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TW201200876A - Physical quantity sensor and electronic apparatus - Google Patents

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TW201200876A
TW201200876A TW100118352A TW100118352A TW201200876A TW 201200876 A TW201200876 A TW 201200876A TW 100118352 A TW100118352 A TW 100118352A TW 100118352 A TW100118352 A TW 100118352A TW 201200876 A TW201200876 A TW 201200876A
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TW100118352A
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Inventor
Kei Kanemoto
Original Assignee
Seiko Epson Corp
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Publication date
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Description

201200876 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種例如MEMS感測器（Micro Electro Mechanical System Sensor，微機電系統感測器）等物理量 感測器及電子機器等。 【先前技術】 近年來，使用 MEMS(Micro Electro Mechanical System， 微機電系統）技術實現小型且高感度之物理量感測器之技 術正受到關注。 例如’於專利文獻丨中揭示有擺式電容性加速度計。專 利文獻1之擺式電容性加速度計包含基板、檢測板、於基 板上支持檢測板之中心固定部、設置於檢測板上之電極、 及設置於基板上之電極。檢測板包含相對於中心固定部設 置於左側之不具有中空部之檢驗質量（pr〇〇f mass)(慣性質 量）' 及具有中空部.之檢驗質量。若藉由加速度對各檢驗 質ΐ施加轉矩，則檢測板以中心固定部（鉸鏈軸）為中心進 行赵板動作。電容之電容值對應於檢測板之翹板動作發生 變化’差動電容性輸出信號自擺式電容性加速度計輸出。 又’於專利文獻2中揭示有如下之加速度感測器，其係 ;夕基板上’形成藉由非對稱配置之旋轉軸線而支持之擺 動體，利用當收到Ζ方向之加速度時擺動體之傾斜偏向一 邊（翹板擺動）來差動檢測電容，從而檢測出ζ軸方向之加 速度。 [先前技術文獻] 155319.doc 201200876 [專利文獻] [專利文獻1]曰本專利特開2009· 109494號公報 [專利文獻2]曰本專利特開平9-189716號公報 【發明内容】 [發明所欲解決之問題] 於專利文獻1甲所揭示之擺式電容性加速度計中，未考 慮任何有關保護加速度計之封裝體之形成。 又，於專利文獻2之加速度感測器中，於z方向以外之χ 方向及Y方向上產生加速度之情形時，擺動體亦產生擺 動，表觀上，Z方向之加速度發生變化。如此之於與檢測 方向不同之方向上具有檢測感度之情形成為物理量感測器 之檢測精度下降之原因，故而成為問題。 根據本發明之至少一態樣，例如可提高包含封裝體之物 理量感測器之組裝性。又，根據本發明之至少一態樣，例 如可抑制因檢測軸以外之方向上所產生之加速度而使物理 量感測器之檢測感度下降之情形。 [解決問題之技術手段] (1)本發明之物理量感測器之一態樣包含：基底；及第 1擺動體及第2擺動體，其係於上述基底上隔著空隙而配 置，上述第1擺動體係包含第丨支持部、第2支持部及第1可 動電極，且藉由配置於第丨軸上之上述第丨支持部與上述第 2支持部而支持於上述基底之上方，且於俯視時藉由上述 第1軸劃分為第1區域與第2區域，於各區域形成有上述第1 可動電極；上述第2擺動體係包含第3支持部、第4支持部 155319.doc 201200876 及第2可動電極’藉纟配置於第2軸上之上述第3支持部與 上述第4支持部而支持於上述基底之上方，且於俯視時藉 由上述第2軸劃分為第3區域與第4區域，於各區域形 . 上述第2可動電極；於上述基底上，與上述第1可動電極及 上述第2可動電極對向而形成有固定電極；上述第2區域之 ^ 質量較上述第1區域之質量更重，上述第4區域之質量較上 述第3區域之質量更重；上述第丨擺動體之自上述第丨區域 向上述第2區域之排列方向與上述第2擺動體之自上述第3 區域向上述第4區域之排列方向彼此相反。 (2)本發明之物理量感測器之其他態樣係於承受重力之 狀態下，上述第1擺動體與上述第2擺動體朝彼此相反方向 傾斜。 本態樣係關於用以進一步提高利用翹板構造之物理量感 測器之檢測精度之構成。例如於重力加速度發揮作用之狀 態下，擺動體因質量之不均衡而轉矩不均衡，從而成為傾 斜之狀態（其原因在於：即便施加重力加速度，擺動體亦 保持水平狀態’而無法檢測重力加速度）。於此狀態下， 假定擺動體中擺動體之延伸方向（擺動體為水平狀態時之 延伸方向）即第1方向之加速度發揮作用。若對於傾斜之擺 動體第1方向之加速度發揮作用，則擺動體中，於與第1方 向之加速度之方向相反之方向上慣性力發揮作用（慣性力 之大小與第1方向之加速度成比例）。該慣性力具有使傾斜 之擺動體旋轉之力（即’與傾斜之擺動體垂直地作用之力） 之成分，因此擺動體之傾斜發生變化。即，即便第3方向 155319.doc 201200876 (重力方向）之加速度實際未發生變化，藉由第i方向之加速 度（與檢測方向不同之方向之加速度），表觀上第3方向（重 力方向）之加速度亦發生變化。如此之於與檢測方向不同 之方向上具有檢測感度之情形成為物理量感測器之檢測精 度下降之原因。 第1擺動體與第2擺動體均沿第丨方向延伸，但第丨擺動體 之傾斜方向與第2擺動體之傾斜方向為彼此相反方向，且 以水平面為基準之旋轉角之絕對值相同。例如，第1擺動 體沿順時針方向以水平面為基準僅傾斜+θ，另一方面，第 2擺動體沿逆時針方向以水平面為基準僅傾斜。於此狀 態下，若施加第1方向之加速度，於其相反方向上慣性力 發揮作用，則於第丨擺動體之第丨區域及第2區域、第2擺動 體之第3區域及第4區域之各者中產生相同大小之表觀上之 旋轉力。然而’於第丨擺動體中，例如質量較重之第1區域 之轉矩伯優勢’另一方面，於第2擺動體中，例如質量較 重之第3區域之轉矩佔優勢，因此藉由表觀上之旋轉力而 引起之第1擺動體之旋轉方向與第2擺動體之旋轉方向成為 相反方向（其中一者為擺動體之傾斜程度變得更深之方 向’另一者為擺動體之傾斜程度變淺之方向）。 因此’以本態樣之方式，可藉由信號處理消除因於檢測 方向以外之方向上具有檢測感度而產生之誤差。由此，可 進一步提高利用翹板構造之物理量感測器之檢測精度。 再者，作為基底，可使用SOI(Silicon on Insulator，絕 緣層上覆矽）基板，或亦可使用藉由半導體製造技術而製 155319.doc 201200876 造之具有多層配線構造之半導體基板。又，作為蓋體，可 使用玻璃基板或矽基板（單層）（只要於矽基板之表面形成絕 緣膜’則亦可於石夕基板上形成電極）。又，第1擺動體或第 2擺動體例如藉由使支持轴偏離中心’或者使擺動體之一 側之質量重於另一側之質量而可進行翹板擺動。 (3) 於本發明之物理量感測器之其他態樣中，上述第1 軸與上述第2軸之至少一者係與通過上述第丨擺動體或上述 第2擺動體之中心之線平行。 根據本態樣，藉由使第1擺動體與第2擺動體之剖面形狀 之厚度相同，而具有第1擺動體及第2擺動體之製造步驟簡 化之優點。再者，第1翹板片與第2翹板片之俯視時之形狀 之尺寸（縱尺寸、橫尺寸等）例如可藉由變更光微影用之光 罩形狀而自由設定。 (4) 於本發明之物理量感測器之其他態樣中，於上述第 1區域與上述第2區域之至少一者或上述第3區域與上述第4 區域之至少一者中形成有質量部。 根據本態樣，藉由使擺動體之一側之質量重於另一側之 質量而可使翹板擺動。又，由金屬膜或絕緣膜等形成質量 部，藉此可使用雷射、蝕刻等削減質量部，或者藉由使= 濺鍍、蒸鍍等進行成膜而可簡單地增減質量，因此可簡便 進行翹板擺動之微調整。 (5) 於本發明之物理量感測器之其他態樣中，上述第2 擺動體於俯視時為相對於與上述第丨區域及上述第2區域之 排列方向正交之軸使上述第丨擺動體反轉之形狀。 155319.doc 201200876 於本態樣中，第2擺動體為使第1擺動體反轉之構造，因 此可使用相同之光罩圖案形成第丨擺動體及第2擺動體，從 而可簡化製造步驟。又，於特定方向上收到加速度時之第 1擺動體與第2擺動體之擺動程度為兩者相等，因此檢測感 度進一步提高》 (6)於本發明之物理量感測器之其他態樣中，上述基底 於俯視時包含與上述第1區域對向之第5區域、與上述第2 區域對向之第6區域、與上述第3區域對向之第7區域、及 與上述第4區域對向之第8區域；且上述固定電極係形成於 上述第5〜第8區域之各者内，上述基底於俯視時包含與上 述第1區域對向之第5區_、與上述第2區域對向之第❿ 域、與上述第3區域對向之第7區域、及與上述第4區域對 向之第8區域’上述固定電極形成於上述第5〜第8區域之各 者内。 於本態樣中，藉由以與第1可動電極及第2可動電極對向 方式各別3又置固定電極，而可高精度檢測差動電容之 值。 ⑺於本發明之物理量感測器之其他態樣中，上述第】 °、動電極係跨及上述第1區域與上述第2區域而共用地形 成。 (8)於本發明之物理量感測器之其他態樣中，上述第2 °電極係跨及上述第3區域與上述第4區域而共用地形 成。 於本態樣中，第1可動雷搞 助電極或第2可動電極係由相同電位 155319.doc 201200876 之共用電極而構成。藉由電極之共用化而可減少與電極連 接之配線之根數，並且可簡化配線圖案。例如，可使用具 有導電性之擺動體自身作為接地電位之共用電極。於該例 中，由於擺動體兼作電極，因此不必另外形成電極，從而 使製造步驟簡化。又，亦可藉由具有多層配線構造之半導 體基板（可將該等統稱為多層構造體）構成擺動體，例如於 最上層之層間絕緣層上形成成為接地電極之金屬膜。於該 例中，可藉由半導體製造技術（多層配線基板技術）合理地 形成可動電極。 (9)於本發明之物理量感測器之其他態樣中，上述第卜 第4支持部係使用扭力彈簧而形成。 於本態樣中，藉由於第丨〜第4支持部使用扭力彈簧，而 具有對於擺動體翹板擺動時所產生之扭轉變形較強之恢復 力因此可防止支持部破損。又，由於藉由扭力彈簧而可 增大翹板擺動之動作，因此可提高檢測感度。 (ίο)於本發明之物理量感測器之其他態樣中上述第1 擺動體與上述第2擺動體之至少一者包含開口部，且該物 理量感測器包含：可動破碼部，其係配置於上述開口部； 連結部，其係將上述可動砝碼部與上述第丨擺動體或上述 第2擺動體連結；第1臂狀電極部，其係自上述第1擺動體 或上述第2擺動體向上述可動柄部突㈣成；&第2臂狀 電極部’其係自上述可動姑碼部向上述第丨擺動體或上述 第2擺動體突出形成’並且與上述第丨臂狀電極部對向。 