NO883099L - Innretning for testing av elektriske lederplater. - Google Patents

Description

Oppfinnelsen vedrører en innretning for testing av elektriske lederplater med et antall nåler som kan trykkes fjærende mot testpunkter på den lederplate som skal testes og som er forbundet med en kontrollkobling.

Slike innretninger tjener til kontaktdannelse for elektriske byggelementer på ubenyttede lederplater for å utprøve leder-banene på lederplatene. Ved de kjente innretninger er de med nåler utstyrte testpunkter anordnet i henhold til et raster med en rasterdelingsbredde på 1/10's tomme (2,54 mm). For de i den senere tid benyttede SMD-byggelementer er det nødvendig med lederplater, ved hvilke Pandflåtene eller loddeflaten for lod-detilkoblingene av SMD-byggelementene er anordnet i et mindre raster, f.eks. et raster med en delingsbredde på 1,27 mm. Hvis man bygger opp et hullrasteradapter for kontaktdannelse i ras-terdeleskritt på 1,27 mm fremkommer i forhold til et adapter med et raster på 2,54 mm, fire ganger antallet tilkoblings-punkter, og det opptrer såvel tekniske problemer som også økte kostnader.

Utgående fra denne teknikkens stand er hensikten med oppfinnelsen å tilveiebringe en innretning for testing av elektriske lederplater, ved hvilken ulempene ved fullrasteradaptere med den minste opptredende trinnbredde unngås.

Denne hensikt oppnås ifølge oppfinnelsen ved at nålene er anordnet i et prøvestykkespesifikt mønster på den, mot den lederplate som skal testes vendte side av et mellomadapter, som på den bort fra lederplaten rettede side er tilordnet et fullrasterkontaktfelt på et grunnadapter som over fjærende stifter og en ledningsføring er tilkoblbart til nålene.

Hensiktsmessige utførelser og videreutviklinger av oppfinnelsen er kjennetegnet ved de trekk som er angitt i underkravene.

I det følgende er et utførelseseksempel av oppfinnelsen nær-mere forklart under henvisning til tegningen, som viser: Fig. 1 et mellomadapter for en innretning for testing av elektriske lederplater sammen med den lederplate som skal testes og kontaktflatefeltet til et grunnadapter i innretningen,

fig. 2 en prøvestykkespesifikk omstiller for anvendelse i mellomadapteret ifølge fig. 1,

fig. 3 et oppriss av den mot lederplaten rettede overside av omstilleren ifølge fig. 2 for illustrasjon av stillingen for kontaktnålene og omstillerens kontaktstifter, og

fig. 4 fire dreieposisjoner for omstilleren for illustrasjon av forskyvningen av kontaktstiftene ved en dreining av omstilleren om 90°, 180° og 270°.

På fig. 1 ser man skjematisk oppbyggingen av innretningen for testing av elektriske lederplater, sett i et snitt langs et plan som forløper rettvinklet til lederplatens plan. Innretningen har et grunnadapter 1 som langs sin overflate 2 er utstyrt med et antall kontaktflater 3 i et kontaktflatefelt 4. Kontaktflatene 3 er anordnet i et raster med en rasterdelingsbredde på 2,54 mm. Mellom kontaktflatene befinner det seg ikke ledende mellomrom 5. Kontaktflatene 3 er via på tegningen ikke viste ledninger forbundet med en kontrollkobling som tillater testing av en på fig. 1 oventil .tegnet lederplate 6 med lodde-flater 7 og på tegningen ikke viste lederbaner, ved kontaktdannelse ved et antall testpunkter.Lederplaten 6 er på fig. 1 en ubenyttet lederplate som tilføres som prøvestykke til innretningen for testing av elektriske lederplater. På lederplaten 6 er det anordnet første testpunkter 8 med en rasterdelingsbredde på 2,54 mm samt andre testpunkter 9 og tredje testpunkter 10 som er tilordnet landflatene på SMD-byggelementer og som har en rasterdelingsbredde på 1,27 mm.

Ved den på fig. 1 viste lederplate 6 ligger hvert andre test-punkt 9 på det samme raster som de første testpunkter 8. De tredje testpunkter 10 er forskjøvet i forhold til det av de første testpunkter 8 og av de andre testpunkter 9 definerte rasternett, slik at det blir foretatt en lenger nede omtalt stillingsutligning ved hjelp av omstillere 11,12.

