DE10117382A1 - Schaltungsanordnung und Sensorvorrichtung - Google Patents
Schaltungsanordnung und SensorvorrichtungInfo
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Abstract
Erfindungsgemäß wird eine Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines Eingangssignals in ein binäres Ausgangssignal bereitgestellt, die zumindest einen Komparator, zumindest eine Demodulationseinheit und zumindest eine Takteinheit aufweist, wobei die Demodulationseinheit zumindest einen Kondensator und zumindest einen von der Takteinheit gesteuerten Schalter aufweist, welcher den Kondensator der Demodulationseinheit mit dem Komparator verbindet, und der Komparator ein von der Demodulationseinheit demoduliertes Eingangssignal mit zumindest einem Referenzwert vergleicht und das binäre Ausgangssignal bildet.
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft eine
Schaltungsanordnung. Die vorliegende Erfindung betrifft
insbesondere eine Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines
Eingangssignals in ein binäres Ausgangssignal. Weiterhin
betrifft die vorliegende Erfindung eine Sensorvorrichtung mit
einer Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines
Eingangssignals in ein binäres Ausgangssignal.
Betreibt man einen Operationsverstärker, wie in Fig. 6a
gezeigt, ohne Gegenkopplung, so erhält man einen Komparator.
Die Ausgangsspannung eines derartigen Komparators beträgt:
Uamax für U1 < U2 und Uamin für U1 < U2 (siehe Fig. 6b). Aufgrund
der in der Regel hohen Verstärkung von Operationsverstärkern
spricht die in Fig. 6a gezeigte Schaltung auf sehr kleine
Spannungsdifferenzen U1 - U2 an. Sie eignet sich daher zum
Vergleich zweier Spannungen mit hoher Präzision. Legt man
eine der Spannungen U1 oder U2 auf einen festen Referenzwert,
so erhält man einen Komparator, der eine Eingangsspannung mit
dem Referenzwert vergleicht.
Komparatoren werden beispielsweise bei der Auswertung
von Sensorsignalen eingesetzt. Sensoren, die als Schalter
betrieben werden, wandeln die Meßgröße in ein internes
elektrisches Signal um und bilden ein digitales (binäres)
Ausgangssignal, indem das interne elektrische Signal mit
einer einstellbaren Schaltschwelle des verwendeten
Komparators verglichen wird. Eine derartige Anwendung eines
Komparators ist beispielsweise in dem US Patent 5,619,137
gezeigt. Die Einstellung der Schaltschwelle erfolgt bei
dieser Anwendung, indem Vorspannungen an den Signaleingängen
des Komparators durch Stromeinspeisung über seriell im
Eingangszweig liegende Widerstände addiert werden. Diese
Vorspannungserzeugung durch Stromeinspeisung funktioniert
jedoch nur unter der Voraussetzung, daß die Signalspannung
über eine Stufe mit ausreichender Treiberfähigkeit
beispielsweise einen Operationsverstärker oder eine
Bufferschaltungen, zur Verfügung gestellt wird.
Bei der Auswertung von Sensorsignalen wird häufig eine
Demodulation des Signals mit Hilfe von Kapazitäten
durchgeführt. Insbesondere bei sogenannten "gechoppten
Hallsensoren", wie sie beispielsweise in dem US Patent
5,621,319 gezeigt sind, ist in deren Signalkette nach der
resistiven Vorverstärkung eine Demodulation mit Hilfe von
Kapazitäten üblich.
Fig. 5 zeigt diesen Aspekt der in dem US Patent
5,621,319 offenbarten Ausführungsform. Die Signale von einem
Hall-Element H werden von einem Operationsverstärker V
verstärkt und über Schalter auf Kondensatoren geführt.
Anschließend werden die Signale über die Treiberstufen V1,
V2, V3 und V4 zu einem Addierer geführt, der die Widerstände
R1 und den Verstärker K umfaßt. Zum Ausgleich einer sich in
dem Hall-Element H bildenden Offset-Spannung wird die
Richtung des Hall-Stroms IH durch das Hall-Element H
periodisch verändert, was durch die Phasen ϕ1 und nϕ1
angedeutet ist.
