[go: up one dir, main page]

MXPA01013214A - Distorsion de frecuencia para mejorar la relacion de senal de resonador a ruido. - Google Patents

Distorsion de frecuencia para mejorar la relacion de senal de resonador a ruido.

Info

Publication number
MXPA01013214A
MXPA01013214A MXPA01013214A MXPA01013214A MXPA01013214A MX PA01013214 A MXPA01013214 A MX PA01013214A MX PA01013214 A MXPA01013214 A MX PA01013214A MX PA01013214 A MXPA01013214 A MX PA01013214A MX PA01013214 A MXPA01013214 A MX PA01013214A
Authority
MX
Mexico
Prior art keywords
capacitor
detector
circuit
voltage
resonant
Prior art date
Application number
MXPA01013214A
Other languages
English (en)
Inventor
John P Dilger
Original Assignee
Fisher Controls Int
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fisher Controls Int filed Critical Fisher Controls Int
Publication of MXPA01013214A publication Critical patent/MXPA01013214A/es

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/36Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/02Analysing fluids
    • G01N29/022Fluid sensors based on microsensors, e.g. quartz crystal-microbalance [QCM], surface acoustic wave [SAW] devices, tuning forks, cantilevers, flexural plate wave [FPW] devices
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/34Generating the ultrasonic, sonic or infrasonic waves, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/36Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor
    • G01N29/42Detecting the response signal, e.g. electronic circuits specially adapted therefor by frequency filtering or by tuning to resonant frequency
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/01Indexing codes associated with the measuring variable
    • G01N2291/014Resonance or resonant frequency
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/025Change of phase or condition
    • G01N2291/0256Adsorption, desorption, surface mass change, e.g. on biosensors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/042Wave modes
    • G01N2291/0422Shear waves, transverse waves, horizontally polarised waves
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/04Wave modes and trajectories
    • G01N2291/042Wave modes
    • G01N2291/0426Bulk waves, e.g. quartz crystal microbalance, torsional waves

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Acoustics & Sound (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
  • Oscillators With Electromechanical Resonators (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

Un circuito detector para uso en la medicion de concentraciones de analito en un fluido esta comprendido de un detector BAW, un capacitor variable de voltaje conectado al detector, una entrada que suministra un voltaje cd distorsionador de polarizacion al capacitor variable de voltaje y un circuito oscilador resonante. El circuito oscilador resonante detecta la frecuencia fundamental del detector y produce una frecuencia de senal resonante. El voltaje cd distorsionador de polarizacion aplicado al capacitor variable de voltaje distorsiona la frecuencia resonante del circuito lejos del ruido no armonico.