於本態樣中’擺動體除了發揮作為用以檢測重力方向之 155319.doc 201200876 移位之檢測板之作用以外，亦發揮作為用以檢測重力方向 以外之方向之移位之檢測板之作用。藉此，使用一個擺動 體便可檢測與兩個不同方向之移位之各者相對應之電容之 變化。 (11)本發明之物理量感測器之其他態樣為一種包含基 於檢測信號執行信號處理之信號處理電路，上述檢測信號 包3 .基於上述第1區域之上述第丨可動電極與上述固定電 極之間的移位而變動之第丨檢測信號，基於上述第2區域之 上述第1可動電極與上述固定電極之間的移位而變動之第2 檢測信號，基於上述第3區域之上述第2可動電極與上述固 定電極之間的移位而變動之第3檢測信號，及基於上述第4 區域之上述第2可動電極與上述固定電極之間的移位而變 動之第4檢測信號；上述信號處理電路係生成表示上述第^ 檢測信號與上述第2檢測信號之差之第】差動信號，生成表 示上述第3檢測信號與上述第4檢測信號之差之第2差動信 號，且基於將上述第1差動信號與上述第2差動信號相加所 得之信號而生成加速度檢測信號。 於本態樣巾，設置信號處理轉，基於自各擺動體所得 之信號，執行用以補償檢測誤差之信號處理而抑制檢測誤 差。 第1擺動體之傾斜方向與第2擺動體之傾斜方向為彼此相 反方向，且以水平面為基準之旋轉角之絕對值相同。例 如，第1擺動體沿順時針方向以水平面為基準僅傾斜+θ， 另一方面，第2擺動體沿逆時針方向以水平面為基準僅傾 I55319.doc -10· 201200876 斜-θ。於此狀態下，若施加重力方向以外之方向之加速 度，於其相反方向上慣性力發揮作用，則第丨擺動體之第1 區域及第2區域、第2擺動體之第3區域及第4區域之各者内 產生相同大小之表觀上之旋轉力。然而，於第1擺動體 中，例如質量較重之第1區域之轉矩佔優勢，另一方面， 於第2擺動體中，例如質量較重之第3區域之轉矩佔優勢， 因此藉由表觀上之旋轉力而引起之第1擺動體之旋轉方向 與第2擺動體之旋轉方向成為相反方向。 此處’作為檢測信號’輸出基於第1擺動體之第1區域之 移位而變動之第丨檢測信號、基於第丨擺動體之第2區域之 移位而變動之第2檢測信號、基於第2擺動體之第3區域之 移位而變動之第3檢測信號、及基於第2擺動體之第4區域 之移位而變動之第4檢測信號。 此時’將重疊於第1檢測信號之因由表觀上之旋轉力所 致之誤差移位而產生之可變電容（電容）之電容值之變動量 設為例如「+δ(：」時，關於第2檢測信號之電容值之變動量 成為「-δ(：」，同樣重疊於第3檢測信號之因由表觀上之旋 轉力所致之誤差移位而產生之可變電容（電容）之電容值之 變動量為「+5C」，關於第4檢測信號之電容值之變動量成 為厂」。 於化號處理電路中，當生成表示第i檢測信號與第2檢測 信號之差之第1差動信號時，重疊於第丨差動信號之因由表 觀上之旋轉力所致之誤差移位而產生之可變電容（電容）之 電容值之變動量成為「2δ(:(=+δ(:·(·δ(:))」。又，當生成表 155319.doc 201200876 示第4檢測信號與第3檢測信號之差之第2差動信號時，重 疊於第2差動信號之因由表觀上之旋轉力所致之誤差移位 而產生之可變電容（電容）之電容值之變動量成為r_25c(=_sc_ (+δ(：))」。並且’若信號處理電路將第1差動信號與第2差 動信號相加，則重疊於第1差動信號之誤差成分「+2δ(：」與 重疊於第2差動信號之誤差成分r _2δ(：」相互抵消，從而 消除誤差。再者，若將第丨差動信號與第2差動信號相加， 則信號振幅變成2倍。當此種情形成為問題時，亦可對將 第1差動信號與第2差動信號相加所得之信號之振幅適當進 行例如使其成為一半之信號處理等。 即，信號處理電路生成表示第丨檢測信號與第2檢測信號 之差之第1差動信號，且生成表示第3檢測信號與第4檢測 信號之差之第2差動信號，並且基於將苐〗差動信號與第2 差動信號相加所得之信號而可生成抑制基於第丨方向之加 速度之5吳差之第3方向之加速度檢測信號。 如此，根據本態樣，可藉由信號處理而消除因於檢測方 向以外之方向上具有檢測感度而產生之誤差。由此，可進 -步提高利用翹板構造之物理量感測器之檢測精度。 〇2)本發明之物理量感測器之其他態樣包含：基底丨 及擺動體，其係於上述基底上隔I$ 4签低上隔者空隙而配置；且上述擺 動體係包含第1支持部及第2支持部，藉由配置於第！軸上 之上述第1支持部與上述第2支持部而支持於上述基底之上 方，且於俯視時藉ώ卜& t糟由上述第〗軸劃分為第〗區域與 域，於各區域形成有可動電極；於上述基底上，與上述可 155319.doc 12· 201200876 動電極對向而形成有固定電極；上述第1區域與上述第2區 域之至少一者中形成有質量部。 根據本態樣’藉由使擺動體之一側之質量重於另一側之 質量而可使翹板擺動。又，由金屬膜或絕緣膜等形成質量 部，藉此可使用雷射、蝕刻等削減質量部，或者藉由使用 濺錄、蒸鍍等進行成膜而可簡單地增減質量，因此可簡便 地進行翹板擺動之微調整。 (13) 本發明之物理量感測器之其他態樣為上述第i軸係 與通過上述擺動體之中心之線平行。 根據本態樣，例如於移動擺動體之支持軸而使第丨區域 較第2區域更廣之情形時，只要於第丨區域形成質量部則 翹板擺動變得更加顯著，隨之可提高電容之檢測感度。另 一方面，只要於第2區域形成質量部，則可抑制翹板擺 動，隨之可抑制支持擺動體之支持部產生過剩之扭曲，可 防止支持部破損。 (14) 本發明之電子機器之一態樣係包含上述任一項之 物理量感測器。 只要使用上述態樣之物理量感測器，則可實現小型且高 性能之電子機器（包含複數個感測器之感測器單元、及搭 載該感測器單元之更上位之電子機器(例如卿扣_
Automation，工廠自動化）機器等））。 如此，根據本發明之至4' _能样 ,., ^ 態樣，例如可提高包含封裝 體之物理量感測器之組裝性。 【實施方式】 -J3· 155319.doc 201200876 以下’對本發明之較佳實施形態進行詳細說明β再者， 以下說明之本實施形態並非不正當地限定請求項中記載之 本發明之内容，且本實施形態中說明之全部構成並非本發 明之解決方法之必要條件。 (第1實施形態） 圖1(A)〜圖1(F)係表示物理量感測器之構造及動作之一例 之圖。物理量感測器可作為慣性感測器使用，具體而言， 例如可作為用以測定垂直方向（與水平面垂直之方向）之加 速度（例如重力加速度）之加速度感測器（電容型加速度感測 器、電容型MEMS加速度感測器）利用。 圖1(A)表示物理量感測器（含封裝體）之剖面構造，圖 1 (Β)係表示用以檢測加速度等物理量之可變電容（電容、檢 測電容、電容元件）之俯視時之構造之一例（使用構成擺動 體之翹板自身作為可動電極之例）的俯視圖，圖1(Β)與圖 1 (Α)相對應。圖1 (〇係表示可變電容之俯視時之構造之其 他例（使用形成於多層構造體上之導體層作為可動電極之 例）的俯視圖。圖1(D)〜圖1(F)係表示伴隨擺動體之翹板動 作之可變電容之電容值之變化的圖。 圖1(C)之例為變形例’故首先對圖i(A)及圖i(B)中所示 之基本例進行說明。 (關於圖1 (A)、圆1 (B)所示之例之構造） 如圖1 (A)所示，物理量感測器（此處為電容型加速度感 測器）包含：密封體250，其係由支持體1〇〇及蓋體200而構 成；擺動體300 ’其設置於密封體250之内部之空間内；第 155319.doc 14 201200876 1支持部40a(圖1(A)中未圖示，參照圖丨⑺）、圖1(〇)及第2 支持部40b，其係以支持轴Q1為支點可翹板擺動地雙臂支 持擺動體3 00 ;及可變電容（第1可變電容。、第2可變電容 c2)’其包含位置根據擺動體3〇〇之翹板擺動而變化之可動 電極（第1可動電極l〇9a、第2可動電極i〇9b)、及設置於基 底102上之與可動電極對向之位置之固定電極（第i固定電 極208a、第2固定電極208b)。 再者，有時亦可未設置蓋體200，而例如將擺動體3〇〇於 暴露於空氣之狀態下使用。於必需氣密密封封裝體之情形 時’設置有蓋體200。 又，第1支持部40a作為第1扭力彈簧（扭轉彈簧）發揮功 能’第2支持部40b作為第2扭力彈簧（扭轉彈簧）發揮功能。 藉由使第1支持部40a及第2支持部40b成為扭力彈簣，而 具有對於擺動體300翹板擺動所產生之扭轉變形之較強之 恢復力，從而可防止支持部破損。 第1支持部（第1扭力彈簧）40a及第2支持部（第2扭力彈 簧）40b為決定成為擺動體3 〇〇之旋轉中心之支持轴以之位 置的構件。擺動體300例如可經由第1支持部（第丄扭力彈 簧）4〇a及第2支持部（第2扭力彈簧）40b之各者而固定於支持 體1〇〇(例如構成支持體1〇〇之基板1()6之框狀部分）或蓋體 200 〇 如圖1(A)所示，於本實施例中，在將擺動體3〇〇之重心 線GL與重心線GL平行位移僅特定距離dl所得之線段8]^上 設置支持軸Q1。再者，重心線GL為通過擺動體3〇〇之重心 155319.doc -15· 201200876 G1之垂直線，於圖ι(Α)中’由粗-點劃線表示。線段儿由 粗虛線表示。如圖1 (B)所示’第1支持部（第1扭力彈簧）4〇a 及第2支持部（第2扭力彈簧）40b與支持軸Qi重合。第1支持 部（第1扭力彈簧）40a及第2支持部（第2扭力彈蒉）4〇b之延伸 方向與支持軸Q1之延伸方向一致。 作為支持體100，例如可使用SOI(Silicon on Insulator)基 板（圖1(A)及圖1(B)之例）。又，作為蓋體2〇〇，可利用矽、 玻璃等基板。再者’於圖1(C)所示之變形例中，作為支持 體 1〇〇(及蓋體 200)，使用藉由 CMOSIC(Complementary metal-oxide-semiconductor Integrated Circuit，互補型金屬-氧化 物-半導體積體電路）等半導體製造技術而製造之多層構造 體。 於圖1(A)、圖1(B)所示之例中，支持體1〇〇包含基底 1〇2(為SOI基板之基底基板，例如包含si)、基底1〇2上之絕 緣層1 〇4(有時無需該絕緣層）、及形成於絕緣層1 〇4上之基 板106。具體而言，該基板1 〇6可作為賦予導電性之活性 層。於以下之說明中，有時將該基板106記為活性層1〇6。 於基底102與基板106之間設置有空隙95。又，去除基板 106之一部分而設置開口部97，於該開口部97配置有擺動 體300。由於在擺動體300之周圍存在開口部97(以及空隙 95)，而可使擺動體300翹板擺動。 擺動體3 00以及雙臂支持擺動體3 〇〇之第1支持部4〇a及第 2支持部40b(扭力彈簧）係藉由如下方式形成：藉由幹式蚀 刻等對活性層1 〇6(基板106)進行姓刻直至露出絕緣層1 〇4為 155319.doc •16· 201200876 止，繼而藉由HF(Hydrogen fluoride，氟化氫）蒸氣等選擇 性地對絕緣層1 〇4進行等向性蝕刻。 第1支持部40a及第2支持部40b例如與活性層1〇6(基板 106)之周圍之框狀部分（圖1中未圖示，例如參照圖6)連 結。因此，擺動體300係藉由配置於支持軸Q1之第i支持部 4〇a及第2支持部40b而支持於基板（活性層）丨06(例如周圍之 框狀部分;)上。 擺動體300作為可動電極109a、i〇9b發揮功能。可由導 電性材料（摻雜有雜質之矽等）構成擺動體3〇〇 ,藉此形成可 動電極（109a、l〇9b)，或亦可於擺動體3〇〇上形成包含金屬 等導體層之可動電極（l〇9a、109b)。