerplatte zu erreichen, kann der Hohlschaft an dem den Stab aufnehmenden Ende mit einem radial abstehenden Kragen ausgestattet sein, der als Anschlag an der Trägerplatte dient.



   Die Erfindung wird durch die nachfolgende Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele sowie anhand der Zeichnung erläutert; diese zeigt in:
Fig. 1 eine Schrägsicht auf eine auseinandergenommene Trägerplatte einer Prüfvorrichtung,
Fig. 2 eine andere Schrägsicht auf eine Trägerplatte mit  übersichtlichkeitshalber nur teilweise angedeuteten - Bohrungen,
Fig. 3 den Schnitt nach Linie   III-III    in Fig. 2 in vergrösserter Wiedergabe,
Fig. 4 den Längsschnitt durch einen Kontaktstift in - gegenüber Fig. 2, 3 - vergrösserter Darstellung,
Fig. 5 einen Teil eines Kontaktstiftes anderer Ausführung,
Fig. 6 und 7 Ansichten weiterer Ausführungsformen des Kontaktstiftes - jeweils mit zugeordneter schematischer   Draulsicht-,-   
Fig. 8 einen anderen Kontaktstift.



   Eine Trägerplatte A für ein - nicht dargestelltes - elektronisches Prüfgerät ist aus mehreren Einzelplatten la bis   1c    aus glasfaserverstärktem Kunststoff zusammengesetzt. Letztere sind mittels an zwei schmalen Plattenseiten 4, 5 ausgeformten Federn 6 in - an den verbleibenden Platten-Schmalseiten 7, 8 vorgesehene - Nuten 9 der jeweils benachbarten Einzelplatte 1 eingeschoben und von einem Spannrahmen 10 zusammengehalten. Die Einzelplatten 1 weisen rasterartig angeordnete Bohrungen 11 auf - beispielsweise des Durchmessers x von 3 mm bei einem Rastermass y von 5,08 mm - die in Fig. 2 teilweise angedeutet sind und die Federn 6 durchsetzen (s. Fig. 3).



   In diese Bohrungen 11 werden gefederte Kontaktstifte B eingeführt, die mit Kontakten nicht erkennbarer Vielfachsteckerleisten des Spannrahmens 10 durch Verdrahtungen zu verbinden sind. Die Kontaktstifte sind Miniatur-Präzisionswerkzeuge mit exakter Führung der beweglichen Teile sowie durch Edelmetallbeschichtung korrosionsgeschützt; ihre Aussenflächen sind vergoldet. Sie können durch das enge Bohrungsraster y in nahezu beliebiger Konfiguration von der Trägerplatte A aufgenommen werden.



   Der Hohlschaft 14 des in Fig. 4 wiedergegebenen Kontaktstiftes B ist einenends mit einem Anschlagkragen 15 zum Festlegen an einer Trägerplatte A und andernends mit einem festsitzenden Verschlussstopfen 13 versehen, gegen den sich eine in das Schaftinnere 17 eingeführte Schraubenfeder 18 abstützt. In sie greift der Führungsbolzen 19 eines verschieblich im Hohlschaft 14 lagernden Stabes 20 ein, dessen in ausgeschobenem Zustand freie Länge n (Fig. 6) im gewählten Beispiel 10,5 mm beträgt. Der Stab 20 liegt mit seinem radial erweiterten Gleitstück 21 der Innenwandung 22 des Hohlschaftes 14 an.



   Der Kontaktkopf 23 ist - unter Bildung eines seitlichen Randes   24 - mit    einer konischen Vertiefung 25 versehen, während der Kontaktkopf 26 in Fig. 5 als Spitze ausgebildet ist.



   Der Kontaktstift B der Fig. 6 weist an seinem dem kronenartig mit vier Spitzen 27 (s. die in der Fig. 6 seitlich dargestellte Draufsicht) versehenen Kontaktkopf 28 fernliegenden Ende einen Vierkantstab 16 auf, an den die Verdrahtung einer nicht gezeigten Messstation ausgeschlossen werden kann.



