[go: up one dir, main page]

NL9100018A - Werkwijze en inrichting voor het meten van de temperatuur van een voorwerp, alsmede verwarmingswerkwijze. - Google Patents

Werkwijze en inrichting voor het meten van de temperatuur van een voorwerp, alsmede verwarmingswerkwijze. Download PDF

Info

Publication number
NL9100018A
NL9100018A NL9100018A NL9100018A NL9100018A NL 9100018 A NL9100018 A NL 9100018A NL 9100018 A NL9100018 A NL 9100018A NL 9100018 A NL9100018 A NL 9100018A NL 9100018 A NL9100018 A NL 9100018A
Authority
NL
Netherlands
Prior art keywords
radiation
radiation sensor
change
temperature
halogen lamps
Prior art date
Application number
NL9100018A
Other languages
English (en)
Original Assignee
Imec Inter Uni Micro Electr
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Imec Inter Uni Micro Electr filed Critical Imec Inter Uni Micro Electr
Priority to NL9100018A priority Critical patent/NL9100018A/nl
Priority to PCT/EP1992/000039 priority patent/WO1992012405A1/en
Priority to EP92901693A priority patent/EP0519033A1/en
Priority to KR1019920702168A priority patent/KR920704108A/ko
Priority to JP92502086A priority patent/JPH05507356A/ja
Publication of NL9100018A publication Critical patent/NL9100018A/nl

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0003Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiant heat transfer of samples, e.g. emittance meter
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/0003Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiant heat transfer of samples, e.g. emittance meter
    • G01J5/0007Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry for sensing the radiant heat transfer of samples, e.g. emittance meter of wafers or semiconductor substrates, e.g. using Rapid Thermal Processing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0801Means for wavelength selection or discrimination
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0803Arrangements for time-dependent attenuation of radiation signals
    • G01J5/0804Shutters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/02Constructional details
    • G01J5/08Optical arrangements
    • G01J5/0896Optical arrangements using a light source, e.g. for illuminating a surface
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J5/80Calibration
    • G01J5/802Calibration by correcting for emissivity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J5/00Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
    • G01J2005/0074Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry having separate detection of emissivity

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Radiation Pyrometers (AREA)

