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MX2011001543A - Metodo de medicion de medios de informacion opticos, medio de informacion optico, aparato de grabacion y aparato reproductor. - Google Patents

Metodo de medicion de medios de informacion opticos, medio de informacion optico, aparato de grabacion y aparato reproductor.

Info

Publication number
MX2011001543A
MX2011001543A MX2011001543A MX2011001543A MX2011001543A MX 2011001543 A MX2011001543 A MX 2011001543A MX 2011001543 A MX2011001543 A MX 2011001543A MX 2011001543 A MX2011001543 A MX 2011001543A MX 2011001543 A MX2011001543 A MX 2011001543A
Authority
MX
Mexico
Prior art keywords
layer
represented
reflectance
optical
optical information
Prior art date
Application number
MX2011001543A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasumori Hino
Yoshiaki Komma
Kousei Sano
Original Assignee
Panasonic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp filed Critical Panasonic Corp
Publication of MX2011001543A publication Critical patent/MX2011001543A/es

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Abstract

Se proporciona un método de medición de medios de información ópticos para medir el grado de modulación de un medio de información óptico que tiene una estructura de capas múltiples con una pluralidad de capas de información. El método incluye: una primera etapa de medir el grado de modulación de cada capa del medio de información óptico por un sistema óptico de medición; una segunda etapa de obtener el grosor entre las capas del medio de información óptico; una tercera etapa de obtener la reflectancia de cada capa del medio de información óptico y una cuarta etapa de convertir el grado de modulación de cada capa medido en la primera etapa en un grado de modulación en un sistema óptico de referencia diferente del sistema óptico de medición usando los grosores entre las capas obtenidos en la segunda etapa y la reflectancia de cada capa obtenida en la tercera etapa.

Description

METODO DE MEDICION DE MEDIOS DE INFORMACION OPTICOS, MEDIO DE INFORMACION OPTICO, APARATO DE GRABACION Y APARATO REPRODUCTOR Campo de la Invención La presente invención se refiere a un método de medición para un medio de información óptico tal como un disco óptico.
Antecedentes de la Invención Una tecnología de memoria óptica que emplea un disco óptico como un medio de memoria de información de alta densidad y gran capacidad se ha aplicado cada vez más a un disco de audio digital, un disco de video, un disco de archivos de documentos y además , un archivo de datos y similares. De acuerdo con la tecnología de memoria óptica, se graba información en el disco óptico en una forma de una pequeña cavidad o una pequeña marca de grabación. Además, la información se graba y se reproduce con alta precisión y alta conflabilidad por un pequeño rayo de luz enfocado.
En un disco Blu-ray (BD) el cual es uno del disco óptico, por ejemplo, un pequeño punto se forma de tal manera que un rayo láser que tenga una longitud de onda en una escala de 400 nm a 410 nm, específicamente, una longitud de onda de 405 nm sea colectado por un lente objetivo que tenga una NA (Abertura Numérica) en una escala de 0.84 a 0.86, REF: 217349 específicamente, una NA de 0.85.
Cuando la cavidad o la marca de grabación se reproduce por el rayo de luz, se genera una señal de reproducción. Esta señal de reproducción tiene que tener una propiedad predeterminada para asegurar la reproducción estable de la misma en diferentes aparatos. La figura 8A muestra un ejemplo de esta señal de reproducción. Como un índice para medir la señal propiedad de de reproducción, se adopta una relación entre una amplitud Ipp de un componente de CA de la señal reproducida y un valor máximo de señal Itop, es decir, un grado de modulación m (m = Ipp/toP)¦ Este grado de modulación m tiene que ser igual a o mayor que un valor específico para asegurar la compatibilidad de los discos ópticos entre dispositivos de disco óptico. Por esta razón, es posible asegurar la compatibilidad del disco óptico entre dispositivos de discos ópticos al evaluar el disco óptico con base en un grado de modulación medido por un dispositivo de evaluación de discos ópticos (sistema óptico de medición) .
En el disco óptico que tiene una pluralidad de capas de grabación, un grado de modulación m es afectado adversamente por una luz reflejada (luz dispersa) proveniente de otras capas que una capa de reproducción objetivo. Más específicamente, en caso de que la luz dispersa sea contenida en la señal de reproducción como se muestra en la figura 8B, el valor máximo de señal Itop' se hace más grande por la luz dispersa en comparación con el valor máximo de señal Itop sin la luz dispersa de otras capas como se muestra en la figura 8A. En consecuencia, un grado de modulación m2 con un efecto de luz dispersa de otras capas que la capa de reproducción objetivo se expresa por una ecuación de m2 = Ipp/Itop' ; la cual es inadecuadamente más pequeña en comparación con el grado de modulación m sin el efecto de luz dispersa de otras capas que la capa de reproducción objetivo.
Al igual que el caso del disco de doble capa convencional, cuando una cantidad de luz dispersa, la cual se determina por el área de la sección receptora de luz del sistema óptico de medición, la ampliación del sistema de detección y el grosor entre capas, es más pequeña que una cantidad predeterminada, es posible asegurar la compatibilidad de discos ópticos entre dispositivos de discos ópticos sin problema al establecer el grado de modulación m para que no sea más pequeño que el nivel predeterminado sin tomar en consideración condiciones tales como el área de la sección receptora de luz, la ampliación del sistema de detección, etc.
Para asegurar una reproducción estable entre diferentes aparatos de reproducción, un valor indicador de la diferencia en reflectancia entre capas de un disco de capas múltiples tiene que establecerse dentro de una escala predeterminada .
Específicamente, la diferencia en reflectancia entre capas tiene que establecerse en la escala anterior para suprimir cambios abruptos en la amplitud de señal cuando un rayo de luz sea movido entre las capas o el efecto de la luz dispersa de otras capas. En particular, en caso de que una gran diferencia en reflectancia exista entre capas, la capa de baja de reflectancia es propensa a ser afectada por una gran luz dispersa proveniente de la capa de reflectancia más alta, lo cual podría afectar significativamente el grado de modulación de una señal. En contraste, al igual que el disco de doble capa convencional, en caso de que una cantidad de luz dispersa, la cual se determine por el área de la sección receptora de luz del sistema óptico de medición, la ampliación del sistema de detección y el grosor entre capas, sea más pequeña que una cantidad predeterminada, la compatibilidad de discos ópticos entre dispositivos de discos ópticos puede asegurarse sin problema al establecer la reflectancia para que esté dentro de la escala predeterminada sin tomar condiciones tales como el área de la sección receptora de luz, la ampliación del sistema de detección, etc., en consideración.
Recientemente, para incrementar la capacidad de grabación del disco óptico, aplicaciones prácticas de discos ópticos en los que una capa de grabación está constituida de un gran número de capas que dos capas, tal como una capa de grabación de triple capa, una capa de grabación de cuatro capas, se han puesto en consideración. Para este disco óptico de alta intensidad constituido de tres o cuatro capas, se requiere reducir el grosor entre las capas. Con esta estructura, la cantidad de luz dispersa que entra en la sección receptora de luz se incrementa en comparación con el caso de discos ópticos de estructura de doble capa, y por lo tanto, el grado de modulación m, o la reflectancia sería afectada ampliamente por el grado de modulación m o la reflectancia sería afectada significativamente por factores del sistema óptico tal como un área de la sección receptora de luz, la ampliación del sistema de detección y el grosor entre capas del disco óptico. Por lo tanto, cuando se adopta un valor indicador del grado de modulación m o un valor indicador de la reflectancia establecida en varios sistemas ópticos de medición, se origina un problema en que la compatibilidad de los discos ópticos no puede asegurarse entre dispositivos de discos ópticos .
Como una solución, se puede considerar establecer condiciones fijas predeterminadas de un sistema óptico para medir el grado de modulación m o la diferencia en reflectancia, y el grado de modulación m o la diferencia en reflectancia se mide bajo las condiciones fijas establecidas. Sin embargo, esta contramedida requiere reemplazo de todos los sistemas ópticos en máquinas de medición que actualmente existen a nivel mundial, y en consecuencia esta solución está lejos de la realidad.
Literatura de patente Literatura de patente 1: WO 2007/108507 Al Breve Descripción de la Invención Un objetivo de la presente invención es proporcionar un método de medición de medios de información ópticos que permita la comparación correcta de un grado de modulación o una diferencia en reflectancia incluso cuando un medio de información óptico sea sometido a medición usando cualquier sistema óptico de medición, sin la preparación de un sistema óptico de medición especial.
Un método de medición de medios de información ópticos de acuerdo con un aspecto de la presente invención para medir un grado de modulación en un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tenga una pluralidad de capas de información incluye: Una primera etapa de medir el grado de modulación de cada capa del medio de información óptico, mediante el uso de un sistema óptico de medición, una segunda etapa de obtener un grosor entre capas del medio de información óptico, una tercera capa de obtener una reflectancia de cada capa del medio de información óptico, y una cuarta etapa de convertir el grado de modulación de cada capa, el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, en un grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiera del sistema óptico de medición, con base en un valor que indique el grosor entre capas, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, y un valor que indica la reflectancia de cada capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa.
De acuerdo con la estructura anterior, la comparación del grado de modulación se corrige incluso cuando el medio de información óptico es sometido a medición usando cualquier sistema óptico de medición, sin preparar un sistema óptico de medición especial.
Un método de medición de medios de información ópticos de acuerdo con otro aspecto de la presente invención para medir una diferencia en reflectancia en un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tiene una pluralidad de capas de información, incluye una quinta etapa de obtener una reflectancia aparente que corresponde a una relación entre una cantidad de luz de señal y una cantidad de luz incidente obtenidas cada una después de la reproducción de información de cada capa del medio de información óptico, mediante el uso de un sistema óptico de medición, una segunda etapa de obtener un grosor entre capas del medio de información óptico, una tercera etapa de obtener una reflectancia de cada capa del medio de información óptico, y una sexta etapa de obtener un resultado de conversión como una diferencia en reflectancia para el sistema óptico de referencia que difiera del sistema óptico de medición, a partir de un valor indicador de la reflectancia aparente obtenida en la quinta etapa, un valor indicador del grosor entre capas, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, y un valor indicador de la reflectancia de cada capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa.
De acuerdo con la estructura anterior, la diferencia en reflectancia se corrige incluso cuando el medio de información óptico es sometido a medición usando cualquier sistema óptico de medición, sin preparación de un sistema óptico de medición especial.
Otros objetivos, características y ventajas de la presente invención se aclararán suficientemente por la siguiente descripción aquí. Los excelentes aspectos de la presente invención serán aclarados en la siguiente descripción con referencia a las figuras acompañantes.
Breve Descripción de las Figuras La figura 1A es un diagrama explicatorio que muestra la relación entre un sistema óptico de medición y luz dispersa proveniente de un medio de información óptico, de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura IB es un diagrama explicatorio que muestra una relación entre un fotodetector del sistema óptico de medición y la luz dispersa.
La figura 2 es un diagrama conceptual que muestra un medio de información óptico de tres capas y una trayectoria óptica, de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura 3 es un diagrama conceptual que muestra un medio de información óptico de cuatro capas y una trayectoria óptica, de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura 4 es un diagrama de formas de onda que muestra un ejemplo de un patrón de una señal de reproducción medida, de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura 5 es un diagrama de formas de onda que muestra un ejemplo de un patrón de una señal de reproducción convertida en un grado de modulación en un sistema óptico de referencia, de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura 6 es un diagrama conceptual que muestra un método de conversión de grado de modulación de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura 7 es un diagrama conceptual que muestra una diferencia entre un método de cálculo de reflectancia de acuerdo con la segunda modalidad de la presente invención.
La figura 8A es un diagrama de formas de onda que muestra un ejemplo de un patrón de una señal de reproducción sin una luz dispersa de otras capas.
La figura 8B es un diagrama de formas de onda que muestra un ejemplo de un patrón de una señal de reproducción con una luz dispersa proveniente de otras capas .
La figura 9 es un diagrama conceptual que muestra un ejemplo específico de una estructura del medio de información óptico de tres capas, de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura 10 es un diagrama explicatorio que muestra un medio de información óptico de acuerdo con una modalidad de la presente invención.
La figura 11 es un diagrama explicatorio que muestra un aparato de grabación de acuerdo con una modalidad de la presente invención.
La figura 12 es un diagrama explicatorio que muestra un aparato reproductor de acuerdo con una modalidad de la presente invención.
La figura 13 es un diagrama conceptual que muestra un ejemplo de un método de conversión para grado de modulación de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura 14 es un diagrama conceptual que muestra otro ejemplo de un método de conversión para grado de modulación de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura 15 es un diagrama conceptual que muestra aún otro ejemplo de un método de conversión para grado de modulación de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
La figura 16 es un diagrama conceptual que muestra otro ejemplo más de un método de conversión para grado de modulación de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención .
