200814024 九、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 本發明係關於光碟裝置以及岸臺在前凹坑再生方法。更 明確言之，本發明係關於一種光碟裝置以及岸臺在前凹坑 再生方法，其中依據回應於從一光碟反射的光之接收而產 生之一光偵測信號來產生對應於岸臺在前凹坑之一在前凹 坑成分信號，並以一預定週期為單位來對藉由將該在前凹 坑成分信號二值化而獲得之一在前凹坑偵測信號之脈衝進
行計數以控制用於將該在前凹坑成分信號二值化之一位準 (下文稱為一 ”二值化位準而使得該計數結果具有一預設 值。 【先前技術】 近來，在光碟領域，具有播放相容性之大容量可記錄光 碟已很快普及。使用一岸臺在前凹坑定址方法之dvd可錄 式（DVD-R)與DVD可重錄式（DVD_RW)碟片亦已延伸之市 場佔有率。 DVD-R碟片係寫一次的DVD碟丨，❿DVD-R^片係可 如圖12所示，溝槽磁執 碟片基板之一表面上。 重寫的DVD碟片。在任一碟片中， 11及岸臺磁軌12係交替地配置於一 該等溝槽磁執11及岸臺磁軌12係形成為—同軸螺旋形狀。 該等溝槽磁軌11在徑向方向上呈精細的波浪形或呈擺動 ,。該等岸臺磁軌12具有預先形成於其中之溝槽，稱為岸 臺在前凹坑13 »該等岸臺在前凹坑13指示該光碟上之位置 資訊。例如’在記錄資訊資料時，使用一光束bm來讀取 118800.doc 200814024 "亥等岸2：在如凹坑1 3來決定該記錄位置或控制該記錄時 在使用一具有此類岸臺凹坑的光碟之光碟裝置中，藉由 一光束來照射該光碟，並依據從該光碟反射之光來產生包 括擺動與岸堂在前凹坑成分之一推挽信號。將所產生的推 挽k號與一臨界值相比較來執行二值化，並產生指示岸臺 在％凹坑之一厗臺在前凹坑债測信號。在該光碟裝置中， 進一步，從所產生的岸臺在前凹坑偵測信號以及一基於包 括於該推挽信號中的擺動成分之信號來執行位址偵測及碟 片方疋轉控制。因此，該岸臺在前凹坑偵測性能對信號讀取 及寫入性能有很大影響。 由於對應於該推挽彳§號中的岸臺在前凹坑之部分之信號 位準受到與記錄相關的反射率減小之影響，因此信號位準 在一未記錄碟片與一已記錄碟片之間有差異。該信號位準 還會在播放及記錄期間改變。日本未經審核的專利申請公 告案弟2002-3 12941號揭示在對應於一資訊記錄磁軌的資 料之最大值與對應於在前凹坑的資料之最小值之間設定一 臨界值，從而對該臨界值作最佳的設定。日本未經審核的 專利申请公告案第2003-5 1120號揭示在從一推挽信號擷取 之一低頻率成分與該推挽信號之底部位準之間設定一臨界 值，從而對該臨界值作最佳的設定。 【發明内容】 但是，在測量諸如一推挽信號之類的一類比信號之信號 位準並依據測量的信號位準來調整一臨界值時存在問題。 118800.doc 200814024 即’若在該推挽信號之信號對雜訊（S/N)比較低時設定該 臨界值’則該臨界值受雜訊影響，而難以對該臨界值作最 佳的設定。進一步，難以對該臨界值作最佳的設定，從而 防止正確镇測岸臺在前凹坑而導致信號讀取或寫入性能劣 化。 因此需要提供一種光碟裝置以及岸臺在前凹坑再生方 法’其中提高岸臺在前凹坑之偵測精確度。 依據本發明之一具體實施例，使用一具有交替配置於其
中的溝槽磁軌與岸臺磁軌以及指示定義於該等岸臺磁軌中 之位置貪訊的岸臺在前凹坑之光碟之一光碟裝置包括以下 元件。具有分割的光接收·表面之一光學頭單元藉由一光束 來照射該光碟，並在該等分割的光接收表面上接收從該光 碟反射之光以針對該等分割的光接收表面之每一表面產生 一光偵測信號。一信號產生單元依據該等光偵測信號來產 生對應於㈣岸臺在前凹坑之-在前凹坑成分信號。一二 值化位準佗號輸出單元輸出一二值化位準信號。一二值化 單元將該在前凹坑成分信號與該二值化位準信號相比較以 產生指不該比較結果之一在剪凹坑偵測信號。一解碼單元 使用該在前凹坑偵測信號來獲得該位置資訊。一脈衝計數 早兀以-依據該位置資訊的週期為單位來對該在前凹坑债 測信號之脈衝進行計數…控制單元依據藉由該脈衝計數 單元獲得之計數值來控制該二值化位準信號之—信號位 準。 岸臺在前凹坑再生方 依據本發明之另一养體實施例 118800.doc -8 - 200814024 法包括以下步驟··藉由一光束照射一光碟並在分割的光接 收表面上接收從該光碟反射之光以針對該等分割的光接收 表面之每一表面產生一光偵測信號，該光碟具有交替配置 於其中的溝槽磁軌與岸臺磁執以及定義於該等岸臺磁軌中 的岸臺在前凹坑；依據該等光偵測信號產生對應於該等岸 臺在前凹坑之一在前凹坑成分信號；輸出一二值化位準信 號；藉由將該在前凹坑成分信號與該二值化位準信號相比 杈來執行二值化以產生一在前凹坑偵測信號；以一預定週 期為單位對該在前凹坑偵測信號之脈衝進行計數；以及依 據所獲得之脈衝計數值來控制該二值化位準信號之一信號 位準。 