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TW201009854A - Transparent conductive film, transparent conductive laminate and touch panel, and method for fabricating transparent conductive film - Google Patents

Transparent conductive film, transparent conductive laminate and touch panel, and method for fabricating transparent conductive film Download PDF

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TW201009854A
TW201009854A TW098123494A TW98123494A TW201009854A TW 201009854 A TW201009854 A TW 201009854A TW 098123494 A TW098123494 A TW 098123494A TW 98123494 A TW98123494 A TW 98123494A TW 201009854 A TW201009854 A TW 201009854A
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TW
Taiwan
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transparent
transparent conductive
layer
dielectric layer
conductive film
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TW098123494A
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English (en)
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TWI466138B (zh
Inventor
Tomotake Nashiki
Kazuhiro Nakajima
Hideo Sugawara
Original Assignee
Nitto Denko Corp
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Publication date
Application filed by Nitto Denko Corp filed Critical Nitto Denko Corp
Publication of TW201009854A publication Critical patent/TW201009854A/zh
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Description

201009854 六、發明說明: 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於一種透明導電性膜、使用其之透明導電性 積層體及觸控式面板、與透明導電性膜之製造方法。 【先前技術】
先前’作為透明導電性構件,清楚知曉於玻璃上形成氧 化銦薄膜之所謂的導電性㈣,但導電性玻璃由於基材為 玻璃,故可撓性n性較差,從而有在用途上欠佳之情 形因此近年來,就除了可繞性、加工性以外,耐衝擊 性亦優異,輕量等優點而言,使用將以聚對苯二甲酸乙二 醋臈為代表之各種塑膠膜作為基材之透明導電性膜。
作為用以檢測輸人位置之透明導電性膜,已知具備具有 特定圖案形狀之透明導電層的透明導電性膜。然而,若將 透明導電層圖案化,則存在圖案部與非圖案部(圖案開口 =)之差異明顯化,作為顯示元件之外觀變差之虞。尤其 疋於靜電電容方式之觸控式面板中,經圖案化之透明導 電層形成於顯示器顯示部之整個面上,故於將透明導電層 圖案化之情料,亦要求外觀良好者作為顯示元件。 為了改善將透明導電層圖案化之情形時的外觀,例如於 下述專利讀1巾,提出有於透明膜基材與透明導電層之 間’設置由折射率不同之兩層所構成之底塗層(unde_t) 的透月導電性膜。X ’作為其實施例,記載有於透明膜基 材上’依序形成作為高折射率層之折射率為17之矽錫氧 化物層(厚度為1() nm以上),作為低折射率層之折射率為 141483.doc 201009854 1·43之氧化矽層(厚度為3〇 nm)、及作為透明導電層之折射 率為1.95之ITO(Indium Tin Oxide,氧化銦錫)膜(厚度為15 nm)的透明導電性膜。 [專利文獻1]曰本專利特開2008-98169號公報 【發明内容】 [發明所欲解決之問題] 然而,專利文獻1中記載之透明導電性膜存在圖案部與 圖案開口部之差異明顯化之情形,故對改善外觀而言仍不 充分。 本發明提供一種於透明導電層經圖案化之透明導電性膜 中,圖案部與圖案開口部之差異得到抑制,並且外觀良好 之透明導電性膜、使用其之透明導電性積層體及觸控式面 板、與透明導電性膜之製造方法。 [解決問題之技術手段] 為了達成上述目的,本發明之透明導電性膜之特徵在 於,其係於透明膜基材之單面或兩面上,自該透明膜基材 側開始,依序形成第1透明介電質層、第2透明介電質層及 透明導電層者,且將上述透明導電層圖案化,於將上述第 1透明介電質層之折射率設為nl、上述第2透明介電質層之 折射率設為ii2、上述透明導電層之折射率設為n3之情形 時’滿足n2<n3<nl之關係,上述第1透明介電質層之厚度 為2 nm以上且未達1〇 nm,上述第2透明介電質層之厚度為 20〜55nm,上述透明導電層之厚度為15〜3〇nme 根據本發明之透明導電性膜,使各層之折射率之關係為 141483.doc 201009854 Γ:3:η1 ’且使各層之厚度為上述範圍内,藉此可減小圖 案4與圖案開口部正下方 之㈣反射率L由此,圖案部 ::開口部之差異得到抑制’故可提供外觀良好之透明 導電性膜》 Α β 上逑透明導電性膜較好的是上述3,上述心為 上述n3紅9〜2」。