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JP2000338179A - Automatic handler - Google Patents

Automatic handler

Info

Publication number
JP2000338179A
JP2000338179A JP11148435A JP14843599A JP2000338179A JP 2000338179 A JP2000338179 A JP 2000338179A JP 11148435 A JP11148435 A JP 11148435A JP 14843599 A JP14843599 A JP 14843599A JP 2000338179 A JP2000338179 A JP 2000338179A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
socket
light receiving
light
receiving side
area sensor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11148435A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kenji Takagi
憲治 高木
Tetsuya Okudaira
哲也 奥平
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ando Electric Co Ltd
Original Assignee
Ando Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ando Electric Co Ltd filed Critical Ando Electric Co Ltd
Priority to JP11148435A priority Critical patent/JP2000338179A/en
Publication of JP2000338179A publication Critical patent/JP2000338179A/en
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Manipulator (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an attitude detecting mechanism for an IC of an automatic handler capable of detecting whether the IC is mounted normally on an IC socket in response to dispersion of IC package shapes or not, and capable of detecting thereby the attitude of the IC, by providing an area sensor of a wide detection range to detect a shading amount. SOLUTION: Sensor light sensitivity received by an area sensor lightreceiving side 1b in the case where an IC 4 is set normally onto an IC socket 2 is stored as 100% of reference value. When a detection determining reference value is, for example, 90% or less, it is determined that the IC 4 is not mounted normally on the IC socket 2 in the case where the sensor light sensitivity received by the area sensor receiving side 1b is changed from 100% at the time of a sensor light width C shown in (A) to 70% at the time of a sensor light width D shown in (B) to get lower than the detection determining reference value of 90%.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、オートハンドラの
ICの検出機構についてのものである。特に、ICソケ
ットにICを圧接して表面実装型パッケージのICを選
別・搬送する水平搬送式オートハンドラに使用されるI
Cの姿勢検出機構についてのものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an automatic handler IC detection mechanism. In particular, an IC used for a horizontal transport type auto handler that sorts and transports an IC in a surface mount package by pressing an IC into an IC socket.
This is for the attitude detection mechanism of C.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、IC(Integrated Circuit)
の電気的特性等を測定するためのICテストシステムに
おいて、測定対象となるICを搬送するためオートハン
ドラが用いられている。水平搬送式オートハンドラは、
ICを吸着してICソケットに搬送する機能と、搬送し
たICをICソケットに圧接する測定ハンドを有してお
り、また、水平搬送式オートハンドラ(以下、オートハ
ンドラと略称する)はICの姿勢検出機構を備えてい
る。
2. Description of the Related Art Conventionally, an integrated circuit (IC) has been used.
2. Description of the Related Art In an IC test system for measuring the electrical characteristics of an IC, an auto handler is used to transport an IC to be measured. The horizontal transfer type auto handler is
It has a function of sucking the IC and transporting it to the IC socket, and a measuring hand for pressing the transported IC against the IC socket. The horizontal transport type auto handler (hereinafter abbreviated as auto handler) has a posture of the IC. It has a detection mechanism.

【0003】図4に従来のオートハンドラのICの姿勢
検出機構を示す。図4(A)はオートハンドラの測定部に
おいてICが所定の位置に正しく載置された状態を示す
図であり、ICソケット2、テストボード3、IC4、
吸着ノズル5、コンタクトプッシャ6、ベース7、ファ
イバーセンサ発光側8a、ファイバーセンサ受光側8b
が配置されている。
FIG. 4 shows a conventional attitude detecting mechanism of an IC of an auto-handler. FIG. 4A is a view showing a state in which the IC is correctly placed at a predetermined position in the measuring section of the auto-handler, and the IC socket 2, the test board 3, the IC 4,
Suction nozzle 5, contact pusher 6, base 7, fiber sensor light emitting side 8a, fiber sensor light receiving side 8b
Is arranged.

【0004】図4(A)では、オートハンドラの吸着ノズ
ル5により吸着されて搬送されてきたIC4が、測定部
のICソケット2の所定の位置に正しく載置されてい
る。このとき、ICソケット2に載置されたIC4の上
面の位置はベース7の上面から寸法Aの距離にあり、予
めこの寸法Aの直上を通過するようファイバーセンサ発
光側8aからファイバーセンサ受光側8bへの光軸が通
る位置E(ベース7の上面からの距離をEとする)を調
整しておくと、ファイバーセンサ発光側8aからファイ
バーセンサ受光側8bへセンサ光が遮られることなく受
光することにより、IC4が傾いていないことが検出さ
れる。
In FIG. 4A, an IC 4 sucked and conveyed by a suction nozzle 5 of an auto handler is correctly placed at a predetermined position of an IC socket 2 of a measuring section. At this time, the position of the upper surface of the IC 4 mounted on the IC socket 2 is at a distance of the dimension A from the upper surface of the base 7, and the fiber sensor light emitting side 8 a to the fiber sensor light receiving side 8 b By adjusting the position E (the distance from the upper surface of the base 7 to E) through which the optical axis passes through, the sensor light can be received without interruption from the fiber sensor light emitting side 8a to the fiber sensor light receiving side 8b. As a result, it is detected that the IC 4 is not tilted.

【0005】図4(B)は、図4(A)と同様にオートハンド
ラによりIC4がICソケット2に載置された状態を示
す図であるが、図4(B)はIC4が傾いてICソケット
2に載置されてしまった場合を示すものである。この場
合、ファイバーセンサ発光側8aから発光されたセンサ
光が、ICソケット2上に傾いて載置されたIC4によ
り遮られファイバーセンサ受光側8bに受光できなくな
るため、IC4がICソケット2上に傾いていることを
検出できる。
FIG. 4B is a view showing a state in which the IC 4 is placed on the IC socket 2 by the automatic handler as in FIG. 4A, but FIG. This shows a case where the device has been placed in the socket 2. In this case, the sensor light emitted from the fiber sensor light emitting side 8a is blocked by the IC 4 tilted and mounted on the IC socket 2 and cannot be received by the fiber sensor light receiving side 8b. Can be detected.

