[go: up one dir, main page]

BG112669A - Offset-compensated hall effect sensor - Google Patents

Offset-compensated hall effect sensor Download PDF

Info

Publication number
BG112669A
BG112669A BG112669A BG11266918A BG112669A BG 112669 A BG112669 A BG 112669A BG 112669 A BG112669 A BG 112669A BG 11266918 A BG11266918 A BG 11266918A BG 112669 A BG112669 A BG 112669A
Authority
BG
Bulgaria
Prior art keywords
offset
sensor
hall
plane
magnetic field
Prior art date
Application number
BG112669A
Other languages
Bulgarian (bg)
Other versions
BG67187B1 (en
Inventor
Август ИВАНОВ
Вълчева Лозанова Сия
Чавдар РУМЕНИН
Станоев Руменин Чавдар
Иван Колев
Йорданов Иванов Август
Сия ЛОЗАНОВА
Цветков Колев Иван
Original Assignee
Институт По Роботика - Бан
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Институт По Роботика - Бан filed Critical Институт По Роботика - Бан
Priority to BG112669A priority Critical patent/BG67187B1/en
Publication of BG112669A publication Critical patent/BG112669A/en
Publication of BG67187B1 publication Critical patent/BG67187B1/en

Links

Landscapes

  • Measuring Magnetic Variables (AREA)
  • Hall/Mr Elements (AREA)

Abstract

The offset-compensated Hall effect sensor comprises a semiconductor wafer (1) with n-type hopping conduction. On the one side of wafer is formed a Hall effect sensor (2), as on two of its opposite sides there is one ohmic power contact (3 and 4), and on two other opposite sides, located at 90o to those with the power contacts (3 and 4) - one ohmic measuring contact (5 and 6). The contacts (3 and 4) are connected to the two terminals of the current source (7), as the measured magnetic field (9) is perpendicular to the plane of the wafer (1). Contacts (5 and 6) are the output (8) of the Hall effect sensor with compensated offset. There is also a coil (10) with a small number of windings formed on the plane of the wafer (1) and completely covering the sensor (2), as generated by it magnetic field (11) is perpendicular to the plane of the sensor (2). In series through a switch (12) and through an adjustable resistor (13) the coil (10) is connected to the terminals of the current source (7).

Description

СЕНЗОР НА ХОЛ С КОМПЕНСИРАН ОФСЕТLIVING ROOM SENSOR WITH COMPENSATED OFFSET

ОБЛАСТ НА ТЕХНИКАТАFIELD OF THE INVENTION

Изобретението се отнася до сензор на Хол с компенсиран офсет, приложимо в областта на роботиката и мехатрониката; контролноизмервателната технология; слабополевата магнитометрия; навигацията; безконтактната автоматика; 2D и 3D позициониране на обекти в равнината и пространството; енергетиката; автомобилната промишленост в това число електромобилостроенето; дистанционното измерване на ъглови и линейни премествания; микро- и нано-електрониката; биомедицинските изследвания; военното дело и сигурността включително подводни, наземни и въздушни системи за наблюдение и превенция, контратероризма и др.The invention relates to a Hall sensor with compensated offset, applicable in the field of robotics and mechatronics; control and measurement technology; low-field magnetometry; navigation; contactless automation; 2D and 3D positioning of objects in the plane and space; energy; the automotive industry, including the electric car industry; remote measurement of angular and linear displacements; micro- and nano-electronics; biomedical research; military and security, including underwater, ground and air surveillance and prevention systems, counter-terrorism, etc.

