JP2008167854A - 放射線撮像装置 - Google Patents

Abstract

【課題】被曝線量を低減させることができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。
【解決手段】ＦＰＤは、高電圧値に応じたＸ線と低電圧値に応じたＸ線とを一回の撮像で検出して、高電圧値に応じたＸ線検出信号および低電圧値に応じたＸ線検出信号を出力する。高低圧画像取得部９ａは、検出された高電圧値に応じたＸ線検出信号に基づいて高圧画像を取得し、検出された低電圧値に応じたＸ線検出信号に基づいて低圧画像を取得する。階調変換部９ｂは、高圧画像に対して階調変換を行い、サブトラクション処理部９ｃは、高圧画像および低圧画像に基づいてサブトラクション処理を行う。階調変換部９ｂで処理された高圧画像をＸ線画像とするとともに、サブトラクション処理部９ｃで処理された画像をサブトラクション画像とすることで、一回の撮像でＸ線画像およびサブトラクション画像を出力する。その結果、被曝線量を低減させることができる。
【選択図】図５

Description

この発明は、医用画像機器などに用いられる放射線撮像装置に関する。

エネルギーサブトラクションでは、２回撮像法を採用している（例えば、特許文献１参照）。２回撮像法とは、高圧画像および低圧画像を取得するのにそれぞれ１回ずつ、合計２回曝射する手法である。２回撮像法では、高圧画像および低圧画像を１回の曝射で取得する１回撮像法と比較して高圧・低圧画像のエネルギー分離がよいという利点がある。
特開２００４−２６１４８９号公報（第１−４頁、図１，２）

その一方で、２回曝射法では被曝線量が多くなるという問題がある。また、エネルギーサブトラクション撮影が、エネルギーサブトラクション以外の通常の放射線撮影とは別の検査で行われるのであれば、検査時間が延長する、被検体の被曝線量が増加するという問題が生じる。

この発明は、このような事情に鑑みてなされたものであって、被曝線量を低減させることができる放射線撮像装置を提供することを目的とする。

この発明は、このような目的を達成するために、次のような構成をとる。
すなわち、請求項１に記載の発明は、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、前記被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、前記放射線照射手段が高電圧値に応じた放射線とそれよりも低い低電圧値に応じた放射線とを一回の撮像で照射するように構成するとともに、前記放射線検出手段が前記高電圧値に応じた放射線と前記低電圧値に応じた放射線とを一回の撮像で検出して、高電圧値に応じた放射線検出信号および低電圧値に応じた放射線検出信号を出力するように構成し、前記装置は、検出された高電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて高圧画像を取得する高圧画像取得手段と、検出された低電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて低圧画像を取得する低圧画像取得手段と、前記高圧画像取得手段で取得された高圧画像に対して画像処理を行う画像処理手段と、高圧画像取得手段で取得された高圧画像および前記低圧画像取得手段で取得された低圧画像に基づいてサブトラクション処理を行うサブトラクション処理手段とを備え、前記画像処理手段で処理された高圧画像を前記放射線画像とするとともに、前記サブトラクション処理手段で処理された画像をサブトラクション画像とすることで、一回の撮像で放射線画像およびサブトラクション画像を出力することを特徴とするものである。

［作用・効果］請求項1に記載の発明によれば、放射線照射手段は、高電圧値に応じた放射線とそれよりも低い低電圧値に応じた放射線とを一回の撮像で照射し、放射線検出手段は、上述した高電圧値に応じた放射線と低電圧値に応じた放射線とを一回の撮像で検出して、高電圧値に応じた放射線検出信号および低電圧値に応じた放射線検出信号を出力する。高圧画像取得手段は、検出された高電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて高圧画像を取得するとともに、低圧画像取得手段は、検出された低電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて低圧画像を取得する。ここで、画像処理手段は、上述した高圧画像取得手段で取得された高圧画像に対して画像処理を行い、一方で、サブトラクション処理手段は、同じく高圧画像取得手段で取得された高圧画像および上述した低圧画像取得手段で取得された低圧画像に基づいてサブトラクション処理を行う。画像処理手段で処理された高圧画像を放射線画像とするとともに、サブトラクション処理手段で処理された画像をサブトラクション画像とすることで、一回の撮像で放射線画像およびサブトラクション画像を出力する。これによって、サブトラクション以外の通常の放射線撮影とサブトラクションに関する撮影とを一回の検査、すなわち一回の撮像で行うことができ、高電圧値に応じた放射線検出信号が通常の放射線撮影およびサブトラクションに関する撮影のためのデータを兼用することができるので、被曝線量を低減させることができる。