【0006】図4(A)のように、ファイバーセンサ発光
側8aからファイバーセンサ受光側8bへセンサ光が遮
られることなく受光することによりICソケット2の所
定の位置にIC4が正常に載置されていることを検出し
た場合は、IC4をICソケット2に載置した後にコン
タクトプッシャ6が下降してIC4をICソケット2に
圧接して電気的特性を試験できる。
As shown in FIG. 4A, the sensor light is received from the fiber sensor light emitting side 8a to the fiber sensor light receiving side 8b without being interrupted, so that the IC 4 is normally placed at a predetermined position of the IC socket 2. When the IC 4 is detected, the contact pusher 6 is lowered after the IC 4 is placed on the IC socket 2 and the IC 4 is pressed against the IC socket 2 to test the electrical characteristics.

【0007】図4(B)のように、ファイバーセンサ発光
側8aから投光するセンサ光が、ICソケット2上に傾
いて載置されたIC4により遮られ、ファイバーセンサ
8bで受光しないことによりICソケット2の所定の位
置にIC4が正常に載置されていないことを検出した場
合は、コンタクトプッシャ6を下降させる前にIC4が
ICソケット2に正常に載置されていないことを告げる
警報を発し、測定部の動作を停止させる。したがって、
IC4がICソケット2に正常に載置されていない場合
に、コンタクトプッシャ6でIC4を破損させることが
ない。
As shown in FIG. 4B, the sensor light emitted from the fiber sensor light emitting side 8a is blocked by the IC 4 mounted on the IC socket 2 at an angle, and is not received by the fiber sensor 8b. When it is detected that the IC 4 is not properly placed at a predetermined position of the socket 2, an alarm is issued to inform that the IC 4 is not properly placed in the IC socket 2 before lowering the contact pusher 6. Then, the operation of the measuring unit is stopped. Therefore,
When the IC 4 is not properly placed in the IC socket 2, the contact pusher 6 does not damage the IC 4.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
たような従来のICの姿勢検出機構を備えたオートハン
ドラには、以下のような問題があった。従来のICの姿
勢検出機構を備えたオートハンドラでは、上記に述べた
図4の場合であれば、IC4がICソケット2に正常に
載置されていないことをファイバーセンサ発光側8aか
らのセンサ光がファイバーセンサ8bで受光しないこと
により検出できる。
However, the conventional auto-handler provided with the above-described IC attitude detecting mechanism has the following problems. In the case of the conventional auto-handler equipped with the posture detection mechanism of the IC, in the case of FIG. 4 described above, the fact that the IC 4 is not properly mounted on the IC socket 2 indicates that the sensor light from the fiber sensor light emitting side 8a has been detected. Is not detected by the fiber sensor 8b.

【0009】しかし、図5に示されるように、測定対象
となるICの種類が変わることによりICソケット2と
IC4との接続位置が変わると、ベース7上面からのI
C4の上面位置が図4の距離Aから図5の距離A′(A
<A′)になり、図5(B)のようにIC4が傾いてIC
ソケット2に載置されていても図5(A)のIC4が正常
にセットされている時と同様にセンサ光がIC4の上を
通過してしまうため、IC4が正常に載置されていると
誤認識することがある。
However, as shown in FIG. 5, when the connection position between the IC socket 2 and the IC 4 changes due to a change in the type of the IC to be measured, the I
The position of the upper surface of C4 is changed from the distance A in FIG. 4 to the distance A ′ (A
<A ′), and the IC 4 is tilted as shown in FIG.
Even when the IC 4 is mounted on the socket 2, the sensor light passes over the IC 4 in the same manner as when the IC 4 of FIG. 5A is set normally. It may be misrecognized.

【0010】このため、図5(B)のような場合にはファ
イバーセンサ発光側8aからファイバーセンサ受光側8
bへ通る光軸がIC4の直上を通るように光軸の位置を
合わせ直す必要がある。
Therefore, in the case shown in FIG. 5B, the fiber sensor light emitting side 8a is connected to the fiber sensor light emitting side 8a.
It is necessary to adjust the position of the optical axis so that the optical axis that passes to b passes directly above the IC 4.

【0011】このような誤認識は図5の場合以外にも考
えられる。例えば、図5の場合とは反対にICの種類が
変わることでベース7上面からのIC4の上面位置が図
4の距離Aよりも短くなった場合、またIC4のパッケ
ージの厚みだけが変わり結果的にIC4の上面位置が変
わった場合、等さまざまな場合が想定される。特に近
年、ICのパッケージが多様化しており、さまざまな規
格のICが増えその種類毎に光軸の位置Eを合わせ直す
必要があった。多品種少量生産となると、汎用型のオー
トハンドラは位置Eの調整頻度が多くなる。
Such erroneous recognition can be considered in addition to the case of FIG. For example, contrary to the case of FIG. 5, when the type of the IC changes, the upper surface position of the IC 4 from the upper surface of the base 7 becomes shorter than the distance A of FIG. 4, or only the thickness of the package of the IC 4 changes, resulting in Various cases are assumed, such as when the upper surface position of the IC 4 changes. In particular, in recent years, IC packages have been diversified, and ICs of various standards have increased, and it has been necessary to adjust the position E of the optical axis for each type. In the case of high-mix low-volume production, the frequency of adjusting the position E of the general-purpose type auto handler increases.

【0012】または、異なる種類のICをテストするた
びにICの種類によって光軸の位置Eを合わせ直す手間
を省くには、図4のIC4の上面位置Aを基準としてど
のICの場合でもこの上面位置AにIC4が載置される
ようにICソケットに取り付けて高さを固定する部品を
設ければよいが、前述のように多様化するICパッケー
ジに対してさまざまな寸法の部品あるいはユニットを用
意する必要があり、また異なる種類のICをテストする
たびに部品を交換する必要があるため非常に手間がかか
っていた。
Alternatively, in order to save the trouble of adjusting the position E of the optical axis depending on the type of IC every time a different type of IC is tested, the upper surface position of the IC 4 in FIG. It is sufficient to provide a component for fixing the height by mounting it on the IC socket so that the IC 4 is placed at the position A. As described above, components or units of various dimensions are prepared for the diversified IC packages. And the need to replace parts each time a different type of IC is tested, which is very time consuming.