例如，該信號產生單元依據該等光偵測信號產生一推挽 信號。過濾所產生的推挽信號以擷取對應於該等岸臺在前 凹坑之一信號成分來產生一在前凹坑成分信號。該脈衝計 數單元對藉由將該在前凹坑成分信號與該二值化位準信號 相比較並執行二值化而獲得之一在前凹坑偵測信號之脈衝 進行計數。以一依據位置資訊之預定週期為單位執行脈衝 計數’該位置資訊係藉由（例如）以實體磁區為單位解碼該 在前凹坑偵測信號而獲得。該控制單元依據該等計數值來 控制該二值化位準信號之信號位準。例如，該控制單元控 制該二值化位準信號之信號位準而使得該等計數值之平均 值或該等計數值之和變成等於一預設值。該預設值不限於 一值，而可以包括在一特定範圍内的值。 該光碟裝置可以進一步包括一脈衝寬度測量單元，該單 118800.doc -9- 200814024 疋係組態用於測量該在前凹坑偵測信號之脈衝之脈衝寬度 以產生該等脈衝寬度之一分佈，並可以依據該等脈衝寬度 之分佈來控制該二值化位準信號之信號位準而使得該等脈 衝寬度之分佈收斂為對應於該等岸臺在前凹坑之一脈衝寬 度。例如，可以產生該等脈衝寬度之一頻率分佈，並可以 依據將針對該頻率分佈中的個別等級之發生頻率相比較之 結果來控制該二值化位準信號之信號位準。 依據本發明之具體實施例，將該二值化位準控制成使得 藉由對一在前凹坑偵測信號之脈衝進行計數而獲得之計數 值之一平均值變成等於一預設值。雜訊或類似者之影響小 於（例如）測量一推挽信號之信號位準並依據測量的信號位 準來控制該二值化位準之情況。因此，在記錄或播放期間 可以在任何位置對該二值化位準作最佳的調整。進一步， 由於可以對該二值化位準作最佳的調整，因此可以提高諸 如位址偵測之類性能，而且還可以提高記錄品質及類似 者。 【實施方式】 將參考附圖說明本發明之一具體實施例。圖丨係一光碟 裝置20之一功能方塊圖。 藉由該光碟裝置20之一轉轴馬達單元21來讓一光碟 1〇(其使用一岸臺在前凹坑定址方法）以一預定速度旋轉。 藉由來自一伺服控制單元2 7之一轉軸馬達驅動信號M s ρ來 驅動該轉軸馬達單元21，衫下所述，從而使得該光碟1〇可 以該預定速度旋轉。 11880Q.doc 200814024 -光學頭單元22包括：_雷射光輸出元件；一光偵測元 件’一光學系統，其係用以藉由從該雷射光輸出元件輸出 之光來照射該光碟10或將從該光碟10反射的光導引至一光 债測器’以及一致動器，其係用以驅動用以將照射於該光 碟10上的雷射光聚焦到一所需位置上之一透鏡。依據來自 一雷射驅動單元26之一驅動信號SPW來驅動該光學頭單元 22之雷射光輸出元件，如下所述。 該光偵測器執行光電轉換來產生對應於所照射光束之一 仏號。該光僧測器還執行處理，例如計算所產生的信號以 產生一播放信號SRF、一聚焦錯誤信號SFE、一循軌錯誤 信號STE及總和信號Sml與Sm2。該光偵測器將所產生的 播放信號SRF提供給一播放信號處理單元23，將該聚焦錯 誤信號SFE及該循軌錯誤信號STE提供給該伺服控制單元 27，而將該等總和信號Smi及Sm2提供給一信號產生單元 30 〇 圖2顯示在該光學頭單元22中的光偵測器之結構之一部 分。該光偵測器221包括一光電轉換元件222。該光電轉換 元件222具有光接收表面222a至222d，該等光接收表面係 分割於該光碟10之一記錄磁軌方向FT(即，該光碟10之周 邊方向）及與該記錄磁轨方向FT正交之一方向（即，該光碟 10之徑向方向）上。該光電轉換元件222在該等四個光接收 表面222a至222d上接收從光碟10反射之光，並執行光電轉 換來產生對應於所接收光之光接收信號Sa至Sd。 一加法器223將該等光接收信號Sa與Sd加總以產生該總 118800.doc 200814024 矛仏唬Sml。一加法器224將該等光接收信號讥與以加總 以產生該總和信號Sm2。一加法器225將該總和信號S-與 該〜和4號Sm2加總以產生該播放信號SRF。當該等加法 :223至225具有一用以調整信號位準之功能時，可以將該 播放信號SRF及該等總和㈣Sml及㈤輸出為所需位準 之信號。 再人參考圖1 ’播放信號處理單元23將該播放信號 一值化，並接著按順序執行解調變、錯誤校正及各類資訊 解碼處理以再生c錄於該光碟1G上之資訊資料（例如視訊 貧料' 聲頻資料及電腦資料）RD。