Bei der Auswertung von Sensorsignalen ist es
wünschenswert, daß eine möglichst geringe Leistungsaufnahme
der gesamten Schaltung gewährleistet werden kann. Wird bei
der Auswertung von Sensorsignalen ein Komparator eingesetzt,
so ist es weiterhin wünschenswert, daß ein möglichst genauer
Vergleich des internen Signals mit der voreingestellten
Schwelle des Komparators gewährleistet werden kann. Der
Betrieb derartiger Schaltungen ist jedoch bisher, bedingt
durch die üblicherweise eingesetzten Treiberstufen,
beispielsweise die in dem US Patent 5,621,319 gezeigten
Treiberstufen V1, V2, V3 und V4 oder die in dem US Patent
5,619,137 verwendete Treiberstufe zur Einstellung der
Komparatorschwelle, durch eine relativ hohen Stromaufnahme
und eine relativ großen Ungenauigkeit durch die mit den
Treiberstufen verbundenen Offset-Spannungen gekennzeichnet.
Der vorliegenden Erfindung liegt daher die Aufgabe
zugrunde, eine Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines
Eingangssignals in eine binäres Ausgangssignal
bereitzustellen, welche die genannten Nachteile des Standes
der Technik vermindert bzw. ganz vermeidet. Der vorliegenden
Erfindung liegt insbesondere die Aufgabe zugrunde, eine
Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines Eingangssignals in
eine binäres Ausgangssignal bereitzustellen, welche eine
geringe Stromaufnahme sowie bevorzugt einen geringen
Offsetfehler aufweist. Weiterhin soll eine entsprechende
Sensorvorrichtung bereitgestellt werden.
Diese Aufgabe wird von der Schaltungsanordnung zur
Umwandlung eines Eingangssignals in eine binäres
Ausgangssignal gemäß des unabhängigen Patentanspruchs 1
gelöst. Weitere vorteilhafte Ausführungsformen,
Ausgestaltungen und Aspekte der vorliegenden Erfindung
ergeben sich aus den abhängigen Patentansprüchen, der
Beschreibung und den beiliegenden Zeichnungen.
Erfindungsgemäß wird eine Schaltungsanordnung zur
Umwandlung eines Eingangssignals in eine binäres
Ausgangssignal bereitgestellt, die zumindest einen
Komparator, zumindest eine Demodulationseinheit und zumindest
eine Takteinheit aufweist, wobei die Demodulationseinheit
zumindest einen Kondensator und zumindest einen von der
Takteinheit gesteuerten Schalter aufweist, welcher den
Kondensator der Demodulationseinheit mit dem Komparator
verbindet, und der Komparator ein von der
Demodulationseinheit demoduliertes Eingangssignal mit
zumindest einem Referenzwert vergleicht und das binäre
Ausgangssignal bildet.
Erfindungsgemäß wird weiterhin eine Sensorvorrichtung
bereitgestellt, die zumindest eine Sensoreinheit zur
Umwandlung zumindest einer Meßgröße in zumindest ein
elektrisches Signal und zumindest eine Schaltungsanordnung
zur Umwandlung des elektrischen Signals in zumindest ein
binäres Ausgangssignal aufweist. Die erfindungsgemäße
Sensorvorrichtung ist dadurch gekennzeichnet, daß als
Schaltungsanordnung zur Umwandlung des elektrischen Signals
in zumindest ein binäres Ausgangssignal eine erfindungsgemäße
Schaltungsanordnung vorgesehen ist.
Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung besitzt den
Vorteil, daß die im Stand der Technik vorgesehenen
Treiberstufen vermieden werden, wodurch die Stromaufnahme der
Schaltungsanordnung, die benötigte Chipfläche und die mit den
Treiberstufen verbundenen Offset-Fehler deutlich verringert
werden können.
Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform weist der
Komparator eine Eingangsstufe und zumindest eine
Verstärkerstufe auf. Dabei ist es insbesondere bevorzugt,
wenn die Eingangsstufe zumindest einen Differenzverstärker
aufweist.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist
zumindest eine Referenzwerteinheit vorgesehen, die zumindest
einen Referenzwert für den Komparator bereitstellt. Dabei ist
es bevorzugt, wenn die Referenzwerteinheit zumindest eine
Stromquelle aufweist. Weiterhin ist es insbesondere
bevorzugt, wenn die Referenzwerteinheit mit einem
Referenzwerteingang des Komparators verbunden ist. Die
Schaltschwelle des Komparator wird somit nicht durch
Stromeinspeisung im Eingangszweig des Komparators vor dem
Komparator erzeugt, sondern aus Sicht der
Demodulationseinheit im Komparator selbst. Die
Schwelleneinstellung ist in diesem Sinn in den Komparator
integriert.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsfarm ist
zumindest eine Einheit zum Offset-Abgleich des Komparators
vorgesehen. Aus Sicht der Demodulationseinheit ergibt sich
somit ein Komparator mit Selbstabgleich, wodurch kann die
Eingangsstufe des Komparators klein dimensioniert werden
kann, so daß das Signal beim Zuschalten der Kapazitäten der
Demodulationseinheit zum dem Komparator im wesentlichen nicht
beeinträchtigt wird. Die normalerweise erhöhten Offset-Werte
von kleinen Eingangsstufen werden durch die Einheit zum
Offset-Abgleich des Komparators nahezu völlig eliminiert.
Dementsprechend wird der Offset-Fehler des Komparators nahezu
vollständig eliminiert und die Gesamtgenauigkeit der
Signalkette verbessert. Gemäß einer weiteren bevorzugten
Ausführungsform ist die Eingangskapazität des Signaleingangs
des Komparators kleiner als 20%, bevorzugt kleiner als 10%,
als die Summe der Kapazitäten der Kondensatoren der
Demodulationseinheit an dem Signaleingang.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform ist die
Einheit zum Offset-Abgleich mit der Eingangsstufe verbunden.
Weiterhin ist es bevorzugt, wenn die Einheit zum Offset-
Abgleich zumindest eine Stromquelle aufweist. Darüber hinaus
ist es insbesondere bevorzugt, wenn die Einheit zum Offset-
Abgleich von der Takteinheit gesteuert wird. Dabei ist es
insbesondere bevorzugt, wenn die Takteinheit den Schalter der
Demodulationseinheit und die Einheit zum Offset-Abgleich so
steuert, daß ein Offset-Abgleich des Komparators durchgeführt
wird während der Schalter offen ist.
Der Offset-Abgleich wird somit bevorzugt vor dem
Vergleich des demodulierten Eingangssignals mit dem
Referenzwert zu einem Zeitpunkt, an dem der Komparator noch
nicht im Einsatz ist, durchgeführt. Dementsprechend ist es
bevorzugt, wenn die für die erfindungsgemäße
Schaltungsanordnung notwendigen Steuersignale auf 2
wesentliche Signaltypen reduziert werden, da bevorzugt die
Samplephase der Demodulationseinheit (Schalter offen) mit der
Offset-Abgleichsphase des Komparators und die
Demodulationsphase der Demodulationseinheit (Schalter
geschlossen) mit der Vergleichsphase des Komparators
übereinstimmt.
Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Figuren der
Zeichnung näher dargestellt. Es zeigen:
Fig. 1 eine schematische Darstellung einer
Ausführungsform einer erfindungsgemäßen
Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines
Eingangssignals in ein binäres
Ausgangssignal,
Fig. 2 den Komparator, die Einheit zum Offset-
Abgleich und die Referenzwerteinheit aus Fig.