La figura 17 es un diagrama conceptual que muestra otro ejemplo más de un método de conversión para grado de modulación de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención .
La figura 18 es un diagrama conceptual que muestra un ejemplo de un método de cálculo para una diferencia en reflectancia de acuerdo con la segunda modalidad de la presente invención.
La figura 19 es un diagrama conceptual que muestra otro ejemplo de método de cálculo para una diferencia en reflectancia de acuerdo con la segunda modalidad de la presente invención.
La figura 20 es un diagrama conceptual que muestra otro ejemplo más de un método de cálculo para una diferencia en reflectancia de acuerdo con la segunda modalidad de la presente invención.
La figura 21 es un diagrama conceptual que muestra un ejemplo de una diferencia en método de cálculo de reflectancia de acuerdo con la tercera modalidad de la presente invención.
Descripción Detallada de la Invención Con referencia a las figuras, en adelante, se dará una descripción de modalidades preferidas de la presente invención.
Primera modalidad Un método para convertir un grado de modulación para cada capa de un disco óptico de capas múltiples (un medio de información óptico) medido por un sistema óptico de medición arbitrario (un aparato de evaluación de medios de información ópticos) , en un grado de modulación de cada capa para el sistema óptico estándar de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención se muestra en la figura 6. El método de conversión de grado de modulación incluye cuatro etapas S201, S202, S203 y S204. Las etapas respectivas se describen a continuación. Aquí, se darán explicaciones a través del caso de adoptar un disco óptico de una estructura de triple capa.
(S201: Etapa de medir un grado de modulación para cada capa) En S201, el grado de modulación se mide para cada capa del disco óptico, por el sistema óptico de medición. Más específicamente, el sistema óptico de medición mide el grado de modulación para cada capa, con base en una señal de reproducción obtenida al reproducir información grabada en cada capa (por ejemplo, la primera capa, la segunda capa, la tercera capa) del disco óptico.
La figura 4 muestra un ejemplo de la señal de reproducción en el sistema óptico de medición. El grado de modulación se obtiene como una relación entre una amplitud Ipp de un componente de CA de la señal de reproducción y un valor máximo de señal Itop (IPP/ItoP) · Una señal de reproducción obtenida por la reproducción de información a partir de una capa sometida a medición contiene un componente de luz dispersa reflejada desde otras capas. En consecuencia, el grado de modulación de cada capa se mide por el sistema óptico de medición, y el valor medido contiene luz dispersa única proveniente de otras capas generada en el sistema óptico de medición. En adelante, el valor medido para el grado de modulación afectado por la luz dispersa proveniente de otras capas es referido como un "grado de modulación aparente" .
Los grados de modulación aparentes medidos por el sistema óptico de medición, es decir, el grado de modulación aparente de la primera capa, grado de modulación aparente de la segunda capa y el grado de modulación aparente de la tercera capa son representados por mdi, md2 y md3, respectivamente .
(S202: Etapa de obtener grosor entre capas) En S202, se obtiene un grosor entre capas del disco óptico. El grosor entre capas del disco óptico puede ser medido realmente usando un disco óptico que será sometido a medición y una máquina medidora. Además, el grosor entre capas puede tener un valor tal como un valor de diseño (un gran grosor cuando se fabrica un disco óptico) o un valor promedio de variaciones después de la producción en masa del disco óptico (un grosor promedio en un caso de fabricación de una pluralidad de medios de información ópticos) . Para el grosor entre capas, un valor estándar como el especificado de acuerdo con especificaciones de discos ópticos y similares puede ser adoptado .
(S203: Etapa de obtener la reflectancia de cada capa) En S203, además una reflectancia de cada capa del disco óptico se obtiene. La figura 1A que explica 203 muestra una estructura esquemática del sistema óptico de medición. El sistema óptico de medición es provisto con una fuente de luz 101, un lente objetivo 102, un lente de detección 104, un fotodetector 105 y similares. Con referencia a la figura 1A, se darán explicaciones sobre una relación entre una parte receptora de luz del sistema óptico de medición y la luz dispersa reflejada desde otras capas.
Un rayo de luz emitido desde la fuente de luz 101 se hace converger por el lente objetivo 102 sobre la capa de información específica (la capa sometida a medición) del disco óptico 103 (el medio de información óptico) . La luz reflejada desde el disco óptico 103 pasa a través del lente objetivo 102 de nuevo, es recogida por el lente de detección 104, y entra en el fotodetector 105, para ser convertida en una señal eléctrica de acuerdo con una cantidad de luz . Como se muestra en la figura IB, el fotodetector 105 tiene la parte receptora de luz 105a. El sistema de detección del sistema óptico de medición tiene una ampliación M que normalmente se obtiene a partir de una relación entre una distancia focal del lente de detección 104 y una distancia focal del lente objetivo 102. En las figuras 1A y IB, la luz dispersa reflejada desde otras capas que la capa sometida a medición se muestra con una línea discontinua, por conveniencia.
Una relación de área entre un área de extensión de la luz dispersa proveniente de otras capas en la parte receptora de luz 105a y un área de la parte receptora de luz 105a se determina a partir de la ampliación de detección M del sistema óptico de medición, el área Spa de la parte receptora de luz 105a, una distancia d entre la capa sometida a medición y la otra capa, un índice de refracción n de una capa intermedia formada entre las capas de información respectivas, y una abertura numérica NA del sistema óptico de medición.
La luz dispersa reflejada desde la otra capa tiene un radio Rdisc sobre la capa en el cual la luz es convergida se expresa aproximadamente por la siguiente ecuación.
Rdisc = ??-2-d/n ... (1-1) Para ser más específicos, se asume que un valor indicador de T satisface una relación de sen T =NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2 (0<?<p/2) . Así, el radio Rdisc es expresado por la siguiente ecuación.
Rdisc=2-d-tan0 ... (1-2) La luz dispersa en la parte receptora de luz 105a se aplica con la ampliación M del sistema de detección. Por lo tanto, un radio RPd de la luz dispersa en la parte receptora de luz 105a es expresado por la siguiente ecuación.
Rpd=M-Rdisc ... (1-3) En consecuencia, el área Sst de extensión de la luz dispersa en la parte receptora de luz 105a es expresada por la siguiente ecuación.
Sst = *-Rpd2 «. (1-4) La relación entre el área Sst de extensión de la luz dispersa y el área Spd de la parte receptora de luz 105a corresponde a un factor de fuga de luz dispersa (Spd/Sst) . El factor de fuga de luz dispersa (SPd/Sst) se expresa por la siguiente ecuación con base en la ecuación (1-1) .
Spd/Sst = Spd/{n-(M-NA.2-d/n)2} ... (1-5) Como alternativa, el factor de fuga de luz dispersa (Spd/Sst) se expresa por la siguiente ecuación con base en la ecuación (1-2) .
(M-2-d-tane) 2} ... (-16) En esta ecuación, cada uno de los parámetros d y n depende del disco óptico 103, y el parámetro NA se refiere al sistema de recolección de luz del sistema óptico de medición. El parámetro restante Spd/M2 se determina con base en el sistema de detección y el sistema óptico de medición, y se obtiene al dividir el área SPd de la parte receptora de luz 105a entre un cuadrado de la ampliación M del sistema de detección. Este parámetro corresponde a un resultado de conversión de un tamaño de la receptora de luz en una escala en el disco óptico, y se conoce como tamaño de parte receptora de luz normalizado.
A continuación se darán explicaciones sobre el método para obtener la reflectancia de cada capa del disco de capas múltiples. Típicamente, una reflectancia es, en caso de que un rayo de luz proveniente de un lente objetivo sea convergido sobre una capa específica de un disco óptico (un medio de información óptico) , una relación de una cantidad de luz que es reflejada desde sólo la capa específica y va del medio de información óptico hasta una cantidad de luz que entra en el medio de información óptico.
Con referencia a la figura 2, se darán explicaciones a través del caso de adoptar el disco óptico de tres capas. En el disco óptico, la reflectancia de la primera capa es representada por Ri, la reflectancia de la segunda capa es representada por R2 y la reflectancia de la tercera capa es representada por R3. Además, la distancia entre las primera y segunda capas es representada por di2, la distancia entre la tercera y tercera capas es representada por di3 y la distancia entre la segunda y tercera capas es representada por d23.
Además, el índice de refracción de la capa intermedia es representado por n, y la abertura numérica del sistema óptico de medición se representa por NA. En la presente, la relación de sen9 = NA/n es satisfecha. Además, el tamaño de parte receptora de luz normalizado del sistema de detección del sistema óptico de medición es representado por Sd.
Una reflectancia aparente corresponde a una cantidad obtenida al estandarizar, con la cantidad de luz incidente, la cantidad de luz en la señal de reproducción (que contiene la luz dispersa) que puede medirse por el sistema óptico de medición cuando se reproduzca información a partir de la ia capa del disco óptico. Aquí, la reflectancia aparente se representa por Si. La reflectancia aparente Si de la primera capa es representada como una suma de la reflectancia Ri de la primera capa y un valor de conversión de reflectancia indicador de la luz dispersa proveniente de la segunda capa y un valor de conversión de reflectancia indicador de la luz de dispersión proveniente de la tercera capa.
Se asume que la cantidad de luz incidente es representada por 1. Así, una cantidad (St2) de la luz dispersa proveniente de la segunda capa se expresa por la siguiente ecuación con base en la ecuación (1-6) .
St2 = 1 x R2 x Spd/ { t- (M-2-d12-tan6)2} ... (1-7) Aquí, el tamaño de parte receptora de luz normalizado Spd/M2 del sistema de detección del sistema óptico de medición también se puede representar por Sd. De esta manera, la ecuación (1-7) se convierte en la siguiente ecuación.
St2 = 1 x R2 x Sd/{7i- (2-d12-tan9)2} ... (1-8) El valor de conversión de reflectancia indicador de la luz dispersa proveniente de la segunda capa puede obtenerse a partir de una relación de St2/I, y por lo tanto se expresa por la siguiente ecuación.
St2/I = Sd x R2/{n- (2-tan9) 2} ... (1-9) En forma similar, el valor de conversión de reflectancia indicador de la luz dispersa proveniente de la tercera etapa puede obtenerse a partir de una relación de St3/I, y por lo tanto se expresa por la siguiente ecuación.
St3/I = Sd x R3/{TI- (2-di3-tan9) 2} ... (1-10) Con base en la ecuación (1-9) y la ecuación (1-10) , la reflectancia aparente Si de la primera capa es expresada por la siguiente ecuación. 51 = Ri + Sd- [R2/{n(2-d12-tan8)2} + R3/ {p (2-di3-tan9) 2 } ] ... (1-11) En forma similar, la reflectancia aparente S2 de la segunda capa es expresada por la siguiente ecuación. 52 = R2 + Sd- [R!/{ (2-d12-tane)2} + R3/ {p (2-d23-tan0) 2 } ] ... (1-12) Además, la reflectancia aparente S3 de la tercera capa es expresada por la siguiente ecuación.
S3 = R3 + Sd- [Ri/{n(2-d13-tan9)2} + R2/ {p (2-d23-tan0) 2} ) ... (1-13) En caso de considerar un disco de capas múltiples típico que tenga "N" capas (2 < N, N: un entero) , una reflectancia aparente Si de la ia capa es expresada por la siguiente ecuación.
Si = Ri + Sd- [?Rj/{n(2-dij-tan6)2}] ... (1-14) (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j) (1 < i < N, i; un entero) (1 < j < N, i ? j, j: un entero) Aquí, cada una de las reflectancias aparentes Si a S3 en realidad se miden por el sistema óptico de medición. Además, cada una de las aberturas numéricas NA y el tamaño de parte receptora de luz normalizado Sd ya se conoce y se determina por el sistema óptico de medición. Además, cada una de la distancia di2, la distancia d13, la distancia d23 y el índice de refracción n pueden obtenerse por separado como el parámetro del disco óptico. En consecuencia, sólo las reflectancias Rx a R3 son desconocidas. Las reflectancias Ri a R3 de . las capas respectivas cada una no incurren en una influencia debido a que la luz dispersa puede obtenerse de tal manera que las tres ecuaciones, es decir, las ecuaciones (1-11) a (1-13) sean resueltas con respecto a las reflectancias Rx a R3. Estas ecuaciones pueden resolverse toda vez que hay-tres ecuaciones y tres desconocidos.
El valor obtenido en S202 (la etapa de obtener el grosor entre capas) se emplea como el grosor entre capas del disco óptico. Para S202, S202a mostrado en la figura 13, S202b mostrado en la figura 14 o S202c mostrado en la figura 15 pueden seleccionarse. En S202a mostrado en la figura 13, el grosor entre capas se obtiene al medir realmente el grosor entre capas del disco óptico. En S202b, mostrado en la figura 14, el grosor entre capas se obtiene al emplear un valor de diseño (grosor objetivo cuando se fabrica un disco óptico) o un valor estándar especificado de acuerdo con especificaciones y similares como el grosor entre capas del disco óptico. En S202c mostrado en la figura 15, el grosor entre capas se obtiene al emplear un valor promedio de variaciones después de la producción en masa como el grosor entre capas del disco óptico .