Description

DISTORSIÓN DE FRECUENCIA PARA MEJORAR LA RELACIÓN DE SEÑAL DE RESONADOR A RUIDO REFERENCIA CRUZADA A SOLICITUD(ES) RELACIONADA(S) Ninguna.
ANTECEDENTES DE LA INVENCIÓN Los detectores químicos de onda acústica masiva (BAW) se usan para medir la concentración de componentes o analito en fluido (gases y líquidos). Esos dispositivos de onda acústica están construidos típicamente de cristales piezoeléctricos recubiertos sobre por lo menos un lado con un material que tiene una afinidad para el analito cuya concentración se va a medir. El dispositivo es colocado en la corriente de fluido que contiene el analito que se va a medir, y el analito es adsorbido o absorbido sobre la superficie recubierta. La cantidad de analito adsorbido o absorbido por el dispositivo de onda acústica incrementa la masa del dispositivo y altera las propiedades viscoelásticas en la superficie del dispositivo, amortiguando de esta manera las propiedades de onda acústica del dispositivo. Como un resultado, se altera la frecuencia a la cual resonará el dispositivo de onda. Cuando el dispositivo de onda acústica es incorporado dentro del circuito oscilador eléctrico, el cambio en la frecuencia resonante del dispositivo cambia la frecuencia de operación del oscilador. La ttÍ-Aja»» ~>- ' ¿fc '• ' «-- .. - „iáaitaJa¡.Jt¿.aiu aa? »>a^¿?jJt i. J t -l ¡ LA,. concentración del analito puede determinarse midiendo el cambio en la frecuencia de operación del circuito oscilador a través del tiempo. Esos detectores químicos están diseñados para operar en rangos específicos de condiciones ambientales, tales como temperatura (por ejemplo, 10°C hasta 50°C) y humedad (por ejemplo, 0% hasta 90% de humedad relativa) y son capaces de detectar pequeñas concentraciones y pequeños cambios de concentraciones, del analito de objetivo. Sin embargo, pequeños cambios en la concentración del analito pueden producir pequeños cambios en la frecuencia resonante del cristal. Por tanto, una pequeña concentración de analito que se mide puede alterar la frecuencia resonante nominal de un cristal de 10 MHz en aproximadamente 200 Hz. Por lo tanto, el circuito de detección debe ser capaz de detectar la frecuencia resonante del cristal con alta precisión. Sin embargo, las propiedades viscoelásticas del dispositivo pueden ser afectadas por las condiciones termodinámicas a las que se someta el dispositivo. De manera más particular, la temperatura y la humedad pueden "deteriorar" las características del cristal, ocasionando alteración permanente de las propiedades viscoelásticas del cristal del cristal. Esta alteración de las propiedades viscoelásticas afecta las características dinámicas del dispositivo, y por tanto la velocidad de resonancia en el cristal que forma el dispositivo. La alteración de las propiedades resonantes del cristal frecuentemente crea respuestas de tipo no armónico, las cuales generan ruido en la frecuencia de operación del circuito hasta un espesor de aproximadamente 300 Angstroms (Á) sobre una capa de base de cromo de 50 Á en superficies opuestas 20 y 22 del substrato 12. Una película de polímero 14 de 0.1 a 8 mieras se deposita sobre el electrodo 10 y las porciones expuestas de la superficie 20. Opcionalmente, una segunda capa del mismo material de polímero se deposita sobre el electrodo inferior 24 y la porción expuesta de la superficie 22. En cualquier caso, el material de polímero tiene una afinidad para el analito que se va a medir. El detector 18 se coloca en una corriente que contiene el analito y el analito se absorbe o adsorbe sobre la superficie recubierta. El espesor del substrato 12 junto con los electrodos 10 y 24 y las películas 14 y 16 definen una frecuencia resonante del dispositivo. Ya que una o ambas películas de polímero absorben o adsorben el analito, la frecuencia resonante del dispositivo cambia. Los electrodos 10 y 24 incluyen terminales para conexión del detector 18 con respecto a elementos de circuito respectivos en la fig. 4. La fig. 3 es un diagrama de frecuencia que muestra los efectos potenciales de la distorsión no armónica de la frecuencia fundamental del detector 18. La amplitud de señal es graficada en el eje 30, y el tiempo se gráfica en el eje 32. T indica el período de oscilación; por lo tanto la frecuencia fundamental es 1/T. La fig. 3 muestra la distorsión de señal ocasionada por los modos no armónicos que se separan desde la frecuencia fundamental del detector 18. Esos modos no armónicos desvían la frecuencia fundamental del detector en tanto como 1 kilohertz (KHz) hasta 10 ¿ .l,?,Á,m KHz, dependiendo de varios factores. Por ejemplo, los artefactos en el detector 18 pueden producir modos de corte de espesor. Las características de tensión y amortiguamiento cambian también con el tiempo y se vuelven más notorias, ocasionando la distorsión mostrada en la fig. 3, además, las propiedades viscoelásticas y las características de pérdida dinámica (es decir los parámetros de movimiento) del detector 18 pueden intensificar la distorsión del modo no armónico sobre condiciones termodinámicas variables. La temperatura y la humedad "deterioran" el cristal del detector 18, ocasionando alteración permanente de sus propiedades viscoelásticas. En cualquier caso, la alteración de las propiedades resonantes del detector 18 crea modos no armónicos y genera ruido en la frecuencia de operación del detector. La forma de onda 34 muestra la frecuencia fundamental no distorsionada generada por el detector 18. La forma de onda 36 muestra una fundamental distorsionada ocasionada por un modo no armónico que disminuye o reduce, la frecuencia fundamental. La forma de onda 38 muestra una fundamental distorsionada ocasionada por un modo no armónico que aumenta o incrementa la frecuencia fundamental. La fig. 4 es un diagrama de circuito de la modalidad preferida de la invención que distorsiona una frecuencia resonante del oscilador