其原因在於,若為上述範圍 内,則可有效地減小圖案部與圖案開口部正下方之間的反 射率差。 於本發明中’於上述透明導電層之圖案開口部之正下 方’上述第1透明介電質層之光學厚度與上述第2透明介電 質層之光學厚度之總計較好的是3G〜_⑽。其原因在 於不但可有效地減小圖案部與圖案開口部正下方之間的 反射率差’而且可使介電質層之厚度均句性與透明性並 存。再者,所謂各層之「光學厚度」,係指各層之物理厚 度(利用厚度計等測定之厚度)乘以該層之折射率所得之 值又,本發明中之折射率係對波長為589 3請之光的折 射率再者,於本發明中,物理厚度僅稱為「厚度」。 上述透明膜基材較好的是厚度為2〜2〇〇㈣。其原因在 於’不但可確保機械強度’而且容易實現膜之薄膜化。 上述第1透明介電質層較好的是包含至少含有氧化姻及 氧化錦之複合氧化物。其原因在於,可容易地實現超出透 導電層之折射率的南折射率,故可容易進行光學調整。 ;利用濺鍍法等之乾式製程製作第1透明介電質層 時右將上述複合氧化物用作原料,則附著速度變快故 141483.doc 201009854 可提高生產性。再者,於上述複合氧化物中,亦可添加例 如氧化錫或A1、Sb、Ga、Ge、Zn等其他成分作為氧化銦 及氧化鈽以外之成分。尤其是,於上述複合氧化物含有氧 化錫之情形時,可容易地實現藉由上述複合氧化物之燒結 所致之高密度化,故較好。 上述複合氧化物較好的是相對於氧化銦1〇〇重量份,而 含有氧化錫0〜20重量份、氧化鈽1〇〜6〇重量份。其原因在 於,不但可容易地實現超出透明導電層之折射率的高折射 率,而且光學厚度之調整亦變得容易。於該情形時,關於 氧化鈽之比例,若相對於氧化銦1〇〇重量份而為超出4〇重 量份且60重量份以下之範圍,則可進一步提高第i透明介 電質層之折射率,因此可更加容易地實現超出透明導電層 之折射率的高折射率。藉此,可有效地減小圖案部與圖案 開口部正下方之間的反射率差。再者,若為6〇重量份以下 之範圍,則可不降低附著速度而形成第丨透明介電質層。 上述第2透明介電質層較好的是由無機物所形成。其原 因在於,由於可防止光劣化,故可提高透明導電性膜之耐 久性。於該情形時,較好的是上述無機物為Si〇2。si〇2廉 價容易獲得,而且耐酸性較高,故於藉由酸對透明導電層 進仃蝕刻而進行圖案化之情形時,可防止第2透明介電質 層之劣化。 、上述第1透明介電質層較好的是藉由真空蒸錢、錢錢 法或離子電鍍法而形成。其原因在於,上述列舉之製法均 為容易控制厚度之製法,故可獲得均勻厚&之第工透明介 141483.doc 201009854 電質層。為了容易地將第1透明介電質層之厚度控制於2 nm以上且未達1〇 nm之範圍,較好的是於儘可能地排除成 膜環境内之雜質氣體的狀態下成膜。 上述透明導電性膜於上述第1透明介電質層、上述第2透 明介電質層及上述透明導電層形成於上述透明膜基材之單 面上之情形時,亦可進一步含有設置於上述透明膜基材之 與上述第1透明介電質層相反側之面上的透明基體。其原 因在於,可提高膜之機械強度,尤其是可防止產生捲曲 等。 又’上述透明導電性膜於上述第1透明介電質層、上述 第2透明介電質層及上述透明導電層形成於上述透明膜基 材之兩面上之情形時,亦可進一步含有設置於一方之上述 透明導電層之與上述第2透明介電質層相反侧之面上的透 明基體。於該情形時,亦可提高膜之機械強度,尤其是可 防止產生捲曲等。 本發明之透明導電性膜可較好地用於各種檢測方式(例 如靜電電容方式、電阻膜方式等)之觸控式面板,尤其好 的是應用於靜電電容方式之觸控式面板。其原因在於,靜 電電容方式之觸控式面板係將經圖案化之透明導電層形成 於顯示器顯示部之整個面上,故可更有效地發揮本發明之 功能(減小圖案部與圖案開口部正下方之間的反射率差之 功能)。 本發明之透明導電性積層體係兩片以上之透明導電性媒 經由透明黏著劑層積層而成者,且係上述透明導電性膜之 141483.doc 201009854 至少-者為上述本發明之透明導電性膜,於上述透明 性積層it之至少-面上配置有上述透明導電性膜之上述透 明導電層者。根據該構成,不但可獲得與上述本發明之透 明導電性㈣同之效果1且可抑各透料電性膜進行 X轴及Y軸之位置檢測。 本發明之觸控式面板係具備上述本發明之透明導電性膜 或上述本發明之透明導電性積層體者。根據本發明之觸控 式面板,可€得與上述本發明之冑明導電性膜或透明導; 性積層艎之效果相同的效果。 本發明之透明導電性膜之製造方法係適合用於製造上述 本發明之透明導電性膜者,且包含:於透明膜基材之單面 或兩面上,自該透明膜基材側開始,依序形成第丨透明介 電質層、第2透明介電質層及透明導電層之步驟,以及藉 由酸對上述透明導電層進行蝕刻而進行圖案化之步驟。根 據本方法,可容易地製造上述本發明之透明導電性膜。 本發明之透明導電性膜之製造方法亦可進一步包含將上 述透明導電層圖案化後’對經圖案化之上述透明導電層進 行熱處理之步驟。其原因在於,由於透明導電層之構成成 分發生結晶化,故可提高透明性及導電性。 【實施方式】 以下’ 一面參照圖式,一面對本發明之實施形態加以說 明。再者,對相同構成要素賦予相同符號,並將重複之說 明加以省略。 (第1實施形態) 141483.doc 201009854 圖1係本發明之第1實施形態之透明導電性膜的剖面圖。 如圖1所不,透明導電性膜1〇包含:透明膜基材J,依序形 成於該透明膜基材1之單面上的第丨透明介電質層2、第2透 明介電質層3及透明導電層4。又,將透明導電層4進行圖 案化,藉此形成圖案部p與圖案開口部〇。