  Die Gesamtlänge m des Kontaktstifts B beträgt hier 40 mm, die Kronenhöhe p 4 mm.



   Beim Ausführungsbeispiel der Fig. 7 endet der Stab 20 in einem Kopf 29 mit drei Radialkämmen 30 sowie in Fig. 8 in einem Kalottenkopf 31.



   PATENTANSPRUCH



   Kontaktstift (B) für eine Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Bauteile, insbesondere gedruckter Schaltungen, auf welche der auf einer Trägerplatte (A) der Prüfvorrichtung zu ruhen bestimmte und einenends mit einer Messstation durch eine Verdrahtung zu verbindende Kontaktstift mit seinem anderen Ende etwa punkt- oder linienförmig aufsetzbar ist gekennzeichnet durch einen Hohlschaft (14) und zumindest einen in diesem lagernden Kraftspeicher (18) sowie einen von diesem berührten und axial im Hohlschaft (14) verschieblichen Stab (20), dessen aus dem Hohlschaft ragendes freies Ende einen gegenüber dem Stab erweiterten Kontaktkopf (23, 28, 29) trägt oder als Spitze (26, 31) ausgebildet ist.



   UNTERANSPRÜCHE
1. Kontaktstift nach dem Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Stab (20) mit einem radial erweiterten Gleitstück (21) zur Führung im Hohlschaft (14) dessen Innenwandung (22) anliegt.



   2. Kontaktstift nach dem Patentanspruch. dadurch gekennzeichnet, dass der Stab (20) an seinem im Hohlschaft (14) befindlichen Ende einen Endbolzen (19) aufweist, welcher in den als Schraubenfeder (18) gestalteten Kraftspeicher einragt, wobei sich die Schraubenfeder gegebenenfalls andernends gegen einen fest in den Hohlschaft eingefügten Axialarm (13, 16) abstützt.



   3. Kontaktstift nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der fest in den Hohlschaft (14) eingefügte Axialarm (13, 16) als Befestigungsglied für die Verdrahtung ausgebildet ist. 

**WARNUNG** Ende DESC Feld konnte Anfang CLMS uberlappen**.



   



  
 



   The invention relates to a contact pin for a device for testing electronic components, in particular printed circuits, on which the contact pin intended to rest on a carrier plate of the test device and to be connected at one end to a measuring station by wiring can be placed at its other end in a point or line manner.



   A device of this type with contact pins inserted in recesses in a carrier plate is disclosed in US Pat. No. 3,043,021. Electronic circuit boards are placed on the free contact pin ends in order to connect them to the measuring station for the testing process. The contact pins are pinned on the carrier plate in accordance with the circuit pattern to be scanned.



   The aim of the invention is to improve contact pins of the type mentioned at the outset, above all to increase their contact properties.



   To solve this problem leads a contact pin with a hollow shaft and at least one stored energy storage device as well as a rod touched by the latter and axially displaceable in the hollow shaft, the free end of which protruding from the hollow shaft carries a contact head that is enlarged compared to the rod or is designed as a tip; Thanks to the axially directed energy store, that contact head is pressed against the component to be tested.



   These spring-loaded contact pins are miniature precision tools whose moving rod is supported by an extended sliding piece. which rests against the inner wall of the hollow shaft, can be guided exactly.



   Hollow shaft and rod - including the contact head - are usually made of stainless steel, hardened and hard gold-plated, and the hollow shaft itself can only be gold-plated; Likewise, the energy store - preferably made of a BeCu alloy - can have a gold coating and lie between two hard gold-plated surfaces, which ensures particularly favorable contacting.



   In order to achieve an improved fit of the contact pin in its carrier plate, the hollow shaft can be equipped with a radially projecting collar at the end receiving the rod, which collar serves as a stop on the carrier plate.