Cuando se adopta un valor medido para el grosor d12 entre las primera y segunda capas del disco óptico (S202a) , es posible obtener valores más precisos para las reflectancias Ri a R3 de las capas respectivas. Adem s, cuando se adopta un valor de diseño (grosor objetivo cuando se fabrica el disco óptico) para el grosor entre las capas (S202b) o un valor promedio de las variaciones después de la producción en masa (S202c) , los valores obtenidos para las reflectancias Rx a R3 de las capas respectivas contendrían algunos errores. Sin embargo, es adecuado ya que el proceso de medir la distancia entre las capas respectivas del disco óptico puede ser adoptado. Por lo tanto, se hace posible obtener estos valores con facilidad. Además, el valor estándar especificado de acuerdo con las especificaciones y similares puede usarse como el valor indicador del grosor entre las capas respectivas (S202b) .
Un ejemplo se muestra a continuación para valores numéricos concretos. Como un ejemplo, se considera que la apertura numérica NA es 0.85, el índice de refracción n es 1.60, la distancia d12 es 25 pm, y la distancia d23 es 15 pm (figura 9) . Aquí, se asume que el detector tiene el tamaño cuadrado de 120 m x 120 pm, y la ampliación M del sistema de detección es 20. Así, el tamaño de parte receptora de luz normalizado Sd del sistema óptico de medición es 36 pm2. En este caso, las relaciones de sen9 = NA/n = 0.531, T = 32.09° y tanG = 0.627 son satisfechas. En consecuencia, las tres ecuaciones (1-11) a (1-13) son expresadas por la siguiente ecuación . 51 = Ri+0.01166-Ra+0.00455-R3 52 = 0.01166-Ri+ R2+0.03238-R3 ... (1-15) 53 = 0.00455-Ri+0.03238-R2+ R3 Cuando las ecuaciones anteriores son resueltas para la reflectancia Rx, se dan las siguientes ecuaciones.
Ri = 1.00015-Si-0.01152-S2-0.00418-Si R2 = -0.01152-S1+1.00118-S2-0.03237-S3 ... (1-16) R3 = 0.00418-Si-0.03237-S2+1.00107-S3 Con base en la ecuación (1-16) , la reflectancia real Ri de la ia capa puede obtenerse a partir de la reflectancia aparente Si de la ia capa, la reflectancia aparente Si siendo medida por el sistema óptico de medición. En caso de que el valor estándar especificado de acuerdo con las especificaciones se use como el valor indicador del grosor entre capas, el coeficiente obtenido con base en la ecuación (1-16) no varía siempre y cuando se fije el tamaño de parte receptora de luz normalizado. En consecuencia, la reflectancia Ri puede calcularse a partir del valor medido (la reflectancia aparente Si) , con base en la misma fórmula para conversión, siempre y cuando se use el mismo sistema óptico de medición.
En la modalidad preferida anterior, se han dado explicaciones a través del caso de adoptar el disco óptico de estructura de triple capa. Sin embargo, sin importar el número de capas (tres capas o cuatro capas (figura 3) ) , el número de ecuaciones y número de desconocidos no varía siempre y cuando el número de capas no sea menor que tres, por lo que la ecuación puede ser resuelta. Por lo tanto, se hace posible obtener la reflectancia de cada capa.
En el caso de considerar el disco de capas múltiples que tiene las "N" capas (2 = N, N: un entero) , la reflectancia aparente Si de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) puede generalizarse como la ecuación (1-14) , por lo que "N" ecuaciones simultáneas pueden ser establecidas, en las cuales la reflectancia Ri sea un desconocido. Como se describió, S203 de obtener la reflectancia de cada capa puede lograrse al llevar a cabo S203a de medir una señal de reflexión de cada capa, del disco óptico, por el sistema óptico de medición, S203b de establecer la ecuación simultánea (1-14) con respecto a la reflectancia Ri de cada capa y S203c de resolver la ecuación simultánea (1-14) para obtener la reflectancia Ri de cada capa.
Como una alternativa de S203 que obtiene la reflectancia de cada capa, además, una expresión aproximada puede establecerse en consideración de la influencia a partir de sólo la capa adyacente, con respecto a la ecuación simultánea descrita arriba. En el caso del disco de triple capa, por ejemplo, la influencia de la tercera capa en la reproducción de información de la primera capa puede ser obviada toda vez que la distancia entre la primera tercera capa y la primera capa es más larga que la distancia entre la segunda capa y la primera capa. La influencia debido a la luz dispersa se reduce por una cantidad que corresponde a un cuadrado de distancia; por lo tanto, la influencia de la tercera capa normalmente se reduce a aproximadamente ½ en comparación con la influencia de la segunda capa. Por esta razón, la reflectancia puede obtenerse aproximadamente en consideración de sólo la influencia de la capa adyacente. En este caso, se establecen las siguientes tres ecuaciones simultáneas .
Si = Ri + Sd-R2/{7t(2-d12-tane)2} ... (1-17) 52 = R2 + Sd-Sd- [Ri/{n(2-d12-tan0)2}+R3/{n(2-d23-tan0)2}] ... (1-18) 53 = R3 + Sd-R2/{n(2-d23-tane)2} ... (1-19) En caso de considerar el disco de capas múltiples típico que tiene las "N" capas (2 < N, N: un entero) , se asume que las capas adyacentes de la ia capa se define como la ja capa y la ka capa. Así, la reflectancia aparente Si de la ia capa es expresada por la siguiente ecuación.
Si = Ri + Sd- [R¿/ {n(2-diytanQ)2}+Rk/ {n(2-dik-tanQ)2}] ... (1-20) (1 < i < N, i: un entero) (j = i - 1, k = i + 1) (en un caso de i = 1, Rj/{n (2-di-¡-tan0) 2 { = 0 en el caso de i = N, Rk/ {p (2-dik-tan9) 2} = 0) En el caso de las "N" capas, el número de elementos en la ecuación simultánea (1-20) puede reducirse de N2 a 3N-2. Por lo tanto, en el caso de un disco de capas múltiples que tenga cuatro o más capas, una frecuencia de cálculos puede reducirse significativamente aunque este efecto no sea tan notable en el caso de un disco de una estructura de triple capa. En consecuencia, se hace posible obtener la reflectancia Ri de cada capa con facilidad.
También en este caso, se asume que la apertura numérica NA es 0.85, el índice de refracción n es 1.60, la distancia d12 es 25 µp?, la distancia d23 es 15 µt?, el detector tiene el tamaño cuadrado de 120 µp? x 120 µp?, y la ampliación M del sistema de detección es 20, al igual que en el ejemplo específico descrito arriba. Aquí, el tamaño de parte receptora de luz normalizado es 36 µp?2, y las relaciones de sen9 = NA/n = 0.531, T = 32.09°, tan9 = 0.627 son satisfechas.
En consecuencia, las tres ecuaciones en este caso, es decir, las ecuaciones (1-17) a (1-19) son expresadas por la siguiente ecuación. 52 = 0.01166-Ri+ R2+0.03238-R3 ... (1-21) 53 = 0.03238-R2+ R3 Aquí, cuando las ecuaciones anteriores son resueltas para la reflectancia Ri, se dan las siguientes ecuaciones.
Ri = 1.00014-Si-0.01167-S2-0.00378-S3 R2 = 0.01167-Si+l .00118-S2-0.03242-S3 ... (1-22) R3 = 0.00378-Si-0.03242-S2+l .00105-S3 Como se describió, S203 de obtener la reflectancia de cada capa puede lograrse al llevar a cabo S203a de medir la señal de reflexión de cada capa del disco óptico, mediante el uso del sistema óptico de medición, S203d de establecer la ecuación simultánea (la cual puede ser ya sea la ecuación (1-14) o (1-20)) para la reflectancia R de cada capa, y S203e de resolver la ecuación simultánea para obtener la reflectancia i de cada capa como se muestra en la figura 17.
(S04: Etapa de obtener el resultado de conversión como grado de modulación en el sistema óptico de referencia) En S204, el grado aparente de modulación medido por el sistema óptico de medición se convierte en un grado de modulación para el sistema óptico estándar. Aquí, la conversión de grado de modulación para el disco óptico de la estructura de triple capa se describe como un ejemplo. En S201 (la etapa de medir el grado de modulación de cada capa) , los grados de modulación aparentes medidos por el sistema óptico de medición, es decir, los grados de modulación aparentes para la primera capa, la segunda capa y la tercera capa son representados por mdlf md2 y md3, respectivamente. La figura 4 muestra un ejemplo de la señal de reproducción de la primera capa, la señal de reproducción siendo medida por el sistema óptico de medición. Como se describió arriba, el grado de modulación aparente mdi de la ia capa, el grado de modulación aparente mdi siendo medido por el sistema óptico de medición, corresponde al valor medido que contiene la luz dispersa única proveniente de otras capas en el sistema óptico de medición.
Aquí, se asume que el índice de refracción de la capa intermedia es representado por n, la abertura numérica del sistema óptico de medición es representada por NA, y el tamaño de parte receptora de luz normalizado del sistema de detección del sistema óptico de medición se representa por Sd. La relación de la luz dispersa proveniente de otras capas a la luz en cada capa puede obtenerse a partir de un producto de la relación de área de la luz dispersa (la cual se obtiene con base en la ecuación (1-6) ) y la relación de reflectancia entre las capas respectivas. En la primera capa, en consecuencia, la cantidad de luz dispersa SSx proveniente de otras capas (en las cuales la señal con base en la cantidad de luz de la primera capa adopta un valor de 1) es expresada por la siguiente ecuación. 551 = Sd- [R2/7T(2-di2-tan0)2} + R3/ {p (2-d23-tan9) 2 } ] /Rx ... (1-23) En forma similar, la cantidad de luz dispersa SS2 en la segunda capa de otras capas es expresada por la siguiente ecuación. 552 = Sd- [Ri/fTt -d rtane)2} + R3/ {p (2-d23-tan6) 2 } [/R2 ... (1-24) Además, la cantidad de luz dispersa SS3 en la tercera capa proveniente de otras capas es expresada por la siguiente ecuación. 553 = Sd- [R!/{ (2-d13-tan0)2} + R2/ {p (2-d23-tan6) 2 } ] /R3 ... (1-25) En el caso de considerar el disco de capas múltiples típico que tiene las "N" capas (2 < N, N: un entero) , la cantidad de luz dispersa SSi en la ia capa de otras capas en el sistema óptico de medición se expresa por la siguiente ecuación.
SSi = Sd-[?R1/{ (2-dij-tanG)2}] /Ri ... (1-26) (?: Adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) (1 < i < N, i: un entero) (l < j < N, i ? j, j: un entero) En el caso de considerar el grado de modulación (el grado aparente de modulación que contiene la luz dispersa de las demás capas) en el sistema óptico de referencia, además, la luz dispersa proveniente de otras capas tiene que tomarse en consideración. Aquí, se asume que el área de la parte receptora de bus del sistema óptico de referencia es representada por Snpd, la ampliación del sistema de detección del sistema óptico de referencia es representada por Mn, y el tamaño de parte receptora de luz normalizado del sistema óptico de referencia es representado por Sdn (Sdn = Snpd/ n2) . Así, la luz dispersa proveniente de otras capas equivale a SSnx (en la cual la señal proveniente de la primera capa adopta un valor de 1) en la primera capa en el sistema óptico de referencia es expresada por la siguiente ecuación.
SSn! = Sdn-[R2/{n(2-di2-tan0)2} + R3/ {p (2-di3-tan0) 2}] /Rx ... (1-27) De manera similar, la cantidad de luz dispersa SSn2 proveniente de otras capas en la segunda capa para el sistema óptico estándar es expresada por la siguiente ecuación.
SSn2 = Sdn- [Ri/{7i(2-di2-tan6) 2} + 1¼/{p (2-d23-tan9) 2}] /R2 ... (1-28) Además, la cantidad de luz dispersa SSn3 proveniente de otras capas en la tercera capa en el sistema óptico de referencia es expresada por la siguiente ecuación.
SSn3 = Sdn- [Ri/ {p ( 2-d13-tan0) 2} + R2/ {p (2-d23-tan6) 2 } ] /R3 ... (1-29) En el caso de considerar el disco de capas múltiples típico que tiene las "N" capas (2 < N, N: un entero) , la luz dispersa proveniente de otras capas equivale a SSni en la ia capa en el sistema óptico de referencia es expresada por la siguiente ecuación.
