JP2010061714A - Optical disk device - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、光ディスク装置に関し、特に、光ディスク装置の長寿命化を図る際に用いて好適なものである。 The present invention relates to an optical disk device, and is particularly suitable for use in extending the life of an optical disk device.
近年、光ディスク装置の利用が益々広がっている。光ディスク自体の高容量化が進み、DVD(Digital Versatile Disc)ドライブやブルーレイディスクドライブ等、様々な光ディスク装置が商品化されている。 In recent years, the use of optical disk devices has been increasing. As the capacity of optical discs has increased, various optical disc devices such as DVD (Digital Versatile Disc) drives and Blu-ray disc drives have been commercialized.
しかしながら、光ディスク装置は、長期に亘って駆動すると、動作不良が起こり得る。動作不良の原因の多くは、光ピックアップ装置のレーザ素子の端面が破壊される光学損傷(COD:Catastrophic Optical Damage)によるものである。すなわち、レーザ素子が経時劣化することで寿命に達し、結果、光ディスク装置に動作不良が生じる。特に、カーナビゲーションで使用される光ディスク装置は、高温で長時間駆動されることが多く、経時劣化による動作不良が生じやすい。 However, when the optical disk apparatus is driven for a long period of time, malfunction may occur. Many of the causes of the malfunction are due to optical damage (COD: Catastrophic Optical Damage) that destroys the end face of the laser element of the optical pickup device. In other words, the laser element deteriorates with time and reaches the end of its life, resulting in malfunction of the optical disc apparatus. In particular, an optical disk device used in car navigation is often driven at a high temperature for a long time, and is likely to malfunction due to deterioration over time.
かかる動作不良を起こした場合の修理において、レーザ素子のみの交換は実質的に不可能なため、従来、レーザ素子を含む光ピックアップ装置を交換する必要があった。しかし、光ピックアップ装置全体を交換するとなると、交換対象の部品点数が多くなるため、コストの上昇を招くとの問題が生じる。 In the repair when such a malfunction occurs, it is practically impossible to replace only the laser element. Therefore, conventionally, it has been necessary to replace the optical pickup device including the laser element. However, if the entire optical pickup device is replaced, the number of parts to be replaced increases, which causes a problem of increasing costs.
そこで、光ピックアップ装置を交換するのではなく、レーザ素子を含む光源ユニットのみを交換する方法がある(特許文献1)。
しかしながら、レーザ素子を含む光源ユニットを交換する方法では、修理によるコストの上昇を抑えることはできるが、レーザ素子の経時劣化による動作不良の頻度を低減することはできない。また、光源ユニットの交換には煩雑な作業を要するとの問題もある。 However, in the method of replacing the light source unit including the laser element, an increase in cost due to repair can be suppressed, but the frequency of malfunction due to deterioration of the laser element over time cannot be reduced. In addition, there is a problem that the replacement of the light source unit requires complicated work.
本発明は、上記課題を解消するためになされたものであり、煩雑な作業を要することなく経時劣化による動作不良の頻度を低減でき、これにより信頼性を向上できる光ディスク装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide an optical disc apparatus that can reduce the frequency of malfunction due to deterioration with time without requiring complicated work, thereby improving reliability. And
本発明は、光ピックアップ装置と前記光ピックアップ装置を制御する回路系とを有する光ディスク装置に関する。このうち、前記光ピックアップ装置は、同じ波長帯のレーザ光を出射する複数のレーザ素子を有するレーザ光源と、前記各レーザ素子から出射されたレーザ光をディスク上に収束させる対物レンズと、前記各レーザ素子から出射された前記レーザ光のうち対応するレーザ光を受光する光検出部を有する光検出器と、前記各レーザ素子から出射された前記レーザ光を前記対物レンズに導くとともに前記ディスクによって反射された前記レーザ光を前記光検出器に導く光学系とを備える。また、前記回路系は、前記各レーザ素子を駆動する駆動部と、駆動対象の前記レーザ素子を切り替える切替部とを備える。 The present invention relates to an optical disc apparatus having an optical pickup device and a circuit system for controlling the optical pickup device. Among these, the optical pickup device includes a laser light source having a plurality of laser elements that emit laser light of the same wavelength band, an objective lens that converges the laser light emitted from each laser element on a disk, A photodetector having a photodetecting portion for receiving a corresponding laser beam out of the laser beams emitted from the laser element, and guiding the laser light emitted from each of the laser elements to the objective lens and reflecting by the disk And an optical system that guides the laser beam to the photodetector. The circuit system includes a drive unit that drives the laser elements and a switching unit that switches the laser elements to be driven.
本発明に係る光ディスク装置によれば、前記複数のレーザ素子を前記切替部により切り替えるため、1つのレーザ素子を有する半導体レーザを使用する場合よりも、半導体レーザの寿命を長くすることができる。結果、動作不良の頻度を低減することができ、光ディスク装置としての信頼性を向上することができる。 According to the optical disk apparatus of the present invention, since the plurality of laser elements are switched by the switching unit, the life of the semiconductor laser can be extended as compared with the case where a semiconductor laser having one laser element is used. As a result, the frequency of malfunctions can be reduced, and the reliability as an optical disc apparatus can be improved.
本発明に係る光ディスク装置において、前記光ピックアップ装置は、前記複数のレーザ素子から出射されたレーザ光を各々個別に受光する複数の光検出部を備える構成とすることができる。 In the optical disk device according to the present invention, the optical pickup device may include a plurality of light detection units that individually receive the laser beams emitted from the plurality of laser elements.
また、本発明に係る光ディスク装置において、前記光ピックアップ装置は、前記複数のレーザ素子のうち第1のレーザ素子から出射されたレーザ光を受光する光検出部に第2のレーザ素子から出射されるレーザ光を入射させる光路変更素子を備える構成とすることができる。こうすると、第1のレーザ素子と第2のレーザ素子から出射される各レーザ光を共通の光検出部で受光することができ、光検出部の構成を簡素化することができる。 Further, in the optical disk device according to the present invention, the optical pickup device is emitted from the second laser element to a light detection unit that receives laser light emitted from the first laser element among the plurality of laser elements. It can be set as the structure provided with the optical path changing element which makes a laser beam enter. In this case, each laser beam emitted from the first laser element and the second laser element can be received by the common light detection unit, and the configuration of the light detection unit can be simplified.