1,
Fig. 3 eine schematische Darstellung der zeitlichen
Abfolge der Taktsignale PH1, PH2, PH3, PH4,
und PHdemod,
Fig. 4 eine schematische Darstellung einer
Ausführungsform einer erfindungsgemäßen
Sensorvorrichtung,
Fig. 5 eine schematische Darstellung einer
Sensorvorrichtung nach dem Stand der Technik,
Fig. 6a eine schematische Darstellung eines
Komparators nach dem Stand der Technik,
Fig. 6b eine schematische Darstellung der
Übertragungskennlinie des Komparators aus
Fig. 6a,
Fig. 1 zeigt eine schematische Darstellung einer ersten
Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung
zur Umwandlung eines Eingangssignals in ein binäres
Ausgangssignal. Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung 1
zur Umwandlung eines Eingangssignals in ein binäres
Ausgangssignal umfaßt einen Komparator 2, eine
Demodulationseinheit 3 und eine Takteinheit 4. Im
vorliegenden Beispiel umfaßt die Demodulationseinheit 3 acht
Kondensatoren 31, die jeweils direkt über die Schalter 32 mit
dem Komparator 2 verbunden sind. Weiterhin weist die
Demodulationseinheit 3 die Schalter 33 auf, welche die
Kondensatoren 31 mit den Eingangssignalen verbinden.
Zur Steuerung der Schalter 32 ist das Taktsignal PHdemod
vorgesehen, das von der Takteinheit 4 erzeugt wird. Weiterhin
werden von der Takteinheit 4 die Taktsignale PH1, PH2, PH3
und PH4 erzeugt, welche die Schalter 33 steuern. Gesteuert
durch die Takteinheit 4 führt die Demodulationseinheit somit
eine Demodulation der Eingangssignale durch und leitet die
demodulierten Signalen zu dem Komparator 2. Anschließend
vergleicht der Komparator 2 die demodulierten Eingangssignale
mit einem Referenzwert und bildet das binäre Ausgangssignal.
Die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung besitzt den
Vorteil, daß die im Stand der Technik vorgesehenen
Treiberstufen vermieden werden, wodurch die Stromaufnahme der
Schaltungsanordnung, die benötigte Chipfläche und die mit den
Treiberstufen verbundenen Offset-Fehler deutlich verringert
werden können.
Zur Einstellung der Komparatorschwelle ist bei der Fig.
1 gezeigten Schaltungsanordnung eine Referenzwerteinheit 5
vorgesehen, die im vorliegenden Beispiel zwei Referenzwerte
für den Komparator 2 bereitstellt. Weiterhin ist bei der Fig.
1 gezeigten Schaltungsanordnung eine Einheit 6 zum Offset-
Abgleich des Komparators 2 vorgesehen. Aus Sicht der
Demodulationseinheit 3 ergibt sich somit ein Komparator 2 mit
Selbstabgleich, wodurch kann die Eingangsstufe des
Komparators klein dimensioniert werden kann, so daß das
Signal beim Zuschalten der Kapazitäten der
Demodulationseinheit 3 zum dem Komparator 2 im wesentlichen
nicht beeinträchtigt wird. Insbesondere kann auf diese Weise
eine Entladung der signalführenden Spannungen auf den
Demodulationskapazitäten verhindert werden.
Im vorliegenden Beispiel ist die Eingangskapazität des
Komparators 2 kleiner als 10% als die Summe der Kapazitäten
der Kondensatoren 31 der Demodulationseinheit 3 gewählt. Die
normalerweise erhöhten Offset-Werte von kleinen
Eingangsstufen werden durch die Einheit 6 zum Offset-Abgleich
des Komparators nahezu völlig eliminiert. Dementsprechend
wird der Offset-Fehler des Komparators 2 nahezu vollständig
eliminiert und die Gesamtgenauigkeit der Signalkette
verbessert.
Fig. 2 ist eine detailliertere Ansicht des Komparators
2, der Einheit 6 zum Offset-Abgleich und der
Referenzwerteinheit 5 aus Fig. 1.