上述した発明において、放射線検出手段で検出された放射線検出信号を増幅する信号増幅手段を備え、低電圧値に応じた放射線を照射する際に放射線照射手段から照射される放射線の蓄積線量を減らして、低圧画像取得手段で低圧画像を取得するための低電圧値に応じた放射線検出信号を信号増幅手段によって増幅するのが好ましい（請求項２に記載の発明）。すなわち、低圧画像取得手段で低圧画像を取得するための低電圧値に応じた放射線検出信号を信号増幅手段によって増幅することで、低電圧値に応じた放射線を照射する際に放射線照射手段から照射される放射線の蓄積線量を減らすことが可能になる。したがって、被検体の被曝線量を低減させることができる。このとき、高圧画像の方では放射線の蓄積線量を減らないので、放射線画像の画質を保つことができる。なお、放射線照射手段の電流値と照射時間との積に蓄積線量は比例するので、蓄積線量を減らすには、放射線照射手段に電流値を小さくしてもよいし、照射時間を短くしてもよい。

この発明に係る放射線撮像装置によれば、画像処理手段で処理された高圧画像を放射線画像とするとともに、サブトラクション処理手段で処理された画像をサブトラクション画像とすることで、一回の撮像で放射線画像およびサブトラクション画像を出力する。その結果、被曝線量を低減させることができる。

以下、図面を参照してこの発明の実施例を説明する。
図１は、実施例に係るＸ線撮像装置のブロック図である。本実施例では放射線検出手段としてフラットパネル型Ｘ線検出器（以下、「ＦＰＤ」と略記する）を例に採るとともに、放射線撮像装置としてＸ線撮像装置を例に採って説明する。

Ｘ線撮像装置は、図１に示すように、被検体Ｍを載置する天板１と、その被検体Ｍに向けてＸ線を照射するＸ線管２と、被検体Ｍを透過したＸ線を検出するＦＰＤ３とを備えている。Ｘ線管２は、この発明における放射線照射手段に相当し、ＦＰＤ３は、この発明における放射線検出手段に相当する。

Ｘ線撮像装置は、他に、天板１の昇降および水平移動を制御する天板制御部４や、ＦＰＤ３の走査を制御するＦＰＤ制御部５や、Ｘ線管２の管電圧や管電流を発生させる高電圧発生部６を有するＸ線管制御部７や、ＦＰＤ３から電荷信号であるＸ線検出信号をディジタル化して取り出すＡ／Ｄ変換器８や、Ａ／Ｄ変換器８から出力されたＸ線検出信号に基づいて種々の処理を行う画像処理部９や、これらの各構成部を統括するコントローラ１０や、処理された画像などを記憶するメモリ部１１や、オペレータが入力設定を行う入力部１２や、処理された画像などを表示するモニタ１３などを備えている。

天板制御部４は、天板１を水平移動させて被検体Ｍを撮像位置にまで収容したり、昇降、回転および水平移動させて被検体Ｍを所望の位置に設定したり、水平移動させながら撮像を行ったり、撮像終了後に水平移動させて撮像位置から退避させる制御などを行う。ＦＰＤ制御部５は、ＦＰＤ３を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御などを行う。高電圧発生部６は、Ｘ線を照射させるための管電圧や管電流を発生してＸ線管２に与え、Ｘ線管制御部７は、Ｘ線管２を水平移動させたり、被検体Ｍの体軸の軸心周りに回転移動させることによる走査に関する制御や、Ｘ線管２側のコリメータ（図示省略）の照視野の設定の制御などを行う。なお、Ｘ線管２やＦＰＤ３の走査の際には、Ｘ線管２から照射されたＸ線をＦＰＤ３が検出できるようにＸ線管２およびＦＰＤ３が互いに対向しながらそれぞれの移動を行う。