並且,透明導電性膜10於將第丨透明介電質層2之折射率 設為nl、第2透明介電質層3之折射率設為n2、透明導電層 4之折射率設為n3之情形時,滿足n2<n3<nl之關係。又, 第1透明介電質層2之厚度為2 nm以上且未達1〇 nm(較好的 疋2〜9 nm,更好的是3〜8 nm),第2透明介電質層3之厚度 為20〜55 nm(較好的是2〇〜45 nm),透明導電層彳之厚度為 15〜30 nm(較好的是18〜28 nm)。藉此,可減小圖案部p與 圖案開口部Ο之正下方之間的反射率差。因此,圖案㈣與 圖案開口部Ο之ϋ異得到抑制,故可提供外觀良好之透明 導電性膜。又,關於透明導電性膜1〇 ,於透明導電層4之 圖案開口部Ο之正下方,第!透明介電質層2之光學厚度與 第2透明介電質層3之光學厚度之總計,較好的是3〇〜1〇〇 ⑽’更好的是33〜100⑽。其原因在於,不但可有效地減 小圖案部P與圖案開π部〇之正下方之間的反射率差,而且 可使介電質層之厚度均勻性與透明性並存。 作為透明膜基材1 ’並無特別限制,彳使用具有透明性 之各種塑膝膜。例如’作為該材料,可列舉:聚醋系樹 脂、乙酸酯系樹脂、聚醚砜系樹脂、聚碳酸酯系樹脂、聚 酿胺系樹脂、聚醯亞胺系樹脂、聚稀烴系樹脂、(甲基)丙 141483.doc 201009854 烯酸系樹脂、聚氣乙烯系樹脂、聚偏二氣乙烯系樹脂、聚 苯乙烯樹脂、聚乙烯醇系樹脂、聚芳酯系樹脂、聚苯硫醚 系樹脂等。於該等之中尤其好的是聚酯系樹脂、聚碳酸酯 系樹脂、聚烯烴系樹脂。 又’亦可使用日本專利特開2001-343529號公報 (WOO 1/37007)中記載之高分子膜。例如可例示包含如下成 分之樹脂組合物:側鏈上具有取代及/或非取代醯亞胺基 之熱塑性樹脂、侧鏈上具有取代及/或非取代苯基及腈基 之熱塑性樹脂。具體而言,亦可使用含有由異丁烯及N-甲 基馬來醯亞胺所形成之交替共聚物與丙稀腈·苯乙稀共聚 物的樹脂組合物之高分子膜。 透明膜基材1之厚度較好的是2〜200 μπι之範圍内,更好 的是2~100 μιη之範圍内。其原因在於,若為該範圍内,則 不但可確保機械強度’而且容易實現膜之薄膜化。 透明膜基材1亦可預先於表面實施濺鍍、電晕放電、火 焰、紫外線照射、電子束照射、化學合成、氧化等姓刻處 理或底塗處理’而提高設置於其上之第1透明介電質層2對 透明膜基材1之密著性。又’於設置第丨透明介電質層2之 前’亦可視需要藉由溶劑清洗或超音波清洗等進行除塵、 淨化。 第1及第2透明介電質層2、3可藉由無機物或有機物、或 者無機物與有機物之混合物而形成❶例如,作為無機物, 可列舉:NaF(1.3)、Na3AlF6 (1.35) ' LiF(136)、MgF2 (1.38)、CaF2 (1.4)、BaF2 (1.3)、Si〇2 (146)、⑽ 141483.doc -10- 201009854 (1.55)、CeF3 (1.63)、Al2〇3 (1 63)等無機物[上述各材料之 括弧内之數值為折射率]。於該等之中,較好的是使用 SK)2、MgF2、A12Q3等。又’除了上述以外亦可使用至 少含有氧化銦及氧化鈽之複合氧化物。又,作為有機物, 可列舉:丙烯酸系樹脂、胺基甲酸酯樹脂、三聚氰胺樹 脂、醇酸樹脂、錢料、聚合物、有機㈣縮合物等。 其中,第i透明介電質層2較好的是包含至少含有氧化麵
及氧化鈽之複合氧化物。其原因在於,可實現超出透明導 電層4之折射率的高折射率,故可容易地進行光學調整。 又,於藉由濺鍍法等之乾式製程製作第丨透明介電質層2 時,若將上述複合氧化物用作原料,則附著速度變大,故 可提高生產性。 於上述複合氧化物中,尤其好的是相對於氧化銦100重 量份而含有氧化錫0〜20重量份、氧化鈽1〇〜6〇重量份之複 合氧化物。其原因在於,不但可容易地實現超出透明導電 層4之折射率的高折射率,而且光學厚度之調整亦變得容 易。作為該複合氧化物之形成材料,較好的是使用各氧化 物成分之混合物的燒結體。於上述複合氧化物中,關於氧 化錫之比例,就光學特性方面而言,更好的是相對於氧化 銦100重量伤而為3〜15重量份。又,關於氧化鈽之比例, 右相對於氧化銦100重量份而為超出4〇重量份且6〇重量份 以下(尤其好的是超出40重量份且50重量份以下)之範圍, 則可進一步提高第丨透明介電質層2之折射率故可更加容 易地實現超出透明導電層4之折射率的高折射率。藉此, 141483.doc -11· 201009854 可有效地減小圖幸p & θ i 茶°卩p與圖案開口部〇之正下方之間的反射 率差進而’:$可令用以獲得所需之光學厚度之物理厚度 變薄&可今易地實現透明導電性膜10之薄膜化。 第2透月介電質層3較好的是由無機物而形成。其原因在 於,由於可防止光劣化,故可使透明導電性膜10之财久性 =。於:情形時,較好的是上述無機物為⑽廉 Ί貝谷易獲得而且耐酸性較高,故於藉由酸對透明導電層 4進行#刻而進行圖案化之情形時,可防止第2透明介電質 層3之劣化。 第1及第2透明介電質層2、3聽置於透明膜基材i與透 明導電層4之間者,係不具有作為導電層之功能者。即, 第1及第2透明介電質層2、3係以可使透明導電層4之圖案 部P、P間絕緣之方式設置為介電質層。因此,第丨及第2透 明介電質層2、3之表面電阻例如為1χ1〇6 Ω/□以上,較好 的是1x10 Ω/□以上,更好的是1χ1〇8 Ω/□以上。再者, 第1及第2透明介電質層2、3之表面電阻之上限並無特別限 定。一般而言,第1及第2透明介電質層2、3之表面電阻之 上限為測定極限之1X10" Ω/□左右,亦可為超出lxl〇u Ω/□者。 作為透明導電層4之構成材料,並無特別限定,例如可 使用選自由銦、錫、鋅、鎵、銻、鈦、矽、锆、鎮、銘、 金、銀、銅、鈀及鎢所組成群中之至少1種金屬(或半金屬) 的氧化物。於該氧化物中,亦可視需要進一步添加上述群 中所示之金屬元素或其氧化物。例如較好的是使用含有氧 141483.doc •12· 201009854 化錫之氧化銦、或含有録之氧化錫等。 