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TW201000911A - Probe card assembly - Google Patents

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TW201000911A
TW201000911A TW097122938A TW97122938A TW201000911A TW 201000911 A TW201000911 A TW 201000911A TW 097122938 A TW097122938 A TW 097122938A TW 97122938 A TW97122938 A TW 97122938A TW 201000911 A TW201000911 A TW 201000911A
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Taiwan
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TW097122938A
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TWI367329B (en
Inventor
Cheng-Chin Ni
Original Assignee
King Yuan Electronics Co Ltd
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Publication date
Application filed by King Yuan Electronics Co Ltd filed Critical King Yuan Electronics Co Ltd
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Priority to US12/199,843 priority patent/US7710134B2/en
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    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07342Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being at an angle other than perpendicular to test object, e.g. probe card
    • GPHYSICS
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Description

201000911 九、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係有_-麵針卡减’ 是有__觀鎌轉體晶圓測試 者0 【先前技術】 在半導體的晶圓製程中,為了測試晶圓上晶粒的良筹,必須使用測試機台與 探針卡(pmbecard)來執行晶圓測試,如先前技術中之美國公告專利us7〇53638、 US6515358、US6137297、US5670889、US7271603、US7304488、US6478596 等所揭露者。探針卡上具有精密的接觸機構,來接觸晶圓上每—個晶粒,導通 電路’並執行雜測試,以雜晶_電氣雛與效缺依照設計規格製造出 來近年來’同速運作的半導體裝置的開發盛行,因此測試機台與探針卡也要 能高頻率相賴,但是傳賴f式探針卡顧在高綱試時,因為各個探針彼 此相鄰極近,絲相為電磁干·生_訊問題使制試絲十分不穩定, 往往需要進行額外的重測程序,降低生產與測試效率。因此,如何改進習用的 探針卡組成的結構以解決上述問題,實為業界所需。 【發明内容】 蚀田為了解决上述先則技術不盡理想之處,本發明提供了一觀針卡組成及1所 =的探針,其_卡組成主要包含有—本體、—設置於本财央部位之探 :::個連接本體與探針座的探針,其中,探針的尖端自探針座伸出, 侧晶圓。此外’探針包含至少—電力探針、至少—接地探針 ^錢探針,其中各探針皆具有—憎部位介於本體與探針座之間。電力探 針,、具有一線芯,線芯外部包覆有絕緣塑膠。接地探針係為裸 想的接=使得導電膠延伸至探針卡組成之本 輸綱導電 不體的接地端,則可使探針卡順利的傳輸 5 201000911 南頻訊號。 因此’本發明之主要目的係提供—種探針卡組成 南頻測試的準確度。 本發明之轉目的储供-贿針輪成,縣 頻測試所產生的雜訊。 」以有效降低馬 本發明之另一目的係提供一種探針卡組 a .力探針與接地探針之間的電感。 、曰曰’ 3 ’可以有效降低電 【實施方式】 由於本發日_露-觀針輪成,用於—彳铜晶_機,其中探針卡 組成的^縣理與基本猶,已為_技術賴具有騎知識 以下文中之,不再作完整描述。同時,以下文中所對照之圖式,係^達鱼欠 本發明特徵《之結構不意,並未林需要依據實際尺寸完錄製,盍先敎明。 ^先请參考第1圖至第4圖,縣發明提出之第―較佳實 針卡組成⑽,探針卡組成咖主要包含有一本體i、一設置於本體i中央= 之探針座2以及複數個連接本體丨與探針座2的探針3,探針3包含至少」電力 探針(power Pr〇be)32、至少一接地探針33與複數個訊號探針㈣咖此抑 針3具有-中段部位M介於本體!與探針座2之間,探針3的尖端_】自探 針座2伸出,用以接觸-制晶齡圖示)以進行電性測試。電力探針^與訊 娜針34之内部具有-線芯(_)35,線芯%外部包覆有絕緣娜4 ;接地探 針33則為未包覆絕緣塑膠4的裸針。 由於探針3之間彼此相鄰極近,訊號容易互相干擾、或造成電感迴路過大。 因此,本實施例將接地探針33以及訊號探針%的中段部位m之外緣塗佈有導 電膠5,使得導電膠5延伸至本體上的接地端,此接地端進一步可連接到本體i 的PCB板中的接地層。請參考第3 ,其為訊舰針%的剖視圖,導電膠$ 塗佈在絕緣塑膠4的外部1參考第4圖,其係為接地探針Μ的剖視圖,導電 201000911 •i 膠5塗佈在裸針的線芯35上,如此,可使相關的高頻雜訊經由導電膠5導引至 接地探針33與接地端,使電感迴路變小、訊號探針34的訊號不易損耗或受干 擾’而使訊號探針34能夠較順利的傳輸高頻訊號,達成高頻測試的目的。此外, 由於咼頻雜訊是產生訊號干擾的最主要來源,所以本實施例中之訊號探針34亦 可為咼頻訊舰針(未圖示),並且料電膠5塗佈在高頻訊號探針上比塗佈在— 般訊號探針34上能獲得更佳的效果 本發明進-步提出第二較佳實施例,為-觀針卡喊丨⑻,主要包含有— 本體卜-設4縣體1巾央部蚊探触2 w及難贿接描i與探針座2 的探針3。相較於第-較佳實施例,在此實施例中為接地探針% u及電力探針 32的中段雜Μ之外緣塗佈有導電膠5,使得導電膠5延伸至本體丨的接地端, 如此,可使電力探針32與接地騎33之間的電感大幅減低,相關的高頻雜訊 I經由導電膠5導引至接地探針%與接地端,訊號探針%的訊號不易損耗或 又干擾’錢tfl雜針34關較糊的雜高頻罐,軸高綱試的目的。 其餘之特徵如前述之第―較佳實關所揭露者。 本發明進—步提出第三較佳實關,為—種探針卡組成刚,主要包含有一 —設置於本體1中央雜之探針座2以及複數個連接本體1與探針座2 相較於第—或第二較佳實施例,在此實施例中為電力探針32、接地 二本針34的中段部位Μ之外緣均塗佈有導電膠5,使得導電膠5 甲至本體1的接地端,可達更佳之效果。 利之較佳實施例,並非用赚定本發明之帽專利權 其他未胁本麟佩之相人均可_及實施,因此 專利範圍中/ 之精神下所完成的等效改賊修飾,均應包含在申請 201000911 【圖式簡單說明】 第i圖為-示意圖,係根據本創作提出之第—較佳實施例,為一種探針卡組 第2圖為-剖欄,係根據本創作提出之第—較佳實施例,為一種探針卡組 第3圖為-剖視圖,係根據本創作提出之第—較佳實施例,為一種訊號探針。 第4圖為-剖視圖,係根據本創作提出之第—較佳實施例,為一種接地探針。 【主要元件符號說明】 探針卡組成 100 本體 1 探針座 2 探針 3 尖端 31 電力探針 32 接地探針 33 訊號探針 34 線芯 35 絕緣塑膠 4 導電膠 5 中段部位 Μ