   The invention is explained by the following description of preferred exemplary embodiments and with reference to the drawing; this shows in:
1 shows an oblique view of a dismantled carrier plate of a test device,
FIG. 2 shows another oblique view of a carrier plate with only partially indicated holes for the sake of clarity,
3 shows the section along line III-III in FIG. 2 in an enlarged representation,
4 shows the longitudinal section through a contact pin in an enlarged illustration compared to FIGS. 2, 3,
5 shows a part of a contact pin of a different design,
6 and 7 are views of further embodiments of the contact pin - each with an associated schematic top view -, -
8 shows another contact pin.



   A carrier plate A for an electronic test device - not shown - is composed of several individual plates la to 1c made of glass fiber reinforced plastic. The latter are inserted into grooves 9 of the respective adjacent individual plate 1 by means of tongues 6 formed on two narrow plate sides 4, 5 - provided on the remaining narrow plate sides 7, 8 and held together by a clamping frame 10. The individual plates 1 have holes 11 arranged in a grid-like manner - for example with a diameter x of 3 mm with a grid dimension y of 5.08 mm - which are partially indicated in FIG. 2 and penetrate the springs 6 (see FIG. 3).



   Spring-loaded contact pins B are inserted into these bores 11 and are to be connected to contacts of non-recognizable multiple connector strips of the clamping frame 10 by wiring. The contact pins are miniature precision tools with precise guidance of the moving parts and protected against corrosion by a precious metal coating; their outer surfaces are gold-plated. Thanks to the narrow hole pattern y, they can be accommodated in almost any configuration by the carrier plate A.



   The hollow shaft 14 of the contact pin B shown in FIG. 4 is provided at one end with a stop collar 15 for securing to a carrier plate A and at the other end with a tightly fitting plug 13 against which a helical spring 18 inserted into the shaft interior 17 is supported. The guide pin 19 of a rod 20 which is displaceably supported in the hollow shaft 14 and whose free length n (FIG. 6) in the selected example is 10.5 mm in the extended state engages in it. The rod 20 rests with its radially expanded slider 21 on the inner wall 22 of the hollow shaft 14.



   The contact head 23 is provided with a conical recess 25, with the formation of a lateral edge 24, while the contact head 26 in FIG. 5 is designed as a tip.



   The contact pin B of FIG. 6 has at its end remote from the contact head 28, which is provided with four tips 27 in the manner of a crown (see the top view shown on the side in FIG. 6), a square rod 16 to which the wiring of a measuring station, not shown, can be excluded .



  The total length m of the contact pin B is 40 mm here, the crown height p 4 mm.



   In the exemplary embodiment in FIG. 7, the rod 20 ends in a head 29 with three radial ridges 30 and in FIG. 8 in a spherical head 31.



   PATENT CLAIM



   Contact pin (B) for a device for testing electronic components, in particular printed circuits, on which the contact pin intended to rest on a carrier plate (A) of the test device and to be connected at one end to a measuring station by wiring with its other end is roughly punctiform or linear can be put on is characterized by a hollow shaft (14) and at least one force storage device (18) located in this, as well as a rod (20) which is in contact with it and axially displaceable in the hollow shaft (14), the free end of which protruding from the hollow shaft has a contact head which is wider than the rod (23, 28, 29) or is designed as a tip (26, 31).



   SUBCLAIMS
1. Contact pin according to claim, characterized in that the rod (20) rests with a radially widened slider (21) for guidance in the hollow shaft (14), the inner wall (22) of which.



   2. Contact pin according to the claim. characterized in that the rod (20) at its end located in the hollow shaft (14) has an end bolt (19) which protrudes into the force storage device designed as a helical spring (18), the helical spring possibly being inserted into the hollow shaft at the other end Axial arm (13, 16) is supported.



   3. Contact pin according to dependent claim 2, characterized in that the axial arm (13, 16) firmly inserted into the hollow shaft (14) is designed as a fastening member for the wiring.