ПРЕДШЕСТВАЩО СЪСТОЯНИЕ НА ТЕХНИКАТАBACKGROUND OF THE INVENTION

Известен е сензор на Хол с компенсиран (нулиран) офсет (паразитно изходно напрежение в отсъствие на измерваното магнитно поле), съдържащ полупроводников сензор на Хол с п-тип примесна проводимост и с правилна симетрична форма (квадратна, ромбоидна, кръстовидна, шестогранна, октагонна и др.). Върху две срещуположни страни на сензора са формирани по един омичен захранващ контакт, а върху други две срещуположни страни, разположенини на 90° спрямо страните със захранващи контакти - по един омичен измервателен контакт. Захранващите контакти са свързани с двата извода на токоизточник, а измервателните са съединени с входа на електронен блок, изходът на който е изход на сензора като измерваното магнитно поле е перпендикулярно на равнината на сензора. Електронният блок или чрез статична схемна компенсация преди измервателната процедура, използваща множество резистори, или динамична компенсация чрез ротация с фиксирана честота на захранващия ток в процеса на измерването с едновременна последователна промяна ролята на захранващите с измервателните контакти (токов спининг), запазвайки разположението им на 90°, осъществява компенсация на офсета на изхода, [1-8].A Hall sensor with compensated (zeroed) offset (parasitic output voltage in the absence of the measured magnetic field) is known, containing a semiconductor Hall sensor with p-type impurity conductivity and regular symmetrical shape (square, rhomboid, cruciform, hexagonal, octagonal and etc.). One ohmic supply contact is formed on two opposite sides of the sensor, and one ohmic measuring contact is formed on two other opposite sides, located at 90 ° to the sides with power contacts. The supply contacts are connected to the two terminals of the current source, and the measuring ones are connected to the input of an electronic unit, the output of which is the output of the sensor and the measured magnetic field is perpendicular to the plane of the sensor. The electronic unit either by static circuit compensation before the measuring procedure using multiple resistors, or dynamic compensation by rotation with a fixed frequency of the supply current in the measurement process with simultaneous sequential change of the role of the supply contacts (current spinning), keeping their location at 90 °, compensates the output offset, [1-8].

Недостатък на този сензор на Хол с компенсиран офсет е често възникващата метрологична грешка на изхода поради появата на офсет от флуктуации на индивидуалните характеристики на сензора на Хол и/или електронните компоненти на схемите от температурата на средата или процесите на стареене, изизскваща допълнително прецизно изменение на стойностите на резисторите при статичната компенсацията, която процедура затруднява експлоатацията на сензора на Хол.A disadvantage of this Hall offset compensated sensor is the often occurring metrological error of the output due to the occurrence of offset fluctuations in the individual characteristics of the Hall sensor and / or electronic components of the circuits of the ambient temperature or aging processes, requiring additional precise change of the values of the resistors in the static compensation, which procedure complicates the operation of the Hall sensor.

Недостатък е също твърде усложнената схемотехника, необходима за динамичната компенсация на офсета, чиято комплицираност е несъразмерна както спрямо конструкцията и технологията на реализация на самия сензор на Хол, така и на принципа му на функциониране.Another disadvantage is the very complicated circuitry required for the dynamic compensation of the offset, the complexity of which is disproportionate both to the design and technology of the Hall sensor itself, and to its principle of operation.

ТЕХНИЧЕСКА СЪЩНОСТTECHNICAL ESSENCE

Задача на изобретението е да се създаде сензор на Хол с компенсиран офсет със съществено редуцирана метрологична грешка и опростена схемотехника за компенсацията на офсета.The object of the invention is to provide a Hall sensor with compensated offset with significantly reduced metrological error and simplified circuitry for offset compensation.

Тази задача се решава със сензор на Хол с компенсиран офсет, съдържащ полупроводникова подложка с п-тип примесна проводимост. Върху едната й страна е формиран сензор на Хол като на две от срещуположните му страни има по един омичен захранващ контакт, а върху други две срещуположни страни, разположенини на 90° спрямо тези със захранващите контакти - по един омичен измервателен контакт.This task is solved with a Hall sensor with compensated offset, containing a semiconductor substrate with p-type impurity conductivity. A Hall sensor is formed on one side, with one ohmic supply contact on two of its opposite sides, and one ohmic measuring contact on two other opposite sides, located at 90 ° to those with the supply contacts.