Claims (1)

  1. 201000911 ' 十、申請專利範圍: 1. -種探針卡組成,主要包含有—本體…設置於該本體中央部位之探針座、 以及複數個連接該本體與該探針座的探針,該等探針的尖端並自該探針座伸 出,用以接觸一待測晶圓,該等探針包含至少一電力探針、至少一接地探針 與複數個訊號探針’其中各探針具有一中段部位介於該本體與該探針座之 間,其特徵在於: 至少-健地探針以及至少一個訊號探針的中段部位之外緣塗佈有導電膠, 令該導電觀伸至該探針卡組成之本體祕地端,且雜地探針係為未包覆 絕緣塑膠之裸針,該訊號探針之内部具有—線芯,該線芯外部包覆有絕緣塑 膠。 2.依據申請專利範圍第i項之探針卡組成,其中财段部位之外緣塗佈有 膠的訊號探針為高頻訊號探針。 3· -讎針该成,主要包含有m置霞本财央雜之探針座、 以及複數個連接該本體與該探針座的探針,該等探針的尖端並自該探針座伸 出,用以接觸-制晶圓’該等探針包含至少—電力探針、至少—接地探針 與複數個峨騎,其巾各探針具有—巾段雜介於該本雜 間,其特徵在於: 4. 至少-個接地探針以及至少_個電力探針的中段部位之外緣塗佈有導電膠, 令鱗電觀伸至贿針切紅本_接地端,其巾 針,該電力探針之_具有-制,該線料部__娜。裸 -種探針卡减,主要包含有—榻、—設加_巾蝴 ===,鄉有―他崎卿 ;少:=也r以及接地探針以外之探針的中段部位之外緣塗佈抖^ 膠,令峨勝延伸至該探針卡之本體的接地端,其中該接地探針i裸針, 9 201000911 該接地探針以外之探針之内部具有一線芯,該線芯外部包覆有絕緣塑膠。
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