また、本発明に係る光ディスク装置において、前記回路系は、前記レーザ素子の寿命判定を行う寿命判定部を備える構成とすることができる。このとき、前記切替部は、前記寿命判定部による判定結果に基づいて駆動対象の前記レーザ素子を設定するよう構成することができる。 In the optical disk device according to the present invention, the circuit system may include a life determination unit that determines the life of the laser element. At this time, the switching unit can be configured to set the laser element to be driven based on a determination result by the life determination unit.
また、本発明に係る光ディスク装置において、前記回路系は、駆動対象の前記レーザ素子から出射された前記レーザ光の光量に基づいて当該駆動対象のレーザ素子の駆動電流値を調整する調整部を備える構成とすることができる。このとき、前記寿命判定部は、前記調整部によって調整された前記駆動対象のレーザ素子の前記駆動電流値に基づいて当該駆動対象のレーザ素子の寿命を判定するよう構成することができる。 In the optical disc apparatus according to the present invention, the circuit system includes an adjustment unit that adjusts a drive current value of the laser element to be driven based on a light amount of the laser light emitted from the laser element to be driven. It can be configured. At this time, the lifetime determination unit can be configured to determine the lifetime of the laser element to be driven based on the drive current value of the laser element to be driven adjusted by the adjustment unit.
また、本発明に係る光ディスク装置において、前記回路系は、駆動対象の前記レーザ素子の使用時間判定を行う使用時間判定部を備える構成とすることができる。このとき、前記切替部は、前記使用時間判定部による判定結果に基づいて駆動対象の前記レーザ素子を設定するよう構成することができる。 In the optical disk device according to the present invention, the circuit system may include a usage time determination unit that determines a usage time of the laser element to be driven. At this time, the switching unit can be configured to set the laser element to be driven based on a determination result by the usage time determination unit.
また、本発明に係る光ディスク装置において、前記回路系は、複数の前記レーザ素子のうち何れが前回使用されたかを判定する使用履歴判定部を備える構成とすることができる。このとき、前記切替部は、前記使用履歴判定部による判定結果に基づいて駆動対象の前記レーザ素子を設定するよう構成することができる。 In the optical disc apparatus according to the present invention, the circuit system may include a use history determination unit that determines which of the plurality of laser elements was used last time. At this time, the switching unit can be configured to set the laser element to be driven based on a determination result by the use history determination unit.
以上のとおり本発明によれば、煩雑な作業を要することなく経時劣化による動作不良の頻度を低減することにより信頼性を向上できる光ピックアップ装置および光ディスク装置を提供することができる。 As described above, according to the present invention, it is possible to provide an optical pickup device and an optical disc device that can improve reliability by reducing the frequency of malfunction due to deterioration over time without requiring complicated work.
本発明の効果ないし意義は、以下に示す実施の形態の説明により更に明らかとなろう。ただし、以下の実施の形態は、あくまでも、本発明を実施化する際の一つの例示であって、本発明は、以下の実施の形態に記載されたものに何ら制限されるものではない。
The effects and significance of the present invention will become more apparent from the following description of embodiments. However, the following embodiment is merely an example when the present invention is put into practice, and the present invention is not limited to what is described in the following embodiment.
以下、本発明の実施の形態につき図面を参照して説明する。本実施の形態は、同一波長帯のレーザ光を用いる同種のディスクに対して再生を行える光ディスク装置に本発明を適用したものである。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. In the present embodiment, the present invention is applied to an optical disc apparatus capable of reproducing with respect to the same type of disc using laser light of the same wavelength band.
<実施例>
図1に実施の形態に係る光ピックアップ装置の光学系の構成を示す。なお、同図には、説明の便宜上、回路側の構成(レーザ駆動回路200)が併せて記載されている。
<Example>
FIG. 1 shows the configuration of the optical system of the optical pickup device according to the embodiment. In the figure, for convenience of explanation, the circuit side configuration (laser drive circuit 200) is also shown.
半導体レーザ101は、レーザ素子101a、101bを同一CAN内に収容している。レーザ素子101a、101bは、X軸方向に近接して配置され、同一波長のレーザ光を出射する。各レーザ素子の配置については、図2を用いて後述する。
The
レーザ駆動回路200は、レーザ素子101a、101bのいずれか一方のみを使用するよう切り替えを行い、使用するレーザ素子を駆動する。駆動端子200a、200b、グランド端子200cは、駆動電流を流すために用いられる。端子の接続については図2で、動作については図4以降で後述する。
The
前述のとおり、レーザ素子101a、101bは、いずれか一方のみが使用される。すなわち、レーザ素子101aあるいはレーザ素子101bが駆動することにより、半導体レーザ101からは1つのレーザ光が出射される。図1では、便宜上、両方のレーザ光路が図示されている。
As described above, only one of the
半導体レーザ101から出射されたレーザ光は、3ビーム回折格子102によって、主ビームである0次回折光と、副ビームである±1次回折光の3ビームに分割される。
The laser light emitted from the
ハーフミラー103は、入射されたレーザ光を50%の比率にて反射および透過する。その結果、ハーフミラー103を透過したレーザ光は、フロントモニタ104に入射する。一方、ハーフミラー103に反射されたレーザ光は、立ち上げミラー105によって進行方向をZ軸方向へ変換され、コリメータレンズ106、対物レンズ(図示せず)、および光ディスク(図示せず)へと導かれる。なお、コリメータレンズ106は、レンズアクチュエータ(図示せず)によってレーザ光軸方向に変位される。コリメータレンズ106が変位することにより、レーザ光に生じる収差が補正される。
The
光ディスクに照射されたレーザ光は、光ディスクに配された記録層によって反射される。反射されたレーザ光は、上記光路を逆行した後、再びハーフミラー103に入射する。