第1透明”電質層2之折射率(nl)較好的是2 〇〜2 3(更好 的是2·1〜2.25)。第2透明介電質層3之折射率(n2)較好的是 5透月導電層4之折射率(n3)較好的是19〜21(更好 的疋1.95 2.05)。若各層之折射率為上述範圍内則不但 . 可確保透明性,而且可有效地減小圖案部p與圖案開口部〇 正下方之間的反射率差。 φ ·再者’就厚度之均勻性、防止產生龜裂及提高透明性之 觀點而言,第1透明介電質層2、第2透明介電質層3及透明 導電層4之厚度之總計’較好的是⑽,更好的是 又為了更有效地減小圖案部p與圖案開口部 〇正下方之間的反射率差,第i及第2透明介電質層2、3之 〇學厚度之總計與透明導電層4之光學厚度的差,較好的 疋20〜70 nm,更好的是2〇〜5() nm。 作為透明導電性之製造方法,例如可㈣包含下述 • 步驟之方法:於透明膜基 開始,依序•成第自透明膜基材1側 序开/成第1透明介電質層2、第2透明介電質層3及 • 透明導電層4之步驟;藉由酸對透明導電層4進行姓列而進 行圖案化之步驟。 电’進仃蝕刻而進 屉:為第1透明介電質層2、第2透明介電質層3及透明導電 子電之鑛形法成等方法’例如可列舉:^蒸錄法、賤鍛法、離 之方=法等’可根據材料之種類及需要之厚度而採用適當 ’於料形成方法中濺鍍法較為普遍。再者,關於 明介電質層3之形成方法,亦可採用塗佈法等。 141483.doc -13- 201009854 在上述钱刻時’藉由用以形成圖案之遮罩覆蓋透明導電 層4,藉由酸對透明導電層4進行蝕刻即可。作為上述酸, 可列舉:氯化氫、溴化氫、硫酸、硝酸、磷酸等無機酸, 乙酸等有機酸’及該等之混合物,以及其等之水溶液。 再者,將透明導電層4圖案化後,亦可視需要對經圖案 化之透明導電層4進行熱處理。其原因在於,由於透明導 電層4之構成成分發生結晶化’故可提高透明性及導電 性。此時之加熱溫度例如為1004 8(TC之範圍内,處理時 間例如為15〜180分鐘之範圍内。 關於透明導電層4之圖案之態樣,並無特別限定,根據 應用透明導電性膜1〇之用途,可形成條紋狀等各種圖案。 (第2實施形態) 繼而’對本發明之第2實施形態之透明導電性膜加以說 明°圖2係本發明之第2實施形態之透明導電性膜的剖面 圖。如圖2所示’透明導電性膜2〇包含:透明膜基材1 ;依 序形成於該透明膜基材1之圖中上方之第1透明介電質層 2a、第2透明介電質層3a及透明導電層4a ;依序形成於透 明膜基材1之圊中下方之第!透明介電質層2b、第2透明介 電質層3b及透明導電層4b。又,將透明導電層4a、4b進行 圖案化’藉此形成圖案部P與圖案開口部〇。 並且’透明導電性膜20與上述透明導電性膜1 〇同樣地, 於將第1透明介電質層2a之折射率設為nla、第2透明介電 質層3a之折射率設為n2a、透明導電層乜之折射率設為n3a 之情形時,滿足n2a<n3a<nla之關係。並且,第1透明介電 141483.doc 201009854 質層2a之厚度為2 nm以上且未達10 nm(較好的是2〜9 nm, 更好的是3〜8 nm),第2透明介電質層3a之厚度為20〜55 nm(較好的是20~45 nm),透明導電層4a之厚度為15-30 nm(較好的是1 8〜:28 nm)。進而,於將第1透明介電質層2b 之折射率設為nib、第2透明介電質層3b之折射率設為 n2b、透明導電層4b之折射率設為n3b之情形時,滿足 n2b<n3b<nlb之關係。並且,第1透明介電質層2b之厚度為 2 nm以上且未達10 nm(較好的是2〜9 nm,更好的是3〜8 镰 nm) ’第2透明介電質層3b之厚度為20〜55 nm(較好的是 20~45 nm) ’透明導電層4b之厚度為15〜30 nm(較好的是 18〜28 nm)。藉此,可獲得與上述透明導電性膜1〇相同之 效果。 作為第1透明介電質層2a、2b、第2透明介電質層3a、3b 及透明導電層4a、4b,分別可使用與上述透明導電性膜1〇 之第1透明介電質層2、第2透明介電質層3及透明導電層4 φ 相同者。又,第1透明介電質層2a與第1透明介電質層沘之 構成材料及厚度可相同亦可不同。關於第2透明介電質層 3a、3b、及透明導電層4a、4b亦相同。再者,關於透明導 電性膜2〇之製造方法,除了於上述透明導電性膜1〇之製造 方法中,在透明膜基材丨之兩面上設置各層以外,可使用 與上述相同之方法。 再者,如圖2所示,於在透明膜基材i之兩側設置透明導 電層4a、4b之情形時,各透明導電層4&、仆存在圖案開口 部〇之正下方。又,於圖2之透明導電性臈2〇中,透明導電 141483.doc 15 201009854 層4a、4b之圖案部p彼此間、圖案開口部〇彼此間均一致, 但該等亦可不一致,可根據各種態樣而於兩側適當進行圖 案化。以下所說明之圖中亦相同。 (第3實施形態) 繼而,對本發明之第3實施形態之透明導電性膜加以說 明。圖3係本發明之第3實施形態之透明導電性膜的剖面 圖。如圖3所示,透明導電性膜3〇係於上述透明導電性骐 1〇之透明膜基材1之圖中下面經由透明黏著劑層5而設置有 分隔件S而成的。 作為透明黏著劑層5之構成材料,若為具有透明性者, 則可無特別限制地使用。例如可適當選擇使用以如下聚合 物為基礎聚合物者:丙烯酸系聚合物,矽酮系聚合物聚 酯,聚胺基甲酸酯,聚醯胺,聚乙烯醚,乙酸乙烯酯/氣 乙烯共聚物,改性聚烯烴,環氧系聚合物,氟系聚合物, 天然橡膠、合成橡膠等橡膠系聚合物。尤其是,就光學透 明性優異,表現適度之潤濕性、凝聚性及接著性等黏著特 性,耐候性及耐熱性等亦優異之方面而言,較好的是使用 _ 丙烯酸系黏著劑。 透月黏著劑層5通常係由使基礎聚合物或其組合物 溶解或分散於溶劑而成之黏著劑溶液(固形物濃度為ι〇〜5〇 重量%左右)所形成。作為上述溶劑可適當選擇使用甲 笨乙酸乙S曰等有機溶劑或水等與黏著劑之種類相對應 者。 由於在透明導電性膜30上設有Α隔件S , &可剝離該分 141483.doc -16· 201009854 隔件S ’使透明黏著劑層5轉印至接著之面上。