【0013】本発明の目的は、検出範囲の広いエリアセ
ンサを装備し、遮光量を検出することによりICのパッ
ケージ形状のばらつきに応じてICがICソケットに正
常に載置されているか否かの検出をするオートハンドラ
のICの姿勢検出機構を提供することである。
An object of the present invention is to provide an area sensor having a wide detection range, and to detect whether or not the IC is normally mounted on the IC socket according to the variation in the IC package shape by detecting the amount of light shielding. An object of the present invention is to provide a posture detecting mechanism of an IC of an auto handler that performs detection.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
ICを吸着してICソケットまで搬送する搬送部と、該
ICソケットに該ICを圧接する測定ハンドと、該IC
ソケットに載置された該ICの姿勢を検出するICの姿
勢検出手段とを備えたオートハンドラであって、前記I
Cの姿勢検出手段は、前記ICソケット上方の所定空間
において、遮光体となるICの存在量で前記ICの姿勢
を検出すること、を特徴としている。
According to the first aspect of the present invention,
A transport unit for sucking the IC and transporting the IC to the IC socket, a measuring hand for pressing the IC against the IC socket, and the IC
An auto-handler comprising: an IC attitude detecting means for detecting an attitude of the IC mounted on the socket;
The attitude detecting means of C detects the attitude of the IC in a predetermined space above the IC socket based on the amount of the IC serving as a light shield.

【0015】請求項1記載の発明によれば、ICを吸着
してICソケットまで搬送する搬送部と、該ICソケッ
トに該ICを圧接する測定ハンドと、該ICソケットに
載置された該ICの姿勢を検出するICの姿勢検出手段
とを備えたオートハンドラであって、前記ICの姿勢検
出手段は、前記ICソケット上方の所定空間において、
遮光体となるICの存在量で前記ICの姿勢を検出す
る。
According to the first aspect of the present invention, a transport unit for sucking an IC and transporting the IC to the IC socket, a measuring hand for pressing the IC against the IC socket, and the IC mounted on the IC socket An IC attitude detecting means for detecting the attitude of the IC, wherein the attitude detecting means for the IC is provided in a predetermined space above the IC socket,
The attitude of the IC is detected based on the amount of the IC serving as a light shield.

【0016】したがって、ICソケットに載置されたI
Cの姿勢が正常か異常かICソケット上方の所定空間内
で判別できる。
[0016] Therefore, the I mounted on the IC socket is
Whether the posture of C is normal or abnormal can be determined in a predetermined space above the IC socket.

【0017】請求項2記載の発明は、前記ICの姿勢検
出手段は、前記所定空間に対して帯状光を発光及び受光
する発光側と受光側とを有するエリアセンサとし、該受
光側で検出される受光光量に基づいて前記ICソケット
に載置された前記ICの姿勢を検出すること、を特徴と
している。
According to a second aspect of the present invention, the posture detecting means of the IC is an area sensor having a light emitting side and a light receiving side for emitting and receiving band-shaped light with respect to the predetermined space. Detecting the attitude of the IC mounted on the IC socket based on the amount of received light.

【0018】請求項2記載の発明によれば、前記ICの
姿勢検出手段は、前記所定空間に対して帯状光を発光及
び受光する発光側と受光側とを有するエリアセンサと
し、該受光側で検出される受光光量に基づいて前記IC
ソケットに載置された前記ICの姿勢を検出する。
According to the second aspect of the present invention, the posture detecting means of the IC is an area sensor having a light emitting side and a light receiving side for emitting and receiving band-shaped light with respect to the predetermined space. The IC based on the detected amount of received light
The attitude of the IC mounted on the socket is detected.

【0019】したがって、エリアセンサの受光側で検出
される受光光量に基づいてICソケットに載置されたI
Cの姿勢が正常か異常かを判別できる。
Therefore, based on the amount of light received on the light receiving side of the area sensor, the I
It can be determined whether the posture of C is normal or abnormal.

【0020】請求項3記載の発明は、前記エリアセンサ
は、前記ICソケット及びICの各種形状に応じて、前
記受光側の受光感度を調整する調整手段を更に備えたこ
と、を特徴としている。
The invention according to claim 3 is characterized in that the area sensor further comprises an adjusting means for adjusting the light receiving sensitivity on the light receiving side according to various shapes of the IC socket and the IC.

【0021】請求項3記載の発明によれば、前記エリア
センサは、前記ICソケット及びICの各種形状に応じ
て、前記受光側の受光感度を調整手段により調整する。
According to the third aspect of the present invention, the area sensor adjusts the light receiving sensitivity on the light receiving side by adjusting means according to various shapes of the IC socket and the IC.

【0022】したがって、ICソケットにICが正常に
載置されているときにエリアセンサの受光側で検出され
る受光感度はICソケット及びICの各種形状に応じて
調整できる。
Therefore, the light receiving sensitivity detected on the light receiving side of the area sensor when the IC is normally mounted on the IC socket can be adjusted according to various shapes of the IC socket and the IC.

【0023】請求項4記載の発明は、前記エリアセンサ
は、前記ICソケットに載置された前記ICの姿勢が正
常である場合の前記受光側の受光光量を基準値として記
憶する記憶手段を更に備え、前記記憶手段に記憶された
基準値と該受光側の受光光量とを比較した比較結果に基
づいて、前記ICの姿勢が正常か異常かを判別するこ
と、を特徴としている。
According to a fourth aspect of the present invention, the area sensor further comprises a storage means for storing, as a reference value, the amount of light received on the light receiving side when the posture of the IC mounted on the IC socket is normal. And determining whether the posture of the IC is normal or abnormal based on a comparison result obtained by comparing the reference value stored in the storage means with the amount of light received on the light receiving side.