The laser light applied to the optical disk is reflected by the recording layer disposed on the optical disk. The reflected laser light travels back along the optical path and then enters the
ここで、ハーフミラー103は平行平板であり、且つ入射するレーザ光は収束光であるから、透過するレーザ光に対して非点収差を導入する。ハーフミラー103を透過したレーザ光は、続いて非点収差板107に入射し、ここでも非点収差が導入される。レーザ光は、ハーフミラー103および非点収差板107によって適切な非点収差が導入されて、光検出器108へと導かれる。
Here, since the
光検出器108は、非点収差板107を透過したレーザ光を受光し、検出信号を出力する。光検出器108の構成については、図2を用いて後述する。
The
図2(a)は、半導体レーザ101をY軸方向、すなわち、3ビーム回折格子102側から見た図である。CAN内には、図示の如く、レーザ素子101a、101bが配置されている。電極101c、101dは、レーザ駆動回路200の駆動端子200a、200bにそれぞれ接続されている。電極101eは、レーザ駆動回路200のグランド端子200cに接続されている。レーザ素子101a、101bは、駆動端子102a、102bから駆動電流が供給されると、それに応じたパワーでレーザ光を出射する。
FIG. 2A shows the
同図(b)は、光検出器108をX軸方向、すなわち、非点収差板107側から見た図である。光検出器108には、図示の如く、Y軸方向に光検出部108a、108bが配されている。光検出部108aは、4分割センサ108c、108d、108eを備え、光検出部108bは、4分割センサ108f、108g、108hを備えている。4分割センサ108c〜108eおよび108f〜108hは、それぞれ光検出部108aおよび108b内で、Z軸方向に配されている。
FIG. 4B is a view of the
レーザ素子101a、101bから出射されたレーザ光は、それぞれ光検出部108a、108bで受光する。それぞれの光検出部にて適切な受光量が得られるように、レーザ素子101a、101bの光軸が、それぞれ4分割センサ108d、108gの中心に一致するよう、あらかじめ光検出器108の配置が調整されている。
Laser light emitted from the
また、光検出部108a上の4分割センサ108c〜108eは、3ビーム回折格子102によって3ビーム化されたレーザ素子101aのレーザ光(主ビーム/副ビーム)を、それぞれ1ビームずつ受光する。同様に、光検出部108b上の4分割センサ108f〜108hは、3ビーム回折格子102によって3ビーム化されたレーザ素子101bのレーザ光(主ビーム/副ビーム)を、それぞれ1ビームずつ受光する。
Further, the four-divided
レーザ素子101aのレーザ光による再生信号は、4分割センサ108dの出力信号から生成される。同様に、レーザ素子101bのレーザ光による再生信号は、4分割センサ108gの出力信号から生成される。
A reproduction signal by the laser beam of the
レーザ素子101aのレーザ光によるフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号は、4分割センサ108c〜108eの出力信号から生成される。同様に、レーザ素子101bのレーザ光によるフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号は、4分割センサ108f〜108hの出力信号から生成される。なお、フォーカスエラー信号は差動非点収差法にて生成され、トラッキングエラー信号生成は差動プッシュプル法にて生成される。
A focus error signal and a tracking error signal due to the laser beam of the
図3は、光ディスク装置の要部構成を示す図である。図示の如く、光ディスク装置は、光ピックアップ装置20と、レーザ駆動回路200と、信号演算回路201と、再生回路202と、サーボ回路203と、メモリ205を備えている。
FIG. 3 is a diagram showing a main configuration of the optical disc apparatus. As illustrated, the optical disc apparatus includes an
光ピックアップ装置20は、図1に示す構成のうち、レーザ駆動回路200を除く光学系を備えている。アクチュエータ111は、光ピックアップ装置20内において、対物レンズ(図示せず)をフォーカス方向およびトラッキング方向に変位させる。これにより、レーザ光が照射目標に対して適切に収束され位置決めされる。
The
レーザ駆動回路200は、コントローラ204からの再生指令入力を受けて、半導体レーザ101を駆動する。すなわち、半導体レーザ101内のレーザ素子101a、101bのうち何れか一方を選択し、フロントモニタ104の出力を参照しながら、所定パワーにてレーザ光を出射するよう、選択したレーザ素子を駆動する。なお、レーザ素子の出射パワーの調整処理およびレーザ素子の選択処理については、図4および図5を用いて後述する。
The
なお、メモリ205は、レーザ駆動回路200の駆動に必要な情報を記憶する不揮発性メモリである。具体的な記憶情報については図4以降で説明する。
The
信号演算回路201は、光ピックアップ装置20内に配された光検出器108の出力信号を演算処理して、再生信号、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号を生成し、これらをそれぞれ対応する回路に出力する。
The signal
再生回路202は、信号演算回路201から入力された再生信号を復調・再生して再生データを生成し、これを後段回路(図示せず)に出力する。
The
サーボ回路203は、信号演算回路201から入力されたフォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号をもとにフォーカスサーボ信号およびトラッキングサーボ信号を生成し、これらをアクチュエータ111に供給する。また、サーボ回路203は、信号演算回路201から入力される再生信号をモニタし、かかる再生信号が最良となるようにコリメータレンズ106を制御する。さらに、サーボ回路203は、コントローラ204からの指令に応じて、光ディスク10のスピンドルモータの回転制御を行う。
The
図4は、レーザ駆動回路200の動作を示す図である。同図(a)は、レーザ駆動回路200が、レーザ素子101aあるいは101bの出射パワーの調整(以下、APCという)を行い、且つ、使用したレーザ素子が寿命に達しているか否かの判定を行うことを表したフローチャートである。
FIG. 4 is a diagram illustrating the operation of the
S101では、目標フロントモニタ出力Itおよび閾値Ishを、内蔵メモリから読み出す。内蔵メモリには、同図(b)に示すように、ItおよびIshの値が格納されている。目標フロントモニタ出力Itは、使用するレーザ素子がディスク情報の読み出しに最適なレーザ光量を出射したときの、フロントモニタ104における受光量の出力である。閾値Ishについては、同フローチャートのS105にて説明する。
In S101, the target front monitor output It and the threshold value Ish are read from the built-in memory. The built-in memory stores values of It and Ish as shown in FIG. The target front monitor output It is an amount of light received by the
なお、ItおよびIshは固有値であるため、記憶場所として内蔵メモリとしたが、後述する寿命判定メモリと同様、メモリ205内に記憶させておくことも可能である。
Since It and Ish are eigenvalues, the built-in memory is used as a storage location. However, it can be stored in the
S102では、フロントモニタ104の出力がItとなるよう、使用するレーザ素子においてAPCを実行する。
In S102, APC is executed in the laser element to be used so that the output of the
S103では、かかるAPCが安定したかどうかを判断する。APCが安定していなければ(S103:NO)、安定するまで待ってS104に進む。なお、APCが安定したかの判断は、たとえば、APC実行開始から所定期間(安定するに十分な期間)が経過したかによって行う。 In S103, it is determined whether or not the APC is stable. If the APC is not stable (S103: NO), the process proceeds to S104 after waiting until it is stabilized. Whether APC has stabilized is determined, for example, based on whether a predetermined period (a period sufficient to stabilize) has elapsed since the start of APC execution.