該播放信號處理單元23 經由一介面單元24輸出該資訊資料rd。 當經由該介面單元24提供欲記錄之資訊資料WD^，將 該資訊資料WD提供給一記錄信號產生單元乃。該記錄信 號產生單元25執行處理，例如調變該資訊資料臀1)及產生 錯誤校正碼，以產生一記錄信號ws，並將該記錄信號ws 提供給該雷射驅動單元26。 ^ 4取ό己錄於該光碟1 〇上之一信號時，該雷射驅動單元 26產生一驅動信號spw以便可以從該光學頭單元22之雷射 光輸出元件以一適合於播放操作之輸出位準輸出雷射光， 並將該驅動信號SPW提供給該光學頭單元22。當將一信號 吕己錄於該光碟10上時，該雷射驅動單元26產生一驅動信號 SPW以便可以從該雷射光輸出元件輸出依據該記錄信號 ws來調變之雷射光，並將該驅動信號SPW提供給該光學 頭單元22。 118800.doc -12- 200814024 該伺服控制單元27依據來自該光學頭單元22之聚焦錯誤 信號SFE產生一聚焦驅動信號SFD。將所產生的聚焦驅動 信號SFD提供給該光學頭單元22以驅動該致動器將該光束 聚焦至該光碟10之一記錄表面上。該伺服控制單元27還依 據來自該光學頭單元22之循執錯誤信號STE來產生一循執 驅動信號STD。將所產生的循執驅動信號STD提供給該光 學頭單元22以驅動該致動器將該光束之照射位置控制為該 光碟10上之一所需位置。該伺服控制單元27進一步將一滑 動驅動信號MSL提供給滑動馬達單元28以在該光碟10之徑 向方向上移動該光學頭單元22而使得不會令該光束之照射 位置偏移出一循軌控制範圍。該伺服控制單元27還依據一 信號（例如，從該信號產生單元30之一擺動信號產生單元 302提供之一擺動信號BU)而產生一轉軸馬達驅動信號 MSP(如下所述）以便可以讓該光碟1〇以所需速度旋轉，並 將該轉轴馬達驅動信號MSP提供給該轉軸馬達單元21。 該信號產生單元30之一推挽信號產生單元3〇1從該總和 信號Sml中減去該總和信號Sm2以產生圖3 A所示之一推挽 信號SPP。該推挽信號產生單元3 01將所產生的推挽信號 SPP提供給該擺動信號產生單元302及一在前凹坑成分信號 產生單元303。該擺動信號產生單元302限制該推挽信號 SPP之頻寬以擷取一擺動頻率成分，'並產生圖3Bm示之一 擺動信號BU。該擺動信號產生單元302將所產生的擺動信 號B U提供給該饲服控制早元2 7。該在前凹坑成分信號產 生早元303限制該推挽彳s $虎SPP之頻寬以顧取對應於岸臺在 118800.doc -13· 200814024 ir凹坑之一頻率成分’並產生圖3C所示之一在前凹坑成分 信號SPT。該在前凹坑成分信號產生單元3〇3將所產生的在 前凹坑成分信號SPT提供給一二值化單元32。 一二值化位準信號輸出單元31依據來自一控制單元4〇之 一二值化位準控制信號CTL·來產生一信號位準之一二值化 位準信號VSL(如下所述），並將該二值化位準信號VSL提 供給該二值化單元32。 該二值化單元32將該在前凹坑成分信號SPT二值化。在 該二值化程序中，從該二值化位準信號輸出單元31提供之 一值化位準信號VSL係用作一臨界值，並將該在前凹坑成 分“號SPT與該二值化位準信號VSL相比較以獲得指示該 比較結果之一在前凹坑偵測信號DPT。在該在前凹坑偵測 信號DPT中，脈衝表示岸臺在前凹坑，而該等脈衝之寬度 對應於該等岸臺在前凹坑之寬度。該二值化單元32將所產 生的在前凹坑偵測信號DPT提供給一解碼單元33、一脈衝 計數單元34及一脈衝寬度測量單元35。 該解碼單元33解碼該在前凹坑偵測信號DPT以獲得位置 資訊，即指示該光學頭單元22照射一光束之位置的位置資 訊AR，並將所獲得之位置資訊提供給該脈衝計數單元34 及該控制單元40。若因解碼該在前凹坑偵測信號dpt而獲 得其他資訊，則將所獲得之資訊提供給該控制單元4〇。 該脈衝計數單元34以依據來自該解碼單元33的位置資訊 AR之一週期為單位來對該在前凹坑信號dpt之脈衝進行計 數。例如，依據該位置資訊AR而以實體磁區為單位執行 118800.doc •14- 200814024 脈衝計數，並將每一實體磁區之計數值尺？提供給該控制單 元40。可以將從該擺動信號產生單元3〇2提供給該伺服控 制單元27之擺動信號BU可提供給該控制單元4〇，而該控 制單元40可以決定是否已偵測到針對2〇8個週期之擺動以 決定一實體磁區週期之消逝。該脈衝計數單元34可以依據 來自該控制單元40之一指令來以實體磁區週期為單位對該 等脈衝進行計數。 