コントローラ１０は、中央演算処理装置（ＣＰＵ）などで構成されており、メモリ部１１は、ＲＯＭ（Read-only Memory）やＲＡＭ（Random-Access Memory）などに代表される記憶媒体などで構成されている。また、入力部１２は、マウスやキーボードやジョイスティックやトラックボールやタッチパネルなどに代表されるポインティングデバイスで構成されている。Ｘ線撮像装置では、被検体Ｍを透過したＸ線をＦＰＤ３が検出して、検出されたＸ線に基づいて画像処理部９で画像処理を行うことで被検体Ｍの撮像を行う。

画像処理部９は、後述する高圧画像や低圧画像を取得する高低圧画像取得部９ａと、高圧画像に対して階調変換を行う階調変換部９ｂと、高圧画像および低圧画像に基づいてサブトラクション処理を行うサブトラクション処理部９ｃと、後述するサブトラクション画像に対して種々の画像処理（例えばＲＳＭ処理やスムージング処理）を行うサブトラクション画像用後処理部９ｄとを備えている。高低圧画像取得部９ａは、この発明における高圧画像取得手段および低圧画像取得手段に相当し、階調変換部９ｂは、この発明における画像処理手段に相当し、サブトラクション処理部９ｃは、この発明におけるサブトラクション処理手段に相当する。なお、高低圧画像取得部９ａは、この発明における高圧画像取得手段および低圧画像取得手段を兼用している。高低圧画像取得部９ａや階調変換部９ｂやサブトラクション処理部９ｃやサブトラクション画像用後処理部９ｄの具体的な機能については、図４〜図６で後述する。

メモリ部１１は、画像処理部９で処理された各々の画像を書き込んで記憶するように構成されている。具体的には、メモリ部１１は、高低圧画像取得部９ａでそれぞれ取得された高圧画像や低圧画像を書き込んで記憶する高低圧画像メモリ部１１ａと、階調変換部９ｂで階調変換された階調変換後の高圧画像をＸ線画像として書き込んで記憶する処理済高圧画像メモリ部１１ｂと、サブトラクション処理部９ｃでサブトラクション処理された画像をサブトラクション画像として書き込んで記憶するサブトラクション画像メモリ部１１ｃと、サブトラクション画像用後処理部９ｄで画像処理された画像処理後のサブトラクション画像を記憶する処理済サブトラクション画像メモリ部１１ｄとを備えている。高低圧画像メモリ部１１ａや処理済高圧画像メモリ部１１ｂやサブトラクション画像メモリ部１１ｃや処理済サブトラクション画像メモリ部１１ｄの具体的な機能についても、図４〜図６で後述する。

次に、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３の構造について、図２および図３を参照して説明する。図２は、側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）の等価回路であり、図３は、平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）の等価回路である。

ＦＰＤ３は、図２に示すように、ガラス基板３１と、ガラス基板３１上に形成された薄膜トランジスタＴＦＴとから構成されている。薄膜トランジスタＴＦＴについては、図２、図３に示すように、縦・横式２次元マトリクス状配列でスイッチング素子３２が多数個（例えば、1024個×1024個）形成されており、キャリア収集電極３３ごとにスイッチング素子３２が互いに分離形成されている。すなわち、ＦＰＤ３は、２次元アレイ放射線検出器でもある。

図２に示すようにキャリア収集電極３３の上にはＸ線感応型半導体３４が積層形成されており、図２、図３に示すようにキャリア収集電極３３は、スイッチング素子３２のソースＳに接続されている。ゲートドライバ３５からは複数本のゲートバスライン３６が接続されているとともに、各ゲートバスライン３６はスイッチング素子３２のゲートＧに接続されている。一方、図３に示すように、電荷信号を収集して１つに出力するマルチプレクサ３７には増幅器３８を介して複数本のデータバスライン３９が接続されているとともに、図２、図３に示すように各データバスライン３９はスイッチング素子３２のドレインＤに接続されている。増幅器３８は、この発明における信号増幅手段に相当する。