Wie aus Fig. 2 ersichtlich weist der Komparator 2 eine
Eingangsstufe 21 und eine Verstärkerstufe 22 auf. Dabei ist
die Eingangsstufe 21 als ein Differenzverstärker mit den
Transistoren 23 und 24 aufgebaut. Die Transistoren 23 und 24
sind über die Widerstände 25 und 26 mit einem
Bezugspotential, beispielsweise Masse, verbunden. Zwischen
dem Transistor 23 und dem Widerstand 25 bzw. zwischen dem
Transistor 24 und dem Widerstand 26 sind Anschlüsse
angeordnet, welche die Eingangsstufe 21 mit der
Referenzwerteinheit 5 verbinden. Weiterhin ist vor den
Transistoren 23 und 24 ein Schalter 27 vorgesehen, der
gesteuert durch die Takteinheit 4 die beiden Signaleingänge
des Komparators kurzschließt.
Die Referenzwerteinheit 3 umfaßt zwei Stromquellen 51
und 52 sowie die Schaltern SW1 und SW2. Dabei werden die
Schalter SW1 und SW2 von den Taktsignalen SW und SWq
gesteuert. Die Taktsignale SW und SWq werden ebenfalls von
der Takteinheit 4 erzeugt. Ist das Taktsignal SW aktiv und
damit der Schalter SW1 geschlossen, wird durch die
Stromquelle 51 ein Strom in den Widerstand 25 eingeprägt, so
daß ein Spannungsabfall über den Widerstand 25 erzeugt.
Dieser Spannungsfall führt zur Einstellung eines ersten
Referenzwerts für den Komparator 2. Ist das Taktsignal SWq
aktiv und damit der Schalter SW2 geschlossen, wird durch die
Stromquelle 52 ein Strom in den Widerstand 26 eingeprägt, so
daß ein Spannungsabfall über den Widerstand 26 erzeugt.
Dieser Spannungsfall führt zur Einstellung eines zweiten
Referenzwerts für den Komparator 2. Die Schaltschwelle des
Komparator wird somit nicht durch Stromeinspeisung im
Eingangszweig des Komparators vor dem Komparator erzeugt,
sondern aus Sicht der Demodulationseinheit im Komparator
selbst. Die Schwelleneinstellung ist in diesem Sinn in den
Komparator integriert.
Durch die Bereitstellung von zwei Referenzwerten für den
Komparator 2 kann, eine entsprechende Auswertelogik (nicht
gezeigt) vorausgesetzt, eine deutlich verbesserte
Unterdrückung von Störungen in der Signalverarbeitung erzielt
werden. Eine entsprechende Schaltungsanordnung ist in der
gleichzeitig eingereichten Patentanmeldung INF-P10561-DE
gezeigt, deren Inhalt hiermit durch Rückbezug aufgenommen
wird.
In der vorliegenden Ausführungsform ist die Einheit 6
zum Offset-Abgleich mit der Eingangsstufe 21 des Komparators
2 verbunden. Wie aus Fig. 2 ersichtlich weist die Einheit 6
zum Offset-Abgleich zwei spannungsgesteuerte Stromquellen 61
und 62 auf, welche über die Schalter 63 und 64 kontrolliert
werden. Die Schalter 63 und 64 werden wiederum von der
Takteinheit 4 gesteuert.
Bei der vorliegenden Ausführungsform sind die Schalter
27, 63 und 64 jeweils geschlossen, wenn eines der Taktsignale
PH1, PH2, PH3 oder PH4 aktiv ist. Weiterhin hat das
Taktsignal PHdemod keinen Überlapp mit den Taktsignale PH1,
PH2, PH3 oder PH4 (siehe Fig. 3). Dementsprechend wird ein
Offset-Abgleich des Komparators immer dann durchgeführt
während sich die Demodulationseinheit in einer Samplephase
befindet. Der Offset-Abgleich wird somit bevorzugt vor dem
Vergleich des demodulierten Eingangssignals mit dem
Referenzwert zu einem Zeitpunkt, an dem der Komparator noch
nicht im Einsatz ist, durchgeführt. Dementsprechend können
die für die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung notwendigen
Steuersignale auf 2 wesentliche Signaltypen reduziert werden,
da bevorzugt die Samplephase der Demodulationseinheit
(Taktsignale PH1, PH2, PH3 oder PH4 aktiv und Taktsignal
Phdemod inaktiv) mit der Offset-Abgleichsphase des
Komparators und die Demodulationsphase der
Demodulationseinheit (Taktsignale PH1, PH2, PH3 oder PH4
inaktiv und Taktsignal Phdemod aktiv) mit der Vergleichsphase
des Komparators 2 übereinstimmt.