Description

WERKWIJZE EN INRICHTING VOOR HET METEN VAN DE TEMPERATUUR VAN EEN VOORWERP, ALSMEDE VERWARMINGSWERKWIJZE.
Vooral bij het verwarmen van halfgeleider plakken hetgeen in zogeheten RTP (Rapid Thermal Processing) apparatuur kortstondig geschiedt, is het moeilijk nauwkeurig de temperatuur van een plak te bepalen, vanwege omgevingsinvloeden en doorlaatbaarheid van de plak.
Eerdere octrooiaanvragen van aanvraagster op dit technisch gebied betreffen de Nederlandse octrooiaanvrage 89.00003 en daarmee corresponderende Europese en Amerikaanse octrooiaanvragen, alsmede de niet-voor-gepubliceerde Nederlandse octrooiaanvrage 90.01200.
Voor een exacte temperatuurmeting is het noodzakelijk de juiste correlatie tussen uitgezonden straling en temperatuur te kennen. Belangrijke problemen hierbij zijn de volgende : - de door een voorwerp uitgestraalde straling is altijd kleiner dan de door een 'zwart' voorwerp uitgezonden straling volgens de wet van Boltzman. Voor bestaande voorwerpen heeft de emissiviteit eint een waarde tussen 0 en 1; - vanwege reflecties (en transmissies) in de omgeving is een in de praktijk gemeten emissiviteit altijd groter dan bovengenoemde eint; - indien een voorwerp gelijktijdig wordt verwarmd, beïnvloedt de warmtestraling van een warmtebron de metirig.
De onderhavige uitvinding verschaft een werkwijze voor het meten van de temperatuur van een voorwerp dat door middel van één of meer stralingsbron-nen wordt verwarmd, waarbij door het voorwerp afgegeven straling in ten minste één stralingsopnemer wordt opge vangen, en waarbij de stralingsbronnen ten minste gedeeltelijk in sterkte worden veranderd met een vooraf bepaalde cyclische veranderingssnelheid en waarbij aan de hand van de door de stralingsopnemer gemeten verandering van de stralingswaarde, de mate van compensatie voor de reflectiviteit en/of emissiviteit van het voorwerp wordt bepaald.
Voorts verschaft de onderhavige uitvinding een inrichting voor het meten van de temperatuur van een voorwerp, omvattende : - één of meer stralingsbronnen voor het verwarmen van het voorwerp; - een stralingsopnemer voor het opvangen van het door het voorwerp afgegeven straling; - modulatiemiddelen voor het met een vooraf bepaalde cyclische veranderingssnelheid veranderen van de sterkte van de stralingsbronnen; en - compensatiemiddelen voor het aan de hand van de door de stralingsopnemer gemeten stralingswaarde bepalen van de reflectiviteit en/of emissiviteit van het voorwerp.
Tenslotte verschaft de onderhavige uitvinding een werkwijze voor het verwarmen van een voorwerp, waarbij de compensatiemaatregelen uit bovengenoemde werkwijze en inrichting worden getroffen.
Verdere kenmerken, details en voordelen van de onderhavige uitvinding zullen duidelijk worden aan de hand van een beschrijving van een voorkeursuitvoeringsvorm daarvan, met verwijzing naar de bijgevoegde tekening, waarin tonen : fig. 1 een schematisch aanzicht in doorsnede van een voorkeursuitvoeringvorm van de onderhavige uitvinding; fig. 2 een aanzicht over lijn II-II uit fig.
i; fig. 3 en 4 grafieken ter verduidelijking van de voorkeursuitvoeringsvorm van de onderhavige uitvinding.
In een schematisch aangegeven RTP-inrichting 1 (fig.l, 2) wordt een voorwerp W, bijvoorbeeld een plak Si-materiaal, al dan niet voorzien van isolerende gedeeltes gebracht, ter verwarming door halogeen-lampen 2, 3, die respectievelijk in een bovendeel 4 en onderste deel 5 zijn aangebracht. Voorts is een stralingsopnemer 6 voorzien van een lens 7, door een schematisch aangegeven opening 8 door de halogeen-lampen 3 en naar de plak W gericht. Met behulp van de relatief sterke lens 7 wordt een grove openingshoek Ω verkregen, opdat zoals met gebroken lijn in fig. 1 is aangegeven, zowel tegen plak W gereflecteerde stralen van halogeen-lampen 3 alsmede door de plak W doorgelaten straling van de halo-geen-lamp 2 in een voldoende grote ruimtehoek kunnen worden opgevangen.
Wanneer de halogeen-lamp-intensiteit I volgens de tijd t worden gevarieerd zoals schematisch in fig. 3 getoond, waarbij het gemiddelde aan de lampen toegevoerde vermogen 9kW bedraagt, terwijl met een frequentie van 4 Hz de intensiteit wordt gevarieerd en de minimale intensiteit ongeveer 50% van de maximale bedraagt, worden dergelijke fluctuaties tevens waargenomen door de stralingsopnemer of pyrometer 6.
Dit blijkt uit fig. 4, waarin een door een thermokoppel gemeten kromme C1 de temperatuur T als functie van de tijd t aangeeft, wanneer aan de lampen 2 uit fig. 1 het vermogen wordt aangelegd, zoals getoond in fig. 3. De kromme C2 geeft het door de pyrometer 6 opgevangen signaal 6 weer, waarbij de pyrometer gevoelig is voor straling rond een golflengte van 1,7 μια. Duidelijk is te zien dat na ongeveer 20 sec. de fluctuaties in het signaal C2 geheel zijn verdwenen, hetgeen betekent dat bij een temperatuur van ongeveer 600°C van de plak W (zie kromme C.,), de plak ondoorlatend is geworden voor de door de halogeen-lamp 2 afgegeven infra-rood straling, hetgeen overeenstemt met theoretisch gevonden waarden daarvoor. Het moge duidelijk zijn dat aan de hand van de grootte van de fluctuaties in het signaal van de pyrometer C2 de transmissiviteit van het voorwerp W bij elke temperatuur bepaald kan worden.
Op dezelfde wijze kan met behulp van variaties in de door de lampen 3 afgegeven intensiteit de reflectiviteit van het voorwerp W worden bepaald.
Wanneer bij het verwarmen met halogeen-lampen 2 en/of 3 vanaf de bovenzijde respectievelijk onderzijde van het voorwerp de intensiteit cyclisch wordt gevarieerd, kan met behulp van correlatie-technieken het uitgangssignaal van de stralingsopnemer of pyrometer 6 worden gecompenseerd voor transmissiviteit en reflectiviteit van de plak W en kan een betrouwbare temperatuur-meting van de plak worden verkregen, onafhankelijk van het materiaal daarvan, de ruwheid, etc. etc.
Indien de halogeen-lampen 2 respectievelijk 3 met onderling verschillende frequenties worden gevarieerd of gemoduleerd, kan in het uitgangssignaal van de pyrometer 6 met op zichzelf bekende correlatie-technieken afzonderlijk voor reflectiviteit danwel voor emissiviteit gecompenseerd worden.
Bij voorkeur zijn zijwanden rondom de lampen 2 en 3 reflecterend uitgevoerd opdat een zoveel mogelijk uniforme stralingsbron door de pyrometer wordt 'gezien'. Bij voorkeur is de achterwand van het bovendeel 4 van de inrichting 1 voorzien van een niet-reflecterende of zwarte laag, zoals een filter of organische bekledings-laag.
Ten einde te compenseren voor discreet karakter van de afzonderlijke halogeen-lampen, wordt voor de pyrometer 6 bij voorkeur een ruitvormig filter geplaatst, waardoor een over de openingshoek Ω uniformere verdeling van de stralingsintensiteit van de lampen 2 wordt verkregen.
t