【0024】請求項4記載の発明によれば、前記エリア
センサは、前記ICソケットに載置された前記ICの姿
勢が正常である場合の前記受光側の受光光量を基準値と
して記憶手段により記憶し、前記記憶手段に記憶された
基準値と該受光側の受光光量とを比較した比較結果に基
づいて、前記ICの姿勢が正常か異常かを判別する。
According to the fourth aspect of the present invention, the area sensor stores the amount of light received on the light receiving side when the posture of the IC mounted on the IC socket is normal as a reference value by the storage means. Then, it is determined whether the posture of the IC is normal or abnormal based on a comparison result obtained by comparing the reference value stored in the storage means with the amount of light received on the light receiving side.

【0025】したがって、各種ICソケット及びICの
形状に応じて記憶された基準値と受光側の受光光量とを
比較することによって各種ICの姿勢が正常か異常かを
確実に検出できる。
Therefore, it is possible to reliably detect whether the posture of each IC is normal or abnormal by comparing the reference value stored in accordance with the shape of each IC socket and each IC with the amount of light received on the light receiving side.

【0026】請求項5記載の発明は、前記エリアセンサ
は、前記記憶手段により記憶された基準値に基づいて前
記ICソケットに載置された前記ICの姿勢が正常か異
常かを判別するための検出基準値を設定する設定手段を
更に備え、この設定手段により設定された検出基準値と
前記受光側の受光光量とを比較した比較結果に基づい
て、前記ICの姿勢が正常か異常かを判別すること、を
特徴としている。
According to a fifth aspect of the present invention, the area sensor determines whether the posture of the IC mounted on the IC socket is normal or abnormal based on the reference value stored by the storage means. Setting means for setting a detection reference value; determining whether the posture of the IC is normal or abnormal based on a comparison result of comparing the detection reference value set by the setting means with the amount of light received on the light receiving side. Is characterized.

【0027】請求項5記載の発明によれば、前記エリア
センサは、前記記憶手段により記憶された基準値に基づ
いて前記ICソケットに載置された前記ICの姿勢が正
常か異常かを判別するための検出基準値を設定する設定
手段を更に備え、この設定手段により設定された検出基
準値と前記受光側の受光光量とを比較した比較結果に基
づいて、前記ICの姿勢が正常か異常かを判別する。
According to the invention described in claim 5, the area sensor determines whether the posture of the IC mounted on the IC socket is normal or abnormal based on the reference value stored by the storage means. Setting means for setting a detection reference value for determining whether the posture of the IC is normal or abnormal based on a comparison result of comparing the detection reference value set by the setting means with the amount of light received on the light receiving side. Is determined.

【0028】したがって、各種ICソケット及びICの
形状に応じて記憶された基準値に基づいて設定された検
出基準値と受光側の受光光量とを比較することによって
各種ICの姿勢が正常か異常かを確実に検出できる。
Therefore, by comparing the detection reference value set based on the reference values stored in accordance with the various IC sockets and the shape of the IC with the amount of light received on the light receiving side, whether the posture of the various ICs is normal or abnormal is determined. Can be reliably detected.

【0029】[0029]

【発明の実施の形態】以下、図を参照して本発明の実施
の形態を詳細に説明する。図1〜図3は、本発明を適用
したオートハンドラの一実施の形態を示す図である。ま
ず、構成を説明する。図(A)、(B)は、本発明の実施の形
態におけるオートハンドラのIC姿勢検出機構の構成部
分とIC姿勢検出状態とを示した図である。なお、図1
(A)、(B)において、上記図4(A)、(B)に示したオートハ
ンドラと同一の構成部分には、同一のの符号を付してお
り、その構成説明は省略する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings. 1 to 3 are diagrams showing an embodiment of an auto handler to which the present invention is applied. First, the configuration will be described. FIGS. 7A and 7B are diagrams showing components of an IC attitude detection mechanism of the auto handler and an IC attitude detection state according to the embodiment of the present invention. FIG.
4A and 4B, the same components as those of the auto handler shown in FIGS. 4A and 4B are denoted by the same reference numerals, and the description of the configuration will be omitted.

【0030】図1(A)において、オートハンドラのIC
姿勢検出機構は、図4(A)、(B)のベース7に取り付けら
れたファイバーセンサ発光側8aとファイバーセンサ受
光側8bを、エリアセンサ発光側1aとエリアセンサ受
光側1bとに変更したものである。
In FIG. 1A, the IC of the auto-handler
The attitude detection mechanism is such that the fiber sensor light emitting side 8a and the fiber sensor light receiving side 8b attached to the base 7 in FIGS. 4A and 4B are changed to the area sensor light emitting side 1a and the area sensor light receiving side 1b. It is.

【0031】エリアセンサはファイバーセンサの一種で
あり、図4及び図5に示したファイバーセンサが微少ス
ポット径の光で物体の有無を検出するのに対し、図1に
示すエリアセンサは幅の広い帯状光を投受光することに
より、帯幅の範囲内の物体を検出でき、エリアセンサで
は遮られたセンサ光の光量により受光感度が変化するた
め、感度差を検出結果として利用することができる。
The area sensor is a kind of fiber sensor, and the fiber sensor shown in FIGS. 4 and 5 detects the presence or absence of an object with light having a small spot diameter, whereas the area sensor shown in FIG. 1 is wide. By projecting and receiving the band-shaped light, an object within the range of the band width can be detected. In the area sensor, the light receiving sensitivity changes depending on the amount of the blocked sensor light, and thus the sensitivity difference can be used as a detection result.