每次偵測到該在前凹坑偵測信號DPT之一脈衝時，該脈 衝寬度測里單元3 5便測篁一脈衝寬度，而產生該等脈衝寬 度之一分佈。例如，產生一頻率分佈，其中各等級代表各 脈衝寬度而發生頻率代表產生該脈衝之數目，並在已執行 一預定次數的脈衝寬度測量時將頻率分佈資訊F D提供給該 控制單元40 〇 該控制單元40處理從一外部裝置經由該介面單元24提供 之一命令以產生對應於該命令之一控制信號，並將該控制 信號提供給該光碟裝置20之個別單元以依據該命令控制該 光碟裝置20之操作。該控制單元4〇進一步依據該位置資訊 AR來決定該光束之照射位置，並控制該等個別單元之操 作以便可以再生記錄於一所需位址之一信號或者可以將一 "is號§己錄於一所需位址。 該控制單元40產生該二值化位準控制信號CTL並將其提 供給該二值化位準信號輸出單元31以控制從該二值化位準 信號輸出單元31提供給該二值化單元32之二值化位準信號 VSL之信號位準。該控制單元4〇依據從該脈衝計數單元“ 118800.doc -15- 200814024 提供的計數值NP而根據該二值化位準控制信號c TL控制該 二值化位準信號VSL之信號位準，而使得（例如）該等計數 值NP之平均值變成等於一預設值。該控制單元仂進一步依 據指示藉由該脈衝寬度測量單元35產生的脈衝寬度分佈之 貧訊FD而根據該二值化位準控制信號CTL來控制該二值化 位準#谠¥81^之信號位準，而使得脈衝寬度分佈收斂為對 應於該等岸臺在前凹坑之脈衝寬度。 現在將說明該光碟裝置2〇之操作。該光碟裝置2〇之控制 _ 單元40將該二值化位準調整成使得（例如）每一實體磁區之 脈衝數目之平均值變成等於一預設值。該預設值不限於一 值，而可以包括在一特定範圍内的值。 將說明該等岸臺在前凹坑之形成。圖4顯示一光碟之一 磁軌結構。一磁執之一實體磁區係由26個同步訊框形成。 若一位元間隔係表示為丁，則一同步訊框具有連續的ΐ488τ 之一長度。 _ 一擺動週期對應於186Τ。一同步訊框週期包括八個擺動 週期’而一實體磁區週期包括2〇8個擺動週期。每一同步 訊框之開始與一擺動峰值一致。該等岸臺在前凹坑係形成 於相對於圖3Β所示擺動信號BU之零交叉點實質上具有一 90度相位差之位置。因此，對應於圖3C所示在前凹坑成分 信號SPT中的岸臺在前凹坑之信號波形之相位實質上等於 該擺動信號B U之峰值之相位。 圖5係顯示該等岸臺在前凹坑之資料訊框結構之一圖 式。如圖5之部分Α所示，岸臺在前凹坑資料係組態成使得 118800.doc -16- 200814024 一訊框係由一四位元的相對位址與八位元的使用者資料形 成。該相對位址係四位元長，而且可以將不同位址指派給 16個資料訊框。一 ECC區塊係由16個資料訊框形成，而該 相對位址包括每一 ECC區塊之位址。該使用者資料指示一 ECC區塊位址、與該ECC區塊位址相關之一應用程式碼、 - 指示關於該光碟的實體特性之資訊之一碼、一製造商ID、 ^ 一同位等。 將該岸堂在前凹坑資料轉換成具有一在前凹坑實體磁區 • 結構之訊框資料，在該結構中，如圖5之部分B所示，在將 母位元轉換成二位元後添加一同步碼。對應於該訊框資 料之在刖凹坑係在該光碟i 〇中形成為指示一由26個同步訊 框形成的實體磁區之岸臺在前凹坑。當該等岸臺在前凹坑 係形成於一光碟中時，若該些岸臺在前凹坑在該碟片之徑 向方向上彼此重疊，則該等岸臺在前凹坑之位置偏移一同 步訊框以防止該等岸臺在前凹坑之重疊。在該等26個同步 參 訊框中，如圖5之部分C所示，該第一同步訊框係設定於一 偶數位置，該第二同步訊框係設定於一奇數位置，而後續 的同步訊框係交替設定於偶數位置與奇數位置。即，圖5 所不的在前凹坑同步碼、相對位置及使用者資料係以三位 元為單位用於組態在前凹坑，從而在偶數位置提供13個同 步訊框。若該等岸臺在前凹坑彼此重疊，則在藉由以三位 70為單元使用該在前凹坑同步碼、該相對位置及該使用者 資料來組態該等在前凹坑時該等岸臺在前凹坑偏移一同步 訊框，從而在奇數位置提供13個同步訊框。 118800.doc -17- 200814024 圖6顯示用以產生具有一在前凹坑實體磁區結構的訊框 資料之位元分配。將位元” 1 1 1 "分配給該同步碼。當岸臺 在如凹坑在該碟片之徑向方向上彼此重疊時，將位元 "110”分配給該同步碼。 當該相對位址及該使用者資料之每一位元為"1"時，分 配位元”101”。當每一位元為”〇"時，分配位元"1〇〇n。 藉由上述位元分配，每一實體磁區之岸臺在前凹坑之數 目範圍從最大27至最小14。即，當該相對位址及該使用者 貧料之所有位元為，，1 "，而該同步碼係設定為” 111 ”時，每 一實體磁區之在前凹坑數目為27。