TW200819712A - Critical flow based mass flow verifier - Google Patents

Description

200819712 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本案係2005年3月25曰申請的美國專利申請序號第 11/090,120(以下簡稱為「120 f請案」），代理人標籤號 5 MKS_155號’案$「外部體積不敏感流量檢驗」之部分接續 案。該申請案之内容在此整個併入作為參考。 【先前技術】 例如質流控制器(MFC)與質流比例控制器(FRC)的高精密 度流體輸送系統，在半導體晶圓製造等應用情形中是很重要 1〇 的。在許多情形中，必須要檢驗這些流體輸送系統的精確度。 上升率(ROR)流置檢驗器可用來檢驗諸如Mfc或frc的 測量系統之精確性。典型的R0R流量檢驗器可以包括一容 室二一壓力轉換器、一溫度感測器，及兩個隔離閥(一個位於 上游而另一個位於下游）。這些閥在閒置期間可以關閉，而且， 15 當開始運轉時則可以打開，以允許流體從例如MFC或FRC等 的待測试裝置流經此流量檢驗器。一旦流體的流量已經穩定之 後，則可以關閉下游閥，因此，壓力在容室内會上升，而且可 以測量出此壓力上升以及氣體溫度的上升。這些測量結果可被 用來計算流量，藉此檢驗DUT的性能。 2〇 R〇R檢驗器的容室中之上升壓力，可能對於檢驗過程來 說是一個主要的干擾。雖然DUT可以調整其閥體位置，以補 償下游壓力(容室壓力)干擾，以維持目標流設定點，可能會產 生流量波動，而損壞流量檢驗過程。質流檢驗系統與方法必須 要能夠避免對DUT產生干擾。 、 mks96387.doc 6 200819712 、DUT與R〇R流量檢驗器之間的連接流動路徑體積被稱之 為外部體積。為了藉由R0R流量檢驗器計算出流量，所以，

必須要決定出外部體積。然而，假如有許多DUT連接到ROR 檢驗器，而使得對於每個DUT來說導致不同的外部體積，則 5 用於決定外部體積的設定校準過程相當耗時。而且，當外部體 積增加時’ R〇R所產生的流量檢驗之正確性會減少。這一點 =因為沿著流動路徑的壓力下降(亦即，藉由壓力變換器所測 i之ROR容室内的壓力變化)係不同於沿著流動路徑的壓力變 化OIL動路控越長’則流量檢驗的正確性越低。為了解決外部 1〇 體積對⑽11檢驗器所產生的問題，所以，需要質流檢驗系統 與方法。 【發明内容】 揭示一種用於檢驗流體輸送裝置的測量之R〇R檢驗器。此 流1檢驗器包括··一容室，其係建構為容納來自該裝置的流體 15 流動；一溫度感測器，其係建構為測量氣體溫度，以及一壓力 感測器，其係建構為測量容室内的流體壓力。流量檢驗器包括 一臨界流喷嘴，係沿著從該測試中的裝置(DUT)到該容室的流 體之流動路徑而位於該容室的入口。臨界流喷嘴係被構成用以 在臨界流時間週期七f期間將通過喷嘴的流體流量以及喷嘴的 20 上游壓力(DUT的下游壓力)維持成大致固定，而且，大致上不 會受到容室内的壓力變化之影響。 一種用以減少在檢驗過程期間RQR檢驗器對DUT的干擾 之方法，包括在流體輸送裝置與質流量檢驗器之間設置一臨界 流喷嘴，以便維持住橫跨喷嘴的流體流動，致使，通過喷嘴的 7 mks96387.doc 200819712 流量不會受到容室内的壓力變化之影響，只要喷嘴的下游壓力 與喷嘴的上游壓力之比例小於臨界流參數α pc即可。 一種用於解決外部體積問題的ROR流量檢驗方法，包括 在ROR檢驗器的容室入口處放置一臨界流喷嘴，致使，流量 檢驗過程不受外部體積的影響，且關於外部體積的資訊是與 ROR檢驗器的流量檢驗計算無關。 