** WARNING ** End of DESC field could overlap beginning of CLMS **.



   

 

Claims (1)

**WARNUNG** Anfang CLMS Feld konnte Ende DESC uberlappen **. ** WARNING ** Beginning of CLMS field could overlap end of DESC **. Die Erfindung betrifft einen Kontaktstift für eine Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Bauteile, insbesondere gedruckter Schaltungen, auf welche der auf einer Trägerplatte der Prüfvorrichtung zu ruhen bestimmte und einenends mit einer Messstation durch eine Verdrahtung zu verbindende Kontaktstift mit seinem anderen Ende etwa punktoder linienförmig aufsetzbar ist. The invention relates to a contact pin for a device for testing electronic components, in particular printed circuits, on which the contact pin intended to rest on a carrier plate of the test device and to be connected at one end to a measuring station by wiring can be placed at its other end in a point or line manner. Eine derartige Vorrichtung mit in Aussparungen einer Trägerplatte eingesetzten Kontaktstiften offenbart die USA Patentschrift Nr. 3 043 021. Auf die freien Kontaktstiftenden werden elektronische Schaltungsplatten aufgelegt, um diese so für den Prüfvorgang mit der Messstation zu verbinden. Die Kontaktstifte werden auf der Trägerplatte entsprechend dem abzutastenden Schaltungsmuster festgesteckt. A device of this type with contact pins inserted in recesses in a carrier plate is disclosed in US Pat. No. 3,043,021. Electronic circuit boards are placed on the free contact pin ends in order to connect them to the measuring station for the testing process. The contact pins are pinned on the carrier plate in accordance with the circuit pattern to be scanned. Die Erfindung hat zum Ziel, Kontaktstifte der eingangs erwähnten Art zu verbessern, vor allem deren Kontakteigenschaft zu erhöhen. The aim of the invention is to improve contact pins of the type mentioned at the outset, above all to increase their contact properties. Zur Lösung dieser Aufgabe führt ein Kontaktstift mit einem Hohlschaft und zumindest einem in diesem lagernden Kraftspeicher sowie einem von diesem berührten und axial im Hohlschaft verschieblichen Stab, dessen aus dem Hohlschaft ragendes freies Ende einen gegenüber dem Stab enveiterten Kontaktkopf trägt oder als Spitze ausgebildet ist; dank des axial gerichteten Kraftspeichers wird jener Kontaktkopf gegen das zu prüfende Bauteil gedrückt. To solve this problem leads a contact pin with a hollow shaft and at least one stored energy storage device as well as a rod touched by the latter and axially displaceable in the hollow shaft, the free end of which protruding from the hollow shaft carries a contact head that is enlarged compared to the rod or is designed as a tip; Thanks to the axially directed energy store, that contact head is pressed against the component to be tested. Diese gefederten Kontaktstifte sind Miniatur-Präzisionswerkzeuge, deren bewegter Stab durch ein erweitertes Gleitstück. welches an der Innenwandung des Hohlschaftes anliegt, exakt geführt werden kann. These spring-loaded contact pins are miniature precision tools whose moving rod is supported by an extended sliding piece. which rests against the inner wall of the hollow shaft, can be guided exactly. Hohlschaft und Stab - samt Kontaktkopf - sind üblicherweise aus Edelstahl, gehärtet und hartvergoldet, auch kann der Hohlschaft selbst nur vergoldet sein; ebenfalls kann der Kraftspeicher - bevorzugt aus einer BeCu-Legierung - einen Goldüberzug aufweisen und zwischen zwei hartvergoldeten Flächen liegen, was eine besonders günstige Kontaktierung gewährleistet. Hollow shaft and rod - including the contact head - are usually made of stainless steel, hardened and hard gold-plated, and the hollow shaft itself can only be gold-plated; Likewise, the energy store - preferably made of a BeCu alloy - can have a gold coating and lie between two hard gold-plated surfaces, which ensures particularly favorable contacting. Um einen verbesserten Sitz des Kontaktstiftes