當該相對位址及該使用 者貪料之所有位元為"〇，，，而該同步碼係設定為"11〇”時， 每一實體磁區之岸臺在前凹坑數目為最小值，即14。吾等 省知，每一實體磁區之岸臺在前凹坑數目之平均值係一實 質上不變的值，例如2〇。 因此，每一實體磁區之岸臺在前凹坑數目之平均值係一 實質上不變的值。該控制單元40依據該脈衝計數單元34之 十數、果來調整該二值化位準而使得每一實體磁區之計數 值之一平均值（例如針對16個實體磁區或更多磁區的計數 值之平均值）變成等於一預設值（例如在從19至21之一範圍 内之一值）。若每一實體磁區之計數值之平均值小於19, ㈣控制單％ 4G使用該二值化位準控制信號CTL來控制該 二值化位準信號VSL之信號位準，從而增加每一實體磁區 ^ 值右母一實體磁區之計數值之平均值大於21，則 該控制單元40使用該二值化位準控制信號ctl來控制該二 118800.doc -18· 200814024 值化位準信號VSL之信號位準，從而減小每一實體磁區之 計數值。ϋ由依據祕衝計數單元34之計數值來控制該二 值化位準信號VSL而使得每一實體磁區之計數值之平均值 變成等於一預疋值，從而可以將該二值化位準設定為該最 佳位準。 該控制單元4〇可以藉由計算計數值之一移動的平均值來 決定計數值之一平均值，並可以依據該平均值來控制該二 值化位準。在此情況下，該控制單元4〇可以實體磁區為單 位來控制該二值化位準信號VSL之信號位準。該控制單元 40可以進一步使用計數值之和來控制該二值化位準。例 如藉由控制該二值化位準而使得η個計數值之一和在從 19χη至21χη之範圍内，該控制單元4〇可以控制該二值化位 準而無需執行除法運算。應瞭解，計數值可以係以複數個 磁區為單位來計數。 當對應於該在前凹坑成分信號SPT中的岸臺在前凹坑之 4吕號部分具有一矩形波形時，藉由該脈衝寬度測量單元3 $ 來測量之脈衝寬度始終相等，即便該二值化位準信號VSL 具有不同位準亦如此。但是，由於該在前凹坑成分信號 SPT係一依據來自該光碟10的反射光而產生之信號，因此 指示該岸臺在前凹坑之信號波形係以依據該光碟10的旋轉 速度、該等岸臺在前凹坑的形狀等之一梯度而上升或下 降。因此’在將該在前凹坑成分信號SPT二值化時，若該 二值化位準信號VSL接近表示該等岸臺在前凹坑之信號波 形之峰值，則該在前凹坑偵測信號DPT呈現一窄脈衝寬 118800.doc -19- 200814024 度。
該脈衝寬度測量單元35測量該在前凹坑偵測信號dpt之 脈衝寬度以產生脈衝寬度之一分佈，而該控制單元4〇產生 該二值化位準控制信號c T L而使得脈衝寬度分佈收斂為對 應於該等岸臺在前凹坑之脈衝寬度。例如，該脈衝寬度測 量單元35測量該等脈衝之寬度以產生脈衝寬度之一頻率分 佈。該控制單元40將針對該頻率分佈中的個別等級之發生 頻率進行比較，並依據該等比較結果產生該二值化位準控 制信號CTL，&而使得針對與㈣在前凹坑寬度對應的脈 衝寬度等級之發生頻率增加。因此，可以較高的精確度來 對該二值化位準信號VSL之信號位準作最佳的調整。 現在將參考圖7所示之一流程圖來說明該光碟裝置2〇之 操作。在步驟ST1中，該控制單元4〇執行初始化處理。在 該初始化處理中，該控制單元4〇將一脈衝計數值、一測量 的脈衝寬度值、脈衝計數值之一相加結果以及脈衝寬度之 一分佈重設為初始狀態。接著，該控制單元4〇進行到步驟 ST2。 在步驟ST2中，該控制單元4G決定是否已發佈—用以開 始該記錄操作之指令。當從外部經由該介面單元24發佈一 用以開始該記錄操作之指令時，該控制單元4〇進行到步驟 ST3。當未發佈用以開始該記錄操作之指令時，該控制單 元40返回步驟ST2。 在步驟ST3中，該控制單元4〇開始一脈衝計數程序， 接著進行到㈣ST4。即’該㈣單元4Q將該二值化位 118800.doc -20 - 200814024 信號VSL用作該初始值或在先前的播放或記錄操作中指定 的位準來將一對應於岸臺在前凹坑的在前凹坑成分信號二 值化，從而獲得在前凹坑偵測信號DPT，並對該在前凹坑 4貞測彳$ 5虎DPT之脈衝進行計數。 在步驟ST4中，該控制單元4〇開始一脈衝寬度測量程 序，而接著進行到步驟ST5。即，該控制單元4〇開始測量 在步驟ST3中獲得之在前凹坑偵測信號〇]?丁之脈衝寬度。 在步驟ST5中，該控制單元4〇決定是否已發佈一用以終 籲 止該記錄操作之指令。當未從外部經由該介面單元24發佈 任何用以終止該記錄操作之指令時，該控制單元4〇進行到 步驟ST6。