SSni = Sdn- [?Rj/{n (2-dij-tan9) 2}] /Ri ... (1-30) (?: Adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) (1 = i < N, i: un entero) (1 < j < N, i ? j, j: un entero) La figura 5 muestra un ejemplo de la señal de reproducción de la primera capa para el sistema óptico estándar. Los grados de modulación aparente mdi a md3 medidos por el sistema óptico de medición y obtenidos con base en las ecuaciones descritas arriba se convierten en los grados de modulación m i. a mn3 para el sistema óptico estándar, con base en la siguiente ecuación. mni = Ipp/ ltop ' = I / Itop-Ipp/ I op ' = rodr ltop/ ltop ' ··· (l- 31) en esta ecuación, por ejemplo, el grado de modulación mdi de la primera capa para el sistema óptico de medición se define como Ipp/ Itop mostrado en la figura 4, y el grado de modulación mni de la primera capa para el sistema óptico estándar se define como Ipp/ ltop ' mostrado en la figura 5. Así, el valor Itop es expresado como la siguiente ecuación, con base en los valores SSni en la ecuación (1-23) .
Itpp8 1+SSx ... (1-32) Además, el valor It0p ' es expresado por la siguiente ecuación, con base en el valor SSni en la ecuación (1-27) .
Itop' oc l+SSnx ... (1-33) Por lo tanto, la ecuación (1-31) puede modificarse para ser la siguiente ecuación. mni = mdrCL+SSi) / (1+SSni) ... (1-34) De manera similar, el grado de modulación mn2 de la segunda capa para el sistema óptico estándar se expresa por la siguiente expresión. mn2 = md2- (l+SSz) / (l+SSn2) ... (1-35) Además, el grado de modulación mn3 de la tercera capa para el sistema óptico estándar se expresa por la siguiente expresión. mn3 = md3- (I+SS3) / (l+SSn3) ... (1-36) En el caso de considerar el disco de capas múltiples típico que tiene las "N" capas (2<N, N: un entero) , el grado de modulación mni de la ia capa (l=i<N, i: un entero) para sistema óptico estándar se expresa por la siguiente ecuación.
Mn± = mdi- (1+SSi) / (l+SSni) ... (1-37) Como se describió, S204 de obtener el resultado de conversión como el grado de modulación para el sistema óptico estándar puede lograrse al llevar a cabo S204a de calcular la cantidad de luz dispersa de otra capa SSi en la ia capa para el sistema óptico de medición, con base en la ecuación (1-26) y calculando la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSni en la ia capa para el sistema óptico estándar, con base en la ecuación (1-30) , y S204b de obtener el resultado de conversión como el grado de modulación para el sistema óptico estándar, con base en la ecuación (1-37) como se muestra en las figuras 13 a 16.
Como una alternativa para S204, además, una expresión aproximada puede establecerse considerando la influencia sólo de la capa adyacente, con respecto a la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SS± en la ia capa para el sistema óptico de medición y la cantidad de luz dispersa de otras capas SSni en la ia capa para el sistema óptico estándar.
En caso de considerar el disco de capas múltiples que tiene las "N" capas (2<N, N: un entero) , se asume que las capas adyacentes de la ia capa (l<i<N, i: un entero) se define como la ja capa (j = i-1) y la ka capa (k = i+1) . Así, la cantidad de luz dispersa de otras capas SSi en la ia capa para el sistema óptico de medición puede expresarse por la siguiente ecuación.
SS± = Sd-[Rj/{n(2-dirtane)2} + Rk/ {p (2-dik-tane)2}] /R ... (1-26-2) (en un caso de i = 1, Rj/ {p (2-d-¡j-tan0) 2} = 0 en un caso de i = N, Rk/ {p (2-dik-tan0) 2} = 0) Además, la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSni en la ia capa para el sistema óptico estándar puede expresarse por la siguiente ecuación.
SSni = Sdn-[Rj/{n(2-dirtane)2} + Rk/{ (2-dik-tan9)2}] /R ... (en un caso de i = 1, Rj/ {p (2-djj-tan9) 2} = 0 en un caso de i = N, Rk/{ (2-dik-tan9) 2} = 0) Las cantidades de luz dispersa provenientes de otras capas SSi y SSni son calculadas con base en las ecuaciones (1-26-2) y (1-30-2), respectivamente, por lo que el grado de modulación para el sistema óptico estándar puede obtenerse con base en la ecuación (1-37) . En este caso, se hace posible reducir significativamente la frecuencia de cálculos y obtener el grado de modulación para el sistema óptico estándar con facilidad.
Como se muestra en la figura 17, S204 de obtener el resultado de conversión como el grado de modulación para el sistema óptico estándar puede lograrse al llevar a cabo S204c de calcular la cantidad de luz dispersa SSi para el sistema óptico de medición y la cantidad de luz dispersa SSni para el sistema óptico estándar (con base ya sea en las ecuaciones (1-26) y (1-30) y las ecuaciones (1-26-2) y (1-30-2)), y S204b de obtener el resultado de conversión como el grado de modulación para el sistema óptico estándar, con base en la ecuación (1-37) .
Aquí, la reflectancia (por ejemplo, Ri a R3) de cada capa se usa para la conversión del grado de modulación. Sin embargo, el grado de modulación puede someterse a aproximación usando el valor medido (por ejemplo, Si a S3) que contiene la luz dispersa. Esto se debe ya que sólo la relación de reflectancia entre las capas respectivas se usa para la conversión del grado de modulación, y los efectos de la luz dispersa se limitan por lo tanto. En este caso, la reflectancia de la capa que tiene un grosor pequeño con la capa adyacente puede aproximarse ampliamente.
Las descripciones anteriores se refieren al método para convertir el grado de modulación para cada capa, medido por el sistema óptico de medición, en el grado de modulación de cada capa para el sistema óptico estándar de acuerdo con la primera modalidad de la presente invención.
Como se describió arriba, de acuerdo con el método anterior de la presente modalidad, no obstante de un sistema óptico adoptado para la medición, es posible obtener el grado de modulación medido siempre y cuando el objeto sometido a medición sea el mismo que si el grado de modulación se mide por el sistema óptico estándar. En particular, de acuerdo con el método de la presente modalidad, para propiedades de varios discos ópticos (medio de grabación óptico) , el mismo resultado de medición que aquél obtenido cuando se mide por el sistema óptico estándar puede ser obtenido. Es por lo tanto posible reducir variaciones en valor indicadoras de una propiedad de un disco óptico entre sistemas ópticos adoptados para medición, logrando de esta manera una compatibilidad mejorada de unidades de discos ópticos con el disco óptico.
Segunda modalidad La figura 7 muestra un método para convertir una diferencia en reflectancia entre las capas respectivas del disco de capas múltiples, según se mide por el sistema óptico de medición, en una diferencia en reflectancia para el sistema óptico estándar de acuerdo con la segunda modalidad de la presente invención. Aquí, la diferencia en reflectancia se calcula a partir de una diferencia en el nivel máximo It0p de la señal de reproducción entre las capas. Se asume que el nivel máximo de la señal de reproducción de la primera capa es representado por Itopi y el nivel máximo de la señal de reproducción de la segunda capa es representado por It0p2- Así, la diferencia en reflectancia puede obtenerse con base en la siguiente ecuación. a = (Itopi~Itop2) / ( Itopi+Itop2) — (2-1) Sin embargo, el nivel máximo It0p contiene el componente de la luz dispersa proveniente de otras capas, como en el caso de la primera modalidad. Por esta razón, el valor indicador de la diferencia en reflectancia a difiere dependiendo de un sistema óptico adoptado para la medición. Por consiguiente, el valor obtenido del sistema óptico de medición tiene que convertirse en un valor para el sistema óptico estándar. El método de conversión de la diferencia en reflectancia incluye cuatro etapas S301, S202, S203 y S302. Las etapas respectivas se describen abajo.
(S301: Etapa de medir la relación entre la señal de reproducción y cantidad de luz incidente en cada capa) En S301, se mide una relación entre la señal de reproducción y la cantidad de luz incidente en cada capa del disco óptico. Al igual que en la primera modalidad, aquí, se darán explicaciones del caso de adoptar un disco de una estructura de triple capa. En el sistema óptico de medición, la reflectancia aparente Si que corresponde a la relación entre la cantidad de luz de señal y la cantidad de luz incidente cada una de las cuales puede medirse cuando se reproduce información de la ia capa es expresada por las siguientes ecuaciones de la manera descrita en la primera modalidad.
Sx = Ri + Sd- [R2/{7i(2-d12-tane)2} + R3/ {p (2-di3-tan6) 2} ] ... (2-2) S2 = R2 + Sd- [Ri/{7t(2-d12-tan0)2} + R3/ {p (2-d23-tan0) 2} ] ... (2-3) S3 = R3 + Sd- [Ri/{n(2-di3-tan9) } + R2/ {p (2-d23-tan9) 2} ] ... (2-4) La relación (Si a S3) entre la cantidad de luz de señal y la cantidad de luz incidente en cada capa puede medirse por el sistema óptico de medición.
(S202: Etapa de obtener grosor entre capas respectivas) Aquí, como en el caso de la primera modalidad, un grosor entre capas del disco óptico puede medirse realmente (S202a en la figura 18) . Además, el valor indicador del grosor entre las capas puede ser un valor de diseño- (un grosor objetivo cuando se fabrica el disco óptico) o un valor promedio de variaciones después de la producción en masa del disco óptico (un grosor promedio en caso de la fabricación de una pluralidad de medios de información óptico) . Como alternativa, el valor indicador del grosor entre capas puede ser un valor estándar especificado de acuerdo con especificaciones y similares.
(S203: Etapa de obtener reflectancia de cada capa) Las reflectancias Ri a R3 de las capas respectivas pueden obtenerse de tal manera que las tres ecuaciones descritas arriba (es decir, las ecuaciones (2-2) a (2-4)) se resuelvan con respecto a las reflectancias Rx a R3.
Aquí, cada una de las reflectancias aparentes Si a S3 adopta el valor obtenido en S301 (la etapa de medir la relación entre la señal de reproducción y la cantidad de luz incidente en cada capa) . Cada una de la abertura numérica NA y el tamaño de parte receptora de luz normalizado Sd ya se conoce y se determina con base en el sistema óptico de medición. El índice de refracción n puede obtenerse por separado como el parámetro del disco óptico. El valor T satisface la condición de sen9 = NA/n. Cada una de la distancia di2 entre la primera y segunda capas del disco óptico, y similares adopta el valor obtenido en S202 (la etapa de obtener el grosor entre capas) .
S203 puede lograrse llevar a cabo S203f de establecer la ecuación simultánea (la ecuación (1-20) ) con respecto a la reflectancia Ri de cada capa, y S203g de resolver la ecuación simultánea para obtener la reflectancia Ri de cada capa como se muestra en la figura 18. Como se muestra en la figura 19, además, S203 puede lograrse al llevar a cabo S203d y S203e.
(S302: Etapa de calcular la diferencia en reflectancia en el sistema óptico de referencia) Una reflectancia aparente Sni que corresponde a una relación entre una cantidad de luz de señal y una cantidad de luz incidente cada una de las cuales puede medirse cuando se reproduce información de la ia capa para el sistema óptico estándar se calcula con base en las siguientes ecuaciones usando las reflectancias Ri a R3 obtenidas en S203 (la etapa de obtener la reflectancia de cada capa) .
Sni = Ri + Sdn-[R2/{ (2-di2-tan9)2} + R3/ {p ( 2-di3-tan6) 2 } ] (2-5l Sn2 = R2 + Sdn- [R2/{n(2-di2-tan9)2} + R3/ {p ( 2-d23-tane) 2 } ] ... (2-6i Sn3 = R3 + + R2/ {p ( 2-d23-tan6) } ] (2-7) En el caso de considerar el disco de capas múltiples típico que tiene las "N" capas (2 = N,N: un entero) , la reflectancia aparente Sni se expresa por la siguiente ecuación .
Sin = Ri + Sdn- [?Rj/{n(2-dij-tane) 2}] ... (2-8) (?: Adición de enteros de 1 a N en un caso de j?i, con respecto a j ) (1 < i < N, i: un entero) (l < j < , i ? j, j: un entero) Al igual que en la ecuación (2-1) , por ejemplo, la diferencia en reflectancia entre la primera capa y la segunda capa se da con base en la siguiente ecuación usando la reflectancia aparente Sni para el sistema óptico estándar. an12 = (Sni - Sn2)/(Sni+ Sn2) ... (2-9) En el caso de considerar el disco de capas múltiples típico que tiene las "N" capas (2 < N, N: un entero) , la diferencia en reflectancia anij entre la ia capa y la ja capa se obtiene con base en la siguiente ecuación. anij = (Sni-Snj) / (Sni+Snj) ... (2-10) (1 < i < N, i: un entero) (1 < j < N, i ? j, j: un entero) Así, se hace posible obtener una diferencia en reflectancia entre capas arbitrarias para el sistema óptico estándar .