S104では、かかるAPCが完了した時点において、使用しているレーザ素子の駆動電流値Idを得る。 In S104, when the APC is completed, the drive current value Id of the laser element being used is obtained.
S105では、IdとIshを大小比較し、Idが大きければ使用しているレーザ素子が寿命に達したと判断しS106に進み、IdがIsh以下であれば使用しているレーザ素子が寿命に達していないと判断して終了する。 In S105, Id and Ish are compared in size. If Id is large, it is determined that the laser element being used has reached the end of life, and the process proceeds to S106. If Id is equal to or less than Ish, the laser element being used has reached the end of its life. It judges that it is not, and ends.
閾値Ishは、使用するレーザ素子が寿命に達しているかどうかを判断するために用いる電流値である。すなわち、フロントモニタ104の出力としてItを得るために、レーザ素子に過度に大きい駆動電流が要求される場合、レーザ素子の劣化が進み、寿命に達していると判断できる。閾値Ishは、レーザ素子の駆動電流が過度に大きいか否かを判断するために用いる電流値である。
The threshold value Ish is a current value used to determine whether the laser element to be used has reached the end of its life. That is, in order to obtain It as the output of the
同図(d)は、レーザ素子の総駆動時間と、目標フロントモニタ出力Itを実現するために必要な駆動電流値Idとの関係をグラフに表したものである。駆動電流値Idは、図示のごとく、レーザ素子の総駆動時間に応じて上昇する。すなわち、レーザ素子の総駆動時間が長くなると、レーザ素子の劣化が進み、必要な駆動電流値が上昇する。駆動電流値Idが閾値Ishを超えたところで、レーザ素子が寿命に達していると判断できる。 FIG. 4D is a graph showing the relationship between the total drive time of the laser element and the drive current value Id necessary for realizing the target front monitor output It. As shown in the figure, the drive current value Id increases according to the total drive time of the laser element. That is, when the total drive time of the laser element becomes longer, the deterioration of the laser element proceeds and the required drive current value increases. When the drive current value Id exceeds the threshold value Ish, it can be determined that the laser element has reached the end of its life.
S106では、使用しているレーザ素子が寿命に達していることを寿命判定メモリに書き込む。寿命判定メモリはメモリ205内にあり、書き込まれる内容は同図(c)に示すように、0あるいは1を用いたフラグである。すなわち、レーザ素子101a、101bにおいて、寿命に達していない場合は“0”を、寿命に達している場合は“1”を格納することで寿命に達しているか否かを記憶している。
In S106, the fact that the laser element being used has reached the end of its life is written in the life determination memory. The life determination memory is in the
なお、一般にレーザ素子は発熱量によって電流値が変化することが知られている。すなわち、レーザ素子101a、101b、アクチュエータ111等が発熱することによって使用するレーザ素子の電流も変化するため、レーザ素子の総駆動時間が同等であっても、目標フロントモニタ出力Itを得るための駆動電流値Idに違いが生じ、結果、上記寿命判定に誤差が生じる。
In general, it is known that the current value of a laser element varies depending on the amount of heat generated. That is, since the current of the laser element to be used is also changed by the heat generation of the
かかる誤差を低減させるため、温度センサをハウジング(筐体)内の適切に温度検出ができる場所に配置し、計測した温度によるレーザ素子の電流の変動分を補正する演算を施した後、上記寿命判定を行えば、より正確な寿命判定を実現できる。温度センサの配置場所として、例えば、半導体レーザ101とアクチュエータ111の周辺が挙げられる。
In order to reduce such errors, a temperature sensor is placed in a location where the temperature can be detected appropriately in the housing (housing), and after performing the calculation to correct the fluctuation of the current of the laser element due to the measured temperature, the above-mentioned lifetime If the determination is made, a more accurate life determination can be realized. Examples of the location of the temperature sensor include the periphery of the
次に、レーザ駆動回路200におけるレーザ素子101a、101bの切り替え方法について説明する。
Next, a method for switching the
図5は、レーザ素子101a、101bのうち、寿命が尽きるまで常に一方のみを使用する場合について示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a case where only one of the
S201では、メモリ205にある寿命判定メモリを参照し、レーザ素子101aが寿命に達しているかを調べる。レーザ素子101aが寿命に達していれば、レーザ素子101aを使用せずに、S204へ進む。レーザ素子101aが寿命に達していなければ、S202へ進む。
In S201, the life determination memory in the
S202では、レーザ素子101aを使用し、図4(a)に示したAPC実行および寿命判定を行う。
In S202, the
S203では、前ステップS202のAPC実行および寿命判定によってレーザ素子101aが寿命に達していると判定されていれば、レーザ素子101aを使用することを中止しS204へ進む。寿命に達していないと判定されていれば、S202に戻ってレーザ素子101aの使用を続ける。
In S203, if it is determined that the
S204〜S206では、レーザ素子101bについて、S201〜S203と同様の動作を行う。すなわち、S204において、レーザ素子101bが寿命に達しているかを調べ、寿命に達していなければ(S204:NO)、レーザ素子101bを使用して、図4(a)に示したAPC実行および寿命判定を行う(S205)。
In S204 to S206, the
レーザ素子101bは、S206において寿命に達したと判断されるまで使用され続ける。S206において、レーザ素子101bが寿命に達したと判断されれば、終了となる。すなわち、レーザ素子101aおよび101bの両方が寿命に達し、光ピックアップ全体としてレーザ素子の継続使用が不可能な状態となる。
The
以上、本実施例によれば、2個のレーザ素子101a、101bを使用して上記のような切り替えを行ったため、1つのレーザ素子を有する半導体レーザ101を使用する場合の略2倍のレーザ素子の寿命が得られる。したがって、レーザ素子の寿命が尽きることによる光ディスク装置の寿命の低下を抑制することができ、結果、光ディスク装置の信頼性を高めることができる。
As described above, according to the present embodiment, since the above-described switching is performed using the two
また、レーザ素子の設置は半導体レーザ101内であるため、光ピックアップ装置として部品点数が増えることなく高信頼性を実現でき、コスト増も微小におさえることができる。しかも、光ピックアップ装置全体としてレーザ素子の寿命が長くなることにより、故障による部品交換頻度が減少するため、環境に配慮した製品となる。
Further, since the laser element is installed in the
<変更例1>
以下に、実施例におけるレーザ素子101a、101bの切り替え方法を、図5に示した方法から種々変更した場合について説明する。
<
Below, the case where the switching method of the
図6は、起動毎に使用するレーザ素子を切り替える場合について示す図である。 FIG. 6 is a diagram showing a case where the laser element to be used is switched every time it is started.