當發佈用以終止該記錄操作之一指令時，該控 制單元40進行到步驟ST8。 在步驟ST6中，該控制單元40決定一實體磁區週期是否 已消逝。若一實體磁區週期已消逝，則該控制單元4〇進行 到步驟ST7。若一實體磁區週期未消逝，則該控制單元 籲 返回步驟ST5。依據（例如）來自該解碼單元33之位置資訊 AR來執行關於一實體磁區週期已消逝之決定。可以將從 該擺動信號產生單元302提供給該伺服控制單元27之擺動 信號BU提供給該控制單元4〇，而該控制單元4〇可以決定 疋否已彳貞測到針對208個週期之擺動以決定一實體磁區週 期之消逝。在此情況下，可以決定一實體磁區週期之消逝 而與該二值化位準信號VSL之信號位準無關。 在步驟ST7中，控制單元4〇執行圖8所示之一調整程序。 在圖8所示步驟ST11中，該控制單元4〇將該等脈衝計數值 118800.doc • 21 - 200814024 相加。即’該控制單元4G對針對—實體磁區週期之該在前 凹坑摘測信號請之脈衝進行計數，並將所獲得之脈衝計 數值相加。接著，該控制單元40進行到步驟ST12。 在ッ驟8丁12中„亥控制單元4〇向該脈衝寬度測量翠元 發出-指令以使用測量的脈衝寬度來產生脈衝寬度之一分 :’例如脈衝寬度之一頻率分佈。在產生該頻率分佈時， 藉由及等脈衝見度來定義各等級，並將針對與在—實體磁 區週期内測量的脈衝寬度對應的每一等級之發生頻率相 加接著，該控制單元40進行到步驟ST丨3。 在步驟ST13中，該控制單元4〇決定一脈衝計數週期是否 已消逝°若該脈衝計數週期未消逝，則該控制單元4〇終止 該調整程序’並返回圖7所示步驟ST5。該脈衝計數週期係 設定為實體磁區數目之一週期兮赵曰後七〜 ’'、 ^週期，該數目係決定成使得每一 實體磁區之脈衝計數值之一平均值具有一實質上不變的 值。若-脈衝計數週期已消逝，則該控制單元4〇進行到步 驟ST14 〇 一在步驟STU中’該控制單元辦算―平均值pca。明確 。之，该控制單元40將針對該脈衝計數週期中的每一實體 磁區之脈衝值之和除以在該脈衝計數週期中的實體磁 區數目以決定每一實體磁區之脈衝計數值之平均值PCa。 接著，该控制單元4〇進行到步驟ST15。 在步驟ST15中，該控制單元4〇決定該平均值ρ(^是否小 ；下邛多考值Lr。若該平均值pea不小於該下部參考值 Lr，則該控制單元4〇進行到步驟§丁16。若該平均值？。小 118800.doc -22- 200814024 :該下。卩參考值Lr，則該控制單元4〇進行到步驟ST2〇。該 下邛芩考值Lr係藉由從每一實體磁區之岸臺在前凹坑數目 平均值LPav (-20)中減去一允許範圍β來決定。該下部 參考值Lr係設定為，例如"Lpav_p=2(M"。以此方式，決定 該平均值PCa是否小於該下部參考值Lr。因此，例如，當 該二值化位準信號VSL之位準較高以至於在將該成分信號 SPT一值化時並不將一藉由一在前凹坑產生之信號部分偵 測為一在前凹坑而因此減小該平均值Pca時，可以在步驟 ST20中調整該二值化位準信號胤之位準，如下所述。 在步驟ST16中，該控制單元4〇決定該平均值心是否大 於-上部參考值化。若該平均值pca不大於該上部參考值 Ur，則該控制單元4〇進行到步驟π”。若該平均值^大 於該上部參考值Ur，則該控制單元4q進行❹霍2卜該 •^部參考值Lr係藉由將—允許範圍α與每—實體磁區之岸 臺在前凹坑數目之-平均值Lpav (=2〇)相加來決定。該上 部參考值Ur係設定為，例如，，Lpav+a=2()+i "。以此方式， 決定該平均值PCa是否大於該上部參考㈣。因此例 如’當該二值化位準信號VSL之位準較小以至於將疊加於 該推挽信號SPP上的雜訊錯誤地谓測為一在前凹坑而因此 減小該平均值PCa時，可以名牛驟丄 準信號慨之位準，如=^驟咖中調整該二值化位 在步驟奶7中’該控制單元4G衫是否已執行—預定次 度測量。若尚未執行該預定次數的脈衝寬度測 制早7040返回圖7所示步驟盯5。該預定次數係 118800.doc •23- 200814024 決定成使得可以在依據測量的脈衝寬度而產生的頻率分佈 中清楚地區分分佈的發生頻率，而該測量週期並不過長。 該預定次數係設定為（例如）數十次至數百次。若已執行預 疋次數之脈衝寬度測量，則該控制單元4〇進行到步 ST18。 在步驟ST18中，該控制單元4〇決定該頻率分佈中一第一 等級之一發生頻率WC1是否小於藉由將一變數〇〇與一第二 等級之一發生頻率WC2相加而決定之一值。該第一等級係 比與在該等岸臺磁軌中形成的在前凹坑寬度對應之脈衝寬 度更短之-脈衝寬度之-等級，而該第二等級係比該第一 等級之脈衝寬度更短之-脈衝寬度之—等級。