【0032】図1(A)は、IC4がICソケット2に正
常にセットされた状態を示し、図1(B)は、IC4がI
Cソケット2に傾いてセットされた状態を示す図であ
る。このとき、IC4の上面位置はベース7上面から距
離Aの位置にあるとする。図1(A)ではエリアセンサ発
光側1aから出射された帯状のセンサ光がICソケット
2、IC4、吸着ノズル5に遮られセンサ光の帯幅が小
さくなってエリアセンサ受光側1bで受光する。図1
(B)では図1(A)同様に帯状のセンサ光がICソケット
2、IC4、吸着ノズル5に遮られてエリアセンサ受光
側1bで受光するセンサ光の帯幅が小さくなっている
が、IC4が傾いてセットされているため、その分だけ
更に帯幅が小さくなっている。
FIG. 1A shows a state in which the IC 4 is normally set in the IC socket 2, and FIG.
FIG. 4 is a diagram showing a state where the camera is set to be inclined to a C socket. At this time, the upper surface of the IC 4 is located at a distance A from the upper surface of the base 7. In FIG. 1A, the band-shaped sensor light emitted from the area sensor light emitting side 1a is blocked by the IC socket 2, the IC 4, and the suction nozzle 5, and the band width of the sensor light is reduced, and is received by the area sensor light receiving side 1b. FIG.
In FIG. 1B, as in FIG. 1A, the band-shaped sensor light is blocked by the IC socket 2, the IC 4, and the suction nozzle 5, and the band width of the sensor light received by the area sensor light receiving side 1b is reduced. Is set to be inclined, so that the band width is further reduced accordingly.

【0033】図2は、測定対象となるICの種類が変わ
ることにより、ベース7上面からのIC4の上面位置が
図1の距離Aから図1の距離A′(A<A′)になった
状態を示したものである。
FIG. 2 shows that the position of the upper surface of the IC 4 from the upper surface of the base 7 is changed from the distance A in FIG. 1 to the distance A '(A <A') in FIG. 1 by changing the type of the IC to be measured. It shows the state.

【0034】図2(A)は、IC4がICソケット2に正
常にセットされた状態を示し、図2(B)は、IC4がI
Cソケット2に傾いてセットされた状態を示す図であ
る。図1の場合と同様に、図2(A)ではエリアセンサ発
光側1aから出射された帯状のセンサ光がICソケット
2、IC4、吸着ノズル5に遮られセンサ光の帯幅が小
さくなってエリアセンサ受光側1bに届いており、図2
(B)ではIC4が傾いてセットされているため、その分
だけ更に帯幅が小さくなってエリアセンサ受光側1bに
届いている状態を示している。
FIG. 2A shows a state where the IC 4 is normally set in the IC socket 2, and FIG.
FIG. 4 is a diagram showing a state where the camera is set to be inclined to a C socket. As in the case of FIG. 1, in FIG. 2A, the band-shaped sensor light emitted from the area sensor light emitting side 1a is blocked by the IC socket 2, the IC 4, and the suction nozzle 5, so that the band width of the sensor light is reduced and the area is reduced. As shown in FIG.
(B) shows a state in which the IC 4 is set to be inclined, so that the band width is further reduced and reaches the area sensor light receiving side 1b.

【0035】図3は、図1に示したIC姿勢検出機構を
適用したオートハンドラの要部構成を示した図である。
FIG. 3 is a diagram showing a main configuration of an auto handler to which the IC attitude detecting mechanism shown in FIG. 1 is applied.

【0036】図3は、図1に示したIC姿勢検出機構に
加え、コンタクトブロック9、測定ハンド10、DUT
(Device Under Test)用のエリアセンサ11(発光側
11a、受光側11b)、直行軸用エリアセンサ12
(発光側12a、受光側12b)を構成として追加した
ものである。図3(A)はIC姿勢検出機構を備えたオー
トハンドラの平面図、図3(B)は図3(A)の直行軸用エリ
アセンサ発光側12aと直行軸用エリアセンサ受光側1
2bを結ぶ線上の断面図、図3(C)は図3(A)のエリアセ
ンサ発光側1aとエリアセンサ受光側1bを結ぶ線上の
断面図である。
FIG. 3 shows a contact block 9, a measuring hand 10, and a DUT in addition to the IC attitude detecting mechanism shown in FIG.
(Device Under Test) area sensor 11 (light emitting side 11a, light receiving side 11b), orthogonal axis area sensor 12
(Light-emitting side 12a, light-receiving side 12b) are added. FIG. 3A is a plan view of an auto-handler provided with an IC attitude detecting mechanism, and FIG. 3B is a light emitting side 12a of the area sensor for the orthogonal axis and a light receiving side 1 of the area sensor for the orthogonal axis in FIG.
3C is a cross-sectional view on a line connecting the area sensor light emitting side 1a and the area sensor light receiving side 1b in FIG. 3A.

【0037】図3に示すように、本発明のIC姿勢検出
機構を備えたオートハンドラの適用例においては、コン
タクトボード3上にはICソケット2が設置され、IC
ソケット2の周囲のコンタクトボード3上にはコンタク
トブロック9が載置され、更にコンタクトブロック9上
にはベース7が載置されている。そして、エリアセンサ
1(発光側1a、受光側1b)、エリアセンサ12(発
光側12a、受光側12b)及び図3(B)及び図3(C)の
断面図には図示しないがエリアセンサ11(発光側11
a、受光側11b)は、図3(A)中のベース7のセンサ
取付用孔7a〜7f部の位置に取り付けられ、各センサ
光がICソケット2にセットされたICソケット2、I
C4、吸着ノズル5等を通るように位置決めされてい
る。
As shown in FIG. 3, in an application example of the auto-handler having the IC attitude detecting mechanism of the present invention, an IC socket 2 is installed on a contact board 3,
A contact block 9 is placed on the contact board 3 around the socket 2, and a base 7 is placed on the contact block 9. The area sensor 1 (light emitting side 1a, light receiving side 1b), the area sensor 12 (light emitting side 12a, light receiving side 12b) and the area sensor 11 (not shown in the cross-sectional views of FIGS. 3B and 3C). (Light emitting side 11
a, the light receiving side 11b) is mounted at the positions of the sensor mounting holes 7a to 7f of the base 7 in FIG.
C4, the suction nozzle 5 and the like are positioned.