【實施方式】 圖1是依據本發明實施例的基於臨界流之質流檢驗器 (MFV)l〇〇的方塊圖。在所示的實施例中，MFV1〇〇是一種上 升率(ROR)形式的MFV，其中，流入一封閉容室内的流體壓力 之上升速率’經測量後被用來檢驗進入容室内的流量。 MFV100是一個基於臨界流的MFY，其包括一個可以為臨界 流喷嘴140的流量限制器丨4〇。雖然在以下所述的實施例中臨 界流喷嘴140被描述為一會聚形喷嘴，但是本案的其他實施例 也可以使用其他種類的臨界流喷嘴，例如會聚_收斂形臨界流 喷嘴’而且，可以使用任何種類的臨界流限制部，例如臨界流 孔洞。 如以下所述，臨界流喷嘴140將通過喷嘴140的流量維持 成固定，致使，藉由MFV100的質流測試大致上不會受到容 室内的上升壓力所影響。因此，臨界流喷嘴140可大幅減少對 測試中裝置(DUT)的下游壓力干擾，致使，在流檢驗過程期 間’ DUT具有最小的流量波動。臨界流噴嘴14〇亦使得 MFV100所執行的流量檢驗大致上不會受到臨界流喷嘴14〇與 DUT之間的任何外部體積之影響。 8 mks96387.doc 200819712 MFV100包括一封閉體積或容室130，其結構可用以容納 來自DUT110的流體流動。DUT110典型地為一質流控制器 (MFC)或質流比例控制器(FRC)，係用以傳送流體的流量。下 游出口閥150打開與關閉來自容室130内的流動流體，上游入 5 口閥12〇開啟與關閉從DUT110進入容室130内的流體之流 動。MFV100另外包括一個用以測量容室13〇内的流體壓力之 壓力感測裔170，以及一個用於測量13〇内的流體溫度之溫度 感測為180。典型地，其質流量率受到檢驗的流體是氣體，然 而，也可以藉由MFV100而檢驗其他種類流體的流量。 1〇 R0RMFV的基本原理是在容室130上方的質量平衡。使 用質量平衡方程式，且運用理想氣體定律到容室内的氣體，則 可以藉由_MFV的容室狀氣體壓力魏體溫度，根據以 下的方程式，可以獲得入口氣體流量。 15

Pstp dt\T) ⑴ 八中kQ疋轉換常數，SCCM(每分鐘的標準立方公分)為 6xlj單位’且SLM(每分鐘的標準公升)為6χ1〇4單位；p邱為標 準壓力(latm)，Tstp是標準溫度(273 15K)，其中，p是容^ ^ 20 壓力，V。是容室體積，且T是氣體溫度。 一 、MFV1(X)包括一個控制器、160，用以接收壓力感測器17〇 與溫度感測器180的輪出信號，且控制上游_ 12〇與下游閱 150的操作。在下游閥關閉之後，控制器測量容室内 體壓力之上升率，而且，使用壓力對時間與溫度所測量到的上 mks96387.d〇c 9 200819712 升率’以便根據方程式⑴而計算出流體從DUT到容室内的流 量，藉此，檢驗DUT的測量。 典型的質流檢驗過程敘述如下： 1·打開上游閥120與下游閥150 ; 5 2·對DUT提供一流量設定點； 3·等待直到容室壓力處於穩定狀態； 4·開始摘容室氣體壓力與容室氣體溫度，以用於流體計算； 5·關閉下游閥150，致使容室壓力會上升； 6·等待一段用於流體檢驗的時間； 10 7·打開下游閥150 ; 8·停止記錄容室氣體壓力與容室氣體溫度； 9·根據方程式(1)而計算並記錄此檢驗過的流量。 5品界流喷嘴140係用以將流體的流動維持成一個臨界流或扼 I5，。當氣體通過-限制部時，其密度減少而速度增加。質通量(每 單位面積的質流)處於最大值的區域為—臨界區域。在此區域中， 速度為音速，，進—步減少下游壓力將不會增加質流，如此 被稱之為臨界流或扼流。 