下面說明的 變數α及β係用於對該二值化位準作最佳的調整。 右發生頻率WC1大於藉由將該變數α與該發生頻率 相加而決疋之值，則該控制單元4〇進行到步驟。若發 生頻率戰不大於藉由將該變數《與該發生頻率WC2相加 而決疋之值，則该控制單元4 〇進行到步驟$ τ 19。 在步驟8丁19中，該控制單元4〇決定藉由將該變數β與該 頻率分佈中該第-等級的發生頻率WC1相加而決定之值是 否小於該第二等級之發生頻率WC2。若藉由將該變數㈣ 該發生頻率WC1相加而決定之值小於該發生頻率WC2，則 該控制單元4〇進行到步驟仙。若藉由將該變數β與該發 生頻率WC1相加而決定之值小於該發生頻率WC2，則該控 制單元40進行到步驟ST22。 在從步驟ST15或ST18進行到的步驟ST2〇中，該控制單 118800.doc -24- 200814024 凡40將該二值化位準在與該峰值方向相反之一方向上移 動，並接著進行到步驟ST22。明確言之，當產生圖3C所 示之在前凹坑成分信號SPT時，該控制單元4〇產生一二值 化位準控制信號CTL而使得該二值化位準在離開表示該等 在丽凹坑的信號波形之峰值之一方向上移動（圖3(：;中的向 上方向），並將該二值化位準控制信號CTL提供給該二值化 位準信號輸出單元31。以上述方式產生該二值化位準控制 信號CTL。因此，即使依據該等岸臺在前凹坑之信號波形 具有一低峰值位準，可以偵測到一在前凹坑偵測信號 DPT。若該在前凹坑偵測信號DpT之脈衝寬度較小而接近 與在該等岸臺磁軌中形成的在前凹坑之寬度對應之脈衝寬 度’則比對應於該等在前凹坑寬度的脈衝寬度更短之一脈 衝寬度之第一等級之發生頻率WC1較低。 在從步驟ST16或ST19進行到的步驟ST21中，該控制單 元40將該二值化位準在表示該等岸臺在前凹坑的信號波形 之峰值方向上移動，並接著進行到步驟ST22。明確言之， 當產生圖3C所示之在前凹坑成分信號spT時，該控制單元 40產生一二值化位準控制信號〇1^而使聲該二值化位準朝 表示該等在前凹坑的信號波形之峰值移動（圖3C中的向下 方向），並將該二值化位準控制信號CTL提供給該二值化位 準信號輸出單元31。以上述方式產生該二值化位準控制信 號CTL。因此，例如，即使雜訊係疊加於該在前凹坑成分 信號SPT上，可以減小由該雜訊引起的脈衝數目以減少岸 堂在前凹坑之偵測錯誤。可以減少錯誤的脈衝產生或因雜 118800.doc -25- 200814024 訊或類似原因所致之脈衝產生，而該第二等級之發生頻率 W C 2亦變低。 在步驟ST22中，該控制單元4〇以一類似於步驟sti中的 方式執行初始化處理，並將該脈衝計數值、測量的脈衝寬 度值、該等脈衝計數值之相加結果及脈衝寬度分佈重設為 初始狀態。接著，該控制單元4〇返回圖7所示步驟ST5。 當該控制單元40在圖7所示步驟ST5中決定已發佈一用以 終止该記錄操作之指令而進行到步驟ST8時，該控制單元 4〇終止該脈衝計數程序，並接著進行到步驟ST9。在步驟 ST9中，該控制單元4〇終止該脈衝寬度測量程序。 因此，對一在前凹坑偵測信號之脈衝進行計數，並依據 所獲付之計數值來控制一二值化位準信號之信號位準。雜 訊或類似者之影響小於（例如）測量一推挽信號之信號位準 並依據測量的信號位準來控制該二值化位準之情況。因 此在屺錄或播放期間可以在任何位置對該二值化位準作 最佺的調正。進一步，由於該二值化位準信號之信號位準 係叉控制成使得脈衝寬度之一分佈收斂為對應於岸臺在前 几之脈衝覓度，因此可以將該二值化位準調整為一更佳 的位準’而可以進一步提高岸臺在前凹坑之偵測精確度。 ^將脈衝寬度測量之預定的執行次數決定為使得在該 脈衝計數週期内完成該脈衝寬度測量，從而允許針對每一 衝《十數週期對4三值化位準進行高精確度的控制並將該 值化位準控制為一最佳狀態而具有提高的循執能力。此 外田該平均值PCa在由該上部參考值价及該下部參考值 118800.doc -26 - 200814024