於圖1之例中，係由導 電性材料（摻雜有雜質之矽）構成擺動體300，藉此形成可動 電極 109a、109b。 又’於基底102之與可動電極l〇9a對向之位置設置固定 電極208a，又，於與可動電極i〇9b對向之位置設置固定電 極208b。再者，於設置蓋體2〇〇之情形時，亦可在蓋體2〇〇 之與可動電極109a對向之位置設置固定電極2〇8a，在與可 動電極109b對向之位置設置固定電極2〇8b。 又’擺動體300包含：第1翹板片（第i區域）PT1、及第2 翹板片（第2區域）PT2 »第1翹板片（第1區域）ρτι與俯視時藉 由支持軸Q1所劃分之2個部分中之一者（圖1 (B)中位於左側 之部分）相對應。第2翹板片（第2區域）PT2與俯視時藉由支 持轴Q1所劃分之2個部分中之另一者（圖1 (B)中位於右側之 部分）相對應。 155319.doc 17 201200876 再者，所謂第1區域、第2區域之術語主要係在擺動體 300之俯視時之形狀（與由支持軸Q1分成2部分之魅板片 PT1、PT2之各者相對應之區域）之意義上使用。於以下之 說明中’有時記為第1翹板片（第1區域）PT1、第2翹板片（第 2區域）PT2。 於圖1(B)之例中，第1翹板片（第1區域）PT1之厚度以及 第2翹板片（第2區域）PT2之厚度均為DT(但並不限定於此， 為調整轉矩，亦可使各翹板片之厚度不同）。又，第1麵板 片（第1區域）與第2魅板片（第2區域）之排列方向成為與擺動 體之長邊方向水平（平行）之方向。 例如，當對擺動體300施加垂直方向之加速度（例如重力 加速度）時，第1翹板片（第1區域）PT1與第2翹板片（第2區 域）PT2之各者產生轉矩（力之力矩）。因此，於第1翹板片 (第1區域）PT1之轉矩（例如逆時針方向之轉矩）與第2翹板片 (第2區域）PT2之轉矩（例如順時針方向之轉矩）均衡之情形 時，擺動體300之傾斜不發生變化，從而無法檢測加速度 之變化。因此，以例如使施加垂直方向之加速度時之第j 翹板片（第1區域）PT1之轉矩與第2翹板片（第2區域）PT2之轉 矩不均衡，擺動體300產生特定之傾斜（容許範圍内之傾斜） 之方式設計擺動體300。例如，可採用將支持軸q丨配置於 偏離擺動體300之中心之位置之方法（使自支持轴μ直至各 翹板片PT1、PT2之前端為止的距離不同之方法），或亦可 採用藉由將支持軸Q1配置於擺動體3〇〇之中心，且使各麵 板片PT1、PT2之厚度不同等方法而對各勉板片ρτι、pT2 155319.doc -18· 201200876 之質量設置差之方法，但於本實施形態中，採用前者之方 法（藉由將支持軸Q1配置於偏離擺動體300之中心之位置， 而使自支持軸Q1直至各翹板片PT1、PT2之前端為止的距 離不同之方法）。 藉由將第1翹板片（第i區域）PT1及第2翹板片（第2區域） PT2之剖面形狀之厚度設為相同（即，均設定為厚度dT)， 而能夠於同一製造步驟製造第1翹板片PT1及第2翹板片 PT2 °即’無需用以對各翹板片之厚度設置差之步驟（蝕刻 工序等）’從而有使製造步驟簡化之優點。 第1翹板片PT1及第2翹板片PT2之俯視時之形狀之尺寸 (縱尺寸、橫尺寸等）例如可藉由變更光微影用之光罩形狀 而自由設定。於圖1(B)之例中，擺動體3〇〇係以俯視時成 為長方形之方式進行加工。於以下之說明中，將擺動體 3〇〇之長度方向設為第j方向軸方向），將水平面内與第1 方向正交之方向（亦可稱為支持軸Q1之方向）設為第2方向 (Y軸方向），將與第向及第2方向正交之方向（與水平面 正交之方向）設為第3方向（z軸方向）。 又’设置於擺動體3〇〇中之可動電極1〇9(第1可動電極 109a、第2可動電極1〇9b)之位置根據擺動體3〇〇之翹板擺 動而變化。例如，可將具有導電性之擺動體300自身作為 可動電極’或亦可於擺動體3GG上或擺動體中選擇性地形 成包含導電材料（金屬等）之電極，將該電極作為可動電極 (第1可動電極109a、第2可動電極i〇9b)。 於圖1(B)之例中，作為可變電容cl、c2之構成要素之可 155319.doc 19 201200876 動電極109(第1可動電極109a及第2可動電極i〇9b)係由具有 導電性之擺動體300自身而構成。具體而言，藉由將導電 性之活性層圖案化所形成之翹板（導入有雜質之矽板）3丨j而 構成（形成）可動電極1〇9(第1可動電極l〇9a、第2可動電極 109b)。即’於圖1(b)之例中，可動電極ι〇9(第1可動電極 l〇9a、第2可動電極i〇9b)係由共用電極而構成，該共用電 極與共用電位（基準電位VCOM(例如GND(Ground，接地）)) 相連接。藉由電極之共用化，而可減少與電極連接之配線 之數量，從而可簡化配線圖案。又，由於擺動體3〇〇兼具 電極，因此無需另外形成電極，使製造步驟簡化。 再者’蓋體200亦可與支持體1〇〇同樣地由S0I基板構 成。 如上所述，藉由基底（成為封裝體之基礎之基板或基體 等）100及蓋體200構成密封體。藉由支持體1〇〇及蓋體200 構成氣密密封封裝體，因此於支持體1〇〇與蓋體2〇〇之邊界 附近可使用墊材構件（例如間隔件）90。 又，於基底102上之表面設置有作為可變電容（電容元 件）cl、c2之構成要素之固定電極2〇8(第1固定電極208a、 第2固定電極208b)。較佳為於基底102之表面設置絕緣膜 (省略圖示），於該絕緣膜上設置第1固定電極208a、第2固 定電極208b。該第1固定電極208a、第2固定電極208b係設 置於與設置於擺動體300中之可動電極1〇9(第1可動電極 109a及第2可動電極109b)相對應之位置（相對向之位置）。 再者，第1固定電極208a、第2固定電極208b亦可設置於蓋 155319.doc •20· 201200876 體200之内表面之與第1可動電極109a及第2可動電極109b 相對應之位置（相對向之位置）上。 又’藉由使可動電極109共用化（即，跨及第i區域PT1與 第2區域PT2而設置），而可減少與電極連接之配線之數 量，從而可簡化配線圖案。 於圖1(A)、圖1(B)之例中，已使第1可動電極1〇9a與第2 可動電極109b共用化，亦可使固定電極2〇8(第1固定電極 208a及2固定電極2〇8b)成為相同電位之共用電極（於此情形 時’第1可動電極l〇9a與第2可動電極l〇9b係以彼此電性獨 立之電極之形式形成如上所述，藉由電極之共用化， 而可減少與電極連接之配線之數量，從而可簡化配線圖 案。 又’藉由以與第1可動電極1〇9a及第2可動電極1〇9b對向 之方式各別設置固定電極，而可高精度檢測差動電容之 值。 繼而’對圖1(c)所示之變形例進行說明。於圖i(c)之例 中’藉由具有多層配線構造之半導體基板（可將該等統稱 為多層構造體）而構成擺動體300。即，於半導體基板（相當 於圖1(A)之參照符號1〇2)上，藉由CMOSIC工序形成由複 數層絕緣層（包含層間絕緣層）積層形成之多層構造體。於 圖1(c)之例中’於最上層之絕緣層ι〇7上形成有成為共用 電位（VCOM，此處為GND)用之電極之金屬層111。於圖 1(C)之例中’藉由半導體製造技術（多層配線基板技術等） 可合理地形成可動電極109(第1可動電極109a、第2可動電 155319.doc •21 · 201200876 極 109b)。 除以上之例以外，亦考慮有多種變形例。將變形例之一 例示於圖14中。圖14係表示物理量感測器之構造之其他例 之圖。 於圖14所示之例中’第1支持部4〇a之位置與第2支持部 40b之位置不同（於擺動體之長度方向上偏離特定距離）。於 此情形時，連結第1支持部40a與第2支持部40b之支持軸 Q1 (圖中’以雙點劃線表示）傾斜，擺動體3〇〇於俯視時藉 由支持轴Q1劃分為第1區域（第1翹板片）PT1及第2區域（第2 翹板片）ΡΤ2。再者，於此情形時，第！區域ρτι與第2區域 PT2之排列方向成為與擺動體之長邊方向水平（平行）之方 向。 此處’返回至圖1繼續說明。繼而，對擺動體3〇〇之擺動 動作、及伴隨該擺動動作之可變電容之電容值之變化進行 說明。以下，參照圖1(D)〜圖1(F)»再者，於圖丨⑴)〜圖 1(F)中’為方便說明’將第丨固定電極2〇8a、第2固定電極 208b記載於擺動體3〇〇之上側。 於圖1(D)中，擺動體300維持水平狀態（該狀態與無重力 加速度之狀態（無重力狀態）相對應）。如圖丨（D)所示，設置 有第1可變電容cl及第2可變電容c2作為可變電容。第1可 變電容cl包含：第1可動電極109&，其位置根據第i翹板片 PT1之輕板擺動而變化；及第}固定電極2〇8a，其設置於蓋 體200之與第1可動電極i〇9a對向之位置。又，第2可變電 容c2包含：第2可動電極i〇9b，其位置根據第2翹板片ΡΤ2 155319.doc • 22- 201200876 之翹板擺動而變化；及第2固定電極208b，其設置於蓋體 200之與第2可動電極l〇9b對向之位置。 作為可變電容（檢測電容），若使用第1可變電容cl及第2 可變電容c2，則有不僅可檢測加速度之大小，亦可檢測加 速度之方向之優點（但並不限定於此）。 於圖1(D)中，自支持軸Q1直至第1翹板片PT1之前端為 止的距離為T10，自支持軸Q1直至第2翹板片PT2之前端為 止的距離為T20(>T 10)。由此，於圖1(D)之例中，例如當 垂直向下產生加速度時，第2翹板片ΡΤ2所產生之轉矩大於 第1翹板片ΡΤ1所產生之轉矩，擺動體300向順時針方向旋 轉。以下，參照圖1(E)及圖1(F)具體說明。 於圖1(E)之狀態下，對擺動體300施加例如重力加速度 Gl(=l G)。隨之擺動體300(第1翹板片ΡΤ1及第2翹板片 PT2)向順時針方向旋轉，擺動體3〇〇產生傾斜。藉由擺動 體300之翹板擺動，第1可變電容ci之電極間距離縮小，其 結果第1可變電容cl之電容值（C1)增大。另一方面，第2可 變電谷c2之電谷值（C2)藉由電極間距離之擴大而減少。如 此，於圖1(E)之例中，可獲得差動檢測輸出。藉由2個輸 出信號之各者之變化程度而可檢測重力加速度G1之值（=1 G)。進而，藉由2個輸出信號之各者之變化方向而可特別 規定加速度之方向（垂直向下）。 於圖1(F)之狀態下，在對擺動體300施加重力加速度（=1 G)之狀態下，對擺動體300進而施加垂直向上之加速度 G2。於此情形時’擺動體300(第i翹板片ρτι及第2翹板片 I55319.doc -23· 201200876 PT2)向半順時針方向旋轉，擺動體300產生與圖1(E)之情 形相反之傾斜。藉由擺動體300之翹板擺動，第1可變電容 cl之電極間距離擴大，其結果第1可變電容〇1之電容值 (C1)減少。另一方面’第2可變電容^之電容值（C2)藉由電 極間距離之縮小而增大。 以由圖1(E)之狀態所得之檢測信號（即，重力加速度之大 小及方向）為基準’判定圖1(F)之狀態下之檢測信號，藉此 可於圖1 (F)之狀態下，檢測於哪一方向哪種程度之加速度 發揮作用。即，基於圖1(F)之狀態下所得之2個輸出信號 (差動信號）’根據2個輸出信號之各者之變化程度，而可檢 測所施加之加速度G2之值。進而藉由檢測2個輸出信號之 各者之變化方向’而可特別規定加速度G2之方向（垂直向 上）。 例如’於測定垂直方向之加速度之情形時，構成物理量 感測器之密封體（封裝體）之支持體100之主表面（底面）係例 如固定於安裝有封裝體之電子零件等所具有之水平面上。 例如’若施加重力加速度’則藉由轉矩擺動體3〇〇之傾斜 發生變化’隨之可變電容（cl、C2)之電容值發生變化。