Захранващите контакти са свързани с двата извода на токоизточник, а измервателните са изходът на сензора на Хол с компенсиран офсет като измерваното магнитно поле е перпендикулярно на равнината на подложката. Има още бобина с малък брой навивки, формирана технологично върху равнината на подложката и обхващаща изцяло сензора като генерираното от нея магнитно поле е перпендикулярно на равнината на сензора. Последователно през комутатор и регулируем резистор бобината е свързана с изводите на токоизточника.The supply contacts are connected to the two terminals of the current source, and the measuring ones are the output of the Hall sensor with compensated offset as the measured magnetic field is perpendicular to the plane of the substrate. There is also a coil with a small number of turns, technologically formed on the plane of the substrate and completely covering the sensor as the magnetic field generated by it is perpendicular to the plane of the sensor. The coil is connected in series through a switch and an adjustable resistor to the terminals of the current source.

Предимство на изобретението е съществено редуцираната метрологична грешка от евентуален офсет, свързан с флукуации на параметрите и изменение на температурата, осъществена чрез собственото магнитно поле на бобината, генерирано от тока през нея, който може да се управлява подходящо по стойност и посока от резистора и комутатора в схемата, за да остава офсетът компенсиран продължително време.An advantage of the invention is the substantially reduced metrological error of possible offset associated with parameter fluctuations and temperature changes, realized by the coil's own magnetic field generated by the current through it, which can be appropriately controlled by the value and direction of the resistor and switch in the circuit to keep the offset compensated for a long time.

Предимство е също силно опростената конструкция, в която отсъства електронен блок, осъществяващ статична или динамична компенсация на офсета чрез токов спининг.Another advantage is the highly simplified design, in which there is no electronic unit that performs static or dynamic compensation of the offset by current spinning.

Предимство е още универсалността на решението за компенсация на офсета в сензорите на Хол, тъй като отпада изискването за правилна симетрична форма на структурите на Хол, ограничаващо до сега динамичната компенсация на офсета, например в най-разпространения тип сензори на Хол с правоъгълна форма както и такива от тип на Ван дер Пау.Another advantage is the universality of the solution for offset compensation in Hall sensors, as the requirement for correct symmetrical shape of Hall structures is eliminated, limiting the dynamic offset compensation so far, for example in the most common type of Hall sensors with rectangular shape and those of the Van der Pau type.

ОПИСАНИЕ НА ПРИЛОЖЕНИТЕ ФИГУРИDESCRIPTION OF THE ATTACHED FIGURES

По-подробно изобретението се пояснява с едно негово примерно изпълнение, дадено на приложената Фигура 1.The invention is illustrated in more detail by an exemplary embodiment thereof, given in the attached Figure 1.

ПРИМЕРИ ЗА ИЗПЪЛНЕНИЕEXAMPLES OF IMPLEMENTATION

Сензорът на Хол с компенсиран офсет съдържа полупроводникова подложка 1 с лг-тип примесна проводимост. Върху еднатд. й страна е формиран сензор на Хол 2 като на две от срещуположните му страни има по един омичен захранващ контакт 3 и 4, а върху други две срещуположни страни, разположенини на 90° спрямо тези със захранващите контакти 3 и 4 - по един омичен измервателен контакт 5 и 6. Захранващите контакти 3 и 4 са свързани с двата извода на токоизточник 7, а измервателните 5 и 6 са изходът 8 на сензора на Хол с компенсиран офсет като измерваното магнитно поле 9 е перпендикулярно на равнината на подложката 1. Има още бобина 10 с малък брой навивки, формирана технологично върху равнината на подложката 1 и обхващаща изцяло сензора 2 като генерираното от нея магнитно поле lie перпендикулярно на равнината на сензора 2. Последователно през комутатор 12 и регулируем резистор 13 бобината 10 е свързана с изводите на токоизточника 7.The Hall offset-compensated Hall sensor comprises a semiconductor substrate 1 with an Lg-type impurity conductivity. On one. A Hall 2 sensor is formed on its side, with an ohmic supply contact 3 and 4 on two of its opposite sides, and one ohmic measuring contact on two other opposite sides, located at 90 ° to those with the supply contacts 3 and 4. 5 and 6. The supply contacts 3 and 4 are connected to the two terminals of the current source 7, and the measuring 5 and 6 are the output 8 of the Hall sensor with compensated offset as the measured magnetic field 9 is perpendicular to the plane of the substrate 1. There is another coil 10 with a small number of turns formed technologically on the plane of the substrate 1 and completely enclosing the sensor 2 as the magnetic field generated by it lies perpendicular to the plane of the sensor 2. Sequentially through switch 12 and adjustable resistor 13 the coil 10 is connected to the terminals of the current source 7.