為了能夠滿足臨界流條件，臨界塵力比~被定義成喷嘴的最 20大可允許下游壓力Pd贿對喷嘴的上游麼力Pu之間的比例： Γί 一 Pd.max 下、 (2) 10 mks96387.doc 200819712 臨界流條件要求： ⑶ t^apcr 5其中，pd是噴嘴的下游壓力，臨界壓力比例ape是流體限制器(亦 即，臨界流喷嘴140)的特性。臨界壓力比例僅與臨界流喷嘴與固 有的氣體特性有關。對於不具有擴散器與厚正方形邊緣孔洞的 ASME長半徑喷嘴來說，臨界壓力比例apc可以根據穩定等熵 (isentropic)流的假設而推衍成： 10 (2 ^ apc{V^J (4) 其中’ T是氣體比熱的比例，係被定義成： 其中，Cp是在固定壓力下的氣體熱容量，且Cv是在固定體積下的 氣體熱容量。 ' ' 在臨界流條件下，臨界流量可以由下列方程式獲得： 20

^O^stpV7

CAPU rRT 2γ V/2 Μ r +

⑹ 其中，k〇是上述的轉換常數，τ是氣體溫度，pu是上游壓力，A是 mks96387.d< 11 200819712 孔洞或喷嘴咽顿域的勤積，c，是排放係數，M是氣體的分子重 量，R是通用氣體定律常數，且C，是噴嘴排放係數。 排放係數C’說明了當高速氣體流通過孔洞之後繼續減少直徑 時的減少剖面積。C’的值係介於〇· 7到ι·〇之間。 二 以下的氣體函數可以被定義成： vJ/2, ⑺ 使用此氣體函數的定義，則方程式可以被簡化成： ⑻ Q:系σΑΔ^ΙΪρ FSip Γ · 15 20 /、要維持方私式⑶的臨界流條件，則下游壓力將不 ===且’唯-能夠增加流量的方式就:據 一”流的MFV(以下稱之為「_」）在R0R檢驗器的 合至入π處具有―_如臨界流嘴嘴或孔_流量限㈣，如圖i 所π。假如CMFV100的上游閥120與下游閥150兩者均打開，且 DUT的流量處於穩定狀態，臨界嘴嘴的尺寸很正確 ==力(容賴)與限卿的上雜力之間嶋比例係小 」| i比極限（apc)。因此，橫跨流量限制部的流動是一臨界 、甬7¾ 式⑻來續容室壓力無關。在此穩定狀態的時刻， =過限制部的流量等於職所輸送的流量，且限制部的上游壓力 、下為壓力)疋固定的。當下游閥15()瓣以進行流量檢驗 12 mks96387.doc 200819712 時，則容室壓力會上升。 谷室f力與限制部的上游動之間的壓力比例小於此臨 5 15 錢力無關。因此，通過限制部的流量不會 制 ==:且’即使當容室_時，也不：= f、，目丨、s、干擾。假如騎增加㈣力_驗界屢力比 (ape) ’則通過限制部的流動不是臨 與下游勤有關。因此，通過_部二衫 ^ ,制部的上游壓力會改變，因此，會對dut產生下 =FV的臨料聊蚁義成訂_完全_ 二奸的容室壓力超過臨界壓灿極限（αρ摘時刻之間的週期。 在此界流週期期間，通過限制部的流動是—狀的臨界法 與容室壓力無關，^且，*讀DUT造成下_力干擾^時 由將方程式⑻的兩邊與方程式⑴與(3)整合起來，從^ 界流週期tcf，而獲得臨界流週期： j ^ ρ〇) (Μ^Γτ) (9) 2〇其中，Up。)是容室壓力與限制部的上游壓力之間在㈣(在下 被關掉之前，入口流很穩定的時刻)時的起初壓力比。 從方程式(9)科看心臨界流簡顯氣雜性、氣體溫度， 以及包括臨界滅嘴的祕V之幾何做有關。換句話說，臨界 流週期是與流量無關。假如CMFV的檢驗時間在臨界流週期内的 mks96387.doc 13 200819712 話，則橫跨喷嘴的流動是一固定的臨界流，且上升的容室壓力並 不會干擾DUT的下游壓力。如此大幅地減少對於〇11丁的下游干 擾。臨界流週期亦與容室體積vc成正比，因此，增加臨界壓力比 aPC或降低臨界流面積a能增加臨界流週期。