由 此’例如可檢測重力加速度作為表示可變電容（電容元件） 之電容值之變化之電氣信號。 如上所述’物理量感測器可作為加速度感測器或陀螺感 測器等慣性感測器而使用，具體而言，例如可作為用以測 定垂直方向（與水平面垂直之方向）之加速度（例如重力加速 度）之電容型加速度感測器而使用。於測定垂直方向之加 155319.doc •24· 201200876 速度之情形時，構成物理量感測器之密封體（封裝體）之基 底之主表面（底面）係例如固定於安裝有封裝體之電子零件 等所具有之水平面上。例如，若施加重力加速度，則藉由 轉矩擺動體300之傾斜發生變化’隨之可變電容dd之 電谷發生變化。由Λ ’例如可藉由表示可變電容ei、以 電容值之變化的電氣信號檢測重力加速度之大小及方向。 根據圖1(A)〜圖1(F)所示之例，例如於支持體1〇〇上設置 藉由第1支持部（第1扭力彈簧）4〇a及第2支持部（第2扭力彈 簧）40b翹板擺動自如地支持之擺動體3〇〇 ,於特定位置載 置蓋體200，由例如密封材（接著材等）密封支持體ι〇〇與蓋 體200，藉此可有效形成密封體（例如氣密密封封裝體）。此 時’藉由將蓋體200固定於支持體100上，作為可變電容 cl、c2之構成要素之固定電極2〇8a、2〇8b之位置亦自動定 位，翹板式之物理量感測器自動形成。 又’藉由以蓋體2 00之主表面成為水平之方式固定，亦 確保支持體100之表面與蓋體200之主表面（包含内表面）之 平行性’因此亦可高精度決定平行平板電容器（可變電 容）cl、c2之電極間之距離（擺動體300為水平狀態時之距 離）。由此’可提高包含密封體（封裝體）之物理量感測器之 組裝性。 (密封體之密封構造之例） 圖2(A)、圖2(B)係表示密封體之構造之一例之圖。圖 2(A)係表示密封體之整體構成之立體圖，圖2(B)係表示基 底與蓋體之連接部之剖面構造之一例的圖。 155319.doc -25- 201200876 如圖2(A)所示，於支持體1〇〇上固定蓋體2〇〇，形成密封 體（此處為氣密密封封裝體）250。於基底BS1之表面設置有 焊墊（外部連接端子）PA、檢測電路13、西己線虹以及配線 IL。設置於密封體内部之可變電容(u、c2等)與檢測電路 13經由配線IL連接。又，檢測電路13與焊塾pA藉由配線 EL連接。又，於在密封體内部搭載複數個感測器之情形 時，各感測器之輸出信號經由配線仄導出至檢測電路13。 又，於圖2(A)之例中，於第！基板BS1上搭載有檢測電路 (包含k號處理電路）13 (但該情形為一例，並不限定於該 例）。藉由於基底BS1上搭載檢測電路13，例如可實現具備 信號處理功能之高功能之慣性感測器（MEMS慣性感測 器）。 繼而，參照圖2(B)，對基底與蓋體之連接部之剖面構造 例進行說明《如先前所說明般，支持體1〇〇包含矽基板（基 底基板）102、絕緣層104、及活性層1 〇6。活性層1 06例如 包含摻雜有雜質之矽層121及2層絕緣層123、125。 另一方面’蓋體200例如可由玻璃基板（單層）而構成， 或例如亦可由表面形成有絕緣膜之矽基板（單層）而形成。 又’當於蓋體側亦構成其他感測器元件，或者形成其他電 路時’為構成蓋體200，亦可使用具有與支持體1 〇0相同之 構成之SOI基板。 自設置於密封體内部之可變電容引出之配線ME 1 (第1層 配線）係經由接觸插塞ME2、第2層配線ME3、接觸插塞 ME4、第3層配線ME5、具有呈山狀隆起之形狀之配線ME6 155319.doc -26· 201200876 而與設置於支持體100上之配線ME7連接。又，於圖2(B) 中，參照符號191為間隔件構件（例如，樹脂材料）。藉由設 置間隔件構件191，而可更高精度地保持支持體100與安裝 於支持體100上之蓋體200之平行度。又，參照符號193為 接著膜。間隔件191及接著膜193發揮作為密封材90之作 用。 (密封體之製造方法之一例） 圖3(A)〜圖3(D)係表示密封體之製造方法之一例之圖。 於該例中，貼合2個SOI基板而製造密封體。 如圖3(A)所示，準備成為支持體100之SOI基板。再者， 於基底102上形成有作為固定電極208a、208b之金屬層（參 照圖3(D)，圖3(A)〜圖3(C)中省略圖示）。 如於圖3(A)之下側由一點劃線包圍所示，活性層（基 板）106包含矽單晶121、及形成於矽單晶121上之多層構造 (亦存在具有複數層絕緣層123、125，進而具有導體層 Mel〜Me6等之情形）。於矽單晶121中以高濃度摻雜有雜質 (例如N型雜質之As等）。由此，可使用矽單晶121(第1組板 片PT1、第2龜板片PT2)自身作為可動電極（圖1所示之參照 符號 109a、109b)。 繼而，如圖3(B)所示，藉由光微影使活性層（基板）ι〇6圖 案化，形成擺動體300(第1翹板片PT1及第2翹板片PT2)以 及第1支持部40a、第2支持部40b。 繼而，如圖3(C)所示’藉由HF蒸氣或濕式钱刻去除犧牲 層之絕緣層104b。藉此，於擺動體300之周圍形成空腔部 155319.doc -27- 201200876 350(包含圖1所示之空隙95以及開口部97)。擺動體3〇〇於空 腔部350上’藉由第1支持部40a(第1扭力彈簧）及第2支持部 4〇b(第2扭力彈蒉）可翹板擺動地支持。 繼而’如圖3(D)所示，於作為支持體100之s〇i基板上隔 著始、封材90安裝蓋體200。再者，於基底102上形成有第1 固定電極208a及第2固定電極208b(均包含A1等之金屬層）。 第1固定電極208a及第2固定電極208b設置於活性層206上 (最上層之絕緣層上）之與作為可動電極之第1翹板片PT1及 第2翹板片PT2之各者對向之位置。 再者’如圖3(D)所示，作為可動電極之第1翹板片ρτι及 第2翹板片PT2，例如，如圖3(D)之下模所示，包含作為電 極材料之Si單晶121及形成於Si單晶上之2層絕緣層（例如 CVD(Chemical Vapor Deposition，化學氣相沈積）Si〇2 層）123、125。絕緣層123、125作為電容器之介電質膜發 揮功能，且亦作為可動電極之保護膜（萬一可動電極與固 定電極接觸時，發揮防止各電極之破損等作用）發揮功 能。 (第2實施形態） 於本實施形態中，對檢測電路之構成例進行說明。圖 4(A)〜圖4(C)係表示檢測電路之構成例之圖。如先前使用 圖2(A)進行說明般，檢測電路13例如係設置於支持體 上之空白空間，且内置信號處理電路1〇。於圖4(A)之例 中，物理量感測器（此處為電容型加速度感測器）中所含之 第1可變電容心帛2可變電容C2包含作為共用之接地電極 155319.doc •28 - 201200876 之固疋電極208、第1可動電極1〇9a及第2可動電極1〇9b。 檢測電路13包含信號處理電路1〇、cPU(Central Processing Unit，中央處理器）28、及介面電路3(^信號處 理電路ίο包含c/v轉換電路（電容值/電壓轉換電路）24、及 類比权正& A/D(交流/直流）轉換電路26。但該例為一例， 信號處理電路10亦可更包含(：1>11 28或介面電路（I/F)3〇。 於圖4(B)之例中，第1可變電容〇1、第2可變電容〇2包含 第1固定電極208a及第2固定電極2〇8b、以及作為共用之接 地電極之可動電極1 〇9。檢測電路丨3之構成與圖4(A)之例 相同。又，於圖4(C)之例中，第1可變電容㈠及第2可變電 谷c2包含作為接地電位之第1固定電極2〇8a及第2固定電極 2〇8b、以及第i可動電極1〇93及第2可動電極1〇9b。檢測電 路13之構成與圖4(A)之例相同。 (C/V轉換電路之構成例） 此處’使用圖5(A)〜圖5(C)，對C/V轉換電路（C/V轉換放 大器）之構成及動作之一例進行說明。圖5(A)〜圖5(CH糸用 以對C/V轉換電路之構成及動作進行說明之圖。 圖5(A)係表示使用開關電容之c/v轉換放大器（電荷放大 器）之基本構成之圖，圖5(B)係表示圖5(A)所示之c/v轉換 放大器之各部分之電壓波形的圖。 如圖5(A)所示，基本之C/V轉換電路24包含第1開關SW1 及第2開關SW2(與可變電容cl(或c2)一併構成輸入部之開 關電谷）、運算放大器（Operational Amplifier，0PA)1、反 饋電容（積分電容）Cc、用以重置反饋電容Cc之第3開關 J55319.doc -29- 201200876 SW3、用以對運算放大器（〇ΡΑ)1之輸出電壓Vc進行取樣之 第4開關SW4、及保持電容Ch。 又’如圖5(B)所示’第1開關SW1及第3開關SW3係由同 相之第1時脈控制接通/斷開，第2開關SW2係由與第1時脈 反相之第2時脈控制接通/斷開。第4開關SW4係於第2開關 SW2接通期間之最後階段變短而接通。若第1開關SW1接 通’則於可變電容cl(c2)之兩端施加特定之電壓vd，可變 電容cl(c2)中蓄積電荷。此時，反饋電容Ce因第3開關為接 通狀態而為重置狀態（兩端短路之狀態）。繼而，若第1開關 SW1及第3開關SW3接通，第2開關SW2接通，則可變電容 cl (c2)之兩端均成為接地電位，因此蓄積於可變電容 cl(c2)之電荷向運算放大器（〇pA)1移動。此時，為保存電 荷量，Vd.Cl(C2)=Vc.Cc成立，由此，運算放大器（opAy 之輸出電壓Vc成為（Cl/Cc).Vd。即，電荷放大器之增益係 由可變電容cl(或C2)之電容值（C1或C2)與反饋電容Cc之電 容值之比而決定。繼而，若第4開關（取樣開關）SW4接通， 則運算放大器（〇ΡΑ)1之輸出電壓Vc藉由保持電容（^保 持。所保持之電壓為Vo，該Vo成為電荷放大器之輸出電 壓。 如先前所說明般，C/V轉換電路24實際上接收來自2個可 變電容（第1可變電容cl、第2可變電容C2)之各者之差動作 號。於此情形時，作為C/V轉換電路24，例如可使用如圖 5(C)所示之差動構成之電荷放大器。於圖5(c)所示之電荷 放大器中，在輸入段設置用以放大來自第1可變電容。之 155319.doc •30· 201200876 信號之第1開關電容放大器（SWla、SW2a、OPAla、Cca、 SW3a)、及用以放大來自第2可變電容c2之信號之第2開關 電容放大器（SWlb、SW2b、OPAlb、Ccb、SW3b)。並 且，運算放大器（OPA)la及lb之各輸出信號（差動信號）輸 入至設置於輸出段之差動放大器（OPA2、電阻R1-R4)。 其結果’經放大之輸出信號Vo自運算放大器（OPA)2輸 出。藉由使用差動放大器而可獲得能夠消除基底雜訊（同 相雜訊）之效果。再者，以上所說明之C/V轉換電路24之構 成例為一例，並不限定於該構成。 (第3實施形態） 於本實施形態中，對可檢測2個不同方向之加速度之電 容型感測器之一例進行說明。於以下之說明中，對電容型 加速度感測器進行說明。 於本實施形態中’係基於藉由擺動體之翹板擺動之Z軸 方向之加速度檢測用之可變電容的電容值變化對Z軸方向 之加速度進行檢測。又’對擺動體進而附加X軸方向或γ 軸方向之加速度檢測用之可變電容，基於該X轴方向或γ 轴方向之加速度檢測用之可變電容的電容值變化而可檢測 X軸方向或Y軸方向之加速度。 圖0係表示可檢測2個不同方向之加速度之加速度感測器 之構成之一例的圖。於圖6中，表示藉由支持體1〇〇及蓋體 200而構成之密封體之俯視圖，及長度方向（橫方向）之剖面 圖、與長度方向正交之方向（縱方向）之剖面圖。長度方向 (杈方向）之剖面圖係沿俯視圖之Α_Α線之剖面圖。