in seiner Trägerplatte zu erreichen, kann der Hohlschaft an dem den Stab aufnehmenden Ende mit einem radial abstehenden Kragen ausgestattet sein, der als Anschlag an der Trägerplatte dient. In order to achieve an improved fit of the contact pin in its carrier plate, the hollow shaft can be equipped with a radially projecting collar at the end receiving the rod, which collar serves as a stop on the carrier plate. Die Erfindung wird durch die nachfolgende Beschreibung bevorzugter Ausführungsbeispiele sowie anhand der Zeichnung erläutert; diese zeigt in: Fig. 1 eine Schrägsicht auf eine auseinandergenommene Trägerplatte einer Prüfvorrichtung, Fig. 2 eine andere Schrägsicht auf eine Trägerplatte mit übersichtlichkeitshalber nur teilweise angedeuteten - Bohrungen, Fig. 3 den Schnitt nach Linie III-III in Fig. 2 in vergrösserter Wiedergabe, Fig. 4 den Längsschnitt durch einen Kontaktstift in - gegenüber Fig. 2, 3 - vergrösserter Darstellung, Fig. 5 einen Teil eines Kontaktstiftes anderer Ausführung, Fig. 6 und 7 Ansichten weiterer Ausführungsformen des Kontaktstiftes - jeweils mit zugeordneter schematischer Draulsicht-,- Fig. 8 einen anderen Kontaktstift. The invention is explained by the following description of preferred exemplary embodiments and with reference to the drawing; this shows in: 1 shows an oblique view of a dismantled carrier plate of a test device, FIG. 2 shows another oblique view of a carrier plate with only partially indicated holes for the sake of clarity, 3 shows the section along line III-III in FIG. 2 in an enlarged representation, 4 shows the longitudinal section through a contact pin in an enlarged illustration compared to FIGS. 2, 3, 5 shows a part of a contact pin of a different design, 6 and 7 are views of further embodiments of the contact pin - each with an associated schematic top view -, - 8 shows another contact pin. Eine Trägerplatte A für ein - nicht dargestelltes - elektronisches Prüfgerät ist aus mehreren Einzelplatten la bis 1c aus glasfaserverstärktem Kunststoff zusammengesetzt. Letztere sind mittels an zwei schmalen Plattenseiten 4, 5 ausgeformten Federn 6 in - an den verbleibenden Platten-Schmalseiten 7, 8 vorgesehene - Nuten 9 der jeweils benachbarten Einzelplatte 1 eingeschoben und von einem Spannrahmen 10 zusammengehalten. Die Einzelplatten 1 weisen rasterartig angeordnete Bohrungen 11 auf - beispielsweise des Durchmessers x von 3 mm bei einem Rastermass y von 5,08 mm - die in Fig. 2 teilweise angedeutet sind und die Federn 6 durchsetzen (s. Fig. 3). A carrier plate A for an electronic test device - not shown - is composed of several individual plates la to 1c made of glass fiber reinforced plastic. The latter are inserted into grooves 9 of the respective adjacent individual plate 1 by means of tongues 6 formed on two narrow plate sides 4, 5 - provided on the remaining narrow plate sides 7, 8 and held together by a clamping frame 10. The individual plates 1 have holes 11 arranged in a grid-like manner - for example with a diameter x of 3 mm with a grid dimension y of 5.08 mm - which are partially indicated in FIG. 2 and penetrate the springs 6 (see FIG. 3). In diese Bohrungen 11 werden gefederte Kontaktstifte B eingeführt, die mit Kontakten nicht erkennbarer Vielfachsteckerleisten des Spannrahmens 10 durch Verdrahtungen zu verbinden sind. Die Kontaktstifte sind Miniatur-Präzisionswerkzeuge mit exakter Führung der beweglichen Teile sowie durch Edelmetallbeschichtung korrosionsgeschützt; ihre Aussenflächen sind vergoldet. Sie können durch das enge Bohrungsraster y in nahezu beliebiger Konfiguration von der Trägerplatte A aufgenommen werden. Spring-loaded contact pins B are inserted into these bores 11 and are to be connected to contacts of non-recognizable multiple connector strips of the clamping frame 10 by wiring. The contact pins are miniature precision tools with precise guidance of the moving parts and protected against corrosion by a precious metal coating; their outer surfaces are