Como se describió, S302 de calcular la diferencia en reflectancia para el sistema óptico estándar puede lograrse al llevar a cabo S302a de calcular la reflectancia aparente Sni para el sistema óptico estándar, con base en la ecuación (2- 8) , y S302b de calcular la diferencia en reflectancia nij para el sistema óptico estándar, con base en la ecuación (2-10) como se muestra en la figura 18.
Esta modalidad toma la luz dispersa proveniente de todas las capas en consideración para obtener la reflectancia Ri de cada capa. Sin embargo, esta modalidad puede tomar la luz dispersa proveniente sólo de la capa adyacente en consideración, como en la primera modalidad. En este caso, aunque se incremente un error, el número de elementos que será calculado se reduce. Así, se hace posible obtener más fácilmente el valor.
Además, esta modalidad toma en consideración la luz dispersa proveniente de todas las capas para obtener la relación Sni entre la cantidad de luz de señal y la cantidad de luz incidente cada una de las cuales puede medirse cuando se reproduzca información de la ia capa en el sistema óptico de referencia. También en este caso, esta modalidad puede tener en consideración la luz dispersa proveniente sólo de la capa adyacente.
Más específicamente, en el disco de capas múltiples que tiene las "N" capas (2<N, N: un entero) , en caso de que la ia capa (l<i<N, i: un entero) se ubique entre la ja capa (j = i-1) y la ka capa (k = i+1) , la relación Sni se expresa por la siguiente ecuación general.
Sni = Ri + Sdn- [Rj/{ (2-dij-tan9) 2} + Rk/ {p (2-dik-tan6) } ] ... (2-11) (en un caso de i = 1, R-¡/ {p (2-di;j-tan9) 2 } = 0 En un caso de i = N, Rk/ {p (2-dik-tan0) 2} = 0) También en este caso, aunque se incremente un error, el número de elementos que se calculará puede reducirse. De esta manera, se hace posible obtener más fácilmente el valor.
Como una aproximación alternativa, se da una descripción de un ejemplo que emplea, en lugar de la reflectancia Ri, la reflectancia aparente Si que corresponde a la cantidad obtenida al estandarizar, con la cantidad de luz incidente, la cantidad de luz en la señal de reproducción (que contiene la luz dispersa) que puede medirse por el sistema óptico de medición cuando se reproduzca información de la ia capa del disco óptico.
En este caso, la reflectancia aparente Sni para el sistema óptico estándar se expresa por la siguiente ecuación general .
Sni = Si+Sdn- [?S-j / {p (2-di tane) 2 } ] ... (2-12) (?: Adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) Aquí, la reflectancia Si que toma el valor medido se establece como la reflectancia de cada capa (S203h en la figura 20) ; por lo tanto, no es necesario resolver la ecuación con respecto a la reflectancia Ri. Así, se hace posible llevar a cabo de manera bastante fácil el cálculo.
En el caso de emplear la reflectancia aparente Si en lugar de la reflectancia Ri, la reflectancia aparente Sni puede calcularse en consideración de la influencia sólo de la capa adyacente .
En el disco de capas múltiples que tiene las "N" capas (2 < N, N: un entero) , se asume que la ia capa (1 < i < N, i: un entero) se ubica entre la ja capa (j = i - 1) y la ka capa (k = i + 1) . De esta manera, la reflectancia aparente Sni se expresa por la siguiente ecuación general.
Sni = Si + Sdn-Sdn- [Sj/{ (2-dij-tan0) 2} + Sk/ {p (2-tan0) 2 } ] ... (2-13) (en un caso de i = 1, Rj/ {p (2-dij-tanG) 2} = 0 en un caso de i = N, Rk/ {p (2-dik-tan9) 2} = 0) En este caso, se hace posible reducir más el número de elementos que será calculado.
Como se describió, S302 de calcular la diferencia en reflectancia para el sistema óptico estándar puede lograrse al llevar a cabo S302c de calcular la reflectancia aparente Sni para el sistema óptico estándar, con base en cualquiera de las expresiones descritas arriba, y S302d de calcular la diferencia en reflectancia anij para el sistema óptico estándar a partir de la reflectancia aparente Sni como se muestra en las figuras 19 a 21.
La anterior descripción se refiere al método para convertir la diferencia en reflectancia entre las capas respectivas, medida por el sistema óptico de medición, en la diferencia en reflectancia entre las capas respectivas para el sistema óptico estándar de acuerdo con la segunda modalidad de la presente invención.
Como se describió arriba, de acuerdo con el método anterior de la presente modalidad, no obstante de un sistema óptico adoptado para la medición, es posible obtener la reflectancia medida siempre y cuando el objeto sometido a medición sea igual que si la reflectancia se mide por el sistema óptico estándar. En particular, de acuerdo con el método de la presente modalidad, para propiedades de varios discos ópticos (medio de grabación óptico) , el mismo resultado de medición que. aquél obtenido cuando se mide por el sistema óptico estándar puede ser obtenido. Por lo tanto es posible reducir variaciones en valor indicadoras de una propiedad de un disco óptico entre sistemas ópticos adoptados para medición, logrando entonces una compatibilidad mejorada de unidades de discos ópticos con el disco óptico.
Tercera modalidad Las siguientes descripciones explicarán un método para obtener una reflectancia de cada capa de acuerdo con la tercera modalidad de la presente invención como un método alternativo de S203 de aquellos adoptados en la primera y segunda modalidades de la presente invención.
En el caso de considerar los valores medidos Si a S3 de las reflectancias de las capas respectivas, cada una que contiene la luz dispersa, esta modalidad incluye obtener un coeficiente de conversión mediante el cálculo de una cantidad de la luz dispersa contenida en el valor medido de cada capa cuando una relación de reflectancia entre las capas respectivas adopta un valor de 1, y aproximar, como la reflectancia de cada capa, un valor obtenido al dividir la reflectancia medida realmente entre el coeficiente de conversión. Este caso obvia un punto de que el contenido de luz dispersa real incurra en una influencia debido a la relación de reflectancia. Sin embargo, esta influencia puede eliminarse por la aproximación de una cantidad de luz dispersa estándar.
Aquí, el disco de triple capa se describe como un ejemplo. Se asume que la reflectancia de la primera capa es representada por Rl7 la reflectancia de la segunda capa es representada por R2, y la reflectancia de la tercera capa es representada por R3. Además, se asume que la distancia entre la primera y segunda capas es representada por d12, la distancia entre la primera y tercera capas es representada por di3, la distancia entre la segunda y tercera capas es representada por d23/ el índice de refracción de la capa intermedia es representado por n y la abertura numérica del sistema óptico es representada por NA. Además, se asume que la relación de senG = NA/n es satisfecha, y el tamaño de parte receptora de luz normalizado del sistema de detección del sistema óptico de medición se representa por Sd.
Aquí, se asume que la cantidad obtenida al estandarizar, con la cantidad de luz incidente, la señal que puede medirse cuando se reproduce información de la ia capa es representada por Si( y las capas respectivas tienen la misma reflectancia, es decir, la siguiente condición se mantiene.
Ri = R2 = R3 = R ». (3-1) Luego, el coeficiente de conversión ai de cada capa es expresado por las siguientes ecuaciones. ai = Si/R = l+Sd-[l/{n(2d12tane)2} +l/{n(2-d13-tan0)2}] ... (3-2) a2 = S2/R = l+Sd- [1/{p (2-d12-tan6) 2} +?/{p (2-d23-tan9) 2) ] ... (3-3) a3 = S3/R = l+Sd-[l/{n(2-d13-tane)2} +l/{7i(2-d23-tan6)2}] ... (3-4) En el caso de considerar el disco de capas múltiples típico que tiene las "N" capas (2 < N, N: un entero) , un coeficiente de conversión ai de la ia capa es expresado por la siguiente ecuación. ai = Si/R = 1 + Sd- [?l/{ (2-dij-tane)2}] ... (3-5) (?: Adición de enteros de 1 a N en un caso de j?i, con respecto a j ) (1 < i < N, i: un entero) (1 < j < N, i ? j, j: un entero) A partir de este coeficiente de conversión a±, la reflectancia Rj de cada capa se obtiene, con base en la siguiente ecuación.
Como se muestra en la figura 21, en consecuencia, S203, es decir, la etapa de obtener la reflectancia de cada capa puede lograrse al llevar a cabo S203i de obtener el coeficiente de conversión ai de cada capa del disco óptico, con base en la ecuación (3-5), y S203j de obtener la reflectancia Ri de cada capa, con base en la ecuación (3-6) .
Como un ejemplo concreto, se asume que la abertura numérica NA es 0.85, el índice de refracción n es 1.60, la distancia di2 entre la primera y segunda capas del disco de triple capa es 25 pm, y la distancia d23 entre la segunda y tercera capas es 15 m. Además, se asume que la parte receptora de luz del detector tiene el tamaño cuadrado de 120 pm x 120 pm, y la ampliación M del sistema de detección es 20. En este caso, el tamaño de parte receptora de luz normalizado Sd del sistema óptico de medición es 36 pm2, y las relaciones de sen6 = NA/n = 0.531, T = 32.09° y tan0 = 0.627 son satisfechas. En consecuencia, el coeficiente de conversión ai de cada capa es expresado por la siguiente ecuación. a2 = S2/R = 1.0440 ... (3-7) a3 = S3/R = 1.0369 A partir de estos valores numéricos, la reflectancia Ri de cada capa puede obtenerse con base en la siguiente ecuación.
R2 = S2/ 1 . 044 ... ( 3 - 8 ) R3 = S3 / 1 . 0369 Esta modalidad es igual a la primera y segunda modalidades en un método para obtener un grado de modulación y un método para obtener una diferencia en reflectancia.
De acuerdo con el método de la presente modalidad, es posible calcular una reflectancia sin influencia de luz dispersa de una manera más simple.
Como se describió arriba, incluso cuando una reflectancia se mide por cualquier sistema óptico, el método de acuerdo con esta modalidad permite el cálculo de una reflectancia de un medio sin influencia de luz dispersa. Así, este método propicia un resultado que es igual a un resultado obtenido cuando propiedades de varios discos ópticos (medios de información ópticos) se miden por un sistema óptico predeterminado. Es por lo tanto posible reducir variaciones en valor indicadoras de una propiedad de un disco óptico entre sistemas ópticos adoptados para medición, logrando de esta manera una compatibilidad mejorada de unidades de discos ópticos con el disco óptico.
A continuación se darán descripciones de un medio de información óptico sometido a medición por el método de medición de medios de información ópticos de acuerdo con cada una de la primera a tercera modalidades. La figura 10 muestra una configuración esquemática de un disco de capas múltiples 1001 (un medio de información óptico) que tiene cuatro capas de información. El disco de capas múltiples 1001 incluye un substrato de disco 1002, y una capa de información 1003 formada en el substrato de disco 1002. La capa de información 1003 incluye una capa de grabación LO, una capa de grabación Ll, una capa de grabación L2 y una capa de grabación L3 que se forman en una secuencia para que sean distantes de un lado irradiado con un rayo de luz para usarse en la reproducción o grabación (es decir, desde un lado del substrato 1002) .
A continuación se dará una breve descripción de un método para fabricar el disco de capas múltiples 1001. Primero, se prepara el substrato de disco 1002 que tiene una superficie provista con una pista para grabar una señal de información en la misma de acuerdo con una señal de dirección y datos de control. Luego, la capa de información 1003 se forma en el substrato del disco 1002. En otras palabras, la capa de grabación LO, la capa de grabación Ll, la capa de grabación L2 y la capa de grabación L3 se forman en esta secuencia sobre el substrato de disco 1002. Aquí, una capa intermedia o similar puede ser interpuesta entre las capas de grabación respectivas. Además, una capa de cubierta puede formarse sobre la capa de información 1003.
Las anteriores descripciones han sido dadas a través del caso de adoptar el disco óptico de una estructura de cuatro capas que tiene cuatro capas de información para el disco de capas múltiples 1001; sin embargo, la presente invención no está limitada a este ejemplo. Como alternativa un medio de información óptico que se usará en la presente puede incluir una pluralidad de capas de información.
La figura 11 muestra una estructura esquemática de un aparato de grabación de información (un aparato de grabación) 1101 que graba información en el medio de información óptico descrito arriba. El aparato de grabación de información 1101 incluye un circuito procesador de señales de grabación 1102, una cabeza óptica 1103, un lente objetivo 1104, y similares. El circuito procesador de señales de grabación 1102 genera una señal de grabación de acuerdo con datos de grabación. La cabeza óptica 1103 irradia la superficie de grabación del disco de capas múltiples 1001 con un rayo de luz para escribir información en la superficie de grabación de acuerdo con la señal de grabación. El rayo de luz es recogido por el lente objetivo 1104 y es luego convergido sobre la capa de grabación específica de la capa de información 1003 del disco de capas múltiples 1001.