與長度 155319.doc -31 · 201200876 向）之剖面圆係沿俯視圖之B-B線之 方向正交之方向（縱方 剖面圖。 之一點劃線表 、配線及焊墊 於圖6之俯視圖中，蓋體200係由粗實線 示。又，於圖6之俯視圖中，亦記載有電極 (外部連接端子）之配置例。 首先’定義三維空間中之方向，使加速度感測器中之各 部分之延伸方向、及構成可變電容之可動電極之移位之方 向明確。即，將擺動體則為水平狀態時之水平面（亦可稱 為包含擺動體300之主表面之面)内之擺動體之長度方向設 為第1方向（X軸方向）。將水平面内之與第】方向（χ轴方向） 正交之方向(即’與上述水平面正交之方向)設為第2方向 (Υ軸方向），將與第i方向（X軸方向）及第2方向（γ軸方向）之 各者正交之方向設為第3方向（Ζ軸方向）。再者，於χ軸方 向上，包含正X軸方向（+Χ)及負Χ軸方向（_χ)。關於該方 面’ γ軸方向與ζ轴方向亦相同。 於圖6之例中，與圖1之例相同，擺動體3〇〇係藉由第1支 持部40a及第2支持部40b翹板擺動自如地雙臂支持。第1支 持部40a係由沿第2方向（Y軸方向）延伸之第1扭力彈簧而構 成，第2支持部40b係由沿第2方向（Y軸方向）延伸之第2扭 力彈簧而構成。第1扭力彈簀（第1支持部）40a之—端與擺動 體300連結（固定）’且第1扭力彈簧4〇a之另一端與.支持體 100及蓋體200連結（固定）。第2扭力.彈簧（第2支持部）4〇b亦 相同’其一端與擺動體300連結（固定），且第2扭力彈酱4〇b 之另一端與支持體1〇〇及蓋體200連結（固定又，第丄扭力 155319.doc •32· 201200876 彈簧40a及第2扭力彈簧4〇b之各者沿第2方向（Y轴方向）延 伸。例如’第1扭力彈簧4〇a及第2扭力彈簧40b之各者於俯 視時係以重合於擺動體3〇〇之支持軸卩丨之方式沿第2方向（γ 轴方向）延伸設置。 藉由擺動體300之翹板擺動，構成可變電？cl、c2之第1 可動電極109a及第2可動電極i〇9b(於圖6之例中，擺動體 自身作為共用電位之可動電極發揮功能）與第1固定電極 2〇8a及第2固定電極208b之間的第3方向（Z軸方向）之距離 (電極間距離）發生變化。即，利用擺動體3〇〇之翹板擺動而 可檢測Z軸方向（垂直方向）之加速度（重力加速度）。 於圖6之例中，擺動體3 〇〇中進而設置有用以檢測第2方 向（Y軸方向）之加速度之電容（第3電容c3及第4電容c4)。第 3電谷c3及第4電容c4係由梳齒電極而構成。以下進行具體 說明。 如圖6所示，擺動體3〇〇更包含：框體31〇，其與作為第j 支持部之第1扭力彈簧40a及作為第2支持部之第2扭力彈簧 40b之各者相連結；可動砝碼部313，其經由在第2方向 軸方向）上可移位之第2方向移位用彈簧（有時亦稱為連結 部）la、lb、lc、Id而與框體310相連結，並且在周圍形成 有空腔部350 ;固定電極部（有時稱為第i臂狀電極部）、 2b、2c、2d，其自框體310向空腔部35〇(或可動砝碼部3i3) 突出形成；及可動電極部（有時稱為第2臂狀電極部）3a、 3b、3c、3d，其自可動砝碼部313向擺動體3〇〇(之框體3i〇) 突出形成，與可動砝碼部313一體地移位，並且與固定電 1553I9.doc -33 - 201200876 極部⑷臂狀電極部…^…對卜固定電極部 2a' 2b、2c、2d及可動電極部3&、扑、3c、兇分別構成梳 齒電極，各電極沿第i方向（x軸方向）延伸。 ” 即，擺動體300包含開口部99(例如，藉由蝕刻去除作為 基板之活性層1 〇6而形成），於該開口部99配置有可動砝碼 ^17 Ο 1 Λ 。。又，設置有連結可動砝碼部313與擺動體300之連 結部(第2方向移位用之彈簧部或彈性變形部)u、ib、ic、
Id且包含·第1臂狀電極部（固定電極部）2a、2b、2c、 2d，其係自擺動體300(之框體310)向可動砝碼部313突出而 形成；及第2臂狀電極部（可動電極部）3a、3b、3c、％，其 係自可動砝碼部313向擺動體300突出而形成，並且與第j 臂狀電極部（固定電極部）2a、2b、2c、2(1對向。 又，第2方向移位用彈簧ia、lb、lc、ld之各者藉由絕 緣區域ISOl、1S04、IS05、IS08之各者與框體310電性分 離。同樣，固定電極部2a、2b、2c、2d之各者藉由絕緣區 域IS02、1S03、IS06、IS07之各者與框體310電性分離。 絕緣區域IS01〜IS08之各者例如係藉由在矽單晶中局部設 置之凹部埋入Si02等絕緣膜而形成。 若藉由第2方向（X軸方向）之加速度，第2方向移位用彈 簧la、lb、lc、Id沿第2方向（Y軸方向）移位，則固定電極 部2a、2b、2c、2d以及可動電極部3a、3b、3c、3d之間的 距離（電極間距離）發生變化，第3電容c3及第4電容C4之電 容值發生變化。藉由檢測該電容值之變化作為微小之電氣 信號（電流信號）之變化，而可檢測第2方向（Y軸方向）之加 155319.doc •34- 201200876 速度。 又’第2方向移位用彈簧卜…卜⑷列如為於幻方 =(X軸方向）上呈直線狀延伸之棒狀之彈簧。第2方向移位 = la、lb、lc、ld例如可將構成SOI基板之活性層之 矽單晶(以及包含層間絕緣膜或金屬膜等之多層構造體)圖 案化而形成。矽單晶或多層構造體由於具有一定程度之彈 性(以及-定程度之剛性），因此藉由將其圖案化成棒狀而 可作為彈性變形構件（彈性彈蔷）使用。作為擺動體3〇〇之製 造方法，可採用圖3(A)、圖3(B)所示之方法。 由於具有此種構造，擺動體3〇〇除了發揮作為用以檢測 第3方向（Z轴方向）之移位之第3方向檢測板之作用以外， 亦發揮作為用以檢測第2方向（Y軸方向）之移位之第2方向 之檢測板之作用。藉此，使用一個擺動體3〇〇便可檢測與2 個不同方向之移位之各者相對應的電容之變化。藉此，例 如實現可檢測2個不同方向（第3方向及第2方向）之加速度之 小型且高功能之加速度感測器。 繼而，對焊墊及配線之配置進行說明。於支持體1 〇〇之 周邊設置有第1焊墊PA1〜第5焊墊PA5。第1焊墊PA1為用以 供給共用電位VCOM(GND)之焊墊。第2焊墊PA2為用以將 可自第1可變電容cl獲得之Z軸方向之第1檢測輸出VZ1導 出至外部之焊墊。亦可設為如下構成：設置檢測電路 13(參照圖2(A))代替第2焊墊PA2，將可自可變電容cl獲得 之Z軸方向之第1檢測輸出VZ1輸入至檢測電路13。關於該 方面，其他檢測信號亦相同。 155319.doc -35- 201200876 第3焊墊PA3為用以將Y軸方向之第1檢測輸出VY1導出 至外部之焊墊，該第1檢測輸出VY1係根據用以檢測第2方 向（Y軸方向）之加速度之第3電容C3而獲得。第4焊墊pA4為 用以將Y軸方向之第2檢測輸出VY2導出至外部之焊塾，該 第2檢測輸出VY2係根據用以檢測第2方向（γ軸方向）之加 速度之第4電容C4而獲得。第5焊墊ΡΑ5為用以將Ζ軸方向 之第2檢測輸出VZ2導出至外部之焊墊，該第2檢測輸出 VZ2係根據第2可變電容^而獲得。 又，於作為擺動體300之一部分之框體31〇中設置有3根 配線L1 (粗實線之細虛線）、L2(粗實線之粗虛線）、(粗實 線之一點劃線）。配線L1為用以對擺動體3〇〇供給共用電位 VCOM(GND)之配線。又，配線。為用以將可自第4電容 獲得之Y軸方向之第2檢測輸出νγ2導出至外部之配線。配 線L3為用以將可自第3電容c3獲得之γ軸方向之第丨檢測輸 出VY1導出至外部之配線。又，設置有用以構成電子電路 所需之其他配線L4〜L10。 圖7(A)、圖7(B)係將圖6所示之俯視圖及長度方向（橫方 向）之剖面圖簡化表示之圆 。圖7(A)係加速度感測器之俯
般’擺動體300包含第1翹板片PT1及第2翹 如先前所說明般，擺動 板片PT2。第1 #搞都（楚
155319.doc •36· 201200876 相連接。 擺動體300包含框體31〇、可動破碼部313、第2方向移位 彈簧（彈性變形部）U〜ld、固定電極部2a〜2d、及可動電極 3a〜3d。第3電容c3係由固定電極·與可動電極部、以 及固定電極部2c與可動電極部3c而構成。同樣，第4電容 c4係由固定電極部沘與可動電極部讣、以及固定電極部u 與可動電極部3d而構成。 於本貫訑形態中，具有剛性之框體3丨〇與第丨扭力彈簧 術及第2扭力彈簧40b連接。#此，抑制藉由第泣力彈脊 40a及第2扭力彈簧40b之第3方向（z轴方向）之移位與藉由 第2方向移位彈簧la〜ld之第2方向（γ軸方向）之移位彼此干 涉（可視為各彈簣之移位相互獨立）。因此，充分降低對檢 測精度之不良影響。藉此，例如實現可檢測2個不同方向 (Y軸方向及Z軸方向）之加速度之小型〖高功能之加速度感 測器。 (第4實施形態） 於本實施形態中，對可檢測第i方向（χ軸方向）、第2方 向（Υ軸方向）及第3方向（Ζ軸方向）之各者之電容值之變化之 具有3軸感度之物理量感測器進行說明。圖8係表示可檢測 第1方向（X軸方向）、第2方向（γ軸方向）及第3方向（ζ軸方 向）之各者之電容值之變化之具有3軸感度之物理量感測器 之構成例的俯視圖。於圖8中，對與上述實施形態共同之 要素附加相同之參照符號。於以下之說明令，舉出加速度 感測器為例進行說明。 155319.doc -37· 201200876 於圖8所示之加速度感測器中，擺動體300包含：框體 31〇，其與作為第1支持部之第〗扭力彈簧4〇a及作為第2支 持部之第2扭力彈簧4〇b之各者連結；第丨方向及第2方向移 位用彈簧Ua〜Ud，其於第i方向(X軸方向)及第2方向(Y軸 方向）之各方向上可移位；可動砝碼部313，其經由第j方 向及第2方向移位用彈簧Ua〜Ud之各者而與框體31〇連 結，並且在周圍形成有空腔部35〇 ;固定電極部h、沘、 c 2d 2a、2b、2c、2d'，其係自框體3i〇向空腔部35〇 突出形成；及可動電極部3a、3b、3c、3d、3a,、扑，、 3c 3d，其與可動站碼部3〗3一體地移位並且與固定電 極部 2a、2b、2c、2d、2a，、2b，、2c，、2d·之各者對向。 主要構成與圖6及圖7所示之實施形態中之物理量感測器 之構成相同。但是，相對於在圖6及圖7之例中使用第2方 向移位彈簧，於本實施形態中，使用於第i方向（χ軸方向） 及第2方向（Y軸方向）之各方向上可移位之第1方向及第2方 向移位用彈簧11a〜lid。第1方向及第2方向移位用彈簧 11a〜lid之各者於俯視時自四角形之框體31〇之四角向與框 體310成大約45度之角度之方向延伸。 於本實施形態中包含第3方向（Z軸方向）加速度之檢測用 之第1可變電容cl、第2可變電容C2、及第2方向”軸方向〕 加速度之檢測用之第3電容c3、第4電容c4、以及第i方向 (X軸方向）加速度之檢測用之第5電容c3,、第6電容C4'。 於本實施形態中’第1扭力彈簧4〇a及第2扭力彈簧4叽與 具有剛性之框體310連接。由此’抑制藉由第1扭力彈菁 155319.doc •38- 201200876 40a及第2扭力彈簧40b之第3方向（z轴方向）之移位與藉由 第1方向及第2方向移位彈簧Ua〜nd之第1方向（乂軸方向〕 及第2方向（Y軸方向）之移位彼此干涉（可視為各移位相互 獨立）。由此，充分降低對檢測精度之不良影響。藉此， 例如實現可檢測3個不同方向（第丨方向〜第3方向之各者）之 加速度之小型且高功能之加速度感測器。 (第5實施形態） 於本實施形態中，對可檢測2個不同方向之加速度之電 谷型加速度感測器之其他例進行說明。於以下之說明中， 對電容型加速度感測器進行說明。 