gold-plated. Thanks to the narrow hole pattern y, they can be accommodated in almost any configuration by the carrier plate A. Der Hohlschaft 14 des in Fig. 4 wiedergegebenen Kontaktstiftes B ist einenends mit einem Anschlagkragen 15 zum Festlegen an einer Trägerplatte A und andernends mit einem festsitzenden Verschlussstopfen 13 versehen, gegen den sich eine in das Schaftinnere 17 eingeführte Schraubenfeder 18 abstützt. In sie greift der Führungsbolzen 19 eines verschieblich im Hohlschaft 14 lagernden Stabes 20 ein, dessen in ausgeschobenem Zustand freie Länge n (Fig. 6) im gewählten Beispiel 10,5 mm beträgt. Der Stab 20 liegt mit seinem radial erweiterten Gleitstück 21 der Innenwandung 22 des Hohlschaftes 14 an. The hollow shaft 14 of the contact pin B shown in FIG. 4 is provided at one end with a stop collar 15 for securing to a carrier plate A and at the other end with a tightly fitting plug 13 against which a helical spring 18 inserted into the shaft interior 17 is supported. The guide pin 19 of a rod 20 which is displaceably supported in the hollow shaft 14 and whose free length n (FIG. 6) in the selected example is 10.5 mm in the extended state engages in it. The rod 20 rests with its radially expanded slider 21 on the inner wall 22 of the hollow shaft 14. Der Kontaktkopf 23 ist - unter Bildung eines seitlichen Randes 24 - mit einer konischen Vertiefung 25 versehen, während der Kontaktkopf 26 in Fig. 5 als Spitze ausgebildet ist. The contact head 23 is provided with a conical recess 25, with the formation of a lateral edge 24, while the contact head 26 in FIG. 5 is designed as a tip. Der Kontaktstift B der Fig. 6 weist an seinem dem kronenartig mit vier Spitzen 27 (s. die in der Fig. 6 seitlich dargestellte Draufsicht) versehenen Kontaktkopf 28 fernliegenden Ende einen Vierkantstab 16 auf, an den die Verdrahtung einer nicht gezeigten Messstation ausgeschlossen werden kann. The contact pin B of FIG. 6 has at its end remote from the contact head 28, which is provided with four tips 27 in the manner of a crown (see the top view shown on the side in FIG. 6), a square rod 16 to which the wiring of a measuring station, not shown, can be excluded . Die Gesamtlänge m des Kontaktstifts B beträgt hier 40 mm, die Kronenhöhe p 4 mm. The total length m of the contact pin B is 40 mm here, the crown height p 4 mm. Beim Ausführungsbeispiel der Fig. 7 endet der Stab 20 in einem Kopf 29 mit drei Radialkämmen 30 sowie in Fig. 8 in einem Kalottenkopf 31. In the exemplary embodiment in FIG. 7, the rod 20 ends in a head 29 with three radial ridges 30 and in FIG. 8 in a spherical head 31. PATENTANSPRUCH PATENT CLAIM Kontaktstift (B) für eine Vorrichtung zum Prüfen elektronischer Bauteile, insbesondere gedruckter Schaltungen, auf welche der auf einer Trägerplatte (A) der Prüfvorrichtung zu ruhen bestimmte und einenends mit einer Messstation durch eine Verdrahtung zu verbindende Kontaktstift mit seinem anderen Ende etwa punkt- oder linienförmig aufsetzbar ist gekennzeichnet durch einen Hohlschaft (14) und zumindest einen in diesem lagernden Kraftspeicher (18) sowie einen von diesem berührten und axial im Hohlschaft (14) verschieblichen Stab (20), dessen aus dem Hohlschaft ragendes freies Ende einen gegenüber dem Stab erweiterten Kontaktkopf (23, 28, 29) trägt oder als Spitze (26, 31) ausgebildet ist. Contact pin (B) for a device for testing electronic components, in particular printed circuits, on which the contact pin intended to rest on a carrier plate (A) of the test device and to be connected at one end to a measuring station by wiring with its other end is roughly punctiform or linear can be put on is characterized by a hollow shaft (14) and at least one force storage device (18) located in this, as well as a rod (20) which is in contact with it and axially displaceable in the hollow shaft (14), the free end of which protruding from the hollow shaft has a contact head which is wider than the rod (23, 28, 29) or is designed as a tip (26, 31). UNTERANSPRÜCHE 1. Kontaktstift nach dem Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Stab (20) mit einem radial erweiterten Gleitstück (21) zur Führung im Hohlschaft (14) dessen Innenwandung (22) anliegt. SUBCLAIMS 1. Contact pin according to claim, characterized in that the rod (20) rests with a radially widened slider (21) for guidance in the hollow shaft (14), the inner wall (22) of which. 