Lr疋義之一範圍内時，重複關於該平均值pca是否變成等 於一預設值之決定直至執行該預定次數之脈衝寬度測量。 因此，即使在執行該預定次數之脈衝寬度測量之前要花費 較長時間，可以依據在該週期期間測量的脈衝數目來控制 該二值化位準。 圖9 A至1 〇 B顯示在將該二值化位準控制成使得脈衝寬度 之一分佈收斂為對應於岸臺在前凹坑之一脈衝寬度時所獲 得之頻率分佈變化。圖从及9B顯示一範例，其中該發生 頻率WC1大於違發生頻率WC2 (α=：〇)，❿目ι〇Α及應顯示 一範例，其中該發生頻率WC2大於該發生頻率WC1 (β=〇)。圖9八及10八所示頻率分佈係在針對該二值化位準之 調整之前獲得，而圖9ΒΑ1〇Β所示頻率分佈係在該調整之 後獲得。 备該發生頻率WC1大於該發生頻率WC2時，執行步驟 ST20之處理，而在與表示該等岸臺在前凹坑的信號波形之 峰值方向相反之一方向上移動該二值化位準。因此，依據 在忒等岸堂磁執中形成的在前凹坑之脈衝接近與該等在前 凹坑的覓度對應之脈衝寬度，而且，如圖9八及9]3所示， 針對與該等岸臺在前凹坑對應的脈衝寬度之發生頻率大於 在該調整之前的發生頻率。 當該發生頻率WC2大於該發生頻率WC1時，執行步驟 ST21之處理（¾在表示該等岸臺在前凹坑的信號波开》之峰 值方向上移動該二值化位準。可以減少因雜訊引起的脈衝 或類似者之數目。因此，若已執行該預定次數之脈衝寬度 118800.doc -27· 200814024 測量’如目1〇A及應所示，則針對與該等岸臺在前凹坑 對應的脈衝寬度之發生頻率大於在該調整之後的發生頻 率° 在圖8所示流程圖中，當該平均值❿變成等於一預設值 或在由該上部參考值Ur與該下部參考值^定義之一範圍内 2一值時，重複關於該平均值…是否等於該預設值之決 定直至執行該預定次數之脈衝寬度測量κ，_㈣$
元40可以等待控制該：值化位準直至執行該預定次數之脈 衝寬度測量’並可以接著依據執行該預定次數的脈衝寬度 測量之結果來控制該二值化位準。在此情況下，可以減少 用以將該等脈衝計數值相加的程序之重複次數，從而使得 處理簡單。 圖11A及11B係藉由複數個光碟裝置2〇之脈衝寬度測量 單元35來測量之脈衝寬度之直方圖。圖UA係在將每一實 體磁區之計錄之平均值控制為一預設值時獲冑之一直方 圖。在圖HA所示直方圖中’針對與在該碟片周邊方向上 形成於該等岸臺磁軌中的在前凹坑長度對應的脈衝寬产 Μ至7T)之發生頻率較高，但在該等頻率分佈中的波形= 化較大。 在此，依據脈衝寬度之分佈來控制該二值化位準。在此 情況下’如圖11A所示，當針對該第—等級（例如，叫之 發生頻率和小於針對該第二等級（例如，2τ)之發生頻率 WC2時，將該：值化位準在該峰值方向上移動。當以此方 式控制該二值化位準時’可以更佳地控制該二值化位準。 -2g- 118800.doc 200814024 口此如圖u B所示，可以減小針對該第二筝級（例如， 叫之^生頻率，而與圖UA所示者相比可以增加對應於該 等在前凹坑長度的脈衝寬度（6T至7T)之發生頻率。可以減 少藉由該等光碟裝置產生之該等頻率分佈之波形變化。 因此，對該二值化位準進行最佳的控制，從而增加岸臺 在前凹坑之偵測精確度並增加諸如位址偵測之類性能。= 於諸如位址偵測之類性能較高，因此，例如可以將一信號 記錄於一正確位置。因此’還可以提高記錄品質及類似 者。 热習此項技術者應瞭解根據設計需求及其他因素，各種 修正、組合、次組合及變更均可出現，只要其在隨附申請 專利範圍或其等同者的範_内即可。 【圖式簡單說明】 圖1係顯示一光碟裝置之結構之一圖式； 圖2係顯示一光偵測器結構之一部分之一圖式； 圖3 A至3C係顯示藉由一信號產生單元產生之信號之圖 式； 圖4係顯示一磁軌結構之一圖式； 圖5係顯示一岸臺在前凹坑資料訊框結構之一圖式； 圖6係顯示位元分配之一圖式； 圖7係顯示該光碟裝置之操作之一流程圖； 圖8係顯示一調整程序之一流程圖； 圖9A及9B係顯示頻率分佈變化之圖式； 圖10A及10B係顯示頻率分佈變化之圖式； 118800.doc -29· 200814024 圖11A及11B係脈衝寬度之直方圖；以及 圖12係顯示一光碟之一磁執結構之一圖式。 【主要元件符號說明】 10 光碟 11 溝槽磁執 12 岸臺磁軌 13 岸臺在前凹坑 20 光碟裝置
21 轉軸馬達單元 22 光學頭單元 23 播放信號處理單元 24 介面單元 25 記錄信號產生單元 26 雷射驅動單元 27 伺服控制單元 28 滑動馬達單元 30 信號產生單元 31 二值化位準信號輸出單元 32 二值化單元 33 解碼單元 34 脈衝計數單元 35 脈衝寬度測量單元 40 控制單元 221 光偵測器 118800.doc -30- 200814024 222 光電轉換元件 222a 光接收表面 222b 光接收表面 222c 光接收表面 222d 光接收表面 • 223 加法器 . 224 加法器 225 加法器 φ 301 推挽信號產生單元 302 擺動信號產生單元 3 03 在前凹坑成分信號產生單元
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