Omstilleren 11,12 er innsatt uttagbart i et mellomadapter 13 slik det fremgår av fig. 1, mellom lederplaten 6 og grunnadapteret 1. Mellomadapteret 13 har en opptaksramme 14 ved hjelp av hvilken det i avstand fra hverandre er fiksert en øvre kon-taktbærerflate 15 og en nedre kontaktbæreplate 16.

Mellomadapteret 13 blir ved hjelp av posisjoneringsstiften

17 som rager ut av overflaten 2 til grunnadapteret 1 sikret mot forskyvning i forhold til grunnadapteret 1 i retning mot overflateplanet 2. Dertil er det for posisjoneringsstiftene 17 i mellomadapteret 13 anordnet utsparinger 18 av hvilke en er vist på fig. 1.

Fikseringen av lederplaten 6 i forhold til mellomadapteret

13 skjer ved hjelp av fangstifter 19 av hvilke en er vist på fig. 1. Fangstiften 19 rager gjennom en fangboring 20 i leder-flaten 6. Stillingen for fangstiftene 19 og fangboringene 20

er prøvestykkespesifikk. Fangstiften 19 er ført i en fangstift-hylse 21 som ved sin øvre ende er utstyrt med en anslagsring 22 og hvis nedre ende med en fot 23. I det indre av fangstift-hylsen 21 befinner det seg en spiralfjær 24.

I den øvre kontaktbæreplate 15 og den nedre kontaktbæreplate

16 befinner det seg respektive, parvis med hverandre fluktende åpninger 29,30,42,43 for testfølernåler 25 og følerstifter 26 samt for de prøvestykkespesifikt utformede og anordnede omstillere 11,12.

Følernålene 25 er ført fjærende i følernålehylser 27 med en anslagskrave 28. De nedre ender av følernålehylsene 27 går hver over i følerstiftene 26. FølernålerhyIsene 27 med føler-nålene 25 kan lett skiftes ut, slik at i mellomadapteret 13 bare de steder er belagt med følernåler 25 hvor det skal foregå en kontaktdannelse for prøvestykket 6. De til følernålene 25 og følerstiftene 26 tilordnede boringer 29 og 30 ligger på et raster hvis rasterdelingsbredde likeledes som rasterdelingsbredden til kontaktflaten 3 i grunnadapteret 1 utgjør 2,54 mm.

På de steder hvor det på prøvestykket 6 skal bringes i kontakt med andre prøvepunkter 9 og tredje prøvepunkter 10 utenfor det grove 2,54 mm raster, f.eks. ved landflåtene på SMD-byggeelementer, er omstillerne 11,12 utstyrt med kontaktnåler 31 henholdsvis 32. Anordningen av kontaktnålene 31,32 er vist i perspektiv på fig. 2 og i et oppriss på fig. 3 og 4. Den viste anordning utgjør et spesialtilfelle for et SMD-byggeelement. Selvfølgelig kan kontaktnålen 31,32 til omstillerne 11,12 tilpasses landflåtene på vilkårlig SMD-byggeelementer. Omstillerne 11,12 tillater derved en omstilling av rasterstillingen for loddeflatene til landflatene på SMD-byggeelementene som hver er prøvestykkespesifikke for en lederplate 6, til det fast forutbestemte raster i grunnadapteret 1, selv om rasterdelings-breddene i grunnadapteret 1 og landflatene til SMD-byggelementene er forskjellige og loddeflatene for SMD-byggeelementene på lederplaten 6 ikke faller i 2,54 mm-rasteret for følernålene 25 eller i et i forhold til dette raster fast forskjøvet raster.

Omstillerne 11,12 har hver til rådighet en grunnplate 33 med

en anslagskant 34. I grunnplaten 33 er det i samsvar med rasteret til kontaktflatene 3 festet kontaktstifthylser 35 for før-ing av kontaktstiftene 36. Kontaktstiftene 36 er lagret fjærende i kontaktstifthylsene 35 og elektrisk forbundet over en ledningsføring 37 med kontaktnålehylsene 38, i hvilke kontaktnålene 31,32 er ført fjærende. Kontaktnålehylsene 38 utstrekker seg mellom en mellomplate 39 og en avslutningsplate 40. Mellom-rommene mellom avslutningsplaten 40 og mellomplaten 39 og mellomplaten 39 og grunnplaten 33 er støpt ut med en fyllmasse 41, f.eks. en polyesterharpiks.