Действието на сензора на Хол е компенсиран офсет, съгласно изобретението, е следното. При свързване на захранващите контакти 3 и 4 с токоизточника 7, в полупроводниковия сензор 2 с п-тип проводимост протича захранващ ток /3 4 от електрони (за илюстрация на Фигура 1 е показан квадратен елемент на Хол 2). Независимо от геометричната форма на сензора 2 - симетрична или произволна, върху изходните контакти 5 и 6, разположени на 90° спрямо захранващите 3 и 4 в отсъствие на магнитно поле В 9 практически винаги възниква диференциално паразитно напрежение ^5,0(^ = θ) θ или офсет. За коректна метрология такъв паразитен сигнал следва да отсъства, т.е. офсетът следва да бъде компенсиран (нулиран) V56(B = 0) = 0. Произходът му е както от геометричната асиметрия на изходните контакти 5 и 6 спрямо ос на симетрия, също от редица вътрешни за полупроводниковата структура 2 фактори, свързани с механични напрежения в обема и/или повърхността, технологични несъвършенства на полупроводника, дефекти в кристалната му решетка, градиент на легиращата примес и др., или от стареене основно на електронните компоненти в схемата - всички генериращи паразитното електрично изходно напрежение в отсъствие на поле В 9, В = 0. Тези почти непроменящи се с времето аномалии до сега се неутрализираха схемно както чрез статична, така и динамична компенсация на офсета, или и двете едновременно. Съществуват обаче други фактори, които са в динамика температурата Т на околната среда и неконтролируемите случайни флуктуации на параметрите на сензора 2 и на компонентите. При пълно компенсиране на офсета за дадена температура То, ако тя се измени с няколко градуса или при възникване на флуктуации налага се преустановяване на измерването и отново компенсиране на офсета. Следва допълнителна прецизна настройка на резисторната група при статичната процедура или промяна в честотата на ротация за динамичната. Отстраняването на грешките в измерването на магнитното поле В 9 изисква допълнителни усложняваши процедури.The operation of the Hall sensor offset offset according to the invention is as follows. When the supply contacts 3 and 4 are connected to the current source 7, a supply current / 3 4 of electrons flows in the semiconductor sensor 2 with n-type conductivity (for illustration of Figure 1 a square element of Hall 2 is shown). Regardless of the geometric shape of the sensor 2 - symmetrical or arbitrary, on the output contacts 5 and 6, located at 90 ° to the supply 3 and 4 in the absence of magnetic field B 9 there is almost always a differential parasitic voltage ^ 5,0 (^ = θ) θ or offset. For correct metrology such a parasitic signal should be absent, ie. the offset should be compensated (reset) V 56 (B = 0) = 0. Its origin is both from the geometric asymmetry of the output contacts 5 and 6 relative to the axis of symmetry, also from a number of internal for the semiconductor structure 2 factors related to mechanical stresses in the volume and / or surface, technological imperfections of the semiconductor, defects in its crystal lattice, gradient of the alloying impurity, etc., or from aging mainly of the electronic components in the circuit - all generating the parasitic electrical output voltage in the absence of field B 9, B = 0. These almost unchanged over time anomalies have so far been neutralized schematically by both static and dynamic offset compensation, or both. However, there are other factors that are in the dynamics of the ambient temperature T and the uncontrollable random fluctuations of the parameters of the sensor 2 and the components. When the offset is fully compensated for a given temperature, if it changes by a few degrees or when fluctuations occur, the measurement must be stopped and the offset must be compensated again. This is followed by additional precise tuning of the resistor group during the static procedure or a change in the rotation frequency for the dynamic one. The elimination of errors in the measurement of the magnetic field B 9 requires additional complicating procedures.