de detección asociado con el detector. El circuito utiliza el procesamiento de señal de dominio de tiempo y, está comprendido de un circuito oscilador controlado por voltaje en paralelo con un circuito oscilador resonante. El circuito oscilador controlado por voltaje incluye el detector 18, el varactor 40, capacitor de polarización de referencia C2, resistores adicionadores R1 y R2, capacitores de desplazamiento de fase C21 y C2 y la entrada 44. El detector 18 tiene una de sus terminales al capacitor de desplazamiento de fase C3, el cual a su vez está conectado a tierra. La segunda terminal del capacitor 18 está conectada a través del resistor adicionador R2 a la entrada 44 y al cátodo del varactor 40. El varactor 40 es preferiblemente un diodo de capacitancia variable Zetex-Hyper-Hyperabrupt, tipo ZC932. El varactor 40 funciona como un capacitor variable de voltaje. El incremento del voltaje de polarización inverso a través del varactor 40 reduce su capacitancia. El ánodo del varactor 40 está conectado a través del segundo resistor adicionador R1 a tierra y al capacitor de polarización de referencia C2. El capacitor de polarización de referencia C2 también está conectado a través del segundo capacitor de desplazamiento de fase C1 a tierra. El circuito oscilador resonante está conectado en paralelo con el circuito oscilador controlado por voltaje. En la modalidad actualmente preferida, el circuito oscilador resonante incluye el inversor 42 que también está conectado al suministro +V, resistores R3 y R4, y el condensador de sintonía C4. El resistor R3 está conectado a la entrada del inversor 42 y también a través del condensador C4 a tierra. El resistor R4 también está conectado a través del condensador C4 a tierra, y de igual manera en la salida del inversor 42. La entrada del inversor 42 está conectada a la unión de los capacitores C1 y C2 y la salida del inversor 42 es invertida a la unión del detector 18 y el capacitor C3 y a la salida 46. El inversor 42 es un amplificador lineal de alta ganancia. El voltaje +V suministra la energía al circuito oscilador resonante. El voltaje de entrada 44 proporciona un voltaje cd de polarización inverso al cátodo del varactor 40. El valor del voltaje de polarización se establece mediante los resistores adicionadores R1 y R2, así como mediante el capacitor C2. Los capacitores C1 y C3 son capacitores de desplazamiento de fase que permiten la instalación del circuito. La carga reactiva del varactor 40, en serie con el detector 18, fuerza un cambio en la frecuencia resonante del detector 18. La cantidad del cambio se basa en los valores de los resistores R! y R2 y la entrada del voltaje cd de polarización en 44. La salida 46 proporciona una señal con una frecuencia resonante ajustada, menos los tonos no armónicos. La salida 46 está conectada a un contador de alta resolución, tal como aquel descrito en la Solicitud No. 08/968,081, presentada el 2 de Noviembre de 1997, para "High Frequeney Measuring Circuit" de John P. Dilger y Nike K. Dielschneider, y cedida al mismo cesionario de la presente solicitud. La presente invención reduce en forma significativa la distorsión del ruido que resulta en el desplazamiento de frecuencia o salto, y mejora significativamente la resolución de 18. Bajo condiciones normales, el detector 18, con una frecuencia nominal de 10 MHz, oscila típicamente con un error máximo de aproximadamente 10 Hertz (Hz). Sin embargo, como se observó previamente, las oscilaciones de modo no armónico pueden ocasionar salto de frecuencia, separando de esta manera la frecuencia fundamental de su valor de 10 megahertz (MHz) en tanto como 1 a 10 KHz (que representa una distorsión de .01% hasta .1%). Sin embargo, el detectoMd debe tener una alta resolución para medir los pequeños cambios en las concentraciones de analito. Por ejemplo, las concentraciones de analito que se miden pueden alterar la frecuencia inicial de 10 MHz del detector 18 en aproximadamente 200 Hz (que representa un cambio de .002%). Por lo tanto, los cambios de frecuencia que se miden como indicaciones de un cambio de las concentraciones de analito están dentro de los cambios de distorsión ocasionados por los modos no armónicos. Por tanto, la distorsión debe ser eliminada de manera efectiva. Con el apropiado establecimiento de valores mostrados en la fig. 4, el mecanismo de distorsión de frecuencia separará la frecuencia resonante del circuito hacia el valor fundamental de 10 MHz del detector. Por tanto, cuando la distorsión puede alterar la frecuencia fundamental del detector en 10 MHz (por ejemplo hasta 9.990 MHz), el circuito de distorsión separará la frecuencia resonante inicial del circuito hasta 10.0 MHz a través de la selección adecuada de resistores R1 y R2 y el valor del voltaje cd de polarización. Por tanto, la desviación desde la frecuencia inicial es una medida verdadera de la concentración de analito, no afectada por el ruido.
El voltaje cd de polarización inverso suministrado por 44 es aplicado con niveles de voltaje de 1, 2.5 y 4 voltios. La cantidad de voltaje aplicada por 44 es determinada por la cantidad observada de distorsión de ruido generada por el detector 18, y por lo tanto por la cantidad de distorsión de frecuencia necesaria. El voltaje de polarización inverso seleccionado se aplica a través de 40 a fin de proporcionar una capacitancia seleccionada al varactor 40. Por ejemplo, los niveles de voltaje cd de polarización de 1,2.5 y 4 voltios afectan el varactor 40 para proporcionar la capacitancia de 17, 9 y 5 picofaradios (pF), respectivamente, en un diodo Zetex ZC932. Comúnmente, R1 y R2 tienen valores de aproximadamente 100 K ohms. Aunque se ha descrito la presente invención con referencia a modalidades preferidas, aquellos con experiencia en la técnica reconocerán que pueden hacerse cambios en la forma y detalle sin apartarse del espíritu y alcance de la invención.