図示を省略する共通電極にバイアス電圧を印加した状態で、ゲートバスライン３６の電圧を印加（または０Ｖに）することでスイッチング素子３２のゲートがＯＮされて、キャリア収集電極３３は、検出面側で入射したＸ線からＸ線感応型半導体３４を介して変換された電荷信号（キャリア）を、スイッチング素子３２のソースＳとドレインＤとを介してデータバスライン３９に読み出す。なお、スイッチング素子がＯＮされるまでは、電荷信号はキャパシタ（図示省略）で暫定的に蓄積されて記憶される。各データバスライン３９に読み出された電荷信号を増幅器３８で増幅して、マルチプレクサ３７で１つの電荷信号にまとめて出力する。出力された電荷信号をＡ／Ｄ変換器８でディジタル化してＸ線検出信号として出力する。

次に、高低圧画像取得部９ａや階調変換部９ｂやサブトラクション処理部９ｃやサブトラクション画像用後処理部９ｄの具体的な機能について、図４〜図６を参照して説明する。図４は、高電圧値および低電圧値に応じた各Ｘ線の照射のタイミングチャートであり、図５は、画像処理部およびメモリ部に関するデータの流れを示した概略図であり、図６は、階調変換を説明するための模式図である。

高電圧発生部６（図１を参照）は管電圧のうち高電圧（例えば１２０ｋＶ）およびそれよりも低い低電圧（例えば６０ｋＶ）をＸ線管２（図１を参照）に付与する。Ｘ線管２は、図４に示すように、上述した高電圧値に応じたＸ線と低電圧値に応じたＸ線とを一回の撮像で連続的に照射する。ＦＰＤ３（図１〜図３を参照）は、高電圧値に応じたＸ線と低電圧値に応じたＸ線とを一回の撮像で連続的に検出して、高電圧値に応じたＸ線検出信号および低電圧値に応じたＸ線検出信号を出力する。各Ｘ線検出信号をＡ／Ｄ変換器８（図１、図３を参照）でそれぞれディジタル化する。なお、Ｘ線を連続的に照射する必要はなく、Ｘ線を間欠的に照射してもよい。また、Ｘ線を連続的に検出する必要はなく、Ｘ線を間欠的に検出してもよい。

図５に示すように、Ｘ線高低圧画像取得部９ａは、Ａ／Ｄ変換器８でそれぞれディジタル化されたＸ線検出信号のうち、高電圧値に応じたＸ線検出信号に基づいて高圧画像を取得するとともに、低電圧値に応じたＸ線検出信号に基づいて低圧画像を取得する。具体的には、Ｘ線検出信号の信号値に応じて画素値を求める。したがって、高電圧値に応じたＸ線検出信号では低電圧に応じたＸ線検出信号よりも信号値が高くなるので、高電圧値に応じたＸ線検出信号に基づいて取得された高圧画像の画素値は、低電圧値に応じたＸ線検出信号に基づいて取得された低圧画像の画素値よりも高くなる。このように、高圧画像では内蔵などの軟部組織以外にも骨などの組織が撮像された高周波成分の画像が取得され、低圧画像では軟部組織のみが撮像された低周波成分の画像が取得される。高低圧画像取得部９ａでそれぞれ取得された高圧画像や低圧画像を、高低圧画像メモリ部１１ａにそれぞれ書き込んで記憶する。