S301では、メモリ205を参照し、前回の起動時に、どちらのレーザ素子を使用したかの情報を得る。メモリ205には、同図(b)に示す如く、前述の寿命判定メモリに加えて、前回使用したレーザ素子に関する情報が格納されている。書き込まれている内容は同図(b)に示すように、0あるいは1を用いたフラグである。すなわち、前回使用したレーザ素子には“1”を、前回使用していないレーザ素子には“0”を格納することで、前回使用したレーザ素子がどちらであったかが記憶されている。
In S301, the
S302では、前回使用したレーザ素子が、レーザ素子101aであれば、S306に進み、レーザ素子101aでなければS303に進む。
In S302, if the laser element used last time is the
S303では、寿命判定メモリを参照し、レーザ素子101aが寿命に達しているかを得る。寿命に達していればS306に進み、寿命に達していなければS304に進む。
In S303, the lifetime determination memory is referred to and it is determined whether the
S304では、レーザ素子101aを使用して、図4(a)に示したように、APC実行および寿命判定を行う。
In S304, using the
S305では、前ステップS304のAPC実行および寿命判定によってレーザ素子101aが寿命に達していると判定されていれば、レーザ素子101aを使用することを中止しS306へ進む。寿命に達していないと判定されていれば、S304に戻ってレーザ素子101aの使用を続ける。
In S305, if it is determined that the
S306〜S308では、レーザ素子101bについて、S303〜S305と同様の動作を行う。すなわち、まず、S306において、レーザ素子101bが寿命に達しているかを調べる。
In S306 to S308, the
S306において、レーザ素子101bが寿命に達していると判断された場合(S306:YES)は、S309に進み、寿命に達していないと判断された場合(S306:NO)は、S307に進んで図4(a)に示したAPC実行および寿命判定を行う。また、S308において、レーザ素子101bが寿命に達していると判断された場合は、S303に戻る。
If it is determined in S306 that the
S309では、寿命判定メモリを参照し、レーザ素子101aが寿命に達しているかを得る。レーザ素子101aが寿命に達していなければ、S303に戻り、寿命に達していれば終了となる。
In step S309, the lifetime determination memory is referred to and it is determined whether the
なお、光ピックアップ装置の動作終了時に、今回使用したレーザ素子に関する情報をメモリ205に書き込む。すなわち、終了時に使用していたレーザ素子に対応するフラグに“1”を書き込み、前回使用していたレーザ素子に対応するフラグに“0”を書き込む。
At the end of the operation of the optical pickup device, information on the laser element used this time is written in the
S309に進んだ時点でレーザ素子101bは寿命と判断されている(S306:YES)ため、S309でレーザ素子101aが寿命と判断されれば(S309:YES)、レーザ素子101aおよび101bの両方が寿命に達していることとなり、光ピックアップ全体としてレーザ素子の継続使用が不可能な状態となる。
Since the
図6の変更例によれば、2個のレーザ素子101a、101bを使用して上記のような切り替えを行ったため、上記実施例と同様、1つのレーザ素子を有する半導体レーザ101を使用する場合の略2倍のレーザ素子の寿命が得られる。したがって、レーザ素子の寿命が尽きることによる光ディスク装置の寿命の低下を抑制することができ、結果、光ディスク装置の信頼性を高めることができる。
According to the modified example of FIG. 6, since switching is performed as described above using two
図7は、一定時間毎に、使用するレーザ素子を切り替える場合について示す図である。基本動作は図6の切り替え処理と同じである。図7の処理フローでは、図6に比べて、S321、S322、S323、S324のステップが追加されている。以下では、これら追加されたステップに関する説明を行い、他のステップについては説明を省略する。 FIG. 7 is a diagram showing a case where the laser element to be used is switched at regular time intervals. The basic operation is the same as the switching process of FIG. In the processing flow of FIG. 7, steps S321, S322, S323, and S324 are added compared to FIG. In the following description, these added steps will be described, and description of the other steps will be omitted.