作為此種分 隔件S’較好的是使用例如於透明黏著劑層⑽積層防轉移 層及/或脫模層而成之聚酯膜等。 上述分隔件S之總厚度較好的是3〇 μηι以上更好的是 60〜100㈣之範圍内。其原因在於,於在透明黏著劑層5上 ⑤置分隔件S後’於輥狀態下進行保管之情料,抑制估 計是由進入到輥間之異物等而產生之透明黏著劑…之變 形(壓痕)。 • 作為上述防轉移層’可利用用以防止聚S旨膜中之轉移成 分,,尤其是聚酷之低分子量寡聚物成分之轉移的適當材料 而形成。作為防轉移層之形成材料,可使用無機物或有機 物、或其等之複合材料。防轉移層之厚度可於0.01〜20⑽ 之範圍内進行適當設定。作為防轉移層之形成方法,並無 特別限定,例如可使用塗佈法、喷霧法、旋塗法、線上塗 佈法等。又,亦可使用真空蒸鍍法、濺鑛法、離子電錢 鲁 法、喷霧熱分解法、化學鍍敫法、電鍍法等。 又 作為上述脫模層,可利用包含系、長鏈烧烴系、氣 系、4化鉬等之適當之剝離劑者而形成。脫模層之厚度可 自脫模效果之觀點進行適當設定。—般而言,就柔軟^ 操作陡而S ,垓厚度較好的是20 μιη以下,更好的是 〇.〇1、〜1〇 μΓΠ之範圍内,尤其好的是〇1〜5 μιη之範圍内。= 為脫模層之形成方法,並無特別限制可採用與上述防轉 移層之形成方法相同之方法。 (第4實施形態) 141483.doc 201009854 繼而’對本發明之第4實施形態之透明導電性膜加以說 明。圖4係本發明之第4實施形態之透明導電性膜的剖面 圖。如圖4所示,透明導電性膜40係於上述透明導電性膜 20之透明導電層4b之圖中下面經由透明黏著劑層5而設置 有分隔件S而成的。藉此,可獲得與上述透明導電性膜2〇 或透明導電性膜3〇相同之效果。 (第5實施形態) 繼而’對本發明之第5實施形態之透明導電性膜加以說 明。圖5係本發明之第5實施形態之透明導電性膜的剖面 圖。如圖5所示,透明導電性膜5〇係於上述透明導電性膜 10之透明膜基材1之圖中下面(即透明膜基材丨之與第1透明 介電質層2相反側之面),經由透明黏著劑層6而設置有透 明基體7而成的。透明黏著劑層6之構成材料可使用與上述 透明黏著劑層5相同者。 透明基體7之厚度較好的是10〜300 μιη,更好的是2〇〜25〇 μπι。又,於由複數個基體膜形成透明基體7之情形時各 基趙膜之厚度較好的是1〇〜2〇〇 pm,更好的是20〜150 μηι。 作為透明基體7或上述基體膜,可使用與上述透明膜基材1 相同者。 關於透明膜基材1與透明基體7之貼合,可預先於透明基 體7側設置透明黏著劑層6,並於其上貼合透明膜基材i, 反之,亦可預先於透明膜基材1側設置透明黏著劑層6,並 於其上貼合透明基體7。在後者之方法中,由於相對於輥 狀透明膜基材1而可連續形成透明黏著劑層6,故於生產性 141483.doc -18- 201009854 方面更加有利。又,藉由透明黏著劑層(未圖示)將複數個 基體膜依序貼合於透明膜基材丨上’亦可形成透明基體7。 再者,基體膜之積層所用之透明黏著劑層,可使用與上述 透明黏著劑層5相同者。 透明黏著劑層6例如具有以下功能:於透明基體7之接著 後’藉由其緩衝效果而提高設置於透明膜基材1之一面之 透明導電層4之耐磨性或作為觸控式面板用之打點特性(所 "月手寫筆輸入耐久性或面壓财久性)。就更有效地發揮該 功能之觀點而言,較好的是將透明黏著劑層6之彈性係數 設定於1〜100 N/cm2之範圍,厚度設定於i Am以上(更好 的疋5 1〇〇 pm)之範圍。若為該範圍内則可充分發揮上 述效果,透明基體7與透明膜基材1之密著力亦變得充分。 再者,應用於本發明之透明導電性膜之透明黏著劑層的彈 性係數之較佳範圍、及其厚度之較佳範圍於其他實施形態 中亦相同》 經由此種透明黏著劑層6而貼合之透明基體7不但可對透 明膜基材1賦予良好之機械強度,提高手寫筆輸入耐久性 或面壓耐久性,而且有助於防止產生捲曲等。再者本實 施形態中雖表示了透明基體7經由透明黏著劑層6而貼合於 透明膜基材1之例,但例如亦可藉由將透明液狀樹脂塗佈 於透明膜基材1上’將其乾燥而形成透明基體7。 又,亦可視需要於透明基體7之外表面(與透明黏著劑層 6相反側之面)設置以保護外表面為目的之硬塗層(未圖 示)。作為該硬塗層,例如較好的是使用由三聚氰胺系樹 141483.doc •19· 201009854 月曰、胺基曱酸酯系樹脂、醇酸系樹脂、丙烯酸系樹脂、矽 酮系樹脂等硬化型樹脂所形成之硬化覆膜。作為上述硬塗 層之厚度,就硬度之觀點、及防止產生龜裂或捲曲之觀點 而言’較好的是0.1〜30 μιη。 (第6實施形態) 繼而#本發明之第6實施形態之透明導電性膜加以說 明。圖6係本發明之第6實施形態之透明導電性膜的剖面 圊。如圖6所示,透明導電性膜6〇係於上述透明導電性膜 20之透明導電層4b之圖中下面(即透明導電層仆之與第2透 明介電質層3b相反側之面),經由透明黏著劑層6而設置透 明基體7而成的。藉此,可獲得與上述透明導電性膜“或 透明導電性膜50相同之效果。 以上,對作為本發明之一例的透明導電性膜加以說明, 但本發明並不限定於上述實施形態。例如可將第2透明介 電質層可進行圖案化。又,亦可於本發明之透明導電性膜 上設置以提高視認性為目的之防眩處理層或抗反射層。尤 其是,用於電阻膜方式之觸控式面板之情形時,可與上述 硬塗層同樣地於透明基體之外表面(與透明黏著劑層相反 側之面)設置防眩處理層或抗反射層。又,亦可於硬塗層 上設置防眩處理層或抗反射層。另一方面,用於靜電電容 方式之觸控式面板之情形時’亦有將防眩處理層或抗反射 層設置於透明導電層上之情形。 作為上述防眩處理層之構成材料,並無特別限定,例如 可使用電離輻射硬化型樹脂、熱固型樹脂 '熱塑性樹脂 141483.doc •20· 201009854 等。防眩處理層之厚度較好的是O.UOpm。 作為上述抗反射層’可使用氧化鈦、氧化锆氧化石夕、 氣化鎂等。為了更大地表現抗反射功能,較好的是使用氧 化鈦層與氧化矽層之積層體。