對於特定的臨界流噴 5嘴與容室體積，已經發現例如SF6與WF6等大分子重量的氣體具有 比He與H2等小分子氣體更大的臨界流週期。在所有半氣體中，氫 氣具有最小的臨界流週期。 只要能保持方程式(3)的臨界流條件，例如臨界流喷嘴或孔洞 的流量限制部，能夠將R〇R檢驗器的容室與DUT的外部配管分隔 10開來。假如流量檢驗週期在臨界週期内的話，則通限制部的臨界 流會等於DUT的流量。明顯地，臨界流喷嘴與DUT之間的外部體 積係與方程式(1)的流量計算無關。不需要設定校準過程來決定流 量限制部與DUT之間的外部體積，以作為流量檢驗計算之用。 圖2是顯示臨界流週期以及基於臨界流的MFV1⑻之反應的 15圖形。圖形210代表容室内的流體壓力，當下游閥關閉時此壓力 會上升。圖形220代表流體的流量。CMFV的臨界流量在圖2中 係以元件符號230表示。如圖2所示，在臨界流週期期間，通過 嘴嘴的入口流是一臨界流或扼流，上升的容室壓力不會影響入口 流量及噴嘴的上游壓力(此亦為DUT的下游壓力）。在臨界流週期 2〇 (在此週期期間，DUT的下游壓力是固定的)流逝之後，流量會下 降’且DUT的下游壓力會改變。

假如在流置檢驗期間容室壓力總是能夠被保持在小於臨界壓 力比的話，則通過喷嘴的流動將總是處於臨界流條件，且改變容 至壓力將不會干擾DUT的下游壓力，如此一來，大致上將DUT 14 mks96387.doc 200819712 的真正流量之波動情形降至最小。 圖3顯示圖丨所示的基於臨界流之質流檢驗器的連續脈衝半 即t(fPSR)操作。圖形31〇代表容室内的流體壓力，當下游閥關 閉日守壓力上升，而當下游閥開啟時壓力會下降。圖形320代表流 5體=流量。已經對cMFV發展出Cpsr操作，以便在整個多次執 行流1檢驗週期期間繼續符合臨界流條件。在此CpSR操作中， 下私閥γ請與開啟之間的週期是位於臨界流週期内 ’致使，上升 ，谷至壓力絕不會超過臨界壓力比例極限。如圖3所示，每次流 里$測的執行均位於臨界流週期内，致使，橫跨喷嘴的流動是臨 1〇界流。因此，改變容室壓力不會對喷嘴的上游壓力有任何影響， =此，能夠減讀DUT的下游壓力干擾。因此，對整個多次&量 &驗週期期間來說’ DUT的真正流量波動已經降至最小。 夕"可以在其中橫跨喷嘴的入口流是固定的或處於臨界流條件之 夕一人執行當中，將檢測的輸出結果予以平均，如同CPSR摔作所 二二1一樣。以此方式，可以將測量干擾所引起的變化降至最小。 椒、4又所描述的CpSR操作是一種達成多次執行流量檢驗的簡單 、速方式，而不會干擾到DUT的下游壓力。 臨界流噴嘴很容易被模組化、計算、設計、製造與測試。臨 20龜心嘴對職MFV來說可以是一個增添的部位。圖4概略地 二，ROR MFV的增添式臨界流喷嘴。可以根據流量範圍與 、T的最大下游壓力要求，而選擇臨界流喷嘴的不·洞尺寸了 =對質流檢驗制極佳的正確性、可錢性以及外部體積不敏 在實施例中，MFV100可以另外包括一個位於流量噴嘴上 mks96387.do< 15 200819712 游處的第二壓力變換器190(顯示於圖1與圖4中），以作為流量穩 定性偵測器。壓力變換器190其係建構為測量流量喷嘴14^的: 游壓力。一旦喷嘴的上游壓力被穩定下來時，通過喷嘴而進入容 室内的流量也會穩定下來，而且，cMFV可以立刻開始流量檢驗 5過程。藉由壓力變換器190，cMFV可以免除必須在執行流量檢驗 過程之前等候一段使流量穩定下來的固定週期。而且，喷嘴的上 游壓力可以被用來根據方程式(6)而計算通過喷嘴的流量，以作為 弟一流I檢驗機制。此第二流量檢驗機制可以被用來診斷cMpy， 或者作為對cMFV的第二流量檢驗法。 ίο 簡言之，呈現出一種基於臨界流之MFV，其中，臨界流喷嘴 係被放置在谷室體積的入口處。