La figura 12 muestra una configuración esquemática de un aparato de reproducción de información 1201 (un aparato reproductor) que reproduce información del medio de información óptico descrito arriba. El aparato reproductor de información 1201 incluye un circuito procesador de señales de reproducción 1202, una cabeza óptica 1103 y un lente objetivo 1104. La cabeza óptica 1103 irradia la superficie de grabación del disco de capas múltiples 1001 con un rayo de luz, y luego detecta luz reflejada de la superficie de grabación del disco de capas múltiples 1001 para leer información. El rayo de luz es recogido por el lente objetivo 1104 y es luego convergido sobre la capa de grabación específica de la capa de información 1003 del disco de capas múltiples 1001. El circuito procesador de señales de reproducción 1202 recibe una señal de reproducción obtenida por detección eléctrica de la luz reflejada de la superficie de grabación del disco de capas múltiples 1001, separa y desmodula un componente de señal grabado en el disco de capas múltiples 1001, y reproduce información requerida.
Un método de medición de medios de información ópticos de acuerdo con un aspecto de la presente invención, para medir un grado de modulación en un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tiene una pluralidad de capas de información, incluye: una primera etapa de medir el grado de modulación de cada capa del medio de información óptico, por un sistema óptico de medición, una segunda etapa de obtener un grosor entre capas del medio de información óptico, una tercera etapa de obtener una reflectancia de cada capa del medio de información óptico, y una cuarta etapa de convertir el grado de modulación de cada capa, el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, en un grado de modulación en un sistema óptico de referencia que difiera del sistema óptico de medición, con base en un valor indicador del grosor entre capas, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, y un valor indicador de la reflectancia de cada capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa.
Con esta estructura, es posible convertir, en el grado de modulación en el sistema óptico estándar unificado, el grado de modulación en el medio de información óptico, el grado de modulación siendo medido por cualquier sistema óptico de medición que difiera del sistema óptico estándar. Por lo tanto, esta configuración permite una comparación correcta del grado de modulación incluso cuando el medio de información óptico se someta a medición usando cualquier sistema óptico de medición, sin preparación de un sistema óptico de medición especial. Además, esta configuración tiene el siguiente efecto. Es decir, es posible asegurar compatibilidad de diferentes aparatos con el medio de información óptico de tal manera que el medio de información óptico sea sometido a evaluación usando el valor medido convertido en el grado de modulación para el sistema óptico estándar.
De preferencia, el medio de grabación óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que el grado de modulación de la ia capa (1 < i < N, i: un entero), el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, se representa por mdi, una cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas en la ia capa para el sistema óptico de medición se representa por SSi, y una cantidad de luz dispersa de otras capas en la ia capa en el sistema óptico estándar se representa por SSnj., entonces, en la cuarta etapa, el grado de modulación mni de la ia capa en el sistema óptico estándar es expresado por una ecuación de mnx = mdi-(l + SSi)/(l + SSni) .
Con esta estructura, es posible obtener de manera fácil y correcta el resultado de conversión como el grado de modulación mni en el sistema óptico estándar, a partir de la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSi para el sistema óptico de medición y la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSn en el sistema óptico estándar.
De preferencia, cuando se asume que un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico de medición se representa por SPd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico de medición se representa por M, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico de medición se representa por Sd (Sd = SPd/M2) , una abertura numérica en el sistema óptico de medición se representa por NA, el grosor entre la ia capa y la ia capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero), el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, se representa por dij, un índice de refracción entre la ia capa y la ia capa es representado por n, la reflectancia de la ia capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por R±, y un valor T satisface una relación de senB = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSni en la ia capa para el sistema óptico de medición se expresa por una ecuación de SSni = Sdn- [?Rj/{ (2-dij-tan9)2}] /Ri (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j) .
Con esta estructura, es posible obtener en forma fácil y correcta la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSi para el sistema óptico de medición, con base en la expresión descrita arriba.
De preferencia, cuando se asume que un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico estándar es representada por Snpd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico estándar es representada por Mn, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico estándar se representa por Sdn (Sdn = Snpd/Mn2) , una apertura numérica en el sistema óptico de medición se representa por NA, el grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda capa, se representa por di , un índice de refracción entre la ia y la ja capa se representa por n, la reflectancia de la ia capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, se representa por Ri, y un valor T satisface la relación de sen9 = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, la cantidad de "luz dispersa proveniente de otras capas SSni en la ia capa en el sistema óptico estándar se expresa por una ecuación de SSni Sdn- [?Rj/ {p (2-dij-tan9) 2} ] /Ri (?: adición de enteros del a N en un caso de j ? i, con respecto a j) .
Con esta estructura, es posible obtener en forma fácil y correcta la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSni en el sistema óptico estándar, con base en la expresión descrita arriba.
De preferencia, cuando se asume que un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico de medición es representada por SPd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico de medición es representada por , un tamaño de parte receptora de luz normalizado en el sistema óptico de medición se representa por Sd (Sd = Spd/M2) , una abertura numérica en el sistema óptico de medición se representa por NA, la ia capa (l<i<N, i: un entero) se ubica entre la ja capa (j = i - 1) y la k capa (k = i + 1) , el grosor entre la ia capa y la ja capa, el grosor siendo también en la segunda etapa, es representado por dij , el grosor entre la ia capa y la ka capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa es representado por di*, un índice de refracción entre las capas respectivas es representado por n, la reflectancia de la ia capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por Ri, y un valor T satisface una relación de senG = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SS± en la ia capa para el sistema óptico de medición es expresada por una ecuación de SSi = Sd- [Rj/ {p (2 -dij -tan9) 2 '} + Rk/ {n (2 -dik-tand) 2} ] /i?¿ (en un caso de i = 1, Rj/ {p (2-dij-tan6) 2} = 0, en un caso de i = N, Rk/{ (2-dik-tan9)2} = 0) .
Con esta estructura, es posible reducir significativamente una frecuencia de cálculos y obtener más fácilmente la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSi para el sistema óptico de medición, con base en la expresión descrita arriba, de tal manera que la influencia debido a la luz dispersa proveniente de otras capas que será ejercida en la presente se restringa a aquella sólo de la capa adyacente .
De preferencia, cuando se asume que un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico estándar es representada por Snp(¡, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico estándar es representada por Mn, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico estándar es representada por Sdn (Sdn = SnPd/Mn2) , una abertura numérida en el sistema óptico de medición es representada por NA, la ia capa (1 < i < N, i: un entero) se ubica entre la ja capa (j = i - 1) y la ka capa (k = i + 1) , el grosor entre la ia capa y la ja capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij, el grosor entre la ia capa y la k capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dik, un índice de refracción entre las capas respectivas es representado por n, la reflectancia de la ia capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por Ri, y un valor T satisface una relación de sen9 = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, la cantidad de luz dispersa de las otras capas SSni en la ia capa en el sistema óptico estándar es expresada por una ecuación de SSni = Sdn- [R-¡/ {p (2-dij-tan6)2'} + Rk/ {K(2-dik-tand)2}] /R, (en un caso de i = 1, R-¡/ {p (2-di tan9)2} = 0, en un caso de i = N, Rk/ {n(2-dik-tand)2} = 0) .
Con esta estructura, es posible reducir significativamente una frecuencia de cálculos y adquirir más fácilmente la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSni en el sistema óptico estándar, con base en la expresión descrita arriba, de tal manera que la influencia debido a la luz dispersa proveniente de otras capas que será ejercida en la presente se restringa a aquella sólo de la capa adyacente .
En la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico puede medirse por una máquina de medición.
Con esta estructura, el grosor entre capas es realmente medido en la segunda por lo que un valor más preciso indicador de la reflectancia de cada capa puede obtenerse en la tercera etapa. En consecuencia, es posible lograr una conversión más correcta en el grado de modulación mmi para el sistema óptico estándar.
De preferencia, en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico adopta un valor de diseño después de la fabricación del medio de información óptico .
Con esta estructura, es posible omitir el proceso de medir la distancia entre las capas respectivas del medio de información óptico, y obtener fácilmente el valor indicador del grosor entre capas.
Preferiblemente, en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico toma un valor promedio después de la fabricación de la pluralidad de medios de información ópticos.
Con esta estructura, es posible obtener fácilmente el valor indicador del grosor entre capas.
De preferencia, el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Ri, el grosor entre la ia capa y la j capa (1 < j < N, i ? j, j : un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij, un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición se representa por S±, y un valor T satisface una relación de senO = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, "N" ecuaciones se establecen para de esta manera satisfacer la ecuación de Si = Ri + Sd- [?Rj/ {p (2-dij-tanG) 2}] (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j), y la reflectancia Ri se obtiene de tal manera que las "N" ecuaciones para la reflectancia aparente S se resuelvan con respecto a la reflectancia Ri.
Con esta estructura, es posible adquirir en forma fácil y correcta la reflectancia Ri, con base en las "N" ecuaciones simultáneas descritas arriba.
Preferiblemente, el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Ri, la ia capa (1 < i = N, i : un entero) se ubica entre la ja capa (j = i - 1) y la ka capa (k = i + 1) , el grosor entre la ia capa y la ja capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por di , el grosor entre la ia capa y la ka capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dik, un índice de refracción entre las capas respectivas es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición se representa por Si, y un valor T satisface una relación de sen9 = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, "N" ecuaciones se establecen de tal manera que satisfaga la ecuación de S = R± + Sd- [Rj/ {p (2-dij'tan0) 2} + Rk/ {p (2-dj.k-tan0} ] (en un caso de i = 1, Rj/? (2-dij-tan0) 2} = 0, en un caso de i = N, k/ {p (2-dik-tan9) 2} = 0), y la reflectancia R± se obtiene de tal manera que las "N" ecuaciones para la reflectancia aparente S± se resuelvan con respecto a la reflectancia R±.
Con esta estructura, es posible reducir significativamente una frecuencia de cálculos y adquirir más fácilmente la reflectancia Rj., con base en las "N" ecuaciones simultáneas descritas arriba, de tal manera que la influencia debido a la luz dispersa proveniente de otras capas que será ejercida en la presente se restringa a aquella sólo de la capa adyacente .
Preferiblemente, el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i = N, i: un entero) es representada por Ri( y una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, entonces, en la tercera etapa, la reflectancia Ri se aproxima a la reflectancia aparente S± .
Con esta estructura, es posible reducir significativamente una frecuencia de cálculos y adquirir más fácilmente la reflectancia Ri por la aproximación del factor de reflectancia aparente Si obtenido por medición usando el sistema óptico de medición, como la reflectancia Ri.
Un método de medición de medios de información ópticos de acuerdo con otro aspecto de la presente invención, para medir una diferencia en reflectancia en un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tiene una pluralidad de capas de información incluye: una quinta etapa de obtener una reflectancia aparente que corresponda a una relación entre una cantidad de luz de señal y una cantidad de luz incidente obtenidas cada una después de la reproducción de información de cada capa del medio de información óptico, mediante el uso de un sistema óptico de medición, una segunda etapa de obtener un grosor entre capas del medio de información óptico, una tercera etapa de obtener una reflectancia de cada capa del medio de información óptico, y una sexta etapa de obtener un resultado de conversión como una diferencia en reflectancia para un sistema óptico estándar que difiera del sistema óptico de medición, a partir de un valor indicador de la reflectancia aparente obtenible en la quinta etapa, un valor indicador del grosor entre capas, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, y un valor indicador de la reflectancia de cada capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa.
Con esta estructura, es posible convertir, en la diferencia en reflectancia para el sistema óptico de referencia unificado, la diferencia en reflectancia en el medio de información óptico, la diferencia en reflectancia siendo medida por cualquier sistema óptico de medición que difiera del sistema óptico estándar. Por lo tanto, esta comparación permite la comparación correcta de la diferencia en reflectancia incluso cuando el medio de información óptico sea sometido a medición usando cualquier sistema óptico de medición, sin preparación de un sistema óptico de medición especial. Además, esta configuración en el siguiente efecto. Es decir, es posible asegurar compatibilidad de diferentes aparatos con el medio de información óptico de tal manera que el medio de información óptico se someta a evaluación usando el valor medido convertido en la diferencia en reflectancia en el sistema óptico estándar.
Preferiblemente, el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 = N, N: un entero) , y en donde se asume que una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa (1 < i < N, i: un entero) en el sistema óptico estándar es representado por Sni, entonces, en la sexta etapa, la diferencia en reflectancia ouiij entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero) se expresa por una ecuación de ccnij = (Sni-Snj ) / (Sni + Sn-j) .
Con esta estructura, es posible obtener en forma fácil y correcta el resultado de conversión como la diferencia en reflectancia ani para el sistema óptico estándar, a partir de la reflectancia aparente Sni.
En la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico puede medirse por una máquina de medición.
Con esta estructura, el grosor entre capas se mide realmente en la segunda por lo que el valor más preciso indicador de la reflectancia de cada capa puede obtenerse en la tercera etapa. En consecuencia, es posible lograr más correctamente la conversión en el grado de modulación mni para el sistema óptico estándar.