図５に示すように、高低圧画像メモリ部１１ａにそれぞれ記憶された高圧画像や低圧画像のうち高圧画像を読み出して、読み出された高圧画像に対して階調変換部９ｂは階調変換を行う。階調変換は「ガンマ補正」とも呼ばれており、図６に示すような変換を行う。図６では、横軸として変換前の入力を示す画素値をとるとともに、縦軸として変換後の出力を示すモニタ１３（図１を参照）のウインドウの輝度値をとる。入力を示す画素値と出力を示す輝度値とが比例関係にあるとして、画素値の最小値ＭＵを最小輝度階調レベルＬＢ（例えば“０”）とし、画素値の最大値ＭＸを最大輝度階調レベルＨＢ（例えば“１０２３”）とする。最小値ＭＵと最大値ＭＸとの間にある画素値については、画素値に比例するように輝度値を割り当てる。このような階調変換を行うことで、モニタ１３で閲覧表示したい画素値の範囲ＭＵ〜ＭＸをモニタ１３のウインドウの表示可能な範囲ＬＢ〜ＨＢの区間全体に引き伸ばすことができる。このように、高圧画像の画素値を入力として、図６に示すような変換を行うことで、輝度値に出力として変換される。階調変換部９ｂで階調変換された階調変換後の高圧画像をＸ線画像として、処理済高圧画像メモリ部１１ｂに書き込んで記憶する。

図５に示すように、一方で高低圧画像メモリ部１１ａにそれぞれ記憶された高圧画像や低圧画像をそれぞれ読み出して、それぞれ読み出された高圧画像および低圧画像に基づいてサブトラクション処理部９ｃはサブトラクション処理を行う。具体的には、軟部組織や骨が撮像された高圧画像から軟部組織のみが撮像された低圧画像を減算することで減算結果であるサブトラクション画像には、軟部組織を減算して除去した骨が撮像された画像が取得される。なお、高圧画像の基となる高電圧値と低圧画像の基となる低電圧値とのレベルを合わせるために、サブトラクション処理の際に、高圧画像または低圧画像のいずれかに重み付けなどの係数を掛けてから減算を行ってもよい。サブトラクション処理部９ｃでサブトラクション処理された画像をサブトラクション画像として、サブトラクション画像メモリ部１１ｃに書き込んで記憶する。

ところで、高圧画像の基となる高電圧値に応じたＸ線および低圧画像の基となる低電圧値に応じたＸ線をＸ線管２がそれぞれ照射する際には、高電圧値に応じたＸ線の照射時間（すなわち高圧画像の撮像時間）（例えば１０ｍｓ）よりも、図４の破線に示すように、低電圧に応じたＸ線の照射時間（すなわち低圧画像の撮像時間）（例えば５０〜１００ｍｓ）を長くする。このような照射の場合には、低圧画像を取得する場合には、長くなった照射時間によって被検体Ｍの被曝線量が増加してしまう。そこで、被曝線量を低減させるためには低電圧値に応じたＸ線を照射する際にＸ線管２から照射されるＸ線の蓄積線量を減らすのが好ましい。ここで、蓄積線量は、Ｘ線管２の管電流値［ｍＡ］と照射時間［ｓ］との積に比例し、「ｍＡｓ値」とも呼ばれている。この「ｍＡｓ値」を減らすには、例えば管電流値を小さくする、あるいは図４の実線に示すように照射時間を短くする。

しかし、低電圧値に応じたＸ線を照射する際の「ｍＡｓ値」を減らすと、それで取得された低圧画像では、「ｍＡｓ値」を減らさなかった場合に取得された低圧画像と比較すると画像のＳ／Ｎ比が劣化する。その結果、「ｍＡｓ値」を減らして取得された低圧画像によって取得されたサブトラクション画像でも、「ｍＡｓ値」を減らさずに取得された低圧画像によって取得されたサブトラクション画像と比較すると画像のＳ／Ｎ比が劣化する。

そこで、被曝線量を低減させ、かつ画質を保つために、低電圧値に応じたＸ線を照射する際にＸ線管２から照射されるＸ線の蓄積線量（ｍＡｓ値）を減らして、高低圧画像取得部９ａで低圧画像を取得するための低電圧値に応じたＸ線検出信号を増幅器３８（図３を参照）によって増幅するのが好ましい。すなわち、高低圧画像取得部９ａで低圧画像を取得するための低電圧値に応じたＸ線検出信号を増幅器３８によって増幅することで、増幅に伴って低圧画像での画素値が増幅された（低圧画像の画質が保たれた）状態で、低電圧値に応じたＸ線を照射する際にＸ線管２から照射されるＸ線の蓄積線量（ｍＡｓ値）を減らすことが可能になる。したがって、被検体Ｍの被曝線量を低減させることができる。このとき、高圧画像の方ではＸ線の蓄積線量（ｍＡｓ値）を減らないので、低圧画像やサブトラクション画像の画質を保つことができる。