Claims (10)

REIVINDICACIONES
1. un proceso para reducir los efectos del ruido no armónico que distorsiona una señal de un detector de onda acústica masiva, la señal que tiene una frecuencia fundamental y el ruido que tiene una o más frecuencias de ruido, el proceso que comprende: colocar un capacitor variable de voltaje en serie con el detector para crear un oscilador controlado por voltaje; colocar el oscilador controlado por voltaje en paralelo con un oscilador resonante para formar un circuito que tiene una frecuencia resonante; aplicar un voltaje cd de polarización inverso a través del capacitor variable de voltaje para alterar su capacitancia; y distorsionar la frecuencia resonante lejos de las frecuencias de ruido no armónico.
2. Un circuito detector para uso en la medición de concentraciones de un analito en un fluido que comprende: un detector de onda acústica masiva; un capacitor variable de voltaje conectado al detector; una entrada para suministrar un voltaje cd de distorsión de polarización al capacitor variable de voltaje; y un circuito oscilador resonante que detecta una frecuencia fundamental del detector y produce una frecuencia de señal resonante, por lo cual un voltaje cd de polarización aplicado al capacitor variable de voltaje distorsiona la frecuencia resonante del circuito lejos del ruido no armónico.
3. El circuito de conformidad con la reivindicación 2, caracterizado porque el detector comprende: un substrato de cristal que tiene primera y segunda superficies opuestas que definen un espesor predeterminado; un primer electrodo en la primera superficie; un segundo electrodo en la segunda superficie; una primera capa de material que tiene una afinidad al analito predeterminado en por lo menos una porción del primer electrodo; y el primero y segundo electrodos y la primera capa que tienen espesores respectivos de manera que el substrato de cristal resuena a una frecuencia fundamental predeterminada, el substrato de cristal que cambia su frecuencia fundamental a la exposición de la primera capa del cristal al analito.
4. El circuito de conformidad con la reivindicación 2, caracterizado porque el capacitor variable de voltaje es un diodo de capacitancia variable que tiene un cátodo y un ánodo, y la entrada es conectada al cátodo.
5. El circuito de conformidad con la reivindicación 2, caracterizado porque la entrada está conectada al detector y al capacitor variable de voltaje.
6. El circuito de conformidad con la reivindicación 2, caracterizado porque el capacitor variable de voltaje es conectado en serie al detector para formar un oscilador controlado por voltaje. -a-aa.í ^. J..í^ i _ J?.A;: t.i.m.lmr m....^.,i „
7. El circuito de conformidad con la reivindicación 6 , caracterizado porque el circuito oscilador resonante está en paralelo con el oscilador controlado por voltaje.
8. El circuito de conformidad con la reivind icación 7 , caracterizado porque el oscilador controlado por voltaje incluye además: un capacitor de desplazamiento de fase conectado a un pri mer lado del detector; y un resistor adicionador conectado entre la entrada y una unión de entre el capacitor variable de voltaje y un segundo lado del detector.
9. El ci rcu ito de conform idad con la reivi ndicación 8, caracterizado porque el oscilador controlado por voltaje incluye además : un capacitor de polarización de referencia conectado en serie con el capacitor variable de voltaje .
10. El circuito de conform idad con la reivind icación 9, caracterizado porque el oscilador controlado por voltaje que incluye además: un seg undo capacitor de desplazamiento de fase conectado al capacitor de polarización de referencia. 1 1 . El circuito de conformidad con la reivindicación 10 , caracterizado porq ue el oscilador controlado por voltaje incluye además: un segundo resistor adicionador conectado a una unión entre el capacitor de polarización de referencia y el capacitor variable de voltaje. 12. El circuito de conformidad con la reivindicación 7, caracterizado porque el circuito oscilador resonante comprende: un inversor lógico conectado en paralelo con el oscilador controlado por voltaje, el inversor que está conectado a una fuente de energía; primero y segundo resistores conectados en paralelo con el inversor; y un condensador de sintonía conectado entre una referencia y una unión entre el primero y segundo resistores. 13. El circuito de conformidad con la reivindicación 12, caracterizado porque el inversor lógico es un amplificador lineal de alta ganancia y tiene una entrada y una salida. ,^ il".f ,fiÍ"iJ"*-'"-'a"»--l— - ** m-m,m-..~.m*rim ..m~-.m*,m~ ..mm=.*t?.
MXPA01013214A 1999-07-13 2000-07-10 Distorsion de frecuencia para mejorar la relacion de senal de resonador a ruido. MXPA01013214A (es)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/352,730 US6654470B1 (en) 1999-07-13 1999-07-13 Frequency warping for improving resonator signal-to-noise ratio
PCT/US2000/018793 WO2001004621A1 (en) 1999-07-13 2000-07-10 Frequency warping for improving resonator signal-to-noise ratio