Сензорният механизъм на измерване на магнитното поле В 9 след компенсиран офсет е ефектът на Хол. Измерваното магнитно поле В 9, перпендикулярно на равнината на подложката 1, води до възникване на странично отклоняваща електроните сила на Лоренц = gVdr-x където q е елементарният товар на електрона, a Vdr е средната дрейфова скорост на токоносителите в сензора 2, [1,5,6,8]. До неотдавна в теорията на ефекта на Хол се приемаше, че допълнителните електрони, концентрирани от силата Fl върху съответната (Холова) повърхност на сензора 2 от Фигура 1, например тази е контакт 5 на върха, са също неподвижни както „оголените” от същата сила FL положителни донорни йони ND+ върху срещуположната повърхност, където е контакт 6. Съгласно изследванията на Руменин, Лозанова и др. [9] е открито съществуването на магнитноуправляем повърхностен ток ΔΙ50,Β) в струкурите на Хол. Той е линейна и нечетна функция от стойността и посоката на захранващия ток Z3>4 и на магнитното поле В 9. Токът е фундаментална закономерност, доизяснаваща явлението на Хол и допринасяща за повишаване на магниточувствителността. Тя е открита в резултат на концепцията за подвижни, а не статични неравновесни токоносители (електрони), генерирани от силата на Лоренц FL върху съответната Холова страна. Съгласно добре известната класическа теория [1,5,6,8] и новата интерпретация [9], на изхода 8 на елемента на Хол 2 при постоянен захранващ ток /3;4 = const възниква метрологичното напрежение ± Ун5,б(Д)> право пропорционално на силата на магнитната индукция В 9 и със знак, определен от посоката на полето В 9.The sensor mechanism for measuring the magnetic field B 9 after compensated offset is the Hall effect. The measured magnetic field B 9, perpendicular to the plane of the substrate 1, leads to the occurrence of lateral electron deflecting Lorentz force = gVdr-x where q is the elementary electron load and Vdr is the average drift velocity of the current carriers in the sensor 2, [1, 5,6,8]. Until recently, in Hall's theory, it was assumed that the additional electrons concentrated by the force F l on the corresponding (Hall) surface of the sensor 2 of Figure 1, for example this is pin 5 at the tip, are as stationary as the "naked" ones. force F L positive donor ions N D + on the opposite surface, where there is contact 6. According to the research of Rumenin, Lozanova and others. [9] found the existence of a magnetically controlled surface current ΔΙ 50 , Β) in Hall structures. It is a linear and odd function of the value and direction of the supply current Z 3> 4 and of the magnetic field B 9. The current is a fundamental regularity, clarifying the Hall phenomenon and contributing to the increase of the magnetic sensitivity. It was discovered as a result of the concept of mobile rather than static nonequilibrium current carriers (electrons) generated by the Lorentz force F L on the respective Hall side. According to the well-known classical theory [1,5,6,8] and the new interpretation [9], at the output 8 of the Hall element 2 at constant supply current / 3; 4 = const the metrological voltage ± Ун5, б (Д)> arises. a line proportional to the strength of the magnetic induction B 9 and with a sign determined by the direction of the field B 9.