上述積層體較好的是於透明 ' 基體或硬塗層上形成折射率較高之氧化鈦層(折射率:約 • 2.35),並於該氧化鈦層上形成折射率較低之氧化矽層(折 射率:約1_46)而成之兩層積層體。更好的是,進而於該兩 ♦ 層積層體上依序形成氧化鈦層及氧化矽層而成之四層積層 體。藉由設置此種兩層積層體或四層積層體之抗反射層, 可均勻地減小可見光之波長區域(38〇〜78〇 nm)之反射。 (第7實施形態) 繼而,對本發明之第7實施形態之透明導電性積層體加 以說明。圖7係本發明之第7實施形態之透明導電性積層體 的刮面圖。如圖7所示,透明導電性積層體7〇具有兩片上 述透明導電性膜1〇,該等兩片透明導電性膜1〇經由透明黏 • t劑層8而積層。具體而言’ 一方之透明導電性膜ι〇之透 明膜基材!與另一方之透明導電性膜1〇之透明導電層4藉由 透明黏著劑層8而貼合,藉此積層兩片透明導電性㈣。 透明黏著劑層8之構成材料’可使用與上述透明黏著劑層$ 相同者。由於透明導電性積層體7〇具備兩片透明導電性膜 1〇,故可利用各透明導電性膜1〇進行χ轴及γ轴之 測。 (第8實施形態) 繼而,對本發明之第8實施形態之透明導電性積層體加 141483.doc 201009854 以說明。圖8係本發明之第8實施形態之透明導電性積層體 的剖面圖。如圖8所示,透明導電性積層體8〇係兩片透明 導電性膜10之透明膜基材丨彼此藉由透明黏著劑層8而貼合 而成的。除此以外,與上述透明導電性積層體7〇相同。 (第9實施形態) 繼而,對本發明之第9實施形態之透明導電性積層體加 以說明。圖9係本發明之第9實施形態之透明導電性積層體 的剖面圖。如圖9所示,透明導電性積層體9〇具有透明導 電性膜10a及透明導電性膜2〇,該等兩片透明導電性膜 l〇a、20經由透明黏著劑層8而積層。具體而言,透明導電 性膜20之透明導電層仆與透明導電性膜1〇a之透明導電層4 經由透明黏著劑層8而貼合,藉此積層兩片透明導電性膜 1 〇a、20。作為透明導電性膜丨〇a,可使用上述透明導電性 膜1〇中未將透明導電層4進行圖案化者。藉此,透明導電 性膜10a之透明導電層4發揮出作為屏蔽層之功能,故可減 少因由顯示器產生之電磁波等所引起之雜訊。因此,根據 透明導電性積層體90 ’可提高位置檢測之精度。 (第10實施形態) 繼而,對本發明之第1〇實施形態之透明導電性積層體加 以說明。圖10係本發明之第10實施形態之透明導電性積層 體的剖面圖。如圖10所示’透明導電性積層體1〇〇係透明 導電性膜20之透明導電層4b與透明導電性膜10a之透明膜 基材1經由透明黏著劑層8貼合而成的。除此以外,與上述 透明導電性積層體90相同。 141483.doc -22- 201009854 以上’對作為本發明之一例的透明導電性積層體加以說 明’但本發明之透明導電性積層體並不限定於上述實施形 態。例如可積層三片以上之透明導電性膜,亦可積層兩片 以上之如透明導電性膜2〇般於兩面設有透明導電層者。 (第11實施形態) 繼而’對本發明之第11實施形態之觸控式面板加以說 明。圖11係本發明之第U實施形態之靜電電容方式之觸控 式面板的概略剖面圖◊如圖11所示,觸控式面板2〇〇包 含:上述透明導電性膜1 〇、以一定間距設置於該透明導電 性膜10之透明導電層4之周緣部的電極端子210、及設置於 透明導電層4之上方且電極端子2 10之内側的透明保護層 220。作為透明保護層22〇,可使用與上述透明膜基材1相 同之材料。 又’於觸控式面板200中,經由電極端子210而連接透明 導電層4與未圖示之外部觸控位置檢測電路。藉此,若用 手指觸碰(touch)透明導電層4上之透明保護層220之任意點 (座標)’則透明導電層4於被觸碰點經由人體之靜電電容而 接地’並且各電極端子210與接地線之間的電阻值發生變 化。該變化藉由上述觸控位置檢測電路而被檢測,藉此輸 入未圖示之顯示器畫面上之座標。 以上’對作為本發明之一例的觸控式面板加以說明,但 本發明之觸控式面板只要使用上述本發明之透明導電性膜 或透明導電性積層體,則並不限定於上述實施形態。例如 亦可為電阻膜方式等之檢測方式的觸控式面板。 I41483.doc -23· 201009854 [實施例] 以下,對本發明之實施例以及比較例一併加以說明。再 者本發明並非為限定於下述實施例而解釋者。 (各層之折射率) 各層之折射率係使用Atag0公司製造之阿貝折射計對 各測定面入射測定光,藉由示於該折射計之規定的測定方 法而進行測定。 (各層之厚度) 透明膜基材之厚度係利用Mitutoyo製造之微測式厚度計 而進行測定。其他層之厚度係藉由日立製作所製造之穿透 式電子顯微鏡H-7650進行剖面觀察而測定。 (實施例1) (第1透明介電質層(第1層)之形成) 於氬氣95%與氧氣5%之混合氣體環境下,於由厚度為 125 μιη之聚對苯二甲酸乙二酯膜(以下稱為ΡΕτ膜)所形成 之透明膜基材(折射率nf= 1.66)之一面上,藉由下述條件之 反應濺鍍法,由氧化銦1〇〇重量份、氧化錫3重量份及氧化 鈽44重量份之混合物之燒結體,形成相對於氧化銦丨00重 量份而含有氧化錫3重量份及氧化铈44重量份之複合氧化 物(折射率nl=2.20)之第1透明介電質層(厚度:6 nm)。再 者,於成膜環境内導入上述混合氣體之前,使成膜環境成 為極限真空5·0χ10·4 Pa以下之狀態而除去雜質氣體。 <濺鍍條件> 目標尺寸:200 mmx500 mm 141483.doc -24- 201009854
功率:3.0 kW