【0038】また、オートハンドラの吸着ノズル5を囲
む形でコンタクトプッシャ6が配置され、図3(C)に示
すようにコンタクトプッシャ6の上部にはICをICソ
ケット2に押圧する測定ハンド10を備えている。
A contact pusher 6 is arranged so as to surround the suction nozzle 5 of the auto handler. As shown in FIG. 3C, a measuring hand 10 for pressing an IC against the IC socket 2 is provided above the contact pusher 6. Have.

【0039】図3に示す構成例では、2つのDUTに対
しエリアセンサ1(発光側1a、受光側1b)、エリア
センサ11(発光側11a、受光側11b)及び直行軸
用エリアセンサ12(発光側12a、受光側12b)の
3軸のエリアセンサを使用し、各DUTに対しエリアセ
ンサを直行するように配置することで、あらゆる方向に
IC4が傾いてセットされていてもIC4の姿勢を検出
できるので、検出精度を上げることができる。
In the configuration example shown in FIG. 3, an area sensor 1 (light-emitting side 1a, light-receiving side 1b), an area sensor 11 (light-emitting side 11a, light-receiving side 11b) and an area sensor 12 for orthogonal axis (light-emitting side) are provided for two DUTs. By using the three-axis area sensor on the side 12a and the light receiving side 12b) and arranging the area sensor so as to be orthogonal to each DUT, the attitude of the IC4 can be detected even if the IC4 is set in an inclined direction in all directions. As a result, the detection accuracy can be improved.

【0040】次に、本実施の形態によるオートハンドラ
のIC姿勢検出機構の作用を以下に説明する。
Next, the operation of the IC attitude detecting mechanism of the auto handler according to the present embodiment will be described below.

【0041】図1(A)は、オートハンドラによりIC4
がICソケット2に正常にセットされた状態である。こ
の場合、エリアセンサ発光側1aから発光された帯状の
センサ光が、ICソケット2、IC4、吸着ノズル5に
遮られ、エリアセンサ受光側1bに受光するセンサ光の
幅がCに減少する。
FIG. 1 (A) shows an IC 4
Is normally set in the IC socket 2. In this case, the band-shaped sensor light emitted from the area sensor light emitting side 1a is blocked by the IC socket 2, the IC 4, and the suction nozzle 5, and the width of the sensor light received on the area sensor light receiving side 1b is reduced to C.

【0042】この時の感度を基準値100%として記憶
し、検出判定基準を基準値100%に対して仮に90%
以下の場合としておく。
The sensitivity at this time is stored as a reference value of 100%, and the detection criterion is set to 90% with respect to the reference value of 100%.
The following cases are assumed.

【0043】図1(B)は、図1(A)と同様にオートハンド
ラによりIC4がICソケット2に傾いてセットされた
場合の状態図である。この場合、エリアセンサ発光側1
aから発光された帯状のセンサ光は図1(A)の場合と同様
にICソケット2、IC4、吸着ノズル5に遮られる
が、IC4が傾いている分だけ余計に遮られるため、エ
リアセンサ受光側1bに届くセンサ光の幅はDに減少
し、感度が70%に低下したとする。
FIG. 1B is a state diagram in the case where the IC 4 is set to the IC socket 2 at an angle by the automatic handler, similarly to FIG. 1A. In this case, the area sensor light emitting side 1
The strip-shaped sensor light emitted from a is blocked by the IC socket 2, IC4, and the suction nozzle 5 as in the case of FIG. 1A, but is further blocked by the slant of the IC4. It is assumed that the width of the sensor light reaching the side 1b is reduced to D, and the sensitivity is reduced to 70%.

【0044】このように、エリアセンサ受光側1bが受
光するセンサ光の感度が図1(A)に示したセンサ光の幅
Cのときの100%から、図1(B)に示したセンサ光の
幅Dのときの70%に変化して前記検出判定基準の90
%を下回ると、IC4がICソケット2に正常にセット
されていないことが検出できる。
As described above, the sensitivity of the sensor light received by the area sensor light receiving side 1b is changed from 100% of the sensor light width C shown in FIG. 1A to the sensor light shown in FIG. To 70% of the width D of 90% of the detection criterion.
If it is less than%, it can be detected that the IC 4 is not set in the IC socket 2 normally.

【0045】また、図2は図5の場合と同様に、測定対
象ICの種類が変わることによりICソケット2とIC
4との接続位置が変わり、ベース7上面からのIC4の
上面位置が図2の距離Aから図2の距離A′(A<
A′)になる場合を示している。
FIG. 2 shows that the IC socket 2 and the IC socket 2
2, the position of the upper surface of the IC 4 from the upper surface of the base 7 is changed from the distance A in FIG. 2 to the distance A ′ (A <
A ′).

【0046】図2(A)のようにIC4が正常にICソケ
ット2に載置された状態では、エリアセンサ発光側1a
から発光された帯状のセンサ光は、図1(A)の場合と同
様にICソケット2、IC4、吸着ノズル5に遮られエ
リアセンサ受光側1bが受光するセンサ光の幅は図1
(A)のCから図2(A)のC′に変わるが、この幅C′を新
たな基準値100%として記憶し直す。
As shown in FIG. 2A, when the IC 4 is normally placed on the IC socket 2, the area sensor light emitting side 1a
1A, the width of the sensor light received by the area sensor light receiving side 1b is blocked by the IC socket 2, the IC 4, and the suction nozzle 5, as in the case of FIG.
2C is changed from C in FIG. 2A, and the width C ′ is stored again as a new reference value of 100%.

【0047】図2(B)は、オートハンドラによりIC4
がICソケット2に傾いてセットされた場合の状態図で
ある。この場合、エリアセンサ発光側1aから発光され
た帯状のセンサ光は図2(A)の場合と同様にICソケッ
ト2、IC4、吸着ノズル5に遮られるが、IC4が傾
いている分だけ余計に遮られるため、エリアセンサ受光
側1bに届くセンサ光の幅はD′に減少し、感度が70
%に低下したとする。
FIG. 2B shows that the IC 4
FIG. 3 is a state diagram in a case where is set to be inclined to the IC socket 2. In this case, the band-like sensor light emitted from the area sensor light-emitting side 1a is blocked by the IC socket 2, the IC4, and the suction nozzle 5, as in the case of FIG. Since the light is blocked, the width of the sensor light reaching the area sensor light receiving side 1b is reduced to D ', and the sensitivity is reduced to 70%.
%.