Иновативното решение предлага отстраняването на офсета да стане с въздействие, което да е със същата природа както измервания параметър В 9, т.е. пак чрез ефекта на Хол. По тази причина върху подложката 1 е формирана технологично бобина 10 с малък брой навивки, обхващаща напълно сензора 2. Тя генерира върху елемента 2 постоянно магнитно поле Во 11 с индукция и знак, които да неутрализират (нулират) паразитното офсет-напрежение V5 6(B = 0) = 0. Магнитното поле Во 11 на бобината е с радиална симетрия по отношение на навивките и силовите му линии в първо приближение пронизват вертикално равнината на сензора на Хол 2. С помощта на регулируемия резистор 13 се осъществява както режим на фиксиран ток Iw = const през бобината 10, така и възможност за прецизната му настройка. Комутаторът 12 управлява посоката на протичащия през бобината 10 ток Тю, а следователно и знака на магнитното поле Во 11 на бобината 10. По този начин се компенсира както положително, така и отрицателно офсет-напрежение VsX# = 0) # 0 на изхода 8, Фигура 1.The innovative solution proposes that the removal of the offset be done with an impact of the same nature as the measured parameter B 9, ie. again through the Hall effect. For this reason, a technological coil 10 with a small number of turns is completely formed on the substrate, completely enclosing the sensor 2. It generates a constant magnetic field B o 11 on the element 2 with induction and a sign to neutralize (reset) the parasitic offset voltage V 5 6 (B = 0) = 0. The magnetic field B o 11 of the coil is radially symmetrical with respect to the windings and its lines of force in the first approximation penetrate vertically the plane of the Hall sensor 2. With the help of the adjustable resistor 13 is realized as a mode of fixed current I w = const through the coil 10, as well as the possibility for its precise adjustment. The switch 12 controls the direction of the current Ty passing through the coil 10, and therefore the sign of the magnetic field B o 11 of the coil 10. In this way both positive and negative offset voltage VsX # = 0) # 0 at the output 8 is compensated. , Figure 1.

Неочакваният положителен ефект на новото техническо решение е, че за първи път в сензориката на магнитното поле се предлага преодоляване на един от най-сериозните принципни недостатъци офсетът да става чрез магнитно въздействие Во 11 върху сензора на Хол, което да е със същата природа както измервания параметър — полето В 9. Драстично е редуцирана метрологичната грешка и съществено е опростена схемотехниката за компенсация. Бобината 10 е с малък брой навивки, тъй като офсетът в CMOS микросензорите на Хол е не повече от 3-4 mV. Такова напрежение се генерира от магнитно поле Во 11 чрез няколко ампер-навивки и сила на тока Тю от около 2-3 mA. Разполагането вътре в бобината 10 на елемента на Хол 2 позволява магнитното й Поле Bq 11 да е перпендикулярно на равнината на сензора 2, който тя напълно обхваща.The unexpected positive effect of the new technical solution is that for the first time in the magnetic field sensors it is proposed to overcome one of the most serious fundamental shortcomings of the offset by magnetic action B o 11 on the Hall sensor, which is of the same nature as the measured parameter - field B 9. The metrological error is drastically reduced and the circuitry for compensation is significantly simplified. The coil 10 has a small number of turns, as the offset in Hall's CMOS microsensors is no more than 3-4 mV. Such a voltage is generated by a magnetic field B o 11 through several ampere windings and a current Ty of about 2-3 mA. The arrangement inside the coil 10 of the Hall element 2 allows its magnetic field Bq 11 to be perpendicular to the plane of the sensor 2, which it completely covers.

Технологично бобината 10 може да се реализира с методите на микроелектрониката, например с CMOS или BiCMOS процесите, формиращи микросензора на Хол. Важно е да се обележи, че формата на елемента 2 е без значение в новото решение, което го прави универсално. Освен симетрични структури, могат да се използват правоъгълни, конфигурации тип Ван дер Пау, кръгли и др. Достатъчно е върху елемента на Хол 2 да се въздейства с подходящо по сила и посока поле Во 11, за да се компенсира неминуемия офсет. С новото решение (бобината 10) може да се неутрализира офсетът и в други видове магниточувствителни сензори като биполярни и MOS магнитотранзистори, диференциални магнитодиоди и магниторезистори, и др.Technologically, the coil 10 can be realized by the methods of microelectronics, for example by CMOS or BiCMOS processes forming the Hall microsensor. It is important to note that the shape of element 2 is irrelevant in the new solution, which makes it universal. In addition to symmetrical structures, rectangular, van der Pau, round and other configurations can be used. It is sufficient to act on the Hall 2 element with an appropriate field and direction B o 11 in order to compensate for the inevitable offset. With the new solution (coil 10) the offset can be neutralized in other types of magnetically sensitive sensors such as bipolar and MOS magnetotransistors, differential magnetodiodes and magnetoresistors, etc.