圖9係表示可檢測2個不同方向之加速度之加速度感測器 之構成之其他例的圖。於圖9中，對與上述實施形態之例 共同之部分附加相同之參照符號。 於先前說明之圖6及圖7之例中，將第1扭力彈簧4〇a及第 2扭力彈簧40b連結於框體3 1 〇 ’但於本實施形態中，不使 用框體，於在第2方向（Y軸方向）上可移位之第2方向移位 用彈簧le、If上直接連結第1扭力彈簧4〇a及第2扭力彈餐 40b之各者。設置第3電容C3及第4電容c4之情形與圖6及圖 7之例相同。 根據本實施形態’例如實現可檢測2個不同方向（第3方 向及第2方向）之加速度之高功能之加速度感測器。進而， 由於可省略框體，因此可實現進一步之小型化（佔有面積 之削減）。 (第6實施形態） 155319.doc •39· 201200876 圖10係表示使用2個圖6及圖7所示之構造之擺動體，可 檢測3個不同方向之加速度之物理量加速度感測器之構成 的俯視圖。於圖10之例中，於共同之支持體1〇〇中設置擺 動體300及擺動體3〇〇%擺動體300及擺動體3〇〇，之構成與 圖6及圖7所示之擺動體3〇〇之構成相同。再者，對擺動體 3〇〇’之構成要素之參照符號附加垂點記號。 擺動體300之支持軸…沿第2方向（Y軸方向）延伸。擺動 體300·之支持軸Q1’沿第1方向（X軸方向）延伸。擺動體3〇〇 如先前所說明般’兼具作為用以檢測第3方向（Z方向）之加 速度之檢測板之功能、及作為用以檢測第2方向（γ方向）之 加速度之檢測板之功能。另一方面，擺動體3 兼具作為 用以檢測第3方向（Z方向）之加速度之檢測板之功能、及作 為用以檢測第1方向（X方向）之加速度之檢測板之功能。 根據本實施形態，可實現能夠檢測第i方向（χ軸方向）之 加速度、第2方向（Υ軸方向）之加速度以及第3方向（ζ軸方 向）之加速度之高功能之物理量感測器（加速度感測器）。 (第7實施形態） 於本實施形態中’對為進-步提高利—板構造之物理 量感測器之檢測精度之信號處理方法'及利用該信號處理 方法之物理量感測器之構成進行說明。
步提高利用翹板構造 11 (Α)~圖11 (Η)係說明用以進一 之物理量感測器之檢測精度之信號處理方法進行說明之 圖。圖11⑷係表示擺動體·維持水平狀態之狀態（ζ轴方 向加速度為0 G之狀態）。 圖U(B)表示Ζ軸方向加速度為1 1553l9.doc •40· 201200876 G時之擺動體300之狀態。圖11(B)中之擺動體300因第1翹 板片ΡΤ1之轉矩與第2翹板片ΡΤ2之轉矩之不均衡而成為傾 斜之狀態（其原因在於：即便施加重力加速度，擺動體300 亦保持水平狀態，而無法檢測重力加速度）。 於此狀態下，假定擺動體300中擺動體300之延伸方向即 第1方向（X轴方向）之加速度發揮作用（參照圖11(C))。如圖 11(C)所示，若對於傾斜之擺動體300第1方向（X軸方向， 水平時之擺動體之延伸方向）之加速度G發揮作用，則擺動 體300中’於與第1方向（X軸方向）之加速度G之方向相反方 向上慣性力F’發揮作用（慣性力之大小與第1方向之加速度 G成比例）。由於該慣性力F具有使傾斜之擺動體3〇〇旋轉 之力（即，與傾斜之擺動體300垂直地作用之力）之成分，因 此擺動體300之傾斜發生變化（參照圖11 (d))。即，即便第3 方向之加速度實際未發生變化，藉由第1方向之加速度（與 檢測方向（第3方向）不同之方向之加速度）〇，表觀上第3方 向之加速度亦發生變化。如此之於與檢測方向不同之方向 上具有檢測感度之情形成為物理量感測器之檢測精度下降 之原因。 對該問題進行具體說明《如圖11(D)所示，相同大小之 慣性力F對擺動體300之第1翹板片（第1區域）ρτι及第2起板 片（第2區域）PT2之各者發揮作用。對第1趣板片pT1施加之 慣性力P可分成擺動體300之延長線方向之力成分Fal、及 垂直於擺動體300之方向之力成分外1。同樣，作用於第2 翹板片PT1之慣性力F’可分成擺動體3〇〇之延長線方向之力 155319.doc -41 · 201200876 成分Fa2、及垂直於擺動體300之方向之力成分Fb2。作用 於第1翹板片PT1之垂直於擺動體300之方向之力成分Fbl對 擺動體300之第1翹板片PT1產生逆時針方向之力矩。另— 方面’作用於第2翹板片PT2之垂直於擺動體300之方向之 力成分Fb2對擺動體300之第2翹板片PT2產生順時針方向之 力矩。力成分Fbl與力成分Fb2之大小相同。 然而’於圖11 (D)之例中，由於第2勉板片PT2之臂之長 度與第1翹板片PT1之臂之長度相比更長（即，第2翹板片 PT2之質量更重），因此轉矩產生差。即，作用於臂較長之 第2翹板片PT2之順時針方向之轉矩成為優勢，其結果，擺 動體300整體向順時針方向旋轉。其順時針方向之轉矩可 稱為因對於傾斜之擺動體300第1方向（X轴方向，水平時之 擺動體之延伸方向）之加速度G發揮作用而產生之表觀上之 轉矩。 又，於如圖11(E)所示之擺動體300(傾斜方向成為與圖 11(D)之例相反方向）中，慣性力F·發揮作用時，亦因相同 原因而產生表觀上之轉矩，擺動體300之傾斜發生變化。 於圖11(B)中，作用於第1翹板片PT1之垂直於擺動體300之 方向之力成分Fbl對擺動體300之第1翹板片PT1產生順時針 方向之力矩。另一方面，作用於第2翹板片PT2之垂直於擺 動體3 00之方向之力成分Fb2對擺動體3 00之第2翹板片PT2 產生逆時針方向之力矩。力成分Fbl與力成分Fb2之大小相 同。 然而，於圖11(E)之例中，由於第1翹板片PT1之臂之長 155319.doc • 42· 201200876 度較第2麵板片PT2之臂之長度更長（即，第1翹板片PT1之 質量更重），因此轉矩產生差。即，作用於臂較長之第1翹 板片PT1之順時針方向之轉矩成為優勢，其結果，擺動體 300整體向順時針方向旋轉。即，與圖i i(D)之例相同，藉 由表觀上之順時針方向之轉矩，擺動體300之傾斜發生變 • 化。 此處，比較圖1 HD)之例與圖11(E)之例。於圖1 1(d)之例 中，藉由表觀上之轉矩，擺動體300以其傾斜程度變得更 深之方式旋轉。例如，將產生表觀上之轉矩前之傾斜角 (水平線與擺動體形成之角度）設為0時，藉由表觀上之轉矩 傾斜發生變化後之傾斜角成為θ + δθ。另一方面，於圖 11 (D)之例中，藉由表觀上之轉矩，擺動體3以傾斜之擺 動體返回，其傾斜角變淺之方式旋轉。例如，將產生表觀 上之轉矩前之傾斜角（水平線與擺動體形成之角度）設為Θ 時，藉由表觀上之轉矩傾斜發生變化後之傾斜角成為9_ δθ ° 即’若以擺動體300傾斜之方向為基準考慮，貝,旧⑽） . 之例中之表觀上之轉矩之方向與圖11(E)之例中之表觀上 之轉矩之方向為彼此相反方向。例如，將擺動體3〇〇傾斜 '之方向設為正方向時’圖U(D)之例中之表觀上之轉矩之 方向為正方向，圖η⑻之例中之表觀上之轉矩之方向成 為負方向。即，於圖U(D)及圖11⑻中，藉由表觀上之轉 j ’擺動體300僅旋轉相同之角度，但其方向相反。於本 實施形態中，著眼於該方面’併用具有圖U⑼之構造之 155319.doc •43· 201200876 擺動體300a與具有圖11(E)之構造之擺動體3〇〇b，以自各 擺動體所得之信號為基礎執行特定之運算，藉此抑制由表 觀上之轉矩所產生之誤差。 即’於本實施形態中，如圖11(F)所示，設置2個擺動體 (即第1擺動體300a及第2擺動體300b)。並且，先前說明之 信號處理電路（圖3之參照符號1〇)基於自各擺動體3〇〇a、 3 00b所得之信號’執行用以補償檢測誤差之信號處理而抑 制檢測誤差。 此處’第1擺動體300a與圖11(D)所示之擺動體相對應。 第2擺動體300b與圖11(E)所示之擺動體相對應。第1擺動 體300a包含第1翹板片（第1區域）PTla及第2翹板片（第2區 域）PT2a。第2擺動體300b包含第3翹板片（第3區域）PTlb及 第4翹板片PT2b(第4區域）。 即’第1擺動體300a於俯視時藉由支持軸Q1(第1軸）劃分 為第1區域（第1翹板片）PTla及第2區域（第2翹板片）PT2。 又’第2擺動體300b於俯視時藉由支持軸Q2(第2轴）劃分為 第3區域（第3翹板片PTlb)及第4區域（第4翹板片PT2b)。 於本實施例中，第1擺動體300a與第2擺動體300b彼此配 置為鏡像。所謂「配置為鏡像」係指如例如圖12之俯視圖 所示之配置。此處，參照圖12。於圖12中，第2擺動體 300b於俯視時為相對於與第1區域（第1翹板片）ρτΐ a及第2 區域（第2翹板片）PT2a之排列方向正交之軸LX，使第1擺動 體300a反轉（折返）之形狀。 返回至圖11(F)〜圖11(H)繼續說明。於圖11(F)及圖11(G) 155319.doc -44· 201200876 中，第2區域（第2翹板片）ΡΤ2之質量較第1區域（第1翹板 片）PTla之質量更重（由於臂之長度較長），且第4區域（第4 翹板片PT2b)之質量較第3區域（第3翹板片PTlb)之質量更 重（由於臂之長度較長）。 又，第1區域（第1翹板片）PTla及第2區域（第2翹板片）PT2 之排列方向與第3區域（第3翹板片PTlb)及第4區域（第4翹板 片PT2b)之排列方向彼此相同。又，於承受重力之狀態 下，首先如圖11(D)、圖11(E)之例中所說明般，第1擺動體 300a與第2擺動體300b朝彼此相反方向傾斜（參照圖 11(G)) 〇 藉由第1擺動體300a、第2擺動體300b之各者形成2個可 變電容，因此設置合計4個可變電容。於圖11 (F)之狀態 下，第1擺動體300a及第2擺動體300b為水平狀態，4個可 變電容之各自之電容值為C0。 此處’作為檢測信號’輸出基於第1擺動體300a之第1翹 板片（第1區域）PTla之移位而變動之第1檢測信號、基於第 1擺動體300a之第2翹板片（第2區域）PT2a之移位而變動之 第2檢測彳§號、基於第2擺動體3〇〇b之第3翹板片（第3區 域）PTlb之移位而變動之第3檢測信號、及基於第2擺動體 300b之第4翹板片（第4區域）PT2b之移位而變動之第4檢測 信號。 於以下之說明中，將第1檢測信號及第2檢測信號表現為 差動輸出1，且將第3出信號及第4出信號表現為差動輸出 2。於圖11(F)之狀態下，差動輸出i成為（c〇、c〇)，差動 155319.doc -45- 201200876 輸出2亦成為（CO、C0)。 於存在重力加速度（1 G)之狀態下，如圖U(G)所示，第^ 擺動體300a及第2擺動體300b之各者接收轉矩而傾斜。 此處，第1擺動體300a與第2擺動體300b均向第i方向 軸方向）延伸，但第1擺動體300a之傾斜方向與第2擺動體 300b之傾斜方向為彼此相反方向，且以水平面為基準之^ 轉角之絕對值相同。例如，第1擺動體300a沿順時針方向 以水平面為基準僅傾斜+e，另一方面，第2擺動體3〇补沿 逆時針方向以水平面為基準僅傾斜_θ。 於圖11(G)之狀態下，差動輸出1成為（c〇+AC、 △c)。差動輸出2成為（(：〇·△(：、C0+AC)。AC表示由擺動體 300a、300b傾斜所產生之各電容之電容值之變化分。 於此狀態下’與圖11 (C)之情形相同，假定施加第i方向 (X軸方向）之加速度G，於其相反方向上慣性力F，發揮作 用。於此情形時，第1擺動體300a及第2擺動體3〇〇b之各者 中產生如圖11(H)所示之傾斜。即，於第！擺動體3〇〇a中， 如圖11(D)所示，產生順時針方向之表觀上之轉矩。