同図(a)のS321およびS323は、タイマーを起動してレーザ素子101aおよび101bの使用時間を計測する。すなわち、レーザ素子の使用開始時にタイマーの計測時間TをT=0にリセットして計時を開始する。
In S321 and S323 in FIG. 5A, a timer is started to measure the usage time of the
S322およびS324において、計測時間Tが一定時間T0を超えれば、使用しているレーザ素子の使用を中止し、次のステップへ進むようにする。すなわち、S322において、計測時間Tが一定時間T0を超えたと判断されると(S322:YES)、S306に進んで、使用レーザ素子をレーザ素子101bに切り替える処理を行い、また、S324において、計測時間Tが一定時間T0を超えたと判断されると(S324:YES)、S303に進んで、使用レーザ素子をレーザ素子101aに切り替える処理を行う。
In S322 and S324, if the measurement time T exceeds the predetermined time T0, the use of the laser element being used is stopped and the process proceeds to the next step. That is, in S322, when it is determined that the measurement time T has exceeded the predetermined time T0 (S322: YES), the process proceeds to S306 to perform a process of switching the laser element to be used to the
なお、図6と同様、光ピックアップ装置の動作終了時に、今回使用したレーザ素子に関する情報をメモリ205に書き込む。すなわち、終了時に使用していたレーザ素子に対応するフラグに“1”を書き込み、前回使用していたレーザ素子に対応するフラグに“0”を書き込む。
As in FIG. 6, at the end of the operation of the optical pickup device, information on the laser element used this time is written in the
以上の動作により、上記実施例と同様、1つのレーザ素子を使用する場合の略2倍のレーザ素子の寿命が得られるため、光ピックアップおよび光ディスク装置の信頼性を高めることができる。 With the above operation, as in the above-described embodiment, the life of the laser element approximately twice that when using one laser element can be obtained, so that the reliability of the optical pickup and the optical disk apparatus can be improved.
図8は、起動時には必ず一方のレーザ素子から使用を始め、使用中は一定時間毎に、使用するレーザ素子を切り替える場合について示す図である。基本動作は図7の切り替えフローと同じであるが、図8の処理フローでは、使用開始時に前回使用したレーザ素子を調べる必要がないため、図7の処理フロー中のS301とS302が省略されている。 FIG. 8 is a diagram showing a case where the laser element is always started from one laser element at the time of start-up, and the laser element to be used is switched at regular intervals during use. Although the basic operation is the same as the switching flow of FIG. 7, in the processing flow of FIG. 8, it is not necessary to check the laser element used last time when starting use, so S301 and S302 in the processing flow of FIG. 7 are omitted. Yes.
なお、図7の処理フローと異なり、起動時には必ず一方のレーザ素子から使用を始めるため、光ピックアップ装置の動作終了時に使用していたレーザ素子を書き込む必要はない。 Unlike the processing flow of FIG. 7, since use is always started from one laser element at the time of startup, it is not necessary to write the laser element used at the end of the operation of the optical pickup device.
この場合においても、上記実施例と同様、1つのレーザ素子を使用する場合の略2倍のレーザ素子の寿命が得られるため、光ピックアップおよび光ディスク装置の信頼性を高めることができる。 Also in this case, as in the above-described embodiment, the life of the laser element is approximately twice that of the case where one laser element is used, so that the reliability of the optical pickup and the optical disk apparatus can be improved.
<変更例2>
以下に、上記実施例における光学系の変更例を説明する。上記実施例においては、レーザ素子101a、101bから出射されたレーザ光は、光ディスク10によって反射された後、それぞれ光検出部108a、108bにて受光するようにした。これに対し、本変更例では、一つの光検出部によって受光するようにしている。
<Modification 2>
Below, the example of a change of the optical system in the said Example is demonstrated. In the above embodiment, the laser beams emitted from the
図9(a)は、非点収差板107と光検出器108の間に、ステップ型回折格子112を設置した図である。また、同図(b)は、ステップ型回折格子112を拡大した図である。なお、光検出器108には、上記2つの光検出部108a、108bのうち、光検出部108aのみが配されている。
FIG. 9A is a diagram in which a step
同図(a)において、非点収差板107側から入射されたレーザ素子101a、101bのレーザ光は、ステップ型回折格子112の回折作用により、光検出部108aに入射するよう光学系が設定されている。すなわち、レーザ素子101bのレーザ光の+1次光が、光検出部108aに入射するよう、同図(b)に示す格子パターンの間隔Wが適切に設定されている。レーザ素子101aのレーザ光は、ステップ型回折格子112により回折を受けない0次光が光検出部108aに入射する。
In FIG. 6A, the optical system is set so that the laser beams of the
光検出部108aに入射するレーザ素子101bの0次光および+1次光の光量は、ステップ型回折格子112に入射する前のレーザ素子101bのレーザ光量からは減少するが、格子パターンのステップ高さHにより調整できる。格子パターンのステップ高さHを調整して、レーザ素子101bの+1次光の光量を高めると、レーザ素子101aの0次光の光量が減少する。ステップ型回折格子112の高さHは、レーザ素子101bの+1次光の光量とレーザ素子101aの0次光の光量が略等しくなるよう調整される。
The light amounts of the 0th-order light and the + 1st-order light of the
同図(c)は、ステップ型回折格子112の替わりに、ブレーズ型回折格子113を設置した場合の構成例を示す図である。
FIG. 7C is a diagram showing a configuration example when a blazed
ブレーズ型回折格子113を用いた場合も同様に、適切に光学系が設定されれば、光検出部108aだけで、レーザ素子101a、101bのレーザ光を受光することができる。
Similarly, when the blazed
なお、ブレーズ型回折格子113を用いる場合には、−1次光を発生させないことができるため、ステップ型回折格子112を用いる場合に比べ、0次光と+1次光の光量を高めることができる。よって、レーザ素子101aからのレーザ光と、レーザ素子101bからのレーザ光を、より効率良く、光検出部108aに導くことができる。なお、この場合も、ブレーズ型回折格子113の高さHは、レーザ素子101bの+1次光の光量とレーザ素子101aの0次光の光量が略等しくなるよう調整される。
When the blazed
図10は、ステップ型回折格子112の配置方法の変更例を示す図である。なお、この変更例は、上記図5の処理フローを用いる場合、すなわち、寿命が尽きるまでレーザ素子101aを使用し続ける場合に適用され得るものである。