ПРИЛОЖЕНИЕ: една фигураAPPENDIX: one figure

ЛИТЕРАТУРАLITERATURE

[1] Е. Ramsden, Hall effect sensors - Theory and application, 2nd ed., Elsevier, Netherland, 2006.[1] E. Ramsden, Hall effect sensors - Theory and application, 2 nd ed., Elsevier, Netherland, 2006.

[2] S.G. Taranov et al., Method of and apparatus for eliminating the effect of non-equipotentiality voltage on the Hall voltage, US Patent 4 037 150, 1975.[2] S.G. Taranov et al., Method of and apparatus for eliminating the effect of non-equipotentiality voltage on the Hall voltage, U.S. Patent 4,037,150, 1975.

[3] J. Raman, P. Rombouts, Circuit and method for biasing a plate-shaped sensor element of semiconductor material, European Patent EP2722682, 2013.[3] J. Raman, P. Rombouts, Circuit and method for biasing a plate-shaped sensor element of semiconductor material, European Patent EP2722682, 2013.

[4] R. Racz, S. Huber, Assembly group for current measurement, US Patent 7 375 507, 2005.[4] R. Racz, S. Huber, Assembly group for current measurement, U.S. Patent 7,375,507, 2005.

[5] R. Popovic, Hall effect devices, 2nd ed., ser. The Adam Hilger series on sensors, Bristol, IOP Publ. Ltd, 2004.[5] R. Popovic, Hall effect devices, 2 nd ed., Ser. The Adam Hilger series on sensors, Bristol, IOP Publ. Ltd, 2004.

[6] C. Roumenin, Microsensors for magnetic field, in „MEMS - a practical guide to design, analysis and application”, J.G. Korvink and O. Paul, eds, W. Andrew Publ., USA, pp. 453-521, 2006.[6] C. Roumenin, Microsensors for magnetic field, in “MEMS - a practical guide to design, analysis and application”, J.G. Korvink and O. Paul, eds, W. Andrew Publ., USA, pp. 453-521, 2006.

[7] A. Ajbl, M. Pastre, M. Kayal, A fully integrated Hall sensor microsystem for contactless current measurement, IEEE Sensors J., 13(6) (2013) 2271-2278.[7] A. Ajbl, M. Pastre, M. Kayal, A fully integrated Hall sensor microsystem for contactless current measurement, IEEE Sensors J., 13 (6) (2013) 2271-2278.

[8] P. Munter, A low-offset spinning-cunent Hall plate, Sensor and Actuators, A 22(1-3) (1990) 743-746.[8] P. Munter, A low-offset spinning-cunent Hall plate, Sensor and Actuators, A 22 (1-3) (1990) 743-746.

[9] C. Roumenin, S. Lozanova, S. Noykov, Experimental evidence of magnetically controlled surface current in Hall devices, Sensors and Actuators, A 175 (2012) 45-52.[9] C. Roumenin, S. Lozanova, S. Noykov, Experimental evidence of magnetically controlled surface current in Hall devices, Sensors and Actuators, A 175 (2012) 45-52.