Claims (9)

1. Werkwijze voor het meten van de temperatuur van een voorwerp dat door middel van één of meer stralingsbronnen wordt verwarmd, waarbij door het voorwerp afgegeven straling in ten minste één stralingsopne-mer wordt opgevangen, en waarbij de stralingsbronnen ten minste gedeeltelijk in sterkte worden veranderd met een vooraf bepaalde cyclische veranderingssnelheid en waarbij aan de hand van de door de stralingsopnemer gemeten verandering van de stralingswaarde, de mate van compensatie voor de reflectiviteit en/of emissiviteit van het voorwerp wordt bepaald.
2. Werkwijze volgens conclusie 1, waarbij de cyclische veranderingssnelheid 1-10 Hz bedraagt en de veranderingsmate of modulatiediepte ongeveer 50% van de gemiddelde sterkte van de stralingsbronnen bedraagt.
3. Inrichting voor het meten van de temperatuur van een voorwerp, omvattende : - één of meer stralingsbronnen voor het verwarmen van het voorwerp; - een stralingsopnemer voor het opvangen van het door het voorwerp afgegeven straling; - modulatiemiddelen voor het met een vooraf bepaalde cyclische veranderingssnelheid veranderen van de sterkte van de stralingsbronnen; en - compensatiemiddelen voor het aan de hand van de door de stralingsopnemer gemeten stralingswaarde bepalen van de reflectiviteit en/of emissiviteit van het voorwerp.
4. Inrichting volgens conclusie 3, waarbij de stralingsbron een reeks naast elkaar opgestelde, langwerpige halogeen-lampen omvat.
5. Inrichting volgens conclusie 3 of 4, waarbij de halogeen-lampen zijn ontgeven door vlakke spiegels.
6. Inrichting volgens conclusie 3, 4 of 5, waarbij voor de stralingsopnemer een lens is opgesteld voor het verkrijgen van een grote openingshoek voor de stralingsopnemer.
7. Inrichting volgens één van de conclusies 3-6, waarbij de stralingsopnemer is opgesteld achter een reeks halogeen-lampen en door een opening tussen de halogeen lampen is gericht.
8. Inrichting volgens conclusie 5, 6 of 7, waarbij een ruitvormige filter voor de stralingsopnemer is opgesteld.
9. Werkwijze voor het verwarmen van een voorwerp, waarbij de werkwijze volgens conclusie 1 of 2 en/of de inrichting volgens één van de conclusies 3-8 wordt toegepast.
NL9100018A 1991-01-08 1991-01-08 Werkwijze en inrichting voor het meten van de temperatuur van een voorwerp, alsmede verwarmingswerkwijze. NL9100018A (nl)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL9100018A NL9100018A (nl) 1991-01-08 1991-01-08 Werkwijze en inrichting voor het meten van de temperatuur van een voorwerp, alsmede verwarmingswerkwijze.
PCT/EP1992/000039 WO1992012405A1 (en) 1991-01-08 1992-01-08 Method and device for measuring the temperature of an object and heating method
EP92901693A EP0519033A1 (en) 1991-01-08 1992-01-08 Method and device for measuring the temperature of an object and heating method
KR1019920702168A KR920704108A (ko) 1991-01-08 1992-01-08 물체의 온도측정방법과 그 장치 및 가열방법
JP92502086A JPH05507356A (ja) 1991-01-08 1992-01-08 物体の温度測定方法及び装置並びに加熱方法

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL9100018A NL9100018A (nl) 1991-01-08 1991-01-08 Werkwijze en inrichting voor het meten van de temperatuur van een voorwerp, alsmede verwarmingswerkwijze.
NL9100018 1991-01-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
NL9100018A true NL9100018A (nl) 1992-08-03

Family

ID=19858700

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
NL9100018A NL9100018A (nl) 1991-01-08 1991-01-08 Werkwijze en inrichting voor het meten van de temperatuur van een voorwerp, alsmede verwarmingswerkwijze.