De preferencia, en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico adopta un valor de diseño después de la fabricación del medio de información óptico.
Con esta estructura, es posible omitir el proceso de medir la distancia entre las capas respectivas del medio de información óptico, y obtener fácilmente el valor indicador del grosor entre capas .
Preferiblemente, en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico adopta un valor promedio después de la fabricación de la pluralidad de medios de información ópticos.
Con esta estructura, es posible obtener fácilmente el valor indicador del grosor entre capas .
Preferiblemente, el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Rif el grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j : un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij, un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, y un valor T satisface una relación de senG = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, "N" ecuaciones se establecen para de esta manera satisfacer la ecuación de S± = Ri + Sd- [?Rj/ {p (2-dij-tanG) 2 } ] (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j), y la reflectancia Ri se obtiene de tal manera que las "N" ecuaciones para la reflectancia aparente Si se resuelvan con respecto a la reflectancia Ri.
Con esta estructura, es posible adquirir en forma fácil y correcta la reflectancia Ri, con base en las "N" ecuaciones simultáneas descritas arriba.
De preferencia, el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Ri, la ia capa (1 < i < N, i: un entero) se ubica entre la ja capa (j = i - 1) y la ka capa (k = i + 1) , el grosor entre la ia capa y la ja capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij , el grosor entre la ia capa y la ka capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dik, un índice de refracción entre las capas respectivas es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, y un valor T satisface una relación de senG = NA/n y están dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, "N" ecuaciones se establecen de tal manera que se satisfaga la ecuación de Si = Ri + Sd- [Rj/{7t(2-tan6) 2) + Rk/ {p (2-dik-tan0) 2 } ] (en un caso de i = 1, Rj/ {p (2-dij tan9) 2 } = 0, en un caso de i = N, Rk/ {p (2-dik-tan9) 2} = 0) , y la reflectancia Ri se obtiene de tal manera que las "N" ecuaciones para la reflectancia aparente Si se resuelvan con respecto a la reflectancia R .
Con esta estructura, es posible reducir significativamente una frecuencia de cálculos y adquirir más fácilmente la reflectancia Ri, con base en las "N" ecuaciones simultáneas descritas arriba, de tal manera que la influencia debido a la luz dispersa proveniente de otras capas que será ejercida en la presente se restringa a aquellas sólo de la capa adyacente .
Preferiblemente, el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Ri, y una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, entonces, en la tercera etapa, la reflectancia Ri se aproxima a la reflectancia aparente S±.
Con esta estructura, es posible reducir significativamente una frecuencia de cálculos y adquirir más fácilmente la reflectancia R± por aproximación del factor de reflectancia aparente Si obtenido por medición usando el sistema óptico de medición, como la reflectancia R±.
Preferiblemente, el medio de información óptico es un disco de capas de múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Ri, el grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por di , un índice de refracción entre la i capa y la ja capa se representa por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición se representa por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si( y un valor T satisface una relación de senG = NA/n y están dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, un coeficiente de conversión ai es expresado por una ecuación de a± = 1 + Sd- [?1/{p (2-dij-tan9) 2}] (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j), y la reflectancia Ri se aproxima a una relación de Si/ai.
Con esta estructura, es posible calcular en forma más fácil la reflectancia Ri de la capa sin incurrir a influencias debido a luz dispersa.
Preferiblemente, el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Rif el grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j : un entero), el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij, un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, y un valor T satisface una relación de sen9 = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, un coeficiente de conversión ai se expresa por una ecuación ai = 1 + Sd/ [??/{p (2-dij-tan0) 2}] (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j), y la reflectancia R± se aproxima a una relación de Si/ai.
Con esta estructura, es posible calcular más fácilmente la reflectancia Ri de la capa sin incurrir en influencias debido a luz dispersa.
Un medio de información óptico de acuerdo con otro aspecto más de la presente invención de una estructura de capas múltiples que tiene una pluralidad de capas de información se caracteriza por ser medido por un método de medición de medios de información ópticos que incluye: una primera etapa de medir un grado de modulación de cada capa del medio de información óptico, mediante el uso de un sistema óptico de medición, una segunda etapa de obtener un grosor entre capas del medio de información óptico, una tercera etapa de obtener una reflectancia de cada capa del medio de información óptico, y una cuarta etapa de convertir el grado de modulación de cada capa, el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, en un grado de modulación para un sistema óptico estándar que difiera del sistema óptico de medición, con base en un valor indicador del grosor entre capas, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, y un valor indicador de la reflectancia de cada capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa.
Como se describió, un aparato de grabación de acuerdo con otro aspecto más de la presente invención, para grabar información en el medio de información óptico, la información se graba al irradiar el medio de información óptico con un rayo de luz.
Como se describió, un aparato de reproducción de acuerdo con otro aspecto más de la presente invención, para reproducir información del medio de información óptico de la presente invención, para reproducir información del medio de información óptico, la información se reproduce al irradiar el medio de información óptico con un rayo de luz.
Aplicación industrial La presente invención se refiere a un método de medición de medios de información ópticos que tiene un efecto único de que un grado de modulación, el cual se mide por un sistema óptico de medición que difiere de un sistema óptico estándar, puede convertirse en un grado de modulación para el sistema óptico estándar, y es por lo tanto útil como un método de medición para un disco de capas múltiples.
Se hace constar que con relación a esta fecha, el mejor método conocido por la solicitante para llevar a la práctica la citada invención, es el que resulta claro de la presente descripción de la invención.

Claims (43)

REIVINDICACIONES Habiéndose descrito la invención como antecede, se reclama como propiedad lo contenido en las siguientes reivindicaciones:
1. Un método de medición de medios de información ópticos para medir un grado de modulación en un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tiene una pluralidad de capas de información, caracterizado porque comprende : una primera etapa de medir el grado de modulación de cada capa del medio de información óptico, mediante el uso de un sistema óptico de medición; una segunda etapa de obtener un grosor entre capas del medio de información óptico; una tercera etapa de obtener una reflectancia de cada capa del medio de información óptico; y una cuarta etapa de convertir el grado de modulación de cada capa, el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, en un grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiera del sistema óptico de medición, con base en un valor indicador del grosor entre capas, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, y un valor indicador de la reflectancia de cada capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa.
2. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque : en la tercera etapa, la reflectancia de cada capa se obtiene al usar una reflectancia aparente, la reflectancia aparente siendo una reflectancia que será medida incluyendo una influencia de luz dispersa reflejada desde una capa que no sea una capa que será medida.
3. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque : en la cuarta etapa, el grado de modulación de cada capa medido en la primera etapa se convierte más en un grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiere del sistema óptico de medición usando una reflectancia aparente, la reflectancia aparente siendo una reflectancia que será medida incluyendo una influencia de luz dispersa reflejada desde una capa que no sea una capa que será medida.
4. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque : el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , un grado de modulación de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) , el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, se representa por mdi, un grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j , j : un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, se representa por dij, un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) , la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por Ri, un valor T satisface una relación de sen0 = NA/n y cae dentro de una escala de 0 a p/2, un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico estándar es representada por Snpd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico estándar es representada por Mn, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico estándar es representada por Sdn (Sdn = Snpd/Mn2) , y en la cuarta etapa, el grado de modulación mni de la ia capa para el sistema óptico estándar es representado por una ecuación: mrii = mdi -Si/ (Ri + Sdn- [?Rj/ {p (2 -di tan9) 2 } ] ) (?: Adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) .
5. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque : el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que el grado de modulación de la ia capa (1 < i < N, i: un entero), el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, es representado por mdi, una cantidad de luz dispersa desde otras capas en la ia capa para el sistema óptico de medición se representa por SSi, y una cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas en la ia capa para el sistema óptico de referencia es representada por SSni, entonces, en la cuarta etapa, el grado de modulación nuii de la ia capa para el sistema óptico estándar es representado por una ecuación: mrii = md (l + SSi)/(l + SSnJ .
6. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 5, caracterizado porque : cuando se asume que un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico de medición es representada por SPd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico de medición es representada por M, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico de medición es representada por Sd (Sd = Spd/M2) , una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, el grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por di-¡ , un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, la reflectancia de la ia capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por Ri, y un valor T satisface una relación de sen0 = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSi en la ia capa para el sistema óptico de medición se expresa por una ecuación: SSi = Sd-[?Rj/{ (2-dij-tan9)2}] /Ri (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j) .
7. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 5 ó 6, caracterizado porque: cuando se asume que un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico estándar es representada por Snpd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico estándar es representada por n, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico estándar es representada por Sdn (Sdn = Snpd/Mn2) , una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, el grosor entre la ia capa y la j capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por di , un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, la reflectancia de la ia capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por Rj., y un valor T satisface una relación de senG = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSi en la ia capa en el sistema óptico estándar se expresa por una ecuación : SSni = Sdn- [?Rj/{n(2-dij-tane)2}] /Ri (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) .
8. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 5, caracterizado porque : cuando se asume que un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico de medición es representada por Spd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico de medición es representada por M, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico de medición es representado por Sd (Sd = SPd/M2) , una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, la ia capa (1 < i < N, i: un entero) se ubica entre la ja capa (j = i - 1) y la ka capa (k = i + 1) , el grosor entre la ia capa y la ja, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij , el grosor entre la ia capa y la ka capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dik, un índice de refracción entre las capas respectivas es representado por n, la reflectancia de la ia capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por Rj., y un valor T satisface una relación de sen9 = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSi en la ia capa para el sistema óptico de medición se expresa por una ecuación: SSi = Sd- [Ri/ {K{2 -dir tane) 2 } + Rk/ ( (2 -dik-tane) 2 '} ] /R± (en un caso de i = 1 , Rj/ {p (2-dij-tan6) 2} = 0, en un caso de i = N, Rk/ {p (2-dik-tan0) 2} = 0) .
9. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 5 u 8, caracterizado porque: cuando se asume que un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico estándar es representada por Snpd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico estándar es representada por Mn, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico estándar es representado por Sdn (Sdn = Snpd/Mn2) , una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, la ia capa (1 < i = N, i: un entero) se ubica entre la ja capa (j = i - 1) y la ka capa (k = i + 1) , el grosor entre la ia capa y la j , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij, el grosor entre la ia capa y la ka capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dik, un índice de refracción entre las capas respectivas es representado por n, la reflectancia de la ia capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por Ri, y un valor T satisface una relación de sen9 = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, la cantidad de luz dispersa proveniente de otras capas SSni en la ia capa para el sistema óptico estándar se expresa por una ecuación : SSni = Sdn-[Rj/ {n(2-di tand)2} + Rk/{p (2-dik-tan0) 2} ] /R± (en un caso de i = 1, Rj/ {p (2-dij-tan9) 2 } = 0, en un caso de i = N, Rk/ {p (2-dik-t n6) 2} = 0) .
10. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con las reivindicaciones 1 a 9, caracterizado porque: en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico se mide por una máquina medidora.
11. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 9, caracterizado porque: en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico adopta un valor de diseño después de la fabricación del medio de información óptico.
12. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 9, caracterizado porque: en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico adopta un valor promedio después de la fabricación de la pluralidad de medios de ' información ópticos.
13. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 12, caracterizado porque: el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Ri, el grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero), el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij, un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, y un valor T satisface una relación de senG = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, "N" ecuaciones se establecen para de esta manera satisfacer una ecuación: Si = R± + Sd- [?R-¡/{7i(2-di;¡-tane) 2}] (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) , y la reflectancia R± se obtiene de tal manera que las "N" ecuaciones para la reflectancia aparente Si se resuelvan con respecto a la reflectancia Rj..
14. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 12, caracterizado porque: el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Rj., la ia capa (1 = i < N, i: un entero) se ubica entre la ja capa (j = i - 1) y la ka capa (k = i + 1) , el grosor entre la ia capa y la ja capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij, el grosor entre la ia capa y la ka capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dik, un índice de refracción entre las capas respectivas es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, y un valor T satisface una relación de sen0 = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, "N" ecuaciones se establecen para de esta manera satisfacer una ecuación: Si = Ri + Sd- + Rk/ {p (2-dik-tan0) 2 } ] (en un caso de i = 1, Rj/ {p (2-di-¡-tan0) 2 } = 0, en un caso de i = N, Rk/ {p (2-dik-tan0) 2} = 0) , y la reflectancia Ri se obtiene de tal manera que las "N" ecuaciones para la reflectancia aparente Si se resuelvan con respecto a la reflectancia Ri.
15. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 12, caracterizado porque: el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 = i < N, i: un entero) es representada por Ri, y una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, entonces, en la tercera etapa, la reflectancia Ri se aproxima a la reflectancia aparente Si.