此臨界流喷嘴對RQR MPV來說， 可以是一個添加性的部位。只要容室壓力與喷嘴的上游壓力之間 的比例小於臨界流壓力比，上升的容室壓力將不會影響DUT的下 私壓力’且檢跨贺嘴的流量是固定的。因此，不需要一種用於決 I5定DUT與cMFV之間的外部體積之設定結構，以進行流量檢驗。 以此方式，就正確性、可重複性以及外部體積不敏感性來說，可 大幅地提升質流檢驗的性能。 雖然已經藉由一些實施例來說明本發明的系統與方法，但是 要知道的是在這些實施例中的觀念也可以被用於其他實施例。所 20以，本發明的保護範圍應由以下的申請專利範圍界定才是。 在申請專利範圍中，除非另行敘述，否則，提到單數形式的 一元件並非意指「一個且唯一」，反而可以是「一個或更多」。對 於熟知此項技術者來說，可以明白或稍後了解到上述說明中的各 種實施例之元件的結構與功能上之等效置換，所以，這些等效置 16 mks96387.doc 200819712 換在此明顧狀作物，夠了算被申請專咖所涵蓋。 【圖式簡單說明】 圖1 7C依據本翻貫施娜於臨界紅肢檢驗器 5 塊圖。 圖2是用以說明圖1戶斤示的基於臨界流之質流檢驗器之反 應的示意圖。 圖3是用以說明圖1所示的基於臨界流之質流檢驗器之連 續脈衝半即時操作。 10 目4是概略地說明用於質流檢驗器的附加臨界流喷嘴。 【主要元件符號說明】 1〇〇 質流檢驗器(MFV) 110 測試中裝置(DUT) 15 120 上游入口閥 130 容室 140 流量限制器 15〇 下游出口閥 160 控制器 2〇 170 壓力感測器 180 溫度感測器 190 壓力變換器 mks96387.doc 17

Claims (1)

1. 200819712 十、申請專利範圍： 1· 一種用於檢驗流體輪送裝置的測量之流量檢驗器，該流量 檢驗器包括： 一容室’其係建構為容納來自該裝置的流體流； 5 一壓力感測器，其係建構為測量容室内的流體壓力； 一溫度感測器，其係建構為測量容室内的流體溫度；以及 一臨界流喷嘴，係沿著從該裝置到該容室的流體之流動路 徑而位於該容室的上游； 其中，該臨界流喷嘴係被構成用以在臨界流時間週期彷期 10間將通過該喷嘴的流體流量維持成大致固定，而且，大致上不容 易受到容室内的壓力變化之影響。 2·如申請專利範圍第1項之流量檢驗II，其巾，該臨界流喷嘴 之係建構為允許流經該喷嘴的流動能夠在臨界流時間週期tef期間 滿足一臨界流條件，且其中，該臨界流條件是藉由以下的數學方 15 式而提供： + ^ ” UlJ ' 其中’ Pd是容室内及臨界流體喷嘴下游的流體壓力； 2〇 Pu是臨界流贺嘴上游的流體壓力； 7是由T=CP/CV所提供，且是該流體的比熱cP與cv之比例，其中 CP是在固定壓力下的流體熱容量，而C則是在固定體積丁的流體 熱容量；以及， & mks96387.doc 18 200819712 且大致上不易受到 ι是-臨界壓力比，係代表㈣最大可 此，橫跨喷嘴的流體流量將大致上保持固定， 11 曰 容室的任何壓力變化之影響。 3.如申睛專利範圍第2項之流量檢驗器，另外包含： 一上游闕’其係建構為開啟與關閉從該裳置3進入該容室 的入口之流體流動，以及 -下游閥，其係建構為開啟與酬來自該容室的出口之流 體流動。 ； 4. 如申請專纖圍第3項之流量檢驗||，另外包含： 10、-控制器’其係建構為控制該下游閥與上游閥以及壓力 與溫度感應器’該控制器另外可用以測量在該下游間關閉之後容 室内的流體壓力之上升率，且使騎測量出來的上升率，計算出 流體從該裝置進入容室内的流量’藉此檢驗流體輸送裝置的測量。 5. 