電壓值:450 V 放電時間:1分鐘 真空度:0.5 Pa (第2透明介電質層(第2層)之形成) 繼而,於ΙχΙΟ·2〜3xl0·2 pa之真空度下,藉由電子束加熱 法於第1透明介電質層上真空蒸鍍Si〇2(折射率η2=ι.46), 從而形成厚度為35 nm之第2透明介電質層。 — (透明導電層(第3層)之形成) 繼而’於氬氣98%與氧氣2%之混合氣體(〇·4 Pa)之環境 下’使用氧化銦97重量%、氧化錫3重量%之燒結體材料, 藉由反應性濺鍍法而於第2透明介電質層上形成作為透明 導電層的厚度為22 nm之ITO膜(折射率n3=2.00)。 (ITO膜藉由蝕刻之圖案化) 於上述ITO膜上形成圖案化成條紋狀之光阻膜後,將其 φ 於25°C、5重量%之鹽酸(氣化氫水溶液)中浸潰1分鐘,進 行ITO膜之蝕刻。所得之ITO膜之圖案寬度為5 mm,圖案 間距為1 mm。 (透明導電層之加熱處理) 於上述ITO膜之圖案化後,以140°C(90分鐘)之條件對該 ITO膜進行加熱處理,使ITO膜之構成成分結晶化,而獲得 透明導電性膜。 (實施例2〜5) 於實施例1中,將第1層(第1透明介電質層)、及第2層(第 141483.doc •25· 201009854 2透明介電質層)之厚度調整為表丨所示之數值,除此以 外,進行與實施例1相同之操作,而獲得將IT〇膜圖案化之 透明導電性膜。 (實施例6) 於實施例1中,形成相對於氧化銦100重量份而含有氧化 錫3重量份及氧化鈽4〇重量份之複合氧化物(折射率 nl=2.10)之第1透明介電質層,除此以外,進行與實施例1 相同之操作,而獲得將ΙΤ0膜圖案化之透明導電性膜。 (實施例7) 於實施例1中,形成相對於氧化銦1〇〇重量份而含有氧化 錫3重量份及氧化鈽5〇重量份之複合氧化物(折射率 nl=2.25)之第1透明介電質層,除此以外,進行與實施例i 相同之操作,而獲得將ITO膜圖案化之透明導電性膜。 (比較例1) 利用以下所示之方法形成第1層(第1透明介電質層),將 第2層(第2透明介電質層)之厚度調整為表丨所示之數值,除 此以外,進行與實施例J相同之操作,而獲得將〗丁〇膜圖案 化之透明導電性膜。 (比較例1之第1透明介電質層之形成) 於厚度為125 μιη之PET膜之一面上塗佈三聚氰胺樹脂: 醇酸樹脂*有機石夕烧縮合物(重量比為2:2:1)之熱固型樹脂 (折射率ηΐ = 1·54) ’使其硬化,而形成厚度為15〇 nm之第1 透明介電質層。 (比較例2) 141483.doc •26· 201009854 設置厚度為30 nm之ITO膜作為第1層來替代第!透明介電 質層’將第2層(第2透明介電質層)之厚度調整為表1所示之 數值,除此以外,進行與實施例1相同之操作,而獲得將 ΙΤΟ膜圖案化之透明導電性膜。 (比較例3) 將第2層(第2透明介電質層)之厚度調整為表1所示之數 值,除此以外,進行與實施例1相同之操作,而獲得將ΙΤ〇 膜圖案化之透明導電性膜。 (比較例4) 將第1層(第1透明介電質層)之厚度調整為表丨所示之數 值,除此以外’進行與實施例1相同之操作,而獲得將ΙΤ〇 膜圖案化之透明導電性膜。 (比較例5) 利用以下所示之方法形成第1層(第1透明介電質層),除 此以外,進行與實施例1相同之操作’而獲得ΗΙΤ〇膜圖案 化之透明導電性膜。 (比較例5之第1透明介電質層之形成) 製備於由三聚氰胺樹脂、醇酸樹脂及有機矽烷縮合物所 形成之熱固型樹脂(以重量比計,三聚氰胺樹脂:醇酸樹 脂:有機矽烷縮合物=2:2:1)中混合Ti〇2 (折射率=2.35)之 微粒子而成的樹脂組合物。此時’調整Ti〇2微粒子之混合 量以使上述樹脂組合物之折射率成為〗.7〇。並且,於厚度 為125 μιη之PET膜之一面上塗佈上述樹脂組合物,使其硬 化’從而形成厚度為5 nm之第1透明介電質層(折射率 141483.doc •27- 201009854 nl=1.70)。 (比較例6) 將第1層(第!透明介電質層)之厚度調整為表】所干之數 二:此以外,進行與比較例5相同之操作,而獲得將ιτ〇 膜圖案化之透明導電性膜。 品)進行下述 對上述實施例及比較例之透明導電性臈(樣 評價。將結果示於表1。 (反射率差)
使用日立製作所製造之分光光度計聞〇〇之積分球測定 模式,將人射角設為1()度而敎反射光譜,算出波長為 450〜650 nm之區域的圖案部與圖案開口部正下方之平均反 射率。並且,由該等平均反射率之值算出圖案部與圖案開 口部正下方之間的反射率差。再者,至於上述測定,係於 透明導電性膜(樣品)之背面側(pET媒側)使用黑色噴霧形成 遮光層於幾乎無來自樣品之背面之反射或來自背面側之 光之入射的狀態下進行測定。
(透射率) 使用島津製作所製造之分光分析裝置UV-240,測定波長 550 nm之可見光之透射率。 (外觀評價) 於黑色板上’以透明導電層側朝上之方式放置樣品將 目視難以判別圖案部與圖案開口部之情形評價為〇,將可 判別圖案部與圖案開σ部之情形評價為X。 141483.doc •28- 201009854
外觀 評價 〇 〇 〇 〇 〇 〇 〇 X X X X X X 90.0 〇 § Ο 窆 90.0 〇 〇 § 〇 〇\ 00 〇 § 90.0 90.0 〇 § σ; 00 反射率差 % 〇 〇 v〇 Ο 00 ο Ο v〇 〇 〇 CN 〇 〇〇 in <N ο r-^ ^ V e ϊ^< i 械¥ ΓΛ S vd v〇 00 ι> 〇\ σ; 卜 ν〇 279.2 147.6 100.8 vo σ; VO vo 各層之厚度(括弧内為光學厚度)nm 第3層 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 22(44) 第2層 35(51.1) 35(51.1) 40(58.4) 30(43.8) 35(51.1) 35(51.1) 35(51.1) 33(48,2) 60(87.6) 60(87.6) 35(51.1) 35(51.1) 35(51.1) 第1層 6(13.2) 7(15.4) 7(15.4) 9.5(20.9) 4(8.8) 6(12.6) 6(13.5) 150(231) 30(60) 6(13.2) 12(26.4) 5(8.5) 15(25.5) 層構成 第3層 g g g § B g g g g O H 第2層 Si02 ¢2 Si02 Si02 S5 (Λ Si02 Si02 Si〇2 第1層 (括弧内為重量比) 氧化銦/氧化錫/氧化鈽 (100/3/44) 氧化銦/氧化錫/氧化鈽 (100/3/44) 氧化銦/氧化錫/氧化鈽 (100/3/44) 氧化銦/氧化錫/氧化鈽 (100/3/44) 氧化銦/氧化錫/氧化鈽 (100/3/44) 氧化銦/氧化錫/氧化鈽 (100/3/40) 氧化銦/氧化錫/氧化鈽 (100/3/50) 熱固型樹脂 Ο Η 氧化銦/氧化錫/氧化鈽 (100/3/44) 氧化銦/氧化錫/氧化鈽 (100/3/44) 熱固型樹脂+Ti〇2微粒子 熱固型樹脂+Ti〇2微粒子 實施例1 實施例2 實施例3 實施例4 實施例5 實施例6 實施例7 比較例1 |比較例2 比較例3 比較例4 比較例5 比較例6 141483.doc ·29· 201009854 由表1可碟認,本發明之透明導電性膜即便將透明導電 層進行圖案化,其外觀亦良好。 