Til opptak av omstilleren 11,12 er det i den øvre kontaktbæreplate 15 samt den nedre kontaktbæreplate 16 ved de respektive prøvestykkespesifikke steder anordnet kvadratiske vinduer 42

og 43. Sideavstanden mellom vinduene 42 utgjør ikke nødvendig-vis et antall ganger rasterbredden på kontaktstiftene 36 eller kontaktflatene 3. Av denne grunn er omformerne 11,12 oppbygget

usymetrisk med hensyn til deres midtlengdeakser, noe som best fremgår av fig. 3. Den på fig. 1 viste omstiller 12 er i forhold til den på fig. 1 viste omstiller 11 dreiet om sin i rettvinklet overflate 2 forløpende lengdeakse om 180°.

På fig. 2 ser man i et perspektivisk riss en omstiller 11 med kontaktnålene 31 som rager ut i samsvar med mønsteret for et SMD-byggeelement fra oversiden på omstilleren 11. På undersiden av omstilleren 11 ser man kontaktstiftene 36 som er anordnet i samsvar med det vanlige 2,54 mm-raster.

På fig. 3 er det vist et oppriss av stillingen for kontaktnålen 31 og kontaktstiftene 36. De 44 viste kontaktnåler 31 er tilordnet et tilsvarende antall med ledninger forbundne kontaktstifter 36. Ikke ledningsforbundede kontaktstifter 36 er ut-fylt med skravering på fig. 3.

Som man ser av fig. 3 har kontaktnålene 31 overalt den samme avstand fra sidekantene 44. Med hensyn til et på fig. 3 inn-tegnet midtpunkt 45 fremkommer såvel for sidekantene 44 som også for kontaktnålene 31 punktsymmetri.

Som man videre ser av fig. 3 er kontaktstiftenes 36 rasterfelt ikke punktsymmetrisk anordnet i forhold til midtpunktet 45

men i forhold til punktsymmetrisk anordning i retning av pilen 46 forskjøvet horisontalt og vertikalt med 0,64 mm eller 1/4

av rasterrutebredden for kontaktstiftene 36. Ved hjelp av denne forskyvning er det mulig til tross for ikke på hverandre pas-sende rastere i lederplaten 6 og grunnadapteret 1 å gjennom-føre en kontaktdannelse for testpunktene på lederplaten 6. '

For å illustrere resultatet av denne forskyvning av rasteret for kontaktstiftene 36 er på fig. 3 og 4 et hjørne 47 avkuttet for dannelse av en markering.

Går man ut fra den på fig. 3 og på fig. 4 helt til venstre viste utgangsstilling for omstilleren 11 så medfører et uttak av omstilleren 11 fra vinduene 42,43 og en med 90° om midtpunkt 45 forskjøvet gjeninnsetting av omstilleren 11, at kontaktstiftene 36 er forskjøvet i forhold til den opprinnelige stilling om en halv rasterdeling eller 1,27 mm på fig. 4 nedover..

En ytterligere dreining av omformeren 11 med en totaldreining på 180° gir den tredje, på fig. 4 viste stilling for kontakt-stif tene 36, som er forskjøvet i forhold til en opprinnelig porsjon om et halvt rasterskritt nedover og mot høyre på fig. 4. En ytterligere dreining om 90° fører til den på fig. 4 helt til høyre viste stilling, ved hvilken kontaktstiftene 36 i forhold til en opprinnelig på fig. 4 helt til venstre viste rasteranbringelse er forskjøvet om et halvt rasterskritt mot høyre .

De på fig. 4 illustrerte forskyvninger av kontaktstiftene 36 ved dreining av omstillerne 11,12 under bibeholdelse av de til kontaktnålene 31 eller 32 tilordnede rasterpunkter muliggjør en gjennomføring av utligningsforskyvninger på berørings-punktene mellom kontaktflatene 3 og de avrundede ender av kontaktstiftene 36, slik at kontaktstiftene 36 også ved ugunstig stilling for SMD-loddeflåtene eller vinduene 42,43 bestandig kan bringes i kontakt med kontaktflatene 3 uten på grunn av de respektive prøvestykkespesifikke anordninger å komme mellom kontaktflatene 3.