Fig. 4 zeigt eine schematische Darstellung einer
Ausführungsform einer erfindungsgemäßen Sensorvorrichtung.
Die erfindungsgemäßen Sensorvorrichtung umfaßt eine
erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung zur Umwandlung eines
Eingangssignals in eine binäres Ausgangssignal, ein Hall-
Element 7 sowie eine Verstärkereinheit 8. Wie bereits
erläutert umfaßt die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung
einen Komparator 2, eine Demodulationseinheit 3 und eine
Takteinheit 4. Im vorliegenden Beispiel umfaßt die
Demodulationseinheit 3 vier Kondensatoren 31, die jeweils
direkt über die Schalter 32 mit dem Komparator 2 verbunden
sind. Weiterhin weist die Demodulationseinheit 3 die Schalter
33 auf, welche die Kondensatoren 31 mit den Eingangssignalen
verbinden.
Das Hall-Element 7 mißt ein magnetisches Feld, indem ein
sogenannter "Hall-Strom IH" durch das Hall-Element 7 geführt
wird, was in Abhängigkeit von der stärke des magnetischen
Feldes eine sogenannte "Hall-Spannung" zur Folge hat. Diese
Hall-Spannung wird als Eingangssignal über die
Verstärkerstufe 8 zu der erfindungsgemäßen
Schaltungsanordnung geführt. Dabei wird die Hall-Spannung
wird durch das sogenannte "Choppen" (getakteten Betrieb) des
Hall-Elements 7 und der Verstärkerstufe 8 und der
nachfolgenden Demodulation mit Hilfe der Kapazitäten 31
offsetbereinigt.
Claims (14)
1. Schaltungsanordnung zur Umwandlung zumindest eines
Eingangssignals in zumindest ein binäres Ausgangssignal
mit zumindest einem Komparator (2), zumindest einer
Demodulationseinheit (3) und zumindest einer Takteinheit
(4), wobei die Demodulationseinheit (3) zumindest einen
Kondensator (31) und zumindest einen von der Takteinheit
(4) gesteuerten Schalter (32) aufweist, welcher den
Kondensator (31) der Demodulationseinheit (3) mit dem
Komparator (2) verbindet, und der Komparator (2) ein von
der Demodulationseinheit (3) demoduliertes Eingangssignal
mit zumindest einem Referenzwert vergleicht und das binäre
Ausgangssignal bildet.
2. Schaltungsanordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß
der Komparator (2) eine Eingangsstufe (21) und zumindest
eine Verstärkerstufe (22) aufweist.
3. Schaltungsanordnung nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Eingangsstufe (21) zumindest einen Differenzverstärker
aufweist.
4. Schaltungsanordnung nach einem der vorherstehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
zumindest eine Referenzwerteinheit (5) vorgesehen ist, die
zumindest einen Referenzwert für den Komparator (2)
bereitstellt.
5. Schaltungsanordnung nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Referenzwerteinheit (5) zumindest eine Stromquelle
(51, 52) aufweist.
6. Schaltungsanordnung nach Anspruch 4 oder 5,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Referenzwerteinheit (5) mit einem Referenzwerteingang
des Komparators (2) verbunden ist.
7. Schaltungsanordnung nach einem der voherstehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
zumindest eine Einheit (6) zum Offset-Abgleich des
Komparators (2) vorgesehen ist.