另一 方面’第2擺動體3〇〇b中亦同樣地如圖11(e)所示，產生表 觀上之順時針方向之轉矩。然而，若以擺動體3〇〇a、3〇〇b 之各者傾斜之方向為基準考慮，則第！擺動體3〇〇a所產生 之表觀上之轉矩之方向與第2擺動體3〇〇b所產生之表觀上 之轉矩之方向為彼此相反方向（前者為第1擺動體3〇〇a之傾 斜增大之方向’後者為第2擺動體3〇〇b2傾斜減少之方 向）°第1擺動體300a所產生之表觀上之轉矩與第2擺動體 155319.doc •46· 201200876 300b所產生之表觀上之轉矩為相同之大小且方向相反。 因此’於第1擺動體300a及第2擺動體300b之各者中產生 如圖11 (H)所示之傾斜。此處，將重疊於第i檢測信號之因 由表觀上之旋轉力所致之誤差移位而產生之可變電容（電 容）之電容值之變動量設為例如「+§c」時，關於第2檢測 信號之電容值之變動量成為r_SCj ，同樣重疊於第3檢測 信號之因由表觀上之旋轉力所致之誤差移位而產生之可變 電容（電容）之電容值之變動量為「+δ(：」，關於第4檢測信 號之電容值之變動量成為「jC」。 即’於圖11(G)之狀態下，差動輸出1成為（c〇+ac+sc、 CO-AC-SC)。又’差動輸出 2 成為（c〇_ac + sc、c〇+AC-δ〇 〇 於信號處理電路中，若基於第1差動輸出1生成表示第1 檢測信號與第2檢測信號之差之第1差動信號，則第1差動 信號成為2(Δ(：+δ(：)。即，重疊於第1差動信號之因由表觀 上之旋轉力所致之誤差移位而產生之可變電容（電容）之電 容值之變動量成為「2SC(=+5C-(-5C))」。 又’若生成表示第4檢測信號與第3檢測信號之差之第2 差動信號’則第2差動信號成為2(AC-5C)。即，重疊於第2 差動信號之因由表觀上之旋轉力所致之誤差移位而產生之 可變電容（電容）之電容值之變動量成為「_25C(=_5C_ (+δ。))」。 並且’若信號處理電路將第1差動信號與第2差動信號相 加’則重疊於第1差動信號之誤差成分「+2δ(：」與重疊於 155319.doc • 47· 201200876 第2差動信號之誤差成分Γ_2δ(：」相互抵消，誤差消除。 再者，若將第1差動信號與第2差動信號相加，則存在信 號振幅不必要增大之情形。當該情形成為問題時亦可對 將第1差動信號與第2差動信號相加所得之信號之振幅適當 進行例如進行使其成為一半之信號處理（即，（第丨差動信號 1 +第2差動信號）/2)等。 即，信號處理電路生成表示第丨檢測信號與第2檢測信號 之差之第1差動信號，且生成表示第3檢測信號與第4檢測 信號之差之第2差動信號，並且基於將第丨差動信號與第2 差動信號相加所得之信號，可生成抑制基於第丨方向之加 速度之誤差之第3方向之加速度檢測信號。 如此，根據本實施形態之信號處理方法，可藉由信號處 理消除因於檢測方向以外之方向具有之檢測感度而產生之 誤差。由此，可進一步提高利用翹板構造之物理量感測器 之第3方向之加速度等之檢測精度。 圖12係表示採用圖11所示之信號處理方法之物理量感測 器之構成之一例的圖。圖12之物理量感測器包含：第1翹 板構造體ST1 ;第2翹板構造體ST2 ;及信號處理電路1〇， 其基於自第1翹板構造體ST1及第2翹板構造體ST2之各者 輸出之檢測信號，執行特定之信號處理。 信號處理電路10包含：開關電容放大器（SCA，參照圖 5)、差動放大器25a、25b、及平均計算器（或加法計算 器）27。開關電容放大器SCA及差動放大器25a、25b與圖4 所示之C/V轉換電路24相對應。又，平均計算器（或加法計 155319.doc •48· 201200876 算器）27例如包含於圖4所示之類比校正& A/D轉換電路26 中。 又，第1麵板構造體ST1包含：第1擺動體3〇〇a;第1擺動 體用之第1支持部40al及第1擺動體用之第2支持部40bl， 其係以第1支持軸Q1(第1軸）為支點可翹板擺動地雙臂支持 第1擺動體300a ;及第1可變電容部（未圖示），其包含：位 置根據第1擺動體300a之麵板擺動而變化之第1擺動體用之 第1可動電極109al、109M，及設置於與第1擺動體用之可 動電極109al、109bl對向之位置之第1擺動體用之固定電 極（未圖示）。 並且，第1擺動體300a包含：與俯視時藉由第i支持轴 所劃分之2個部分中之一者相對應之第1擺動體之第1翹板 片（第1區域）PTla、及與2個部分中之另一者相對應之第丄 擺動體300a之第2翹板片（第2區域）PT2a。 又’第2翹板構造體ST2包含：第2擺動體300b;第2擺動 體用之第1支持部40a2及第2擺動體用之第2支持部40b2， 其係以第2支持軸Q2(第2軸）為支點可翹板擺動地雙臂支持 第2擺動體300b ;及第2可變電容部（未圖示），其包含：位 置根據第2擺動體3 00b之翹板擺動而變化之第2擺動體用之 可動電極（未圖示）、及設置於與第2擺動體用之可動電極對 向之位置之第2擺動體用之固定電極（未圖示）。 第2擺動體3〇〇b包含與俯視時藉由第2支持軸Q2(第2軸） 所劃分之2個部分中之一者相對應之第3翹板片（第3區 域）PT!b、及與2個部分中之另一者相對應之第2翹板片（第 155319.doc -49- 201200876 4區域）PT2b，當將俯視時之第1擺動體300a之長度方向及 第2擺動體300b之長度方向設為第1方向（例如X軸方向）， 將俯視時之與第1方向正交之方向設為第2方向（例如Y軸方 向），將與第1方向及第2方向之各者正交之方向設為第3方 向（例如Z軸方向）時’第3方向之相同大小之加速度作用於 第1擺動體300a及第2擺動體300b之各者之狀態下的、第1 擺動體300a之傾斜方向與第2擺動體300b之傾斜方向為彼 此相反方向，又，第1擺動體300a及第2擺動體3〇〇b之各者 以水平面為基準之旋轉角之絕對值相同。 並且，就第1翹板構造體ST1而言，作為檢測信號，輸出 基於第1擺動體300a之第1翹板片ρτΐa之移位而變動之第i 檢測k號VZ1、及基於第1擺動體3〇〇a之第2趣板片PT2a之 移位而變動之第2檢測信號VZ2。又，就第2翹板構造體 ST2而言’作為檢測信號’輸出基於第2擺動體3〇〇b之第3 勉板片（第3區域）PTlb之移位而變動之第3檢測信號vZ3、 及基於第2擺動體3 00b之第4翹板片（第4區域）PT2b之移位 而變動之第4檢測信號VZ4。 信號處理電路10中所含之差動放大器25a生成表示第 測尨號VZ1與第2檢測信號VZ2之差之第！差動信號DS1。 又，差動放大器25b生成表示第4檢測信號VZ4與第3檢測 L號VZ3之差之第2差動信號DS2。將第1差動信號DS1及第 2差動信號DS2輸入至平均計算器（或加法計算器）27。平均 計算器（或加法計算器）27執行將第！差動信號DS1與第2差 動信號DS2相加之處理。例如，執行如（DS1+DS2)、或 155319.doc -50- 201200876 ((DSl+DS2)/2)之信號處理，基於作為其結果所得之信 號，生成抑制基於第1方向（X軸方向）之加速度之誤差之第 3方向（Z軸方向）之加速度等之檢測信號DS3。檢測信號 DS3可為表示如（DS1+DS2)、或（(DSl+DS2)/2)之信號處理 之結果之信號自身，亦可為進而實施類比校正處理後之信 號。 (第8實施形態） 圖13係表示物理量加速度感測器之其他例（於圖12之構 成中進而追加用以檢測第1方向（X軸方向）之加速度之構成 之例）之俯視圖。於圖13之例中，除圖12之構成以外，亦 追加有用以檢測第1方向（X轴方向）之加速度之電容型物理 量感測器370。該物理量加速度感測器370僅具有用以檢測 第1方向（X轴方向）之加速度之功能，不具有檢測因翹板擺 動而產生之第3方向（Z軸方向）之加速度之功能（其原因在 於：由於使用一對擺動體300a ' 300b便可高精度地檢測第 3方向之加速度，因此無需另外設置擺動體）。 用以檢測第1方向（X軸方向）之加速度之加速度感測器 370包含：可動砝碼部313，於第i方向上可變形之彈簧 la、lb ' lc、Id，固定電極2a、2b、2ai、几，，及可動電 極3a、3b、3a，、3b’。若可動砝碼部313沿又軸方向移位， 則可動電極3a、3b、3a.、3b.亦同樣移位，&固定電極 2a' 2b、2a’、2b’及可動電極3a、3b、3a,、扑，之各者而構 成之可變電容之電容值發生變化，與此對應電荷移動，而 生成微小之電氣信號（電流信號p因此，基於該電氣信號 155319.doc •51 · 201200876 而可檢測第1方向（x軸方向）之加速度。 圖13之物理量感測器可檢測第1方向（χ軸方向）之加速度 及第3方向（Z軸方向）之加速度，並且第3方向（z軸方向）之 加速度可藉由誤差補償處理抑制伴隨他軸感度之誤差，因 此可檢測更高精度之第3方向（Z軸方向）之加速度。 (第9實施形態） 於以上之貫施形態中，藉由將擺動體之支持部移動至與 通過擺動體之中心之線平行之位置而可使擺動體翹板擺 動’但並不限定於此’可有多種變形或應用。 圖1 5(A)〜圖15(D)係表示物理量感測器之構造之其他例 之圖。於圖15中，對與上述圖式共同之部分附加相同之參 照符號。於圖15(A)、圖1 5(B)之例中，於擺動體3〇〇之一 端設置有質量部900。圖15(A)係物理量感測器（感測器元 件構造體）之剖面圖，圖15(B)表示與圖15(八）相對應之擺動 體300於俯視時之構造。藉由設置質量部9〇〇，例如即便於 第1勉板片PT1與第2翹板片PT2於長度方向上之長度相同 之情形時，亦可使擺動體300翹板擺動。 即，於圖1 5(A)、圖15(B)之例中，支持軸q 1與通過動體 300之中心之線（中心線）KL一致。即，第1支持部4〇a及第2 支持部40b設置於通過擺動體300之中心之線（中心線）κχ 上。即便為此種構成’亦可藉由質量部900而產生轉矩， 由此可使擺動體300翹板擺動。 質量部900例如可由金屬膜或絕緣膜等膜而形成，或可 對擺動體300進行蝕刻加工使其厚膜化等而形成。對質量 155319.doc •52- 201200876 部900藉由雷射進行修整，或者藉由蝕刻等切削，或者藉 由濺鍍或蒸鍍等成膜，藉此可簡單地增減質量。由此可簡 便進行翹板擺動之微調整。 又，於圖15(C)、圖15(D)所示之例中’支持軸Q1與中心 線KL不一致。即，使第！支持部4〇a及第2支持部4〇b之各者 相對於通過擺動體300之中心之線（中心線）KL平行位移。 並且’於擺動體300之一端設置有質量部9〇〇。 例如，於藉由移動擺動體300之支持軸Q1，擺動體3〇〇之 第1翹板片PT1(第1區域）之俯視時之面積較第2翹板片（第2 區域）之俯視時之面積更狹窄之情形時，如圖l5(c)所示， 只要於第2翹板片（第2區域）PT2形成質量部900，則擺動體 300之翹板擺動變得更加顯著，可提高電容之檢測感度。 又，如圖15(D)所示，只要於第2翹板片（第1區域）PT2形 成質量部900 ’則可抑制擺動體300之翹板擺動。隨之，可 抑制對支持擺動體300之支持部（第1支持部40a、第2支持 部40b)產生過剩之扭曲。由此，可防止支持部（第1支持部 40a、第2支持部40b)破損。 除上述以外，亦可於擺動體之整面形成質量部，使質量 部之質量增減而使擺動體之第1區域與第2區域之質量平衡 發生變化，從而可實現翹板擺動。 (第10實施形態） 圖16係表示電子機器之構成之一例之圖。圖丨6之電子機 器中包含上述任意實施形態中之物理量感測器（例如電容 型物理量加速度感測器等）。