FIG. 10 is a diagram illustrating a modified example of the arrangement method of the step
上記図5の処理フローにおいて、レーザ素子101aからレーザ素子101bへの切り替えは、レーザ素子101aが寿命に達した後に行われる。このとき、レーザ素子101aが寿命に達するまでの間に、接着材の劣化等から、光検出部108aに位置ずれが生じる場合がある。かかる位置ずれの傾向については、加速試験等の結果を用いて判断され得る。
In the processing flow of FIG. 5, the switching from the
図10の場合、光検出部108aは、レーザ素子101aが寿命に達するまでの間に、Y軸方向にΔd1だけずれている。このため、上記図9(a)の場合のように、レーザ素子101bの+1次光が光検出部108aに適正に入射するようにステップ型回折格子112を設置すると、使用するレーザ素子がレーザ素子101aからレーザ素子101bに切り替わる時点で、レーザ素子101bの+1次光が光検出部108aに適正に入射しなくなってしまう。さらに、その後、レーザ素子101bの使用が続くと、レーザ素子101bが寿命に達するまでの間に、光検出部108aにさらなる位置ずれが生じ、光検出部108aに対するレーザ素子101bからのレーザ光(+1次光)の位置ずれが益々大きくなる。
In the case of FIG. 10, the
本変更例では、かかる光検出部108aの位置ずれに対応できるよう、Δd1だけ光検出部108aが変位した状態にあるときに、レーザ素子101bからのレーザ光(+1次光)が光検出部108aに適正に入射するよう、あらかじめ、回折格子112をX軸方向にΔd2だけずらして設置する。こうすると、使用するレーザ素子がレーザ素子101aからレーザ素子101bに切り替わる時点において、レーザ素子101bからのレーザ光(+1次光)を適切に光検出部108aに入射させることができるようになる。
In this modified example, the laser light (+ 1st order light) from the
また、ブレーズ型回折格子113を用いた場合(図示せず)についても、かかる光検出部108aの位置ずれに対応できるよう、あらかじめ回折格子113をずらして設置すれば、同様の効果が奏される。
Further, when the blazed
以上、ステップ型回折格子112およびブレーズ型回折格子113を用いれば、実施例に述べた効果を実現しながら、一つの光検出部にてレーザ光を受光することができ、光検出器の構成を簡素にすることができる。さらに、図10を参照して説明したようにステップ型回折格子112およびブレーズ型回折格子113を配置すれば、光検出部の位置ずれによって、適切にレーザ光を受光できなくなることを防ぐことができる。
As described above, when the step
以上、本発明の実施例および変更例について説明したが、本発明は上記実施例および変更例に何ら制限されるものではなく、また、本発明の実施例も上記以外に種々の変更が可能である。 As mentioned above, although the Example and modification of this invention were demonstrated, this invention is not restrict | limited at all to the said Example and modification, Moreover, a various change besides the above is also possible for the Example of this invention. is there.
たとえば、上記では、同一CAN内に2つのレーザ素子を配する例を示したが、3つ以上のレーザ素子を同一CAN内に配置するようにしても良い。たとえば、3つのレーザ素子を配置する場合には、各レーザ素子に対応して、光検出器108にも3つの光検出部が配される。あるいは、3つのレーザ素子からのレーザ光を、図9または図10の場合と同様、ステップ型回折格子またはブレーズ型回折格子を用いて、共通の光検出部にて受光するようにしても良い。この場合、3つのレーザ光を一つの光検出部で受光する他、3つのレーザ光のうち2つを一つの光検出部で受光し、残り一つを他の光検出部で受光するようにしても良い。
For example, in the above description, two laser elements are arranged in the same CAN. However, three or more laser elements may be arranged in the same CAN. For example, when three laser elements are arranged, three photodetectors are also arranged in the
また、図10において、光検出部の位置ずれに対応するよう、あらかじめ回折格子をずらして設置したが、上記実施例のように、レーザ光をそれぞれの光検出部で受光する場合についても、光検出部の位置ずれに対応することができる。すなわち、後で使用されるレーザ光の使用開始時点において、レーザ光を受光する光検出部の中心にレーザ光の光軸が重なるよう光検出部をあらかじめ配置しておけば良い。 In FIG. 10, the diffraction gratings are shifted in advance so as to correspond to the positional deviation of the light detection unit. However, as in the above-described embodiment, the laser light is received by each of the light detection units. It is possible to deal with the positional deviation of the detection unit. That is, at the start of use of laser light that will be used later, the light detector may be arranged in advance so that the optical axis of the laser light overlaps the center of the light detector that receives the laser light.
また、上記では、寿命判定において一回でもレーザ素子が寿命に達していると判定されれば、以降のステップでは常に寿命に達していると判断されたが、一定回数、寿命に達していると判断されるまで、寿命判定をリトライしても良い。たとえば、図4(a)において、使用中のレーザ素子がS106のステップに到達した総回数をカウントし、カウント数が一定値に達した場合のみ、寿命判定メモリに使用中のレーザ素子が寿命に達していることを書き込むようにしても良い。 Further, in the above, if it is determined that the laser element has reached the lifetime even once in the lifetime determination, it is determined that the lifetime is always reached in the subsequent steps, but the lifetime has been reached a certain number of times. The life determination may be retried until it is determined. For example, in FIG. 4A, the total number of times that the laser element being used has reached the step of S106 is counted, and the laser element being used in the lifetime determination memory reaches the lifetime only when the count reaches a certain value. You may make it write what has been reached.
あるいは、使用中のレーザ素子が寿命に達していると初めて判定された後から、一定期間、寿命判定をリトライしても良い。たとえば、図4(a)において、使用中のレーザ素子がS106のステップに初回到達した時点から一定期間内は、S106のステップに到達しても、寿命判定メモリに使用中のレーザ素子が寿命であることを書き込まないようにしても良い。 Alternatively, the life determination may be retried for a certain period after it is determined for the first time that the laser element being used has reached the end of its life. For example, in FIG. 4A, even if the laser element being used reaches the step of S106 for the first time, the laser element being used in the lifetime determination memory has a lifetime within a certain period even if it reaches the step of S106. You may not write something.