図５の説明に戻って、サブトラクション画像メモリ部１１ｃに記憶されたサブトラクション画像を読み出して、読み出されたサブトラクション画像に対してサブトラクション画像用後処理部９ｄはＲＳＭ(Realtime Smoothed Mask)処理やスムージング処理といった平滑化処理を行う。平滑化処理については、周知の一様重み平滑化フィルタやガウスフィルタやメディアンフィルタなどの空間フィルタを用いて行えばよい。平滑化処理によってノイズの振幅を減弱させ、画像が粒状にざらついて出力される画像の粒状性を向上させることができる。サブトラクション画像用後処理部９ｄで画像処理された画像処理後のサブトラクション画像を、処理済サブトラクション画像メモリ部１１ｄに書き込んで記憶する。

なお、高低圧画像メモリ部１１ａや処理済高圧画像メモリ部１１ｂやサブトラクション画像メモリ部１１ｃや処理済サブトラクション画像メモリ部１１ｄでそれぞれ記憶された画像を読み出して、モニタ１３に表示出力あるいはプリンタ（図示省略）に印刷出力する。

本実施例に係るＸ線撮像装置によれば、Ｘ線管２は、図４に示すように、高電圧値に応じたＸ線とそれよりも低い低電圧値に応じたＸ線とを一回の撮像で連続的に照射し、フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）３は、上述した高電圧値に応じたＸ線と低電圧値に応じたＸ線とを一回の撮像で連続的に検出して、高電圧値に応じたＸ線検出信号および低電圧値に応じたＸ線検出信号を出力する。高低圧画像取得部９ａは、検出された高電圧値に応じたＸ線検出信号に基づいて高圧画像を取得するとともに、検出された低電圧値に応じたＸ線検出信号に基づいて低圧画像を取得する。

ここで、階調変換部９ｂは、上述した高低圧画像取得部９ａで取得された高圧画像に対して画像処理（本実施例では階調変換処理）を行い、一方で、サブトラクション処理部９ｃは、同じく高低圧画像取得部９ａで取得された高圧画像および低圧画像に基づいてサブトラクション処理を行う。階調変換部９ｂで処理された高圧画像をＸ線画像とするとともに、サブトラクション処理部９ｃで処理された画像をサブトラクション画像とすることで、一回の撮像でＸ線画像およびサブトラクション画像を出力する。これによって、サブトラクション以外の通常のＸ線撮影とサブトラクションに関する撮影とを一回の検査、すなわち一回の撮像で行うことができ、高電圧値に応じたＸ線検出信号が通常のＸ線撮影およびサブトラクションに関する撮影のためのデータを兼用することができるので、被曝線量を低減させることができる。

この発明は、上記実施形態に限られることはなく、下記のように変形実施することができる。

（１）上述した実施例では、放射線撮像装置としてＸ線撮像装置を例に採って説明したが、ＰＥＴ(Positron Emission Tomography)装置やＳＰＥＣＴ（Single Photon Emission CT）装置などに代表されるＥＣＴ（Emission Computed Tomography）装置のように、Ｘ線以外の放射線（ＰＥＴ装置の場合にはγ線）を検出して、検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置に適用してもよい。

（２）上述した実施例では、図１に示すようなＸ線撮像装置を例に採って説明したが、この発明は、例えばＣ型アームに配設されたＸ線撮像装置にも適用してもよい。また、この発明は、Ｘ線ＣＴ装置にも適用してもよい。

（３）上述した実施例では、放射線検出手段としてフラットパネル型Ｘ線検出器を例に採って説明したが、イメージインテンシファイア(Ｉ．Ｉ)のように、通常において用いられるＸ線検出手段であれば特に限定されない。また、上述した変形例（１）のようにＥＣＴ装置に適用した場合のように、通常において用いられる放射線検出手段であれば特に限定されない。