電子機器例如為遊戲控制器 155319.doc •53· 201200876 或運動感測器等。 如圖16所示，電子機器包含：感測器衷置（電容型加速 度感測器等）410、圖像處理部42〇、處理部“Ο、記憶部 440、操作部45〇、及顯示部彻。再者，電子機器之構成 並不限定於圖16之構成，可為省略其構成要素之一部分 (例如操作部、顯示部等）、或者追加其他構成要素等各種 變形實施。 圖17係表不電子機器之構成之其他例之圖。圖η所示之 電子機器51〇包含：感測器單元49〇,其包含作為上述任意 實施形態中之加速度感測器之物理量感測器梢、及檢測 與加速度不同之物S量之檢測元件（此處為檢測角速度之 陀螺感測器）;及CPU 500,其對自感測器單元柳輸出 之檢測信號實施特定之信號處理。感測器單元49〇自身亦 可視為一個電子機器。 即藉由併用組裝性優異且小型且高性能之電容型物理 量加速度感測器470與檢測不同種類之物理量之其他感測 器（例如，利用物理量構造之振動型陀螺感測器）48〇 ,可實 現小型且高性能之電子機器。即，可實現包含複數個感測 器之作為電子機器之感測器單元49〇、及搭載該感測器單 元490之更上位之電子機器（例如fa機器等p 。 如此，根據本發明之至少一實施形態，例如即便於檢測 軸以外之方向上產生加速度，亦可提高檢測感度良好之物 理1感測器之檢測精度。又，例如可提高包含密封體（封 裝體）之物理量感測器之組裝性。又，可實現小型且高性 155319.doc •54· 201200876 能之電子機器。 以上’對—些實施形態進行了說明’但業者能夠容易地 理解可進4T實質上不脫離本發明之新顆事項及效果之多種 變形。因此如此之變形例係均為本發明之範圍中所包含 者。例如，於說明書或圖式中，至少一次與更廣義或同義 地不同之術語共同記載之術語可於說明書或圖式之任一處 中，替換為忒不同之術語。本發明可適用於慣性感測器。 例如’可作為電容型加速度感測器、電容型陀螺感測器而 使用。 【圖式簡單說明】 圖1(A)〜圖1(F)係表示物理量感測器之構造及動作之—例 之圖。 圖2(A)、圖2(B)係表示密封體之構造之一例之圖。 圖3(A)~圖3(D)係表示密封體之製造方法之一例之圖。 圖4(A)〜圖4(C)係表示檢測電路之構成例之圖。 圖5(A)〜圖5(C)係用以對C/V轉換電路之構成及動作進行 說明之圖。 圖6係表示可檢測2個不同方向之加速度之物理量感測器 (加速度感測器）之構成之一例的圖。 圖7(A)、圖7(B)係將圖6所示之俯視圖及長度方向（橫方 向）之剖面圖簡化表示之圖。 圖8係表示可檢測第！方向（X軸方向）、第2方向（γ軸方 向）及第3方向（Z軸方向）之各者之電容值之變化的具有3轴 感度之物理量感測器之構成例的俯視圖。 155319.doc •55- 201200876 圖9係表示可檢測2個不同方向之加速度之物理量感測器 (加速度感測器）之構成之其他例的圖。 圖10係表示使用2個圖6及圖7所示之構造之擺動體，而 可檢測3個不同方向之加速度之加速度感測器之構成的俯 視圖。 圖11(A)〜圖11(H)係說明用以進一步提高利用翹板構造 之物理量感測器之檢測精度之信號處理方法的圖。 圖12係表示採用圖11所示之信號處理方法之物理量感測 器之構成之一例的圖。 圖13係表示物理量感測器（加速度感測器）之其他例（於圖 12之構成中進而追加用以檢測第1方向（χ軸方向）之加速度 之構成之例）之俯視圖。 圖14係表示物理量感測器之構造之其他例之圖。 圖15(A)〜圖15(D)係表示物理量感測器之構造之其他例 之圖。 圖1 6係表示電子機器之構成之一例之圖。 圖1 7係表示電子機器之構成之其他例之圖。 【主要元件符號說明】 l(la〜If、ia·〜id，） 2(2a〜2d、2a'〜2d') 3a〜3d、3a，〜3d， 10 1 la〜1 Id 13 第2方向移位彈簧 固定電極部 可動電極部 信號處理電路 第1方向及第2方向移位彈簣 檢測電路 1553I9.doc • 56- 201200876 24 c/v轉換電路 25a 、 25b 差動放大器 26 類比校正& A/D轉換電路 27 平均計算器（或加法計算器） 28 ' 500 CPU 30 介面電路 40a、40a'、40al ' 40a2 第1支持部（第1杻力彈簧） 40b、40b1、40bl、40b2 第2支持部（第2扭力彈簧） 90 密封材 95 空隙 97、97' ' 99、99' 開口部 100 支持體（例如SOI基板） 102 基底（矽板等） 104、104a、104b、107、 123 ' 125 絕緣層 106 基板（例如SOI基板之活性層） 109 可動電極 109a、109al、109bl 第1可動電極 109b 第2可動電極 111 金屬層 121 矽層 191 間隔件構件 200 蓋體 208a 155319.doc -57- 第1固定電極 201200876 208b 250 300(300a、300b)、300, 310 ' 310' 311 313 350 ' 350' 370 > 470 410 420 430 440 450 460 480 490 510 900 BS1 cl c2 c3 c3' c4 第2固定電極 密封體（氣密密封體） 擺動體 框體 將石夕圖案化形成之魅板 可動砝碼部 空腔部 加速度感測器 感測器裝置 圖像處理部 處理部 記憶部 操作部 顯示部 陀螺感測器 感測器單元 電子機器 質量部（局部之石去碼） 第1基板 第1可變電容 第2可變電容 第3電容 第5電容 第4電容 155319.doc 58- 201200876 c4'
Cl C2
Ch
DT DS1 DS2 DS3 F,
Fal 、 Fbl 、 Fa2 、 Fb2
GL
GND G1 G2
ISOl 〜IS08 KL
L 卜L10、EL、IL Mel〜Me6 OPA PA1 〜PA5 PT1、PT1'、PTla PT2、PT2'、PT2a PTlb PT2b 第6電容 第1可變電容之電容值 第2可變電容之電容值 保持電容 厚度 第1差動信號 第2差動信號 檢測信號 慣性力 力成分 重力線 共用電位 擺動體之重心 加速度 絕緣區域 擺動體之中心線 配線 導體層 運算放大器 焊墊 第1翹板片（第1區域） 第2翹板片（第2區域） 第3翹板片（第3區域） 第4翹板片（第4區域） 155319.doc -59- 201200876
Q1、Q2 R1 〜R4 SL ST1 ST2 SW1-SW4 SWla、SW2a、SW3a SWlb ' SW2b ' SW3b T10、T20 VCOM VZ1、VY1 VZ2、VY2 VZ3 VZ4 支持軸（第1軸、第2軸） 電阻 使重力線僅平行位移d 1所得 之線段 第1翹板構造體 第2翹板構造體 開關 第1開關電容放大器 第2開關電容放大器 距離 共用電位 第1檢測輸出 第2檢測輸出 第3檢測信號 第4檢測信號 155319.doc -60-

Claims (1)

  1. 201200876 七、申請專利範圍： 1. 一種物理量感測器，其特徵在於包含： 基底；及 第1擺動體及第2擺動體，其係於上述基底上隔著空隙 • 而配置；且 - 上述第1擺動體係包含第丨支持部、第2支持部及第1可 動電極，藉由配置於第丨軸上之上述第丨支持部與上述第 2支持部而支持於上述基底之上方，且於俯視時藉由上 述第1轴劃分為第1區域與第2區域，於各區域形成有上 述第1可動電極； 上述第2擺動體係包含第3支持部、第4支持部及第2可 動電極，藉由配置於第2轴上之上述第3支持部與上述第 4支持部而支持於上述基底之上方，且於俯視時藉由上 述第2軸劃分為第3區域與第4區域，於各區域形成有上 述第2可動電極； 於上述基底上’與上述第1可動電極及上述第2可動電 極對向而形成有固定電極； 上述第2區域之質量較上述第1區域之質量更重，上述 第4區域之質量較上述第3區域之質量更重； 上述第1擺動體之自上述第1區域向上述第2區域之排 列方向與上述第2擺動體之自上述第3區域向上述第4區 域之排列方向彼此相反。 2·如請求項1之物理量感測器，其中於承受重力之狀態 下’上述第1擺動體與上述第2擺動體朝彼此相反方向傾 155319.doc 201200876 斜。 3. 上述第1軸與上述第2 動體或上述第2擺動體 如請求項1之物理量感測器，其中 轴之至少一者係與通過上述第1擺 之中心之線平行。 如請求们之物理量感測器，其中於上述^區域與上述 *域之至少一者或上述第3區域與上述第4區域之至 少一者中形成有質量部。 5. =請求項i之物理量感測器’其中上述^擺動體於俯視 、、為相對於與上述第！區域及上述第2區域之排列方向正 交之軸使上述第1擺動體反轉之形狀。 6. 如請求項1之物理量感測器，其中 上述基底於俯視時包含與上述第1區域對向之第5區 域、與上述第2區域對向之第6區域、與上述第3區域對 °第7區域、及與上述第4區域對向之第8區域；且 上述固S電極係形成於上述第5〜第8區域之各者内。 7. 如請求項6之物理量感測器，其中上述^可動電極係跨 及上述第1區域與上述第2區域而共用地形成。 8·如請求項6之物理量感測器，其中上述第2可動電極係跨 及上述第3區域與上述第4區域而共用地形成。 9·如請求们之物理量感測器，其中上述第i〜第4支持部係 使用扭力彈簧而形成。 1〇·如請求項1之物理量感測器，其中上述第1擺動體與上述 第2擺動體之至少一者包含開口部；且包含： 可動砝碼部，其係配置於上述開口部； 155319.doc 201200876 連結部 > 其#將卜；i '、將上迷可動砝碼部與上述第1擺動體或 上述第2擺動體連結； 第1煮狀電極部’其係自上述第1擺動體或上述第2擺 動體向上述可動砝碼部突出形成；及 第2臂狀電極部，其孫 具係自上述可動砝碼部向上述第！擺 動體或上述第2擺動體突出形成，並且與上述^臂狀電 極部對向。 11.如請求項1之物理量感測器，其包含基於檢測信號執行 信號處理之信號處理電路； 上述檢測信號包含：基於上述第1區域之上述第i可動 電極與上述固定電極之間的移位而變動之第丨檢測信 號基於上述第2區域之上述第1可動電極與上述固定電 極之間的移位而變動之第2檢測信號，基於上述第3區域 之上述第2可動電極與上述固$電極之間的移位而變動 之第3檢測信號，及基於上述第4區域之上述第2可動電 極與上述固定電極之間的移位而變動之第4檢測信號； 上述信號處理電路係 生成表不上述第1檢測信號與上述第2檢測信號之差之 第1差動信號， 生成表不上述第3檢測信號與上述第4檢測信號之差之 第2差動信號，且 基於將上述第1差動信號與上述第2差動信號相加所得 之信號而生成加速度檢測信號。 12. —種物理量感測器，其特徵在於包含： 155319.doc 201200876 基底；及 擺動體，其係於上述基底上隔著空隙而配置，·且 上述擺動體係包含第1支持部及第2支持部，藉由配置 於第1軸上之上述第1支持部與上述第2支持部而支持於 上述基底之上方，且於俯視時藉由上述第丨軸劃分為第i 區域與第2區域，於各區域形成有可動電極； 於上述基底上，與上述可動電極對向而形成有固定電 極； 於上述第1區域與上述第2區域之至少—者中形成 量部。 買 13. 14. 如請求項12之物理量感測器，其中上述第1軸係與通過 上述擺動體之中心之線平行。 -種電子機器’其特徵在於包含如請求項“戈12之物理 量感测器。 155319.doc
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