製造変数の英語

欠損値のある集合と無い集合の製造データから説明変数が目的変数に与える影響を評価するための評価値を算出する（Ｓ１４）。例文帳に追加

An evaluation value for evaluating influence imparted to an object variable by the explanatory variable is calculated from the production data of the set having the loss value and the set having no loss value (S14). - 特許庁

目的変数が一定になるよう制御されている半導体製造プロセスで、装置側の異常要因を特定することのできる半導体製造装置管理システムを提供する。例文帳に追加

To provide a system for controlling semiconductor manufacturing equipment which can specify an abnormal factor of the equipment side, in a semiconductor manufacturing process that is controlled so that a purpose variation is constant. - 特許庁

製造及び操作が容易なガイドワイヤを備えた、生体内の生理学的変数を血管内で検査するためのシステムを提供する。例文帳に追加

To provide system which is provided with an easily manufacturable and operable guide wire and used for examination of a physiological variable in an organism in a blood vessel. - 特許庁

解析部８は、異常特性と判定された製造品について、異常原因を、上記原因解析用モデルに基づく変数毎の寄与率によって特定する。例文帳に追加

An analysis portion 8 specifies the failure cause of a product determined to have abnormal characteristics, by contribution rates per variable based on the model for cause analysis. - 特許庁

製造プロセスの操業状態の時系列データベース６を作成し、該プロセス変数値を量子化して時刻データと合わせて検索用テーブル８に逐次格納する。例文帳に追加

A time series database 6 in the operation state of a manufacturing process is prepared, and a process variable value is quantized, and successively stored in a table 8 for retrieval according to time data. - 特許庁

ウエハ上への構造体の製造プロセス工程は、１組のプロファイルモデルと１以上の重要プロファイル形状の変数との相関を決定することによって制御される。例文帳に追加

The manufacturing process for structures on wafers is controlled by determining the correlation between a group of profile models and variables of one or greater important profile shapes. - 特許庁

プロセスフローの各プロセスの処理内容を表すプロセス制御モデルを数式化し、該数式中の変数を既存の製造用データベースのデータ項目と対応付け、該製造用データベースに登録された値を参照しプロセス制御モデルに基づきレシピを決定し、該レシピに基づき製造設備を運転する。例文帳に追加

A process control model to express a processing content of each process of a process flow is converted into a mathematical expression, a variable in this expression is made to correspond with a data item of an existing database for manufacture, a recipe is decided in accordance with the process control model by making reference to a value registered in the database for manufacture, and a manufacturing facility is operated in accordance with the recipe. - 特許庁

半導体デバイスの製造工程に関して、各工程で用いられる処理装置に関する履歴情報を、多値情報の説明変数として、工程情報収集部３に記憶する。例文帳に追加

With respect to a production process of a semiconductor device, history information related to a processor used in each the process is stored in a process information collection part 3 as the explanatory variable of multi-valued information. - 特許庁