I stedet for den på fig. 1 viste utførelsesform ved hvilken kontaktflatene 3 er anordnet på grunnadapteret 1 og kontakt-stif tene 36 på omstillerne 11,12 er det også mulig på undersiden av omstillerne 11,12 å anordne kontaktflater, som er tilordnet kontaktstifter i grunnadapteret 1 svarende til kontaktstiftene 36. I et slikt tilfelle er fortrinnsvis også føler-nålene 25 tilordnet kontaktflater i stedet for følerstiftene 26.

Claims (11)

1. Innretning for testing av elektriske lederplater med et antall mot testpunktene på den lederplate som skal testes fjærende pressbare og med en kontrollkobling forbundne nåler, karakterisert ved at nålene (25,31,32) er anordnet i et prøvestykkespesifikt mønster på den side av et mellomadapter (13) som er vendt mot den lederplate (6) som skal testes, hvilket adapter på den bort fra lederplaten (6) vendte side er tilordnet et fullrasterkontaktfelt på et grunnadapter (1), som over fjærende stifter (26,36) og en ledningsføring (37) er tilkoblbart til nålene (25,31,32).

2. Innretning ifølge krav 1, karakterisert ved at fullrasterkontaktfeltet er et kontaktflatefelt (4) med kvadratiske kontaktflater (3) og at de fjærende stifter (26,36) er anordnet på mellomadapteret (13 ) .

3. Innretning ifølge krav 1, karakterisert ved at fullrasterkontaktfeltet er et stiftfelt av fjærende stifter og at det på mellomadapteret (13) er anordnet kvadratiske kontaktflater.

4. Innretning ifølge et av kravene 1-3, karakterisert ved at de til en første rasterdelingsbredde tilordnede nåler (25) enkeltvis er innsettbare i mellomadapteret (13), mens de til en annen rasterdelingsbredde tilordnede nåler (31,32) er anordnet gruppevis på utskiftbare omstillere (11,12).

5. Innretning ifølge krav 4, karakterisert ved at omstillerne (11,12) på den overfor nålene (31,32) liggende side har fjærende kontaktstifter (36) med rasterdelingsbredden til fullrasterkontaktfeltet for det med kontaktflate (3) utstyrte grunnadapter (1).

6. Innretning ifølge krav 4, karakterisert ved at omstillerne (11,12) på den til nålene (31,32) motsattliggende side har kontaktflater med rasterdelingsbredden til fullrasterkontaktfeltet for det med fjærende stifter utstyrte grunnadapter (1).

7. Innretning ifølge et av kravene 4-6, karakterisert ved at nålene (31,32) er anordnet punktsymmetrisk med hensyn til lengdeaksen (45) for omstillerne (11,12).

8. Innretning ifølge krav 7, karakterisert ved at rasteret til kontakt-stiften (36) eller kontaktflatene til den, overfor nålene (31,32) liggende side av omstilleren (11,12) er forskjøvet i forhold til en punktsymmetrisk anordning med.hensyn til omstil-lernes (11,12) lengdeakse i minst én rasterretning.

9. Innretning ifølge krav 8, karakterisert ved at forskyvningen foreligger i begge retninger av rasteret.

10. Innretning ifølge krav 8 eller 9, karakterisert ved at forskyvningen i forhold til en symmetrisk anordning utgjør en fjerdedel av rasterdelingsbredden til fullrasterkontaktfeltet (4) og at rasterdelingsbredden for nålene (31,32) utgjør halvdelen av rasterdelingsbredden for fullrasterkontaktfeltet (4).

11. Innretning for testing av elektriske lederplater med et antall mot testpunktene på den lederplate som skal testes med fjærvirkning pressbare og med en kontrollkobling forbundne nåler, hvor nålene (25.31,32) er anordnet i et prøvestykkespesi-fikt mønster på den, mot den lederflate (6) som skal testes vendte side av et mellomadapter (13), hvilket adapter på den bort fra lederplaten (6) vendte side er tilordnet et fullrasterkontaktfelt på et grunnadapter (1), som over fjærende stifter (26,36) og en ledningsføring (37) er tilkoblbart til nålene (25,31,32), karakterisert ved at de til en første rasterdelingsbredde tilordnede nåler (25) er innsett bare enkeltvis i mellomadapteret (13), mens de til en andre rasterdelingsbredde tilordnede nåler (31,32) er anordnet gruppevis på utskiftbare omstillere (11,12).