（４）上述した実施例では、高圧画像に対して画像処理を行う画像処理手段として、階調変換を行う階調変換部９ｂを例に採って説明したが、通常において用いられる画像処理であれば、例えば、ラグ補正やゲイン補正や、上述した平滑化処理のように特に限定されない。同様に、サブトラクション画像に対して行う画像処理として平滑化処理を例に採って説明したが、通常において用いられる画像処理であれば、例えば、ラグ補正やゲイン補正や、上述した階調変換処理のように特に限定されない。

（５）上述した実施例では、被曝線量を低減させ、かつ画質を保つために、低電圧値に応じたＸ線を照射する際にＸ線管２から照射されるＸ線の蓄積線量を減らして、高低圧画像取得部９ａで低圧画像を取得するための低電圧値に応じたＸ線検出信号を増幅器３８によって増幅したが、被曝線量を低減させる必要がない、または画質を保つ必要がない場合には、必ずしもＸ線の蓄積線量を減らしたり、あるいは増幅器３８によって増幅する必要はない。被曝線量を低減させる必要がない場合には、低電圧値に応じたＸ線を照射する際にＸ線管２から照射されるＸ線の蓄積線量を必ずしも減らす必要はない。画質を保つ必要がない場合には、高低圧画像取得部９ａで低圧画像を取得するための低電圧値に応じたＸ線検出信号を必ずしも増幅器３８によって増幅する必要はない。

（６）上述した各実施例では、高低圧画像取得部９ａは、この発明における高圧画像取得手段および低圧画像取得手段を兼用していたが、高圧画像取得手段と低圧画像取得手段との機能を別々の画像取得部がそれぞれ独立して行ってもよい。

実施例に係るＸ線撮像装置のブロック図である。 側面視したフラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）の等価回路である。 平面視したフラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）の等価回路である。 高電圧値および低電圧値に応じた各Ｘ線の照射のタイミングチャートである。 画像処理部およびメモリ部に関するデータの流れを示した概略図である。 階調変換を説明するための模式図である。

符号の説明

２ … Ｘ線管
３ … フラットパネル型Ｘ線検出器（ＦＰＤ）
９ａ … 高低圧画像取得部
９ｂ … 階調変換部
９ｃ … サブトラクション処理部
３８ … 増幅器
Ｍ … 被検体

Claims (2)

1. 被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、前記被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段とを備え、検出された放射線に基づいて放射線画像を得ることで放射線撮像を行う放射線撮像装置であって、前記放射線照射手段が高電圧値に応じた放射線とそれよりも低い低電圧値に応じた放射線とを一回の撮像で照射するように構成するとともに、前記放射線検出手段が前記高電圧値に応じた放射線と前記低電圧値に応じた放射線とを一回の撮像で検出して、高電圧値に応じた放射線検出信号および低電圧値に応じた放射線検出信号を出力するように構成し、前記装置は、検出された高電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて高圧画像を取得する高圧画像取得手段と、検出された低電圧値に応じた放射線検出信号に基づいて低圧画像を取得する低圧画像取得手段と、前記高圧画像取得手段で取得された高圧画像に対して画像処理を行う画像処理手段と、高圧画像取得手段で取得された高圧画像および前記低圧画像取得手段で取得された低圧画像に基づいてサブトラクション処理を行うサブトラクション処理手段とを備え、前記画像処理手段で処理された高圧画像を前記放射線画像とするとともに、前記サブトラクション処理手段で処理された画像をサブトラクション画像とすることで、一回の撮像で放射線画像およびサブトラクション画像を出力することを特徴とする放射線撮像装置。
2. 請求項１に記載の放射線撮像装置において、前記放射線検出手段で検出された放射線検出信号を増幅する信号増幅手段を備え、前記低電圧値に応じた放射線を照射する際に前記放射線照射手段から照射される放射線の蓄積線量を減らして、前記低圧画像取得手段で低圧画像を取得するための前記低電圧値に応じた放射線検出信号を前記信号増幅手段によって増幅することを特徴とする放射線撮像装置。

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