【圖式簡單說明】 圖1係本發明之第1實施形態之透明導電性膜的剖面圖; 圖2係本發明之第2實施形態之透明導電性膜的剖面圖; 圖3係本發明之第3實施形態之透明導電性膜的剖面圖; 圖4係本發明之第4實施形態之透明導電性膜的剖面圖; 圖5係本發明之第5實施形態之透明導電性膜的剖面圖; 圖6係本發明之第6實施形態之透明導電性膜的剖面圖; 圖7係本發明之第7實施形態之透明導電性積層體的剖面 圖; 圖8係本發明之第8實施形態之透明導電性積層體的剖面 SI · 圃, 圖9係本發明之第9實施形態之透明導電性積層體的剖面 圖; 圖10係本發明之第10實施形態之透明導電性積層體的剖 面圖;及 圖11係本發明之第11實施形態之靜電電容方式之觸控式 面板的概略剖面圖。 【主要元件符號說明】 透明膜基材 第1透明介電質層 第2透明介電質層 透明導電層 1 2, 2a, 2b 3, 3a, 3b 4, 4a, 4b 141483.doc -30- 201009854 5, 6, 8 7 10, 10a, 20, 30, 40, 70, 80, 90, 100 200 210 220 Ο • p s 透明黏著劑層 透明基體 50, 60 透明導電性膜 透明導電性積層體 觸控式面板 電極端子 透明保護層 圖案開口部 圖案部 分隔件 141483.doc -31 ·

Claims (1)

  1. 201009854 七、申請專利範圍: 1. 一種透明導電性膜’其係於透明膜基材之單面或兩面, 自該透明膜基材侧開始,依序形成第1透明介電質層、 第2透明介電質層及透明導電層者,且 將上述透明導電層進行圖案化, 於將上述第1透明介電質層之折射率設為nl、上述第2 透明介電質層之折射率設為n2、上述透明導電層之折射 率e又為n3之情形時’滿sn2<n3<ni之關係, • 上述第1透明介電質層之厚度為2 nm以上且未達10 nm » 上述第2透明介電質層之厚度為2〇〜5511111, 上述透明導電層之厚度為15〜3〇 nm。 2·如請求们之透明導電性膜,纟中上述ni^〇〜2 上述n2為1.4〜1.5, 上述n3為1.9〜2.1。 3·如請求⑴之透明》電性膜,其中於上述透明導電層之 圖案開口。p之正下方,上述第旧明介電質層之光學厚 度與上述第2透明介電質屉夕f藤 电負增之光學厚度之總合為30〜1〇〇 nm ° 4·如請求項1之透明導雷柯 社丄, 等罨性膜,其中上述透明膜基材之厚 度為2〜200 μιη。 5· ^請求項1之透明導電性膜’其中上述第!透明介電質層 匕含至少含有氧化銦及氧化鈽之複合氧化物。 6·如請求項5之透明導電性 %性膜,其中上述複合氧化物進一 141483.doc 201009854 步含有氧化錫。 7.如請求項5之透明導電性膜,其中於上述複合氧化物 中’相對於氧化銦100重量份,係含有氧化錫〇〜2〇重量 份、氧化鈽1〇〜60重量份。 8·如請求項7之透明導電性膜,其中於上述複合氧化物 中,相對於氧化銦1 〇〇重量份,氧化鈽之含有比例係於 超過40重量份且6〇重量份以下之範圍。 9. 如請求項丨之透明導電性膜,其中上述第2透明介電質層 係由無機物所形成。 10. 如明求項9之透明導電性膜,其中上述無機物為si〇2。 11. 如凊求項1之透明導電性膜,其中上述第1透明介電質層 糸藉由真二蒸鍵法、漱鑛法或離子電鍍法所形成。 12_如請求項1之透明導電性膜,其中上述第1透明介電質 層上述第2透明介電質層及上述透明導電層係形成於 上述透明膜基材之單面上,且 進一步含有設置於上述透明膜基材之與上述第丨透明 介電質層為相反側之面的透明基體。 13.如凊求項丨之透明導電性膜,其中上述第1透明介電質 層、上述第2透明介電質層及上述透明導電層係形成於 上述透明膜基材之兩面上,且 進一步含有言史置於一上述透明導電層之與上述第2透 明介電質層為相反側之面的透明基體。 14·如請求们之透明導電性膜,其係用於觸控式面板者。 15·如明求項14之透明導電性膜,纟中上述觸控式面板係靜 141483.doc 201009854 電電容方式之觸控式面板。 16·種透明導電性積層體,其係兩片以上之透明導電性膜 經由透明黏著劑層積層而成者,且 上述透明導電性膜之至少一者係如請求項丨至丨5中任 一項之透明導電性膜, 於上述透明導電性積層體之至少一面配置有上述透明 導電性膜之上述透明導電層。 17. —種觸控式面板,其具備如請求項丨至15中任一項之透 明導電性膜。 18. —種觸控式面板,其具備如請求項16之透明導電性積層 體。 19· 一種透明導電性膜之製造方法,其係製造如請求項1至 15中任一項之透明導電性膜之方法,且包含下述步驟: 於透明膜基材之單面或兩面,自該透明膜基材側開 始,依序形成第1透明介電質層、第2透明介電質層及透 明導電層;以及 藉由酸蝕刻上述透明導電層而行圖案化。 20.如請求項19之透明導電性膜之製造方法,其中進一步包 含下述步驟:將上述透明導電層圖案化後,熱處理經圖 案化之上述透明導電層。 141483.doc
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