Publications (1)

Publication Number Publication Date
MXPA01013214A true MXPA01013214A (es) 2002-06-21

Family

ID=23386243

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
MXPA01013214A MXPA01013214A (es) 1999-07-13 2000-07-10 Distorsion de frecuencia para mejorar la relacion de senal de resonador a ruido.

Country Status (10)

Country Link
US (1) US6654470B1 (es)
EP (1) EP1194771B1 (es)
JP (1) JP4773656B2 (es)
CN (1) CN1172185C (es)
AU (1) AU6083300A (es)
BR (1) BR0012394B1 (es)
CA (1) CA2378759C (es)
DE (1) DE60014090T2 (es)
MX (1) MXPA01013214A (es)
WO (1) WO2001004621A1 (es)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003168926A (ja) * 2001-11-29 2003-06-13 Nippon Dempa Kogyo Co Ltd 電圧制御圧電発振器
CN100495008C (zh) * 2003-06-18 2009-06-03 中山市泰威技术开发有限公司 压电体声波传感器无源式阵列及其生物芯片
KR100828128B1 (ko) * 2006-07-20 2008-05-09 에이디반도체(주) 시분할 복수 주파수를 이용하는 정전용량 검출방법 및검출장치
JP5505596B2 (ja) * 2008-06-18 2014-05-28 セイコーエプソン株式会社 共振回路、発振回路、フィルタ回路及び電子装置
US9746442B2 (en) 2014-03-30 2017-08-29 International Business Machines Corporation Switched-capacitor biosensor device
WO2020131406A1 (en) * 2018-12-19 2020-06-25 Abbott Diabetes Care Inc. Systems, devices, and methods for rf detection of analyte sensor measurements