如申請專利範圍第4項之流量檢驗n，其巾，職力感測器 15與溫度感測器係建構為在臨界時間週期tc内實施測量，致使流量 檢驗過程大致上與改變容室壓力以及檢驗器與DUT之間的外部體 積無關。 6·如申凊專利縫第2項之流量檢驗II，其巾，該臨界流時間 週期tcf被定義成介於下游閥關閉的時間點到匕與Pu的比例超過臨 20界壓力比例極限apc的時間點之間的時段，係藉由以下方程式所 供： mks96387.doc 19 200819712 其中，vc是容室體積， aPo是喷嘴上游與下游之間在卜〇時的起初壓力比， C是喷嘴的排放係數， A是喷嘴咽喉部的剖面積， 人(〜，，)在ΐΓί 2 丫‘0 [Μυ^ι Γ7Τ 其中， Μ是流體的分子重量， 1〇 R是通用氣體常數， Τ是氣體溫度，且 熱cp與cv之比例’ cp是在固定壓力下的氣體熱容 里’而Cv是在目定體積下的氣體熱容量。 15 7·如申μ專她圍第2項之流量檢驗器，其中，在該臨界流週 期W期間流體的流量是由以下雜式所提供： Q-cap\^L^T" 2 γ/(^ 20其中，T是流體溫度， Α是噴嘴孔洞的剖面積， c是排放係數， Μ是流體的分子重量， 20 mks96387.doc 200819712 R疋通用氣體定律常數，且 Pd、W 7係如申請專利範圍第2項中所錢的一樣。 8.如申請專利範圍第4項之流量檢驗器，’ 構為檢驗流體輸送I置的測量，係藉由以下步驟：制器係建 a) 打開該上游閥與該下游閥； b) 對該裝置提供一流量設定點，· C)等待直到容室内壓力達到一穩定狀態且穩定下來. d)=記錄容室氣體壓力與容室氣體溫度，以用於流量 吞t异， e) 關閉下游閥，致使容室内的壓力上升； f) 等待-段小於臨界流職tef的日_，㈣於流量檢驗; g) 在下游閥_時所測量到的臨界時間週期内，打開下 游閥；以及 h) 使用以下的絲式而計算流人容賴的流體流量：

   ^Tstp.vc d(P ρ5Ψ ^ 其中，V。是容室體積， 20 Tstp 是大約 273.15K, Pstp是大約 L 01325e5 Pa， K〇是大約6xl07單位的SCCM及6xl04單位的SLM， P是壓力感測器/變換器所測量到的容室壓力， mks96387.doc 21 200819712 τ是溫度感測器所測量到的氣體溫度。 9·如申請專利範圍第8項之流量檢驗器，其中，該臨界喷嘴將 ROR檢驗器的容室體積與DUT的外部配管分開，致使外部體積 資濃係與R〇R質流檢驗器的流量計算無關，且不需要設定校準來 5決定出流量檢驗器與DUT之間的外部體積。 10·如申請專利範圍第9項之流量檢驗器，其中，該流量檢驗 器可以在一連續脈衝半即時(CPSR)操作模式中進行操作，在此模 式中，控制器能夠在各個多數檢驗時間週期内使壓力與溫度的測 量係由壓力感測器與溫度感測器所產生，當下游閥關閉時便開始 10各檢驗時間週期，而當下游閥打開且從下游閥關閉的時後開始經 過了臨界流週期tef之前便結束各檢驗時間週期，致使橫跨喷嘴的 流動總是處於臨界流條件，且改變容室壓力大致上對於流量與 DUT的下游壓力沒有影響。 U·如申明專利範圍第10項之流量檢驗器，其中，對於cpsr 15模式中的多次執行，將控制器所計算出來的流量予以平均，致使 在壓力感測器與溫度感測器内的測量干擾所導致的被計算出來的 流量變化可降至最小。 U·如申凊專利範圍第1項之流量檢驗器，其中該臨界流喷嘴 係建構為將通過噴嘴的流體流動限制成一臨界流。 