8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Einheit (2) zum Offset-Abgleich mit der Eingangsstufe
(21) verbunden ist.
9. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 7 oder 8,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Einheit (6) zum Offset-Abgleich zumindest eine
Stromquelle (61, 62) aufweist.
10. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 7 bis 9,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Einheit (6) zum Offset-Abgleich von der Takteinheit
(4) gesteuert wird.
11. Schaltungsanordnung nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Takteinheit (4) den Schalter (32) der
Demodulationseinheit (3) und die Einheit (6) zum Offset-
Abgleich so steuert, daß ein Offset-Abgleich des
Komparators (2) durchgeführt wird während der Schalter
(32) offen ist.
12. Schaltungsanordnung nach einem der vorherstehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Eingangskapazität des Signaleingangs des Komparators
(2) kleiner als 20%, bevorzugt kleiner als 10%, als die
Summe der Kapazitäten der Kondensatoren (31) der
Demodulationseinheit (3) an dem Signaleingang ist.
13. Sensorvorrichtung mit zumindest einer Sensoreinheit zur
Umwandlung zumindest einer Meßgröße in zumindest, ein
elektrisches Signal und zumindest einer
Schaltungsanordnung zur Umwandlung des elektrischen
Signals in zumindest ein binäres Ausgangssignal,
dadurch gekennzeichnet, daß
als Schaltungsanordnung zur Umwandlung des elektrischen
Signals in zumindest ein binäres Ausgangssignal eine
Schaltungsanordnung nach einem vorhergehenden Ansprüchen
vorgesehen ist.
14. Sensorvorrichtung nach Anspruch 13,
dadurch gekennzeichnet, daß
die Sensoreinheit zumindest ein Hall-Element (7) und
zumindest eine Verstärkerstufe (8) aufweist.
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| DE10117382A1 true DE10117382A1 (de) | 2002-10-17 |
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|---|---|
| US (1) | US6727693B2 (de) |
| DE (1) | DE10117382B4 (de) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6727721B2 (en) | 2001-07-13 | 2004-04-27 | Infineon Technologies Ag | Method for switching from a first operating condition of an integrated circuit to a second operating condition of the integrated circuit |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7656745B2 (en) | 2007-03-15 | 2010-02-02 | Micron Technology, Inc. | Circuit, system and method for controlling read latency |
| US7750724B2 (en) * | 2007-12-20 | 2010-07-06 | Cirrus Logic, Inc. | Temperature and process-stable magnetic field sensor bias current source |
| US7710298B2 (en) | 2008-07-01 | 2010-05-04 | Infineon Technologies Ag | Integrated circuit with auto-zeroing comparator stages that provide a continuous-time signal |
| JP2010283713A (ja) * | 2009-06-08 | 2010-12-16 | Sanyo Electric Co Ltd | オフセットキャンセル回路 |
| JP2010281764A (ja) * | 2009-06-08 | 2010-12-16 | Sanyo Electric Co Ltd | オフセットキャンセル回路 |
| JP5411818B2 (ja) * | 2010-08-26 | 2014-02-12 | セミコンダクター・コンポーネンツ・インダストリーズ・リミテッド・ライアビリティ・カンパニー | 半導体装置 |
| WO2013111521A1 (ja) | 2012-01-25 | 2013-08-01 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | ホール起電力信号検出回路及びその電流センサ |
| CN102820860A (zh) * | 2012-07-26 | 2012-12-12 | 上海新进半导体制造有限公司 | 霍尔电压传感器、放大器电路、测试电路及方法 |
| US9813067B2 (en) * | 2015-06-10 | 2017-11-07 | Micron Technology, Inc. | Clock signal and supply voltage variation tracking |
| US9865317B2 (en) | 2016-04-26 | 2018-01-09 | Micron Technology, Inc. | Methods and apparatuses including command delay adjustment circuit |