【0048】このように、エリアセンサ受光側1bが受
光するセンサ光の感度が図2(A)に示したセンサ光の幅
C′のときの100%から、図2(B)に示したセンサ光
の幅D′のときの70%に変化し、図1で設定した検出
判定基準の90%を下回ったため、IC4がICソケッ
ト2に正常にセットされていないことを検出することが
できる。
As described above, the sensitivity of the sensor light received by the area sensor light receiving side 1b is changed from 100% at the time of the sensor light width C 'shown in FIG. 2A to the sensor light shown in FIG. Since it has changed to 70% of the light width D ', and less than 90% of the detection criterion set in FIG. 1, it can be detected that the IC 4 is not set properly in the IC socket 2.

【0049】したがって、図5で説明した従来の技術の
ように、センサ光軸の位置の合わせ直しやICの上面位
置の高さを固定する部品の交換をすること無く、本発明
によるIC姿勢検出機構を備えたオートハンドラによれ
ば、エリアセンサの感度の設定変更のみでさまざまな種
類のICの位置のばらつきやICのサイズに対応でき
る。
Therefore, unlike the prior art described with reference to FIG. 5, the IC attitude detection according to the present invention can be performed without realigning the optical axis of the sensor or replacing components for fixing the height of the upper surface of the IC. According to the auto-handler having the mechanism, it is possible to cope with variations in the positions of various types of ICs and IC sizes only by changing the setting of the sensitivity of the area sensor.

【0050】また、ICソケットにセットされたICの
微妙な傾きを検出したい場合は、判定基準値を100%
に近い値にし、わずかな感度差でも検出できるように設
定する。反対に、ICの大きな傾きのみを検出できれば
よいのであれば、判定基準値を低い値とすることで誤検
出を防ぐことができる。
When it is desired to detect a subtle inclination of an IC set in an IC socket, the judgment reference value is set to 100%.
And set so that even a slight difference in sensitivity can be detected. Conversely, if it is sufficient to detect only a large inclination of the IC, erroneous detection can be prevented by setting the determination reference value to a low value.

【0051】なお、本発明のオートハンドラにおいてI
Cが載置される部位は、ICソケットに限定されない。
搬送途中のICの受け渡し場所に存在するステージ、シ
ャトル(往復機構)等にも適用可能である。
In the auto handler according to the present invention, I
The part where C is placed is not limited to the IC socket.
The present invention can also be applied to a stage, a shuttle (reciprocating mechanism), or the like existing at a place where an IC is being transferred during transfer.

【0052】[0052]

【発明の効果】請求項1記載の発明のオートハンドラに
よれば、ICソケットに載置されたICの姿勢が正常か
異常かICソケット上方の所定空間内で判別できる。
According to the automatic handler of the first aspect of the present invention, it is possible to determine whether the posture of the IC mounted on the IC socket is normal or abnormal in a predetermined space above the IC socket.

【0053】請求項2記載の発明のオートハンドラによ
れば、エリアセンサの受光側で検出される受光光量に基
づいてICソケットに載置されたICの姿勢が正常か異
常かを判別できる。
According to the second aspect of the invention, it is possible to determine whether the posture of the IC mounted on the IC socket is normal or abnormal based on the amount of light received on the light receiving side of the area sensor.

【0054】請求項3記載の発明のオートハンドラによ
れば、ICソケットにICが正常に載置されているとき
にエリアセンサの受光側で検出される受光感度はICソ
ケット及びICの各種形状に応じて調整できる。
According to the third aspect of the present invention, the light receiving sensitivity detected on the light receiving side of the area sensor when the IC is normally mounted on the IC socket depends on the various shapes of the IC socket and the IC. Can be adjusted accordingly.

【0055】請求項4記載の発明のオートハンドラによ
れば、各種ICソケット及びICの形状に応じて記憶さ
れた基準値と受光側の受光光量とを比較することによっ
て各種ICの姿勢が正常か異常かを確実に検出できる。
According to the fourth aspect of the present invention, the reference value stored in accordance with the shape of each IC socket and IC is compared with the amount of light received on the light receiving side to determine whether the posture of each IC is normal. Abnormality can be reliably detected.

【0056】請求項5記載の発明のオートハンドラによ
れば、各種ICソケット及びICの形状に応じて記憶さ
れた基準値に基づいて設定された検出基準値と受光側の
受光光量とを比較することによって各種ICの姿勢が正
常か異常かを確実に検出できる。
According to the fifth aspect of the present invention, the detection reference value set based on the reference value stored according to the shape of each IC socket and IC is compared with the amount of light received on the light receiving side. This makes it possible to reliably detect whether the posture of each IC is normal or abnormal.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施の形態におけるオートハンドラ
のIC姿勢検出機構の構成部分とIC姿勢検出状態とを
示した図である。
FIG. 1 is a diagram showing components of an IC attitude detection mechanism of an auto handler and an IC attitude detection state according to an embodiment of the present invention.

【図2】図1において、IC4の種類が変わることによ
りICソケット2とIC4との接続位置が変わった場合
のオートハンドラのIC姿勢検出機構の構成部分とIC
姿勢検出状態とを示した図である。
FIG. 2 is a diagram showing a configuration of an IC posture detecting mechanism of an auto-handler and an IC when a connection position between an IC socket 2 and an IC 4 changes due to a change in the type of the IC 4 in FIG.
FIG. 7 is a diagram illustrating a posture detection state.

【図3】図1に示したIC姿勢検出機構を適用したオー
トハンドラの要部構成を示した図である。
FIG. 3 is a diagram showing a main configuration of an auto handler to which the IC attitude detection mechanism shown in FIG. 1 is applied.

【図4】従来のオートハンドラのIC姿勢検出機構の構
成部分とIC姿勢検出状態とを示した図である。
FIG. 4 is a diagram showing components of an IC attitude detection mechanism of a conventional auto handler and an IC attitude detection state.