20 is·種用於檢驗流體輸送裝置的測量之方法，包含以下步驟： 在沿著質流檢驗器與DUT之間的流體之流動路徑上設置 一臨界流噴嘴，以便維持流體的流量，致使，在臨界流時間週期 期間，橫跨噴嘴的流體流量以及該噴嘴上游的流體壓力仍維持成 大致固定’且大致上不會受到容室内的壓力上升之影響； mks96387.doc 22 200819712 使m欠該裝置沿著一流動路徑而流入-容室内，同時 該容室的入口與出口閥係被保持成開啟； 、 允許進入谷室内的流體流量以及容室内的流體壓力達到 一穩定狀態； $ j 關閉谷室下游的—閥，致使，流體的壓力在該 始上升；以及 1 、在臨錢铜獅喊施越壓力與雜溫度的測量， 以測量容室⑽流體壓力之上升率，且使用所測制的壓力上升 率’伴隨流體溫度的測量而計算出流體的流量。 10 、14·如申請專利範圍第13項之方法，其中，臨界流喷嘴之係建 構為限制板跨喷嘴的流體流量，致使，在臨界流時間週期期間能 滿足臨界流條件，且其中臨界流條件係藉由以下數學方式而提供： ^ U + lJ 7 15 其中，Pd是容室内及臨界流體喷嘴下游的流體壓力； PU是臨界流喷嘴上游的流體壓力； T疋由T=CP/Cv所提供’且是該流體的比熱cP與cv之比例，其中 Cp是在固定壓力下的流體熱容量，而Cv則是在固定體積下的流體 20 熱容量；以及 a pc是一臨界流參數，係代表pd與pu2間的最大可允許比例，藉 此，橫跨喷嘴的流體流量將大致上保持固定，且大致上不會受到 容室的任何壓力變化之影響。 23 mks96387.doc 200819712 15.如申請專利範圍第14項之方法，其中，該流體的流量係使 用以下的方程式而計算： 明 KP dt[T) 5 其中，P與T係在位於臨界流週期内的檢驗週期期間由壓力感測 器與溫度感測器所測量出來之結果，致使改變容室壓力並不會對 DUT的下游壓力產生影響。 曰 10 Μ.如申請專利範圍第15項之方法，其中在各個多數檢驗時間 週期期間產生壓力與溫度啦’當下游關閉時綱始各個檢驗 時間週期’而當下游附了開且從下游關閉後開始經過了臨界流 週期tef之前便結束各檢驗時間週期；且 曰 其巾’在CPSR模式⑽多次執行朗，將計算出來的流 15量予以平均’因而將測量干擾降至最小。 17. -種麟聽蚊在DUT⑽試巾奸)與檢驗DUT的質流 測量用之質流檢驗器之_外部體積之方法，該方法包含以下步 驟： 旦 將一流篁限制器放置於該質流檢驗器的入口，其中該流 20置限制器包含-臨界流噴嘴與-臨界流孔洞的至少之一。 18. -種用以減。少質流檢驗器所計算出來的流體流量變化之 旦法’該質流檢驗II係用以檢驗-流體測錄置對流體流量的測 :壯該質流檢驗II包括：-容室，其係建構為容納來自該流量測 里裝置的流體流動 >壓力_器，其係建構為測量容室内的流 mks96387.doc 24 200819712 體壓力；以及一溫度感測器，其係建構為測量該容室内的流體溫 度，該方法包含以下步驟： 在該流量測量裝置與該容室之間設置一臨界流喷嘴，以便 限制橫跨該喷嘴的流體流量’致使通過該噴嘴的流體流量大致上 5不會受到容室内的壓力變化之影響，只要喷嘴的下游壓力與喷嘴 的上游壓力之比例小於臨界流參數ape即可。 19·如申請專利範圍第18項之方法，另外包含：根據想要的流 量範圍以及流體測量裝置的最大下游壓力需求，而選擇一個最佳 的孔洞尺寸，以用於臨界流喷嘴。 ° 2〇·如申请專利範圍第18項之方法，另外包含一第二壓力變換 器，係位於流量喷嘴的上游，以便測量該流量噴嘴的上游壓力， 该第二壓力變換器所測得的流量喷嘴之上游壓力可被用來檢查在 執行流虿檢驗之前通過噴嘴的流量是否已經穩定下來。 21·如申請專利範圍帛20項之方法，其中，該第二壓力變換器 5所測得的流量喷嘴之上游壓力可以被用來藉由申請專利範圍第 項中的方程式而計算出通過喷嘴的流量，以作為對於cMf^的第 一^流晉拾驗方法。 20 mks96387.doc 25