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP0519033A1 (nl)
JP (1) JPH05507356A (nl)
KR (1) KR920704108A (nl)
NL (1) NL9100018A (nl)
WO (1) WO1992012405A1 (nl)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9124797D0 (en) * 1991-11-22 1992-01-15 Secretary Trade Ind Brit Temperature measuring apparatus
US5444815A (en) * 1993-12-16 1995-08-22 Texas Instruments Incorporated Multi-zone lamp interference correction system
DE4414391C2 (de) * 1994-04-26 2001-02-01 Steag Rtp Systems Gmbh Verfahren für wellenvektorselektive Pyrometrie in Schnellheizsystemen
DE19534440A1 (de) * 1995-09-16 1997-03-20 Bergmann Hans Wilhelm Verfahren und Vorrichtung zur schnellen und berührungslosen Temperaturmessung an farbigen Metallen und anderen anorganischen Stoffen
JP4558411B2 (ja) * 2004-08-24 2010-10-06 富士通セミコンダクター株式会社 急速熱処理装置及び方法
KR102657953B1 (ko) * 2020-12-08 2024-04-18 (주)유우일렉트로닉스 셔터를 이용한 대상체의 온도 보정 장치, 방법 및 컴퓨터로 독출 가능한 기록 매체

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH537009A (de) * 1971-10-11 1973-05-15 Bbc Brown Boveri & Cie Verfahren zur berührungslosen Messung der Oberflächentemperatur an einem Objekt
FR2602590B1 (fr) * 1986-08-08 1989-11-10 Electricite De France Procede de mesure de la temperature d'un corps par detection optique et echauffement module
US4890245A (en) * 1986-09-22 1989-12-26 Nikon Corporation Method for measuring temperature of semiconductor substrate and apparatus therefor
US4956538A (en) * 1988-09-09 1990-09-11 Texas Instruments, Incorporated Method and apparatus for real-time wafer temperature measurement using infrared pyrometry in advanced lamp-heated rapid thermal processors
NL8900003A (nl) * 1989-01-02 1990-08-01 Imec Inter Uni Micro Electr Inrichting en werkwijze voor het behandelen van een of meer plakken materiaal.

Also Published As

Publication number Publication date
WO1992012405A1 (en) 1992-07-23
EP0519033A1 (en) 1992-12-23
JPH05507356A (ja) 1993-10-21
KR920704108A (ko) 1992-12-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5738440A (en) Combined emissivity and radiance measurement for the determination of the temperature of a radiant object
US4979134A (en) Method for measuring surface temperature of semiconductor wafer substrate, and heat-treating apparatus
US5318362A (en) Non-contact techniques for measuring temperature of radiation-heated objects
US6369363B2 (en) Method of measuring electromagnetic radiation
US6299346B1 (en) Active pyrometry with emissivity extrapolation and compensation
DE69932165D1 (de) Ein sensor zum messen einer substrattemperatur
AU2003298298A8 (en) Method and system for measuring the thermal diffusivity
US3645623A (en) Apparatus for monitoring film thickness by reflecting a light beam from the film surface
NL9100018A (nl) Werkwijze en inrichting voor het meten van de temperatuur van een voorwerp, alsmede verwarmingswerkwijze.
EP0458388B1 (en) Method and device for measuring temperature radiation using a pyrometer wherein compensation lamps are used
EP0299646B1 (en) Improved method and apparatus for sensing or determining one or more properties or the identity of a sample
ITGE970086A1 (it) Termografia ad impulso costante.
CA1289379C (fr) Procede de mesure de la temperature d'un corps par detection optique et echauffement module
US20030067956A1 (en) Temperature measuring method and apparatus
KR100721783B1 (ko) 투명 재료의 두께를 측정하기 위한 방법 및 장치
AU742889B2 (en) Method and apparatus for making absolute range measurements
NL9201155A (nl) Inrichting en werkwijze voor het verwarmen van voorwerpen waarbij de temperatuur van het voorwerp wordt gemeten.
US5641419A (en) Method and apparatus for optical temperature control
KR20010050894A (ko) 열처리 시스템에 있어서 표유광을 결정하는 시스템 및 방법
RU2162210C1 (ru) Способ определения спектральной излучательной способности (его варианты)
JPH03278524A (ja) 半導体基板加熱装置
JPH0521412B2 (nl)
JP4124389B2 (ja) 温度測定方法及び温度測定装置
JPH0548405B2 (nl)
JPS61110018A (ja) 物体の放射率および温度の測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
A1B A search report has been drawn up
BV The patent application has lapsed