| US9997220B2 (en) | 2016-08-22 | 2018-06-12 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for adjusting delay of command signal path |
| US10224938B2 (en) | 2017-07-26 | 2019-03-05 | Micron Technology, Inc. | Apparatuses and methods for indirectly detecting phase variations |
| CN114070692B (zh) * | 2020-07-29 | 2024-06-11 | 上海铁路通信有限公司 | 一种twc环线的解调电路 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4030085A1 (de) * | 1990-09-22 | 1992-03-26 | Philips Patentverwaltung | Auswerteschaltung fuer einen magnetoresistiven drehzahlsensor o. dgl. |
| DE4422867A1 (de) * | 1994-06-30 | 1996-01-04 | Itt Ind Gmbh Deutsche | Sensor mit einer programmierbaren Schaltschwelle |
| DE4422266A1 (de) * | 1994-06-24 | 1996-01-04 | Siemens Ag | Elektronischer Komparatorschaltkreis und elektronischer Verstärker mit einem derartigen Komparatorschaltkreis als Ausgangsstufe |
| EP0701141A2 (de) * | 1994-09-06 | 1996-03-13 | Deutsche ITT Industries GmbH | Magnetfeldsensor mit Hallelement |
| US5619137A (en) * | 1996-02-12 | 1997-04-08 | Allegro Microsystems, Inc. | Chopped low power magnetic-field detector with hysteresis memory |
| US5621319A (en) * | 1995-12-08 | 1997-04-15 | Allegro Microsystems, Inc. | Chopped hall sensor with synchronously chopped sample-and-hold circuit |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4574250A (en) | 1981-10-13 | 1986-03-04 | Intel Corporation | Switched capacitor filter utilizing a differential input and output circuit and method |
| KR930007719B1 (ko) | 1990-05-12 | 1993-08-18 | 금성일렉트론 주식회사 | 아날로그/디지탈 변환회로 |
| US6154027A (en) * | 1997-10-20 | 2000-11-28 | Analog Devices, Inc. | Monolithic magnetic sensor having externally adjustable temperature compensation |
| US6522131B1 (en) * | 1999-09-17 | 2003-02-18 | Melexis Nv | Multi-mode hall effect sensor for determining position and timing parameters of a gear wheel |
| DE10117383B4 (de) * | 2001-04-06 | 2012-02-16 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung |
-
2001
- 2001-04-06 DE DE10117382A patent/DE10117382B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2002
- 2002-04-08 US US10/117,829 patent/US6727693B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4030085A1 (de) * | 1990-09-22 | 1992-03-26 | Philips Patentverwaltung | Auswerteschaltung fuer einen magnetoresistiven drehzahlsensor o. dgl. |
| DE4422266A1 (de) * | 1994-06-24 | 1996-01-04 | Siemens Ag | Elektronischer Komparatorschaltkreis und elektronischer Verstärker mit einem derartigen Komparatorschaltkreis als Ausgangsstufe |
| DE4422867A1 (de) * | 1994-06-30 | 1996-01-04 | Itt Ind Gmbh Deutsche | Sensor mit einer programmierbaren Schaltschwelle |
| EP0701141A2 (de) * | 1994-09-06 | 1996-03-13 | Deutsche ITT Industries GmbH | Magnetfeldsensor mit Hallelement |
| US5621319A (en) * | 1995-12-08 | 1997-04-15 | Allegro Microsystems, Inc. | Chopped hall sensor with synchronously chopped sample-and-hold circuit |
| US5619137A (en) * | 1996-02-12 | 1997-04-08 | Allegro Microsystems, Inc. | Chopped low power magnetic-field detector with hysteresis memory |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6727721B2 (en) | 2001-07-13 | 2004-04-27 | Infineon Technologies Ag | Method for switching from a first operating condition of an integrated circuit to a second operating condition of the integrated circuit |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE10117382B4 (de) | 2006-04-06 |
| US20020149506A1 (en) | 2002-10-17 |
| US6727693B2 (en) | 2004-04-27 |
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