16. Un método de medición de medios de información ópticos para medir una diferencia en reflectancia en un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tiene una pluralidad de capas de información, caracterizado porque comprende : una quinta etapa de obtener una reflectancia aparente que corresponde a una relación entre una cantidad de luz de señal y una cantidad de luz incidente obtenidas cada una después de la reducción de información a partir de cada capa del medio de información óptico, mediante el uso de un sistema óptico de medición; una segunda etapa de obtener un grosor entre capas del medio de información óptico; una tercera etapa de obtener una reflectancia de cada capa del medio de información óptico; y una sexta etapa de obtener un resultado de conversión como una diferencia en reflectancia para un sistema óptico estándar que difiera del sistema óptico de medición, a partir de un valor indicador de la reflectancia aparente obtenida en la quinta etapa, un valor indicador del grosor entre capas, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, y un valor indicador de la reflectancia de cada capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa.
17. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado porque : el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa (1 < i < N, i: un entero) en el sistema óptico estándar es representada por Sni, entonces, en la sexta etapa, la diferencia en reflectancia anij entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j : un entero) es expresada por una ecuación : otnij = (Sni-Snj ) / (Sni + Sn-¡).
18. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 16 ó 17, caracterizado porque: en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico se mide por una máquina de medición.
19. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 16 ó 17, caracterizado porque: en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico adopta un valor de diseño después de la fabricación del medio de información óptico.
20. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 16 ó 17, caracterizado porque: en la segunda etapa, el grosor entre capas del medio de información óptico adopta un valor promedio después de la fabricación de la pluralidad de medios de información ópticos.
21. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 16 a 20, caracterizado porque: el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Ri, el grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero), el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij , un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representado por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, y un valor T satisface una relación de senG = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, "N" ecuaciones se establecen para de esta manera satisfacer una ecuación: Si = Ri + Sd- [?R-j/{7t(2'di:rtane)2}] (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) , y la reflectancia Ri se obtiene de tal manera que las "N" ecuaciones para la reflectancia aparente Si se resuelvan con respecto a la reflectancia Ri.
22. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 16 a 20, caracterizado porque: el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por R±, la ia capa (1 < i < , i: un entero) se ubica entre la ja capa (j = i - 1) y la ka capa (k = i + 1) , el grosor entre la i capa y la ja capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representada por di-¡ , el grosor entre la ia capa y la ka capa, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dik; un índice de refracción entre las capas respectivas es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representado por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, y un valor T satisface una relación de senG = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, "N" ecuaciones se establecen para de esta manera satisfacer una ecuación: Si = Ri + Sd- [R-¡/{7i(2-tan0)2} + Rk/ {n (2-dik-tan0) 2} ] (en un caso de i = 1, R-¡/ {p (2-dij-tan9) 2} = 0, en un caso de i = N, Rk/{n (2-dik,tan0) 2} = 0) , y la reflectancia R se obtiene de tal manera que las "N" ecuaciones para la reflectancia aparente Si se resuelvan con respecto a la reflectancia R .
23. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 16 a 20, caracterizado porque: el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 = i < N, i: un entero) es representada por Ri, y una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, entonces, en la tercera etapa, la reflectancia Ri se aproxima a la reflectancia aparente Si.
24. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 1, caracterizado porque : el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Ri, el grosor entre la ia capa y la ja capa (1 = j < N, i ? j, j: un entero), el espesor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij , un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, y un valor T satisface una relación de sen0 = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, un coeficiente de conversión a± se expresa por una ecuación: ai = 1 + Sd- [?l/{7t(2-dij-tan0)2}] (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) , y la reflectancia Ri se aproxima a una relación de
25. El método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 16, caracterizado porque : — el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , y cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por R±, el grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero), el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij , un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, y un valor T satisface una relación de senO = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, entonces, en la tercera etapa, un coeficiente de conversión ai es expresado por una ecuación: a± = 1 + Sd- [?1/{p (2-dij-tan0) 2}] (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) , y la relfectancia Ri se aproxima a una relación de
26. Un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tiene una pluralidad de capas de información, caracterizado porque es sometido a medición por un método de medición de medios de información ópticos que comprende : una primera etapa de medir un grado de modulación de cada capa del medio de información óptico mediante el uso de un sistema óptico de medición; una segunda etapa de obtener un grosor entre capas del medio de información óptico; una tercera etapa de obtener una reflectancia de cada capa del medio de información óptico; y una cuarta etapa de convertir el grado de modulación de cada capa, el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, en un grado de modulación para un sistema óptico estándar que difiera del sistema óptico de medición, con base en un valor indicador del grosor entre capas, el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, y un valor indicador de la reflectancia en cada capa, la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa.
27. El medio de información óptico de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque: en la tercera etapa, la reflectancia de cada capa se obtiene al usar una reflectancia aparente, la reflectancia aparente siendo una reflectancia que será medida incluyendo una influencia de luz dispersa reflejada desde una capa que no sea una capa que será medida.
28. El medio de información óptico de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque: en la cuarta etapa, el grado de modulación de cada capa medido en la primera etapa se convierte además en un grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiere del sistema óptico de medición usando una reflectancia aparente, la reflectancia aparente es una reflectancia que será medida incluyendo una influencia de luz dispersa reflejada desde una capa que no es una capa que será medida.
29. El medio de información óptico de conformidad con la reivindicación 26, caracterizado porque: el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , un grado de modulación de la i capa (1 = i < N, i: un entero) , el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, es representado por mdi, un grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j , j : un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij, un índice de refracción entre la ia capa y la j capa es representado por n, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición se representa por Si, la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) , la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por , un valor T satisface una relación de senB = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico estándar es representada por Snpd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico estándar es representada por Mn, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico estándar es representada por Sdn (Sdn = Snpd/Mn2) , y en la cuarta etapa, el grado de modulación mni de la ia capa para el sistema óptico estándar es representado por una ecuación: mni = mdi -Si/ (Ri + Sdn- l Rj/ {p (2-di tan9) 2 } ] ) (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j?i, con respecto a j ) .
30. Un aparato de grabación para grabar información en el medio de información óptico de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 26 a 29, caracterizado porque : la información es grabada al irradiar el medio de información óptico con un rayo de luz.
31. Un aparato reproductor para reproducir información del medio de información óptico de conformidad con cualquiera de las reivindicaciones 26 a 29, caracterizado porque : la información es reproducida al irradiar el medio de información óptico con un rayo de luz.
32. Un aparato de grabación para medir un grado de modulación en un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tiene una pluralidad de capas de información, y para grabar información en el medio de información óptico, caracterizado porque: el grado de modulación de cada capa del medio de información óptico se mide por un sistema óptico de medición incluido en el aparato de grabación, se obtiene un grosor entre capas del medio de información óptico, se obtiene una reflectancia de cada capa del medio de información óptico, el grado de modulación medido de cada capa se convierte en un grado de modulación para un sistema óptico estándar que difiere del sistema óptico de medición, con base en un valor indicador del grosor entre capas y un valor indicador de la reflectancia de cada capa, y se graba información al irradiar el medio de información óptico con un rayo de luz.
33. El aparato de grabación de conformidad con la reivindicación 32, caracterizado porque: al obtener la reflectancia de cada capa, la reflectancia de cada capa se obtiene al usar una reflectancia aparente, la reflectancia aparente es una reflectancia que será medida incluyendo una influencia de luz dispersa reflejada desde una capa que no sea una capa que será medida.
34. El aparato de grabación de conformidad con la reivindicación 32, caracterizado porque: al convertir en el grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiere del sistema óptico de medición, el grado de modulación de cada capa medido se convierte además en el grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiere del sistema óptico de medición usando una reflectancia aparente, la reflectancia aparente siendo una reflectancia que será medida que incluye una influencia de luz dispersa reflejada desde una capa que no es una capa que va a ser medida.
35. El aparato de grabación de conformidad con la reivindicación 32, caracterizado porgue: el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, : un entero) , un grado de modulación de la i capa (1 < i < N, i: un entero) , el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, es representado por mdi, un grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j , j : un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por di:¡, un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición se representa por Si, la reflectancia de la ia capa (1 = i < N, i: un entero) , la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por Ri, un valor T satisface una relación de senG = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico estándar es representada por Snpd, una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico estándar es representada por Mn, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico estándar es representada por Sdn (Sdn = Snpd/Mn2) , y el grado de modulación mni de la ia capa para el sistema óptico estándar es representado por una ecuación al convertirse en un grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiere del sistema óptico de medición: mrii = di -Si/ (Ri + Sdn- {?Rj/ {n {2 -dir tan9) 2 '} ] ) (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) .
36. Un aparato reproductor para medir un grado de modulación en un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tiene una pluralidad de capas de información, y para reproducir información del medio de información óptico, caracterizado porque: el grado de modulación de cada capa del medio de información óptico se mide por un sistema óptico de medición incluido en el aparato reproductor, se obtiene un grosor entre capas del medio de-información óptico, se obtiene una reflectancia de cada capa del medio de información óptico, el grado de modulación medido de cada capa se convierte en un grado de modulación para un sistema óptico estándar que difiere del sistema óptico de medición, con base en un valor indicador del grosor entre capas y un valor indicador de la reflectancia de cada capa, y se reproduce información al irradiar el medio de información óptico con un rayo de luz.
37. El aparato reproductor de conformidad con la reivindicación 36, caracterizado porque: al obtener la reflectancia de cada capa, la reflectancia de cada capa se obtiene usando una reflectancia aparente, la reflectancia aparente es una reflectancia que se medirá incluyendo una influencia de luz dispersa reflejada desde una capa que no sea una capa que será medida.
38. El aparato reproductor de conformidad con la reivindicación 36, caracterizado porque-. al convertir en el grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiere del sistema óptico de medición, el grado de modulación de cada capa medido se convierte además en el grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiere del sistema óptico de medición usando una reflectancia aparente, la reflectancia aparente es una reflectancia que será medida incluyendo una influencia de luz dispersa reflejada desde una capa que no sea una capa que será medida.
39. El aparato reproductor de conformidad con la reivindicación 36, caracterizado porque: el medio de información óptico es un disco de capas múltiples que tiene "N" capas (2 < N, N: un entero) , un grado de modulación de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) , el grado de modulación siendo medido en la primera etapa, es representado por mdi, un grosor entre la ia capa y la ja capa (1 < j < N, i ? j , j : un entero) , el grosor siendo obtenido en la segunda etapa, es representado por dij , un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la i capa en el sistema óptico de medición se representa por Si; la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) , la reflectancia siendo obtenida en la tercera etapa, es representada por Ri, un valor T satisface una relación de senO = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, un área de una parte receptora de luz en el sistema óptico estándar es representada por Snpd( una ampliación de un sistema de detección en el sistema óptico estándar es representada por Mn, un tamaño de parte receptora de luz normalizada en el sistema óptico estándar es representada por Sdn (Sdn = Snpd/Mn2) , y al convertir el grado de modulación para el sistema óptico estándar que difiere del sistema óptimo de medición el grado de modulación mn; la ia capa para el sistema óptico estándar es representado por una ecuación: mni = mdi -Si/ (Ri + Sdn {?Rj/ {p (2 -dirtan9) 2 } ] ) (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) .
40. Un método de medición de medios de información ópticos para medir una reflectancia en un medio de información óptico de una estructura de capas múltiples que tiene "N" capas de información (2 < N, N: un entero) , caracterizado porque comprende : cuando se asume que la reflectancia de la ia capa (1 < i < N, i: un entero) es representada por Ri, el grosor entre la ia y la ja capa (1 < j < N, i ? j, j: un entero) es representado por dij, un índice de refracción entre la ia capa y la ja capa es representado por n, una reflectancia aparente que corresponde a una relación de una cantidad de luz reflejada a una cantidad de luz incidente después de la convergencia de luz en la ia capa en el sistema óptico de medición es representada por Si, una abertura numérica en el sistema óptico de medición es representada por NA, y un valor T satisface una relación de senO = NA/n y está dentro de una escala de 0 a p/2, "N" ecuaciones se establecen para de esta manera satisfacer una ecuación: Si = Ri + Sd- [ERj/ Ti -dij-tane)2}] (?: adición de enteros de 1 a N en un caso de j ? i, con respecto a j ) , y la reflectancia Ri se obtiene de tal manera que las "N" ecuaciones para la reflectancia aparente Si se resuelvan con respecto a la reflectancia Ri.
41. Un medio de información óptico caracterizado porque será medido por el método de medición de medios de información ópticos de conformidad con la reivindicación 40.
42. Un aparato de grabación para grabar información en el medio de información óptico de conformidad con la reivindicación 41, caracterizado porque la información se graba al irradiar el medio de información óptico con un rayo de luz .
43. Un aparato reproductor para reproducir información del medio de información óptico de conformidad con la reivindicación 41, caracterizado porque la información se reproduce al irradiar el medio de información óptico con un rayo de luz .
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