Claims (1)

ПАТЕНТНИ ПРЕТЕНЦИИPATENT CLAIMS Сензор на Хол с компенсиран офсет, съдържащ полупроводникова подложка с п-тип примесна проводимост, върху едната й страна е формиран сензор на Хол като на две от срещуположните му страни има по един омичен захранващ контакт, а върху други две срещуположни страни, разположенини на 90° спрямо тези със захранващите контакти - по един омичен измервателен контакт, захранващите контакти са свързани с двата извода на токоизточник като измерваното магнитно поле е перпендикулярно на равнината на подложката, ХАРАКТЕРИЗИРАЩ СЕ с това, че измервателните контакти (5) и (6) са изходът (8) на сензора ва Хол с компенсиран офсет, има още бобина (10) с малък брой навивки, формирана технологично върху равнината на подложката (1) и обхващаща изцяло сензора (2) като генерираното от нея магнитно поле (11) е перпендикулярно на равнината на сензора (2), последователно през комутатор (12) и регулируем резистор (13) бобината (10) е свързана с изводите на токоизточника (7).Hall sensor with compensated offset, containing a semiconductor substrate with p-type impurity conductivity, on one side a Hall sensor is formed as on two of its opposite sides there is one ohmic supply contact, and on the other two opposite sides located at 90 ° compared to those with the supply contacts - one ohmic measuring contact, the supply contacts are connected to the two terminals of the current source as the measured magnetic field is perpendicular to the plane of the substrate, CHARACTERIZED in that the measuring contacts (5) and (6) are the output (8) on the Hall sensor with compensated offset, there is also a coil (10) with a small number of turns, formed technologically on the plane of the pad (1) and completely covering the sensor (2) as the magnetic field (11) generated by it is perpendicular to the plane of the sensor (2), in series through a switch (12) and an adjustable resistor (13), the coil (10) is connected to the terminals of the current source (7).
BG112669A 2018-01-24 2018-01-24 Offset-compensated hall effect sensor BG67187B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
BG112669A BG67187B1 (en) 2018-01-24 2018-01-24 Offset-compensated hall effect sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
BG112669A BG67187B1 (en) 2018-01-24 2018-01-24 Offset-compensated hall effect sensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
BG112669A true BG112669A (en) 2019-07-31
BG67187B1 BG67187B1 (en) 2020-11-16

Family

ID=74126198

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
BG112669A BG67187B1 (en) 2018-01-24 2018-01-24 Offset-compensated hall effect sensor

Country Status (1)

Country Link
BG (1) BG67187B1 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
BG67187B1 (en) 2020-11-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9945912B2 (en) Hall sensor and compensation method for offset caused by temperature distribution in hall sensor
US9841471B2 (en) Hall element
US10120041B2 (en) Magnetic field sensor
EP3203253B1 (en) Hall sensor
BG112669A (en) Offset-compensated hall effect sensor
Lee et al. Design and fabrication of micro-Hall-effect sensors
BG113793A (en) DUAL HALL MICROSENSOR
US11391558B2 (en) Integrated hall sensor device and method for measuring a magnetic field by means of an integrated hall sensor device
BG113641A (en) HALL ELEMENT
Lozanova et al. Three-contact in-plane sensitive Hall devices
Lozanova et al. Bipolar Transistor based Magnetogradiometer
Lozanova et al. A Novel In-plane-sensitive Double-Hall Device
BG113273A (en) Magnetic field microsensor element
Lozanova et al. A novel three-axis hall magnetic sensor
Lozanova et al. Magnetotransistor Sensors with Different Operation Modes
BG112532A (en) Hall effect element
BG113770A (en) SENSOR CONFIGURATION OF HALL
BG67208B1 (en) Magnetic field sensor
BG113258A (en) Magnetosensitive microsensor
BG113860A (en) Hall microsensor with resistor elements
Dowling et al. Micro-Tesla Offset in Thermally Stable AlGaN/GaN 2DEG Hall-effect Plates using Current Spinning
BG113292A (en) BIAXIAL MAGNETO SENSITIVE SENSOR CONTAINING HALL ELEMENTS
BG113877A (en) Vertical hall microsensor
BG113284A (en) Magnetosensitive device
BG112935A (en) Hall effect microsensor with an in-plane sensitivity