2. Kontaktstift nach dem Patentanspruch. dadurch gekennzeichnet, dass der Stab (20) an seinem im Hohlschaft (14) befindlichen Ende einen Endbolzen (19) aufweist, welcher in den als Schraubenfeder (18) gestalteten Kraftspeicher einragt, wobei sich die Schraubenfeder gegebenenfalls andernends gegen einen fest in den Hohlschaft eingefügten Axialarm (13, 16) abstützt. 2. Contact pin according to the claim. characterized in that the rod (20) at its end located in the hollow shaft (14) has an end bolt (19) which protrudes into the force storage device designed as a helical spring (18), the helical spring possibly being inserted into the hollow shaft at the other end Axial arm (13, 16) is supported. 3. Kontaktstift nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der fest in den Hohlschaft (14) eingefügte Axialarm (13, 16) als Befestigungsglied für die Verdrahtung ausgebildet ist. 3. Contact pin according to dependent claim 2, characterized in that the axial arm (13, 16) firmly inserted into the hollow shaft (14) is designed as a fastening member for the wiring. 4. Kontaktstift nach Unteranspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der im Hohlschaft (14) sitzende Axialarm (16) als Vierkantstab ausgebildet ist. 4. Contact pin according to dependent claim 3, characterized in that the axial arm (16) seated in the hollow shaft (14) is designed as a square bar. 5. Kontaktstift nach dem Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Kontaktkopf des im Hohlschaft (14) verschieblichen Stabes (20) als mehrfach gezackte Krone (28) mit zylindrischer Aussenwandung ausgebildet ist. 5. Contact pin according to claim, characterized in that the contact head of the rod (20) displaceable in the hollow shaft (14) is designed as a multi-serrated crown (28) with a cylindrical outer wall. 6. Kontaktstift nach dem Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass der Kontaktkopf (29 oder 23) des im Hohlschaft (14) verschieblichen Stabes (20) radiale, nach aussen geneigte Kämme (30) aufweist oder als zylindrischer Block mit stirnseitiger Vertiefung (25) ausgebildet ist. 6. Contact pin according to claim, characterized in that the contact head (29 or 23) of the rod (20) displaceable in the hollow shaft (14) has radial, outwardly inclined combs (30) or is designed as a cylindrical block with an end recess (25) is. 7. Kontaktstift nach dem Patentanspruch oder einem der Unteransprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Hohlschaft (14) an dem den Stab (20) aufnehmenden Ende einen radial abstehenden Kragen (15) als Anschlag für die Oberfläche der Trägerplatte (A) aufweist. 7. Contact pin according to claim or one of the dependent claims 1 to 6, characterized in that the hollow shaft (14) at the end receiving the rod (20) has a radially protruding collar (15) as a stop for the surface of the carrier plate (A) . 8. Kontaktstift nach dem Patentanspruch und Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass sowohl der Hohlschaft (14) und der Stab (20) als auch die Schraubenfeder (18) mit Gold beschichtet sind. 8. Contact pin according to claim and dependent claim 2, characterized in that both the hollow shaft (14) and the rod (20) and the helical spring (18) are coated with gold. 9. Kontaktstift nach Unteranspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Schraubenfeder (18) zwischen zwei hartvergoldeten Flächen angeordnet ist. 9. Contact pin according to dependent claim 8, characterized in that the helical spring (18) is arranged between two hard gold-plated surfaces.
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