【図5】図4において、IC4の種類が変わることによ
りICソケット2とIC4との接続位置が変わった場合
の従来のオートハンドラのIC姿勢検出機構の構成部分
とIC姿勢検出状態とを示した図である。
FIG. 5 shows components of an IC attitude detection mechanism of a conventional auto handler and an IC attitude detection state when the connection position between the IC socket 2 and the IC 4 changes due to a change in the type of IC4. FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 エリアセンサ 2 ICソケット 3 テストボード 4 IC 5 吸着ノズル 6 コンタクトプッシャ 7 ベース 8 ファイバーセンサ 9 コンタクトブロック 10 測定ハンド 11 エリアセンサ 12 エリアセンサ Reference Signs List 1 area sensor 2 IC socket 3 test board 4 IC 5 suction nozzle 6 contact pusher 7 base 8 fiber sensor 9 contact block 10 measuring hand 11 area sensor 12 area sensor

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G003 AA07 AG01 AG11 AG16 3F059 AA01 AA11 AA14 BA09 DA02 DC07 DD12 DE06 FB12 4M106 AA04 BA04 CA50 DG16 DG25 DJ39  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2G003 AA07 AG01 AG11 AG16 3F059 AA01 AA11 AA14 BA09 DA02 DC07 DD12 DE06 FB12 4M106 AA04 BA04 CA50 DG16 DG25 DJ39

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ICを吸着してICソケットまで搬送する
搬送部と、該ICソケットに該ICを圧接する測定ハン
ドと、該ICソケットに載置された該ICの姿勢を検出
するICの姿勢検出手段とを備えたオートハンドラにお
いて、 前記ICの姿勢検出手段は、前記ICソケット上方の所
定空間において、遮光体となるICの存在量で前記IC
の姿勢を検出することを特徴とするオートハンドラ。
1. A transport unit for sucking an IC and transporting the IC to an IC socket, a measuring hand for pressing the IC against the IC socket, and an attitude of the IC for detecting an attitude of the IC mounted on the IC socket. An auto handler provided with a detecting means, wherein the posture detecting means for the IC detects the IC in a predetermined space above the IC socket based on the amount of the IC serving as a light shielding body.
An auto handler characterized by detecting a posture of the user.
【請求項2】前記ICの姿勢検出手段は、前記所定空間
に対して帯状光を発光及び受光する発光側と受光側とを
有するエリアセンサとし、該受光側で検出される受光光
量に基づいて前記ICソケットに載置された前記ICの
姿勢を検出することを特徴とする請求項1記載のオート
ハンドラ。
2. The method according to claim 1, wherein the attitude detecting means of the IC is an area sensor having a light emitting side and a light receiving side for emitting and receiving band-shaped light with respect to the predetermined space, and based on a light receiving amount detected at the light receiving side. 2. The auto-handler according to claim 1, wherein a posture of the IC mounted on the IC socket is detected.
【請求項3】前記エリアセンサは、前記ICソケット及
びICの各種形状に応じて、前記受光側の受光感度を調
整する調整手段を更に備えたことを特徴とする請求項2
記載のオートハンドラ。
3. The area sensor according to claim 2, further comprising adjusting means for adjusting the light receiving sensitivity of the light receiving side according to various shapes of the IC socket and the IC.
Auto handler described.
【請求項4】前記エリアセンサは、前記ICソケットに
載置された前記ICの姿勢が正常である場合の前記受光
側の受光光量を基準値として記憶する記憶手段を更に備
え、前記記憶手段に記憶された基準値と該受光側の受光
光量とを比較した比較結果に基づいて、前記ICの姿勢
が正常か異常かを判別することを特徴とする請求項2あ
るいは3記載のオートハンドラ。
4. The area sensor further comprises storage means for storing, as a reference value, the amount of light received on the light receiving side when the attitude of the IC mounted on the IC socket is normal. 4. The auto-handler according to claim 2, wherein whether the posture of the IC is normal or abnormal is determined based on a comparison result of comparing the stored reference value with the amount of light received on the light receiving side.
【請求項5】前記エリアセンサは、前記記憶手段により
記憶された基準値に基づいて前記ICソケットに載置さ
れた前記ICの姿勢が正常か異常かを判別するための検
出基準値を設定する設定手段を更に備え、この設定手段
により設定された検出基準値と前記受光側の受光光量と
を比較した比較結果に基づいて、前記ICの姿勢が正常
か異常かを判別することを特徴とする請求項4記載のオ
ートハンドラ。
5. The area sensor sets a detection reference value for determining whether the posture of the IC mounted on the IC socket is normal or abnormal based on the reference value stored by the storage means. Setting means for judging whether the posture of the IC is normal or abnormal based on a comparison result obtained by comparing the detection reference value set by the setting means with the amount of light received on the light receiving side. The auto handler according to claim 4.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003167022A (en) * 2001-12-04 2003-06-13 Seiko Epson Corp Component detection method, component detection device, IC handler, and IC inspection device
KR100451964B1 (en) * 2000-12-22 2004-10-08 안도덴키 가부시키가이샤 Carrier positional displacement detecting mechanism
JP2008290877A (en) * 2007-05-28 2008-12-04 Seiko Epson Corp Component detection method, component detection apparatus, and IC handler
CN102324449A (en) * 2011-08-23 2012-01-18 广东志成华科光电设备有限公司 A chip steering device for SMD LED patch spectrometer

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100451964B1 (en) * 2000-12-22 2004-10-08 안도덴키 가부시키가이샤 Carrier positional displacement detecting mechanism
JP2003167022A (en) * 2001-12-04 2003-06-13 Seiko Epson Corp Component detection method, component detection device, IC handler, and IC inspection device
JP2008290877A (en) * 2007-05-28 2008-12-04 Seiko Epson Corp Component detection method, component detection apparatus, and IC handler
CN102324449A (en) * 2011-08-23 2012-01-18 广东志成华科光电设备有限公司 A chip steering device for SMD LED patch spectrometer

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