また、上記では、非点収差板107を用いてレーザ光に導入される非点収差作用を調整するようにしたが、非点収差板107を省略して、ハーフミラー103による非点収差作用のみによってレーザ光に非点収差を導入するようにしても良い。この場合、非点収差の発生方向に応じて、光検出器108上における光検出部108a、108bの配置を調整する必要がある。
In the above description, the astigmatism action introduced into the laser beam is adjusted using the
さらに、上記では、フロントモニタ104にて検出された光量に基づいてAPCを行うようにしたが、半導体レーザ101内に配されたモニタ用PDにて検出された光量に基づいてAPCを行うようにしても良い。この場合、モニタ用PDは、レーザ素子101a、101bに対応して個別に配されていても良く、あるいは、レーザ素子101a、101bから後方に出射されるレーザ光を共通のモニタ用PDで受光するようにしても良い。さらに、光検出部108a、108bにて受光された光量に基づいてAPCを行うようにしても良い。たとえば、レーザ素子101aについてAPCを行う場合には、光検出部108aを構成する3つの4分割センサ108c〜108eからの出力を加算した信号をもとにAPCを行う。
Further, in the above description, APC is performed based on the light amount detected by the
この他、本発明の実施の形態は、特許請求の範囲に示された技術的思想の範囲内において、適宜、種々の変更が可能である。 In addition, the embodiment of the present invention can be variously modified as appropriate within the scope of the technical idea shown in the claims.
200 … レーザ駆動回路(駆動部、切替部、寿命判定部、調整部、使用時間判定部、使用履歴判定部)
101 … 半導体レーザ(レーザ光源)
101a… レーザ素子
101b… レーザ素子
108 … 光検出器
108a… 光検出部
108b… 光検出部
10 … 光ディスク
20 … 光ピックアップ装置
112 … ステップ型回折格子(光路変更素子)
113 … ブレーズ型回折格子(光路変更素子)
200: Laser drive circuit (drive unit, switching unit, life determination unit, adjustment unit, usage time determination unit, usage history determination unit)
101 ... Semiconductor laser (laser light source)
DESCRIPTION OF
113… Blaze type diffraction grating (optical path changing element)
Claims (7)
前記光ピックアップ装置は;
同じ波長帯のレーザ光を出射する複数のレーザ素子を有するレーザ光源と、
前記各レーザ素子から出射されたレーザ光をディスク上に収束させる対物レンズと、
前記各レーザ素子から出射された前記レーザ光のうち対応するレーザ光を受光する光検出部を有する光検出器と、
前記各レーザ素子から出射された前記レーザ光を前記対物レンズに導くとともに前記ディスクによって反射された前記レーザ光を前記光検出器に導く光学系とを備え、
前記回路系は;
前記各レーザ素子を駆動する駆動部と、
駆動対象の前記レーザ素子を切り替える切替部とを備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。 In an optical disc apparatus having an optical pickup device and a circuit system for controlling the optical pickup device,
The optical pickup device;
A laser light source having a plurality of laser elements emitting laser light of the same wavelength band;
An objective lens for converging the laser beam emitted from each of the laser elements on the disk;
A photodetector having a photodetection unit that receives a corresponding laser beam among the laser beams emitted from the laser elements;
An optical system that guides the laser light emitted from each laser element to the objective lens and guides the laser light reflected by the disk to the photodetector;
The circuit system is:
A drive unit for driving each of the laser elements;
A switching unit that switches the laser element to be driven,
An optical disc device characterized by the above.
前記光ピックアップ装置は、前記複数のレーザ素子から出射されたレーザ光を各々個別に受光する複数の光検出部を備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
The optical pickup device includes a plurality of light detection units that individually receive the laser beams emitted from the plurality of laser elements,
An optical disc device characterized by the above.
前記光ピックアップ装置は、
前記複数のレーザ素子のうち第1のレーザ素子から出射されたレーザ光を受光する光検出部に第2のレーザ素子から出射されるレーザ光を入射させる光路変更素子を備える、
ことを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to claim 1,
The optical pickup device is:
An optical path changing element that causes the laser beam emitted from the second laser element to be incident on a light detection unit that receives the laser beam emitted from the first laser element among the plurality of laser elements;
An optical disc device characterized by the above.
前記回路系は、前記レーザ素子の寿命判定を行う寿命判定部を備え、
前記切替部は、前記寿命判定部による判定結果に基づいて駆動対象の前記レーザ素子を設定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The circuit system includes a lifetime determination unit that determines the lifetime of the laser element,
The switching unit sets the laser element to be driven based on a determination result by the life determination unit.
An optical disc device characterized by the above.
前記回路系は、駆動対象の前記レーザ素子から出射された前記レーザ光の光量に基づいて当該駆動対象のレーザ素子の駆動電流値を調整する調整部を備え、
前記寿命判定部は、前記調整部によって調整された前記駆動対象のレーザ素子の前記駆動電流値に基づいて当該駆動対象のレーザ素子の寿命を判定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。 The optical disk apparatus according to claim 4, wherein
The circuit system includes an adjustment unit that adjusts a drive current value of the laser element to be driven based on a light amount of the laser light emitted from the laser element to be driven,
The lifetime determination unit determines the lifetime of the laser element to be driven based on the drive current value of the laser element to be driven adjusted by the adjustment unit.
An optical disc device characterized by the above.
前記回路系は、駆動対象の前記レーザ素子の使用時間判定を行う使用時間判定部を備え、
前記切替部は、前記使用時間判定部による判定結果に基づいて駆動対象の前記レーザ素子を設定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。 In the optical disc device according to any one of claims 1 to 5,
The circuit system includes a usage time determination unit that determines a usage time of the laser element to be driven,
The switching unit sets the laser element to be driven based on a determination result by the usage time determination unit.
An optical disc device characterized by the above.
前記回路系は、複数の前記レーザ素子のうち何れが前回使用されたかを判定する使用履歴判定部を備え、
前記切替部は、前記使用履歴判定部による判定結果に基づいて駆動対象の前記レーザ素子を設定する、
ことを特徴とする光ディスク装置。 The optical disc apparatus according to any one of claims 1 to 6,
The circuit system includes a usage history determination unit that determines which of the plurality of laser elements was used last time,
The switching unit sets the laser element to be driven based on a determination result by the use history determination unit.
An optical disc device characterized by the above.
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2008
- 2008-09-01 JP JP2008224005A patent/JP2010061714A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
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| JP2013077367A (en) * | 2011-09-30 | 2013-04-25 | Sharp Corp | Information recorder, method for controlling information recorder, computer, and video recorder |
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Legal Events
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110829 |
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