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3260104A (en) * 1962-10-22 1966-07-12 Exxon Research Engineering Co Apparatus for fluid analysis
GB1483735A (en) * 1973-11-09 1977-08-24 Secr Defence Acoustic wave oscillator
US4361026A (en) 1980-06-24 1982-11-30 Muller Richard S Method and apparatus for sensing fluids using surface acoustic waves
US5212988A (en) 1988-02-29 1993-05-25 The Reagents Of The University Of California Plate-mode ultrasonic structure including a gel
US4905701A (en) 1988-06-15 1990-03-06 National Research Development Corporation Apparatus and method for detecting small changes in attached mass of piezoelectric devices used as sensors
US5229735A (en) * 1992-03-30 1993-07-20 Macrovision Corporation Wide frequency deviation voltage controlled crystal oscillator having plural parallel crystals
JPH06265459A (ja) * 1993-03-15 1994-09-22 Toshiba Corp 分解ガス検出装置
JP3354217B2 (ja) 1993-07-30 2002-12-09 柴田科学株式会社 気体中の塵埃粒子の質量濃度を測定する方法
US5705399A (en) * 1994-05-20 1998-01-06 The Cooper Union For Advancement Of Science And Art Sensor and method for detecting predetermined chemical species in solution
JPH09191216A (ja) * 1996-01-09 1997-07-22 Sony Corp セラミック発振器、セラミックfm変調器、セラミック基準発振器を用いたpll回路及びセラミック基準発振器を用いたpll型fm変調器
JPH1028016A (ja) * 1996-07-09 1998-01-27 Murata Mfg Co Ltd 圧電体基準発振器
US6222366B1 (en) * 1999-05-10 2001-04-24 Fisher Controls International, Inc. High frequency measuring circuit with inherent noise reduction for resonating chemical sensors
US6237397B1 (en) * 1999-10-06 2001-05-29 Iowa State University Research Foundation, Inc. Chemical sensor and coating for same

Also Published As

Publication number Publication date
JP4773656B2 (ja) 2011-09-14
JP2003504620A (ja) 2003-02-04
AU6083300A (en) 2001-01-30
WO2001004621A1 (en) 2001-01-18
EP1194771B1 (en) 2004-09-22
CN1361864A (zh) 2002-07-31
CA2378759A1 (en) 2001-01-18
BR0012394B1 (pt) 2012-11-27
DE60014090D1 (de) 2004-10-28
EP1194771A1 (en) 2002-04-10
BR0012394A (pt) 2002-03-12
CN1172185C (zh) 2004-10-20
CA2378759C (en) 2007-04-17
DE60014090T2 (de) 2005-02-03
US6654470B1 (en) 2003-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP2447683A1 (en) Method and device for nanogravimetry in fluid media using piezoelectric resonators
CN107607130B (zh) 一种无镀膜石英半球谐振子检测装置及方法
JPH04233436A (ja) 表面波ガスセンサ
US6357278B1 (en) Polymer coatings for chemical sensors
JPWO2004085976A1 (ja) 質量測定方法および質量測定用圧電振動片の励振回路並びに質量測定装置
US20050039532A1 (en) Devices and method of measuring a mass
RU2061218C1 (ru) Устройство для определения свойств текучих сред
Ferrari et al. Improving the accuracy and operating range of quartz microbalance sensors by a purposely designed oscillator circuit
Holloway et al. Impedance analysis of the thickness shear mode resonator for organic vapour sensing
MXPA01013214A (es) Distorsion de frecuencia para mejorar la relacion de senal de resonador a ruido.
JP2006033195A (ja) 水晶発振器及び感知装置
Ferrari et al. In-liquid sensing of chemical compounds by QCM sensors coupled with high-accuracy ACC oscillator
WO2004083839A1 (en) Method and device for determining the resonant frequency of resonant piezoelectric sensors
US9032797B2 (en) Sensor device and method
JP3376417B2 (ja) 高周波数水晶振動子を用いた超微量質量の検出装置用校正方法
Sindi et al. A strategy for chemical sensing based on frequency tunable acoustic devices
JP2811315B2 (ja) 圧電素子ガスセンサーシステム
Maeda et al. Evaluation of the performance of photoelastic modulator by admittance parameter measurements
Lee et al. A highly-sensitive differential-mode microchemical sensor using TFBARs with on-chip microheater for volatile organic compound (VOC) detection
JPS60238742A (ja) ガス検出装置
RU2298781C2 (ru) Устройство для измерения влажности газов
SU1732298A1 (ru) Способ определени добротности пьезокерамического элемента
Ferrari et al. Improving the accuracy and operating range of quartz microbalance sensors by a purposely designed oscillator circuit
Komplin et al. Phase‐frequency relationships in oscillating quartz microbalance electrodes: Determination of an optimal operating frequency for solution‐phase microgravimetry
Ferrari et al. Combined measurements of acoustic and dielectric loading on cavitand-coated TSM quartz sensors with ACC oscillator for in-liquid chemical detection

